JPS6316685B2 - - Google Patents
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- JPS6316685B2 JPS6316685B2 JP7200881A JP7200881A JPS6316685B2 JP S6316685 B2 JPS6316685 B2 JP S6316685B2 JP 7200881 A JP7200881 A JP 7200881A JP 7200881 A JP7200881 A JP 7200881A JP S6316685 B2 JPS6316685 B2 JP S6316685B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B17/00—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations
- G01B17/02—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations for measuring thickness
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は減肉測定装置に係り、特に超音波を用
いて被検体の減肉を測定するのに好適な減肉測定
装置に関するものである。
いて被検体の減肉を測定するのに好適な減肉測定
装置に関するものである。
例えば、発電プラントでは、冷却系配管を定期
的に検査し、減肉が発見された場合は、配管の最
小肉厚部の位置およびその肉厚を求め、応力的に
その部分が安全かどうかを検討して、配管を交換
するか否かを決定している。このような減肉部分
の肉厚測定には超音波を利用しているが、従来
は、被検体の厚さ方向に超音波を入射し、底面か
らの反射波の伝播時間を測定し、既知の音速との
積から肉厚を求めるようにしていた。しかし、こ
のような方法では、送・受波器を置いた位置だけ
の肉厚しか求めることができず、最小肉厚位置を
知るためには、検査の対象範囲すべてにわたつて
送・受波器を走査する必要があり、検査に多大の
時間と労力を必要とする。
的に検査し、減肉が発見された場合は、配管の最
小肉厚部の位置およびその肉厚を求め、応力的に
その部分が安全かどうかを検討して、配管を交換
するか否かを決定している。このような減肉部分
の肉厚測定には超音波を利用しているが、従来
は、被検体の厚さ方向に超音波を入射し、底面か
らの反射波の伝播時間を測定し、既知の音速との
積から肉厚を求めるようにしていた。しかし、こ
のような方法では、送・受波器を置いた位置だけ
の肉厚しか求めることができず、最小肉厚位置を
知るためには、検査の対象範囲すべてにわたつて
送・受波器を走査する必要があり、検査に多大の
時間と労力を必要とする。
本発明は上記に鑑みてなされたもので、その目
的とするところは、送・受波器の走査を大幅に低
減でき、しかも、減肉部の存在のみならずそれの
最小肉厚と位置をも短時間で検出できるようにす
ることができる減肉測定装置を提出することにあ
る。
的とするところは、送・受波器の走査を大幅に低
減でき、しかも、減肉部の存在のみならずそれの
最小肉厚と位置をも短時間で検出できるようにす
ることができる減肉測定装置を提出することにあ
る。
本発明の第１の特徴は、被検体に表面波を送信
する送波器と、上記表面波を受信する受波器とを
設け、上記送波器から送信する表面波の周波数を
周波数変化手段を用いて逐次変化させ、上記送波
器から表面波を送信してからその表面波を上記受
波器で受信するまでの時間を計測して、この時間
が上記表面波の周波数の変化とともに変化するこ
とから減肉を検知するようにした点にある。第２
の特徴は、さらに、上記表面波の周波数を逐次増
大させたときに時間計測値が所定値以下となつた
ら上記被検体に減肉部が存在することを示す信号
を送出させ、また、上記時間計測値が所定値以下
となつたときの上記表面波の周波数を用いて上記
減肉部の最小肉厚を演算する手段を具備させた点
にある。第３の特徴は、さらに、上記送波器から
表面波を送信してからこの表面波が上記減肉部で
反射して上記送波器に到着するまでの時間を用い
て上記減肉部の位置を演算する手段を具備させた
点にある。
する送波器と、上記表面波を受信する受波器とを
設け、上記送波器から送信する表面波の周波数を
周波数変化手段を用いて逐次変化させ、上記送波
器から表面波を送信してからその表面波を上記受
波器で受信するまでの時間を計測して、この時間
が上記表面波の周波数の変化とともに変化するこ
とから減肉を検知するようにした点にある。第２
の特徴は、さらに、上記表面波の周波数を逐次増
大させたときに時間計測値が所定値以下となつた
ら上記被検体に減肉部が存在することを示す信号
を送出させ、また、上記時間計測値が所定値以下
となつたときの上記表面波の周波数を用いて上記
減肉部の最小肉厚を演算する手段を具備させた点
にある。第３の特徴は、さらに、上記送波器から
