JPS63181361A - 樹脂封止型半導体装置の製造装置 - Google Patents
樹脂封止型半導体装置の製造装置Info
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- JPS63181361A JPS63181361A JP1276187A JP1276187A JPS63181361A JP S63181361 A JPS63181361 A JP S63181361A JP 1276187 A JP1276187 A JP 1276187A JP 1276187 A JP1276187 A JP 1276187A JP S63181361 A JPS63181361 A JP S63181361A
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- lead frame
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 8
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Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、m脂封止型半導体装置の製造装置、特に樹
脂封止された半導体とリードフレームの結合部の切断機
構に関するものである。
脂封止された半導体とリードフレームの結合部の切断機
構に関するものである。
第5図〜第8図は従来のこの種樹脂封止型半導体装置の
製造装置を示す図で、図において、1はリードフレーム
枠、2は宙吊リード、3は宙吊り−ド2、図示しない半
導体素子およびリード4の一部と共に樹脂封止して形成
された半導体パッケージ、5はリード加工工程において
リード4相互間を結合しているタイバーの切断後の残余
部、6はリードフレーム枠1をダイアに押えつけろスト
ッパ、8はパッケージ3を矢印方向に押圧して宙吊り−
ド2をリードフレーム枠1から切り離す突き落し部材で
ある。
製造装置を示す図で、図において、1はリードフレーム
枠、2は宙吊リード、3は宙吊り−ド2、図示しない半
導体素子およびリード4の一部と共に樹脂封止して形成
された半導体パッケージ、5はリード加工工程において
リード4相互間を結合しているタイバーの切断後の残余
部、6はリードフレーム枠1をダイアに押えつけろスト
ッパ、8はパッケージ3を矢印方向に押圧して宙吊り−
ド2をリードフレーム枠1から切り離す突き落し部材で
ある。
この従来のものでは、第5図に示すようにタイバーが切
断されたリードフレーム枠1をストリッパ6とダイアで
挟持し、突き落し部材8によって半導体パッケージ3を
押圧すると、宙吊り−ド2がリードフレーム枠1からひ
きちぎられて切り離される。
断されたリードフレーム枠1をストリッパ6とダイアで
挟持し、突き落し部材8によって半導体パッケージ3を
押圧すると、宙吊り−ド2がリードフレーム枠1からひ
きちぎられて切り離される。
この場合リードフレーム枠1と宙吊り−ド2がひきちぎ
られる形で分離されるので、半導体パッケージ3内部の
宙吊り−ド2がひずみ、パッケージ3と宙吊り−ド2と
の界面に第8図に示すように隙間31が生じ、水分等が
侵入するという問題があった。
られる形で分離されるので、半導体パッケージ3内部の
宙吊り−ド2がひずみ、パッケージ3と宙吊り−ド2と
の界面に第8図に示すように隙間31が生じ、水分等が
侵入するという問題があった。
この発明はこのような問題点を解消するためになされた
もので、半導体パッケージと宙吊り−ドの切り離し界面
の隙間をなくすことができ、水分その他が半導体パッケ
ージに侵入するのを防ぐことができる樹脂封止型半導体
装置の製造装置を得ることを目的とする。
もので、半導体パッケージと宙吊り−ドの切り離し界面
の隙間をなくすことができ、水分その他が半導体パッケ
ージに侵入するのを防ぐことができる樹脂封止型半導体
装置の製造装置を得ることを目的とする。
乙の発明に係る樹脂封止型半導体装置の製造装置は、樹
脂封止された半導体パッケージとリードフレーム枠との
結合部をリードフレームと共にストリッパとダイによっ
て挟持し、このストリッパとダイのいずれか一方または
両方に切刃を設け、この切刃によって結合部を切断する
ようにしたものである。
脂封止された半導体パッケージとリードフレーム枠との
結合部をリードフレームと共にストリッパとダイによっ
て挟持し、このストリッパとダイのいずれか一方または
両方に切刃を設け、この切刃によって結合部を切断する
ようにしたものである。
この発明における半導体パッケージとリードフレーム枠
との結合部は、ストリッパとダイに設けられた切刃によ
ってリードフレーム枠をひきちぎることなく切断される
ので、結合部と半導体パッケージの界面に隙間が形成さ
れろことなく、水分等の侵入が防止され半導体装置の品
質が向上する。
との結合部は、ストリッパとダイに設けられた切刃によ
ってリードフレーム枠をひきちぎることなく切断される
ので、結合部と半導体パッケージの界面に隙間が形成さ
れろことなく、水分等の侵入が防止され半導体装置の品
質が向上する。
第1図および第2図はこの発明の一実施例を示ス図で、
図において、6は切刃61を有するストリッパ、7は切
刃71を有するダイである。なおその他の構成は第5図
〜第8図に示す従来のものと同様であるので説明を省略
する。
図において、6は切刃61を有するストリッパ、7は切
刃71を有するダイである。なおその他の構成は第5図
〜第8図に示す従来のものと同様であるので説明を省略
する。
このように構成されたものでは、リードフレーム枠1の
ついたパッケージ3をタイバーリードカット金型内にお
けるリードフレーム枠カット段階で、ストリッパ6とダ
イアの切刃61.71をリードフレーム枠1にかみこま
せ、パッケージ3を切す離す。この場合従来のように宙
吊り−ド2とリードフレーム枠1をひきちぎるのではな
く、切刃によって鋭利に切断するため、宙吊り−ドに発
生する内部応力ひずみがなくなり、第2図に示すように
宙吊り−ドとパッケージの界面に隙間が発生するのが阻
止され、外部からの水分等の異物の侵入を防ぐことがで
