JPS63184377A - 強磁性磁気抵抗素子 - Google Patents
強磁性磁気抵抗素子Info
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- JPS63184377A JPS63184377A JP62016347A JP1634787A JPS63184377A JP S63184377 A JPS63184377 A JP S63184377A JP 62016347 A JP62016347 A JP 62016347A JP 1634787 A JP1634787 A JP 1634787A JP S63184377 A JPS63184377 A JP S63184377A
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- JP
- Japan
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- insulating substrate
- thin film
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- metal thin
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- Pending
Links
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/10—Magnetoresistive devices
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は強磁性磁気抵抗素子に関し、更に詳しくいえば
検出出力の歪、不安定性を抑制し、均一な素子特性をも
つ強磁性磁気抵抗素子に関する。
検出出力の歪、不安定性を抑制し、均一な素子特性をも
つ強磁性磁気抵抗素子に関する。
[従来の技術]
磁気抵抗効果特性を有する強磁性磁気抵抗素子(MR素
子という)を用いた磁界検出器は検出感度が高(デジタ
ル磁気信号の検出手段としての応用が期待されている。
子という)を用いた磁界検出器は検出感度が高(デジタ
ル磁気信号の検出手段としての応用が期待されている。
しかし従来のMR素子は、第5図に示すように、バルク
ハウゼンノイズによる抵抗値の不連続変化や異方性分散
による磁気応答のヒステリシス特性に基因する検出出力
の歪、不安定性等を呈する場合があり、又製作面におい
ても加工後の素子特性が不均一になり易く歩留りが変動
する等の問題点を有していた。
ハウゼンノイズによる抵抗値の不連続変化や異方性分散
による磁気応答のヒステリシス特性に基因する検出出力
の歪、不安定性等を呈する場合があり、又製作面におい
ても加工後の素子特性が不均一になり易く歩留りが変動
する等の問題点を有していた。
[発明が解決しようとする問題点]
本発明は、上記問題点を克服するものであり、バルクハ
ウゼンノイズを非常に小さくてき又異方性分散も小さく
でき、そのため検出抵抗値の不連続変化や検出出力の歪
をなくして均一な素子特性をもつMR素子を提供するこ
とを目的とする。
ウゼンノイズを非常に小さくてき又異方性分散も小さく
でき、そのため検出抵抗値の不連続変化や検出出力の歪
をなくして均一な素子特性をもつMR素子を提供するこ
とを目的とする。
[問題点を解決するための手段]
本発明のMR素子は、表面粗さ100オングストローム
以下の絶縁基板と、該絶縁基板の表面上に形成された強
磁性金属薄膜層と、該金属薄膜層の両端に接続して形成
された各電極と、を有することを特徴とする。
以下の絶縁基板と、該絶縁基板の表面上に形成された強
磁性金属薄膜層と、該金属薄膜層の両端に接続して形成
された各電極と、を有することを特徴とする。
[実施例1
以下、実施例により本発明を説明する。
本実施例のMR素子の平面図を第1図に、第1図のA−
/M断面図を第2図に示す。
/M断面図を第2図に示す。
このMR素子は、表面粗さが100オングストローム以
下のガラス等の絶縁基板1上にアルミニウム等の電極材
料力冒うなる電極3a、3bと、ニッケルー鉄、または
ニツケルーコバル1−等の合金を厚さ300〜1500
オングストローム堆積した強磁性金属薄膜(MR層とい
う)2とで構成されている。ここで絶縁基板1の表面粗
さとは基板1表面の微細な凹凸を意味するものである。
下のガラス等の絶縁基板1上にアルミニウム等の電極材
料力冒うなる電極3a、3bと、ニッケルー鉄、または
ニツケルーコバル1−等の合金を厚さ300〜1500
オングストローム堆積した強磁性金属薄膜(MR層とい
う)2とで構成されている。ここで絶縁基板1の表面粗
さとは基板1表面の微細な凹凸を意味するものである。
第3図に本実施例のMR素子の磁界強度に対する抵抗値
変化を示し、その比較として従来のMR素子の磁界強度
に対する抵抗値変化を第5図に示す。又第4図にMR層
3の膜厚が300オンゲス]〜ロームのMR素子のバル
クハウゼンノイズの発生確率−3= と基板の表面粗さく50〜400人)との関係を示した
。
変化を示し、その比較として従来のMR素子の磁界強度
に対する抵抗値変化を第5図に示す。又第4図にMR層
3の膜厚が300オンゲス]〜ロームのMR素子のバル
クハウゼンノイズの発生確率−3= と基板の表面粗さく50〜400人)との関係を示した
。
これらの図によれば、MR層2の膜厚に対し基板表面の
粗さを小さくするとMR層2の異方性分散が小さくなり
第5図に示すバルクハウゼンノイズの発生を防止するこ
とができる。
粗さを小さくするとMR層2の異方性分散が小さくなり
第5図に示すバルクハウゼンノイズの発生を防止するこ
とができる。
このように基板の表面粗さが100オングストローム以
下の絶縁基板1を用いると、MR素子の抵抗値の不連続
変化および歪等がなくなり、均一な素子特性をもつMR
素子とすることができた。
下の絶縁基板1を用いると、MR素子の抵抗値の不連続
変化および歪等がなくなり、均一な素子特性をもつMR
素子とすることができた。
なお、本発明においては上記実施例に示すものに限られ
ず、目的、用途に応じて本発明の範囲内で種々変更して
適用可能である。即ち上記強磁性金属薄膜層としてはニ
ッケルー鉄、ニッケル−コバルト以外の強磁性を示す他
の金属からなるものとすることができる。さらにこの金
属薄膜層としては上記実施例の膜厚に限られず、用途に
応じて適宜の厚さとすることができる。通常この膜厚は
300〜1500オングストロ一ム程度である。