表面波を送信してからこの表面波が上記減肉部で
反射して上記送波器に到着するまでの時間を用い
て上記減肉部の位置を演算する手段を具備させた
点にある。
まず、本発明の装置における計測原理について
説明する。本発明の装置は、表面波のエネルギー
が材料の表面近傍に集中し、かつ、その集中する
深さが表面波の周波数によつて変化することに着
目してなされたもので、第１図は被検体と送・受
波器の位置関係を示す図である。公称板厚Ｄの被
検体１に減肉が生じ、厚さｄの最小肉厚部２がで
きたとする。この場合、送波器３より周波数1M
Hzの表面波４が発信され、図示矢印の方向に進行
し、受波器５で受信されたとする。いま、表面波
４の音速をCR（ｍ／ｓ）とすると、波長λRは、λR
＝CR／で与えられる。表面波４は、そのエネ
ルギーが被検体１の表面からの深さがほぼ2λR以
内のところに集中して伝播する。このとき、表面
波４の波長を最小肉厚部２の厚さｄにくらべて充
分小さくなるように周波数を選定しておくと、
表面波４は、減肉部の影響を受けずに受波器５で
受信される。
説明する。本発明の装置は、表面波のエネルギー
が材料の表面近傍に集中し、かつ、その集中する
深さが表面波の周波数によつて変化することに着
目してなされたもので、第１図は被検体と送・受
波器の位置関係を示す図である。公称板厚Ｄの被
検体１に減肉が生じ、厚さｄの最小肉厚部２がで
きたとする。この場合、送波器３より周波数1M
Hzの表面波４が発信され、図示矢印の方向に進行
し、受波器５で受信されたとする。いま、表面波
４の音速をCR（ｍ／ｓ）とすると、波長λRは、λR
＝CR／で与えられる。表面波４は、そのエネ
ルギーが被検体１の表面からの深さがほぼ2λR以
内のところに集中して伝播する。このとき、表面
波４の波長を最小肉厚部２の厚さｄにくらべて充
分小さくなるように周波数を選定しておくと、
表面波４は、減肉部の影響を受けずに受波器５で
受信される。
次に、周波数を徐々に低くしていくと、波長
λRが大きくなり、ｄ2λRになると、表面波４は、
最小肉厚部２で一部が反射され、送波器３に戻つ
てくる。また、最小肉厚部２を通過する表面波４
はラム波（板波ともいう。）に変化し、音速が大
きくなる。
λRが大きくなり、ｄ2λRになると、表面波４は、
最小肉厚部２で一部が反射され、送波器３に戻つ
てくる。また、最小肉厚部２を通過する表面波４
はラム波（板波ともいう。）に変化し、音速が大
きくなる。
第２図は（周波数×板厚）と音速度との関係を
鋼材の場合について示した線図である。この線図
はS0波と呼ばれる波について示してあり、（周波
数×板厚）の値（以下d値と記す。）が５以上で
は、音速が2950ｍ／ｓと一定値を示し、表面波４
として伝播するが、d４以下ではラム波とし
て伝播することを示している。なお、第２図の関
係は下記の式で表現されることが知られている。
日刊工業新聞発行の「超音波探傷法」という書籍
の第712頁の記載のように、 4pqtanπfd／ｃｑ＋（p2−１）2tanπfd／ｃｐ＝０ ………(1) ここに、 p2＝（Ｃ／CS）2−１、q2＝（Ｃ／CD）2−１ CS；横波の音速 CD；縦波の音速 Ｃ；ラム波の音速（d値が大きいところでは表
面波４の音速CRに等しくなる。） さて、送波器３と受波器５の間の距離をＬとす
ると、表面波４が伝播しているときの伝播時間
T1は、 T1＝Ｌ／CR ………(2) で与えられる。次に、周波数を低くしていく
と、d４の範囲では、音速が大きくなり、し
たがつて伝播時間が短かくなり、 T2＝Ｌ／Ｃ ………(3) で与えられる。したがつて、伝播時間の変化を検
出することにより、送波器３と受波器５との間に
最小肉厚部２があることを検知することができ
る。また、音速の変化分ΔCは、伝播時間の変化
分 ΔT＝T1−T2より、 ΔC＝Ｌ／ΔT ………(4) となり、したがつて、ラム波の音速CLは、 CL＋CR＋ΔC ………(5) より求めることができる。この値を第２図の縦軸
から読みとり、それに対応する横軸の値d値を
読みとれば、周波数が与えられているため、ｄの
値を求めることができる。なお、周波数を変化
させるとき、減肉部板厚ｄを最も通過しやすい周
波数に対し受波器５の出力が最大になることを
利用して周波数を決定する。
鋼材の場合について示した線図である。この線図
はS0波と呼ばれる波について示してあり、（周波
数×板厚）の値（以下d値と記す。）が５以上で
は、音速が2950ｍ／ｓと一定値を示し、表面波４
として伝播するが、d４以下ではラム波とし
て伝播することを示している。なお、第２図の関
係は下記の式で表現されることが知られている。
日刊工業新聞発行の「超音波探傷法」という書籍
の第712頁の記載のように、 4pqtanπfd／ｃｑ＋（p2−１）2tanπfd／ｃｐ＝０ ………(1) ここに、 p2＝（Ｃ／CS）2−１、q2＝（Ｃ／CD）2−１ CS；横波の音速 CD；縦波の音速 Ｃ；ラム波の音速（d値が大きいところでは表
面波４の音速CRに等しくなる。） さて、送波器３と受波器５の間の距離をＬとす
ると、表面波４が伝播しているときの伝播時間
T1は、 T1＝Ｌ／CR ………(2) で与えられる。次に、周波数を低くしていく
と、d４の範囲では、音速が大きくなり、し
たがつて伝播時間が短かくなり、 T2＝Ｌ／Ｃ ………(3) で与えられる。したがつて、伝播時間の変化を検
出することにより、送波器３と受波器５との間に
最小肉厚部２があることを検知することができ
る。また、音速の変化分ΔCは、伝播時間の変化
分 ΔT＝T1−T2より、 ΔC＝Ｌ／ΔT ………(4) となり、したがつて、ラム波の音速CLは、 CL＋CR＋ΔC ………(5) より求めることができる。この値を第２図の縦軸
から読みとり、それに対応する横軸の値d値を
読みとれば、周波数が与えられているため、ｄの
値を求めることができる。なお、周波数を変化
させるとき、減肉部板厚ｄを最も通過しやすい周
波数に対し受波器５の出力が最大になることを
利用して周波数を決定する。
また、最小肉厚部２から反射されて送波器３に
戻つてきた反射表面波の伝播時間τより、送波器
３から最小肉厚部２までの距離ｌを ｌ＝CR・τ／２ ………(6) より求めることができる。
戻つてきた反射表面波の伝播時間τより、送波器
３から最小肉厚部２までの距離ｌを ｌ＝CR・τ／２ ………(6) より求めることができる。
次に、必要な周波数の可変範囲について説明
する。第２図からわかるように、d値が４以下
であればラム波の領域になる。伝播時間変化検出
の精度を考慮して、d＝2.5近辺で伝播時間測定
をすると仮定する。下限の周波数1は、、減肉部
がない場合、つまり、公称板厚Ｄに対応した板波
が発生できるものであればよく、 1＝2.5／Ｄ ………(7) で示される（1はＭHz、Ｄはmm）。
する。第２図からわかるように、d値が４以下
であればラム波の領域になる。伝播時間変化検出
の精度を考慮して、d＝2.5近辺で伝播時間測定
をすると仮定する。下限の周波数1は、、減肉部
がない場合、つまり、公称板厚Ｄに対応した板波
が発生できるものであればよく、 1＝2.5／Ｄ ………(7) で示される（1はＭHz、Ｄはmm）。
上限の周波数2は、検出すべき最小肉厚部２に
対しても充分表面波として伝播する周波数でなけ
ればならない。この周波数2はｄの値に依存し、
ｄの値として公称板厚Ｄの50％、、つま、ｄ＝
0.5Dと仮定すれば、第１図より、d55である
ことが必要であるから、 2＝５／ｄ＝５／0.5D ………(8) となる（2はＭHz、Ｄはmm）。
対しても充分表面波として伝播する周波数でなけ
ればならない。この周波数2はｄの値に依存し、
ｄの値として公称板厚Ｄの50％、、つま、ｄ＝
0.5Dと仮定すれば、第１図より、d55である
ことが必要であるから、 2＝５／ｄ＝５／0.5D ………(8) となる（2はＭHz、Ｄはmm）。
なお、表面波４は伝播するにしたがつて減衰す
るので、その減衰の大きさによつて送波器３と受
波器５との間の距離Ｌ、つまり、検査範囲が決ま
る。鉄材の場合、例えば、２〜2.5MHzの表面波
４に対しては、約0.1dB／cmの割合で減衰する。
そして、探傷器の増幅度は、ダイナミツクレンジ
も考慮に入れると、約40dBは充分とれるので、
400cmの間を検査できることがわかる。
るので、その減衰の大きさによつて送波器３と受
波器５との間の距離Ｌ、つまり、検査範囲が決ま
る。鉄材の場合、例えば、２〜2.5MHzの表面波
４に対しては、約0.1dB／cmの割合で減衰する。
そして、探傷器の増幅度は、ダイナミツクレンジ
も考慮に入れると、約40dBは充分とれるので、
400cmの間を検査できることがわかる。
以上述べたように、第１図によれば、原理的に
送・受波器３，５を表面波４の進行方向に走査す
ることなく、減肉した部分の最小肉厚部２を検知
することができ、また、最小肉厚を測定すること
ができ、検査時間を大幅に減少することができ
る。
送・受波器３，５を表面波４の進行方向に走査す
ることなく、減肉した部分の最小肉厚部２を検知
することができ、また、最小肉厚を測定すること
ができ、検査時間を大幅に減少することができ
る。
以下本発明を第３図、第５図、第７図、第８図
に示した実施例および第４図、第６図を用いて詳
細に説明する。
に示した実施例および第４図、第６図を用いて詳
細に説明する。
第３図は本発明の装置の送波器の一実施例を示
す構造説明図で、受波器についても同一構造とな
つている。第３図において、１は被検体、３は送
波器で、送波器３は、受波子６を被検体１に密着
させたシユー７の斜面に固着し、送波子６に接続
したリード線をエネクター８を介して外部に取り
出すように構成してある。
す構造説明図で、受波器についても同一構造とな
つている。第３図において、１は被検体、３は送
波器で、送波器３は、受波子６を被検体１に密着
させたシユー７の斜面に固着し、送波子６に接続
したリード線をエネクター８を介して外部に取り
出すように構成してある。
表面波を発生させるための送波器３の入射角度
θは、次式によつて決定される。
θは、次式によつて