きる。
ついたパッケージ3をタイバーリードカット金型内にお
けるリードフレーム枠カット段階で、ストリッパ6とダ
イアの切刃61.71をリードフレーム枠1にかみこま
せ、パッケージ3を切す離す。この場合従来のように宙
吊り−ド2とリードフレーム枠1をひきちぎるのではな
く、切刃によって鋭利に切断するため、宙吊り−ドに発
生する内部応力ひずみがなくなり、第2図に示すように
宙吊り−ドとパッケージの界面に隙間が発生するのが阻
止され、外部からの水分等の異物の侵入を防ぐことがで
きる。
なおここでは、ストリッパ6及びダイア両方に切刃を設
けたが、第3図及び第4図に示すようにストリッパ6お
よびダイアのいずれか一方に設けてリードフレーム枠1
を切断するようにしてもよい。
けたが、第3図及び第4図に示すようにストリッパ6お
よびダイアのいずれか一方に設けてリードフレーム枠1
を切断するようにしてもよい。
また旧Pについて説明したが、他のいずれのパッケージ
にも適用できる。
にも適用できる。
上記のようにこの発明による樹脂封止型半導体装置の製
造装置は、半導体パッケージとリードフレーム枠との結
合部をひきちぎることなく切刃によって切断するように
したので、パッケージ内における結合部のひずみをなく
しパッケージと結合部の界面の隙間を防止でき、半導体
装置の品質を向上することができる。
造装置は、半導体パッケージとリードフレーム枠との結
合部をひきちぎることなく切刃によって切断するように
したので、パッケージ内における結合部のひずみをなく
しパッケージと結合部の界面の隙間を防止でき、半導体
装置の品質を向上することができる。
第1図および第2図はこの発明の一実施例を示す図で、
第1図は要部側断面図、第2図は作用説明図、第3図お
よび第4図はいずれもこの発明の他の実施例を示す要部
側断面図、第5図〜第8図はいずれも従来のこの種樹脂
封止型半導体装置の製造装置を示す図で、第5図は要部
側断面図、第6図〜第8図は作用説明図で第6図は半導
体パッケージ切り離し前の平面図、第7′図は第6図■
−■断面図、第8図は半導体パッケージの切離し後の拡
大断面図である。 図中、1はリードフレーム枠、2は宙吊り−ド、3はパ
ッケージ、4はリード、6はストリッパ、7はダイ、6
1,71は切刃である。 尚、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
第1図は要部側断面図、第2図は作用説明図、第3図お
よび第4図はいずれもこの発明の他の実施例を示す要部
側断面図、第5図〜第8図はいずれも従来のこの種樹脂
封止型半導体装置の製造装置を示す図で、第5図は要部
側断面図、第6図〜第8図は作用説明図で第6図は半導
体パッケージ切り離し前の平面図、第7′図は第6図■
−■断面図、第8図は半導体パッケージの切離し後の拡
大断面図である。 図中、1はリードフレーム枠、2は宙吊り−ド、3はパ
ッケージ、4はリード、6はストリッパ、7はダイ、6
1,71は切刃である。 尚、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 樹脂封止された半導体パッケージとリードフレーム枠
の結合部をリードフレーム枠と共に挟持するストリッパ
とダイ、このストリッパとダイのいずれか一方又は両方
に設けられた切刃を備え、上記切刃によって上記結合部
を切断するよう構成された樹脂封止型半導体装置の製造
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1276187A JPS63181361A (ja) | 1987-01-22 | 1987-01-22 | 樹脂封止型半導体装置の製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1276187A JPS63181361A (ja) | 1987-01-22 | 1987-01-22 | 樹脂封止型半導体装置の製造装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63181361A true JPS63181361A (ja) | 1988-07-26 |
Family
ID=11814385
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1276187A Pending JPS63181361A (ja) | 1987-01-22 | 1987-01-22 | 樹脂封止型半導体装置の製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63181361A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002027779A3 (en) * | 2000-09-26 | 2002-07-11 | Infineon Technologies Richmond | Singulation of semiconductor packages by tie bar cutting |
JP2002237561A (ja) * | 2000-12-05 | 2002-08-23 | Ueno Seiki Kk | 電子部品のリード電極切断装置 |
-
1987
- 1987-01-22 JP JP1276187A patent/JPS63181361A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002027779A3 (en) * | 2000-09-26 | 2002-07-11 | Infineon Technologies Richmond | Singulation of semiconductor packages by tie bar cutting |
JP2002237561A (ja) * | 2000-12-05 | 2002-08-23 | Ueno Seiki Kk | 電子部品のリード電極切断装置 |
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