ず、目的、用途に応じて本発明の範囲内で種々変更して
適用可能である。即ち上記強磁性金属薄膜層としてはニ
ッケルー鉄、ニッケル−コバルト以外の強磁性を示す他
の金属からなるものとすることができる。さらにこの金
属薄膜層としては上記実施例の膜厚に限られず、用途に
応じて適宜の厚さとすることができる。通常この膜厚は
300〜1500オングストロ一ム程度である。
又上記絶縁基板は通常ガラスが用いられるが絶縁性を有
するものであればよい。またこの絶縁基板としては適当
な基板上に絶縁薄膜が形成されたものを用いることもで
きる。又上記電極の材質はアルミニウムに限定されず、
種々の導電性材質を用いることができる。
するものであればよい。またこの絶縁基板としては適当
な基板上に絶縁薄膜が形成されたものを用いることもで
きる。又上記電極の材質はアルミニウムに限定されず、
種々の導電性材質を用いることができる。
[発明の効果]
本発明の強磁性磁気抵抗素子は、表面粗さ1゜Oオング
ストローム以下の絶縁基板と、該絶縁基板の表面上に形
成された強磁性金属薄膜層と、該金属薄膜層の両端に接
続する各電極と、を有することを特徴とする。即ち本強
磁性磁気抵抗素子の絶縁基板の表面粗さは100オング
ストローム以下であるので、強磁性金属薄膜のバルクハ
ウゼンノイズを非常に小さくすることができ、又異方性
分散も小さくすることができる。従って本MR素子の抵
抗値の不連続変化や検出出力の歪や不安定性がなくなり
、そのため均一な素子特性をもつものとすることができ
る。
ストローム以下の絶縁基板と、該絶縁基板の表面上に形
成された強磁性金属薄膜層と、該金属薄膜層の両端に接
続する各電極と、を有することを特徴とする。即ち本強
磁性磁気抵抗素子の絶縁基板の表面粗さは100オング
ストローム以下であるので、強磁性金属薄膜のバルクハ
ウゼンノイズを非常に小さくすることができ、又異方性
分散も小さくすることができる。従って本MR素子の抵
抗値の不連続変化や検出出力の歪や不安定性がなくなり
、そのため均一な素子特性をもつものとすることができ
る。
第1図は本実施例に係わるMR素子の平面図である。第
2図は第1図に示ずMR素子のA−A′断面図である。 第3図は実施例に係わるMR素子の磁界強度と抵抗値の
関係を示すグラフである。 第4図は本実施例のMR素子の基板の表面粗さとバルク
ハウゼンノイズ発生確率との関係を示すグラフである。 第5図は従来のMR素子の磁界強度と抵抗値の関係を示
すグラフである。 1・・・絶縁基板 2・・・強磁性金属薄膜層<MR層) 3・・・電極 特許出願人 日本電装株式会社 代理人 弁理士 大川 宏 同 弁理士 丸山明夫 第1図 第2図 第3図 第4図 歩。 ン ゛ト
2図は第1図に示ずMR素子のA−A′断面図である。 第3図は実施例に係わるMR素子の磁界強度と抵抗値の
関係を示すグラフである。 第4図は本実施例のMR素子の基板の表面粗さとバルク
ハウゼンノイズ発生確率との関係を示すグラフである。 第5図は従来のMR素子の磁界強度と抵抗値の関係を示
すグラフである。 1・・・絶縁基板 2・・・強磁性金属薄膜層<MR層) 3・・・電極 特許出願人 日本電装株式会社 代理人 弁理士 大川 宏 同 弁理士 丸山明夫 第1図 第2図 第3図 第4図 歩。 ン ゛ト
Claims (2)
- (1)表面粗さ100オングストローム以下の絶縁基板
と、 該絶縁基板の表面上に形成された強磁性金属薄膜層と、 該金属薄膜層の両端に接続して形成された各電極と、を
有することを特徴とする強磁性磁気抵抗素子。 - (2)強磁性金属薄膜層は、ニッケル鉄、ニッケル−コ
バルト等の合金から構成される特許請求の範囲第1項記
載の強磁性磁気抵抗素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62016347A JPS63184377A (ja) | 1987-01-27 | 1987-01-27 | 強磁性磁気抵抗素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62016347A JPS63184377A (ja) | 1987-01-27 | 1987-01-27 | 強磁性磁気抵抗素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63184377A true JPS63184377A (ja) | 1988-07-29 |
Family
ID=11913841
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62016347A Pending JPS63184377A (ja) | 1987-01-27 | 1987-01-27 | 強磁性磁気抵抗素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63184377A (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6040198A (ja) * | 1983-08-16 | 1985-03-02 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Com調整方法 |
JPS61248214A (ja) * | 1985-04-26 | 1986-11-05 | Sharp Corp | 薄膜磁気ヘツド |
JPS61248486A (ja) * | 1985-04-25 | 1986-11-05 | Nippon Denso Co Ltd | 強磁性磁気抵抗素子 |
-
1987
- 1987-01-27 JP JP62016347A patent/JPS63184377A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6040198A (ja) * | 1983-08-16 | 1985-03-02 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Com調整方法 |
JPS61248486A (ja) * | 1985-04-25 | 1986-11-05 | Nippon Denso Co Ltd | 強磁性磁気抵抗素子 |
JPS61248214A (ja) * | 1985-04-26 | 1986-11-05 | Sharp Corp | 薄膜磁気ヘツド |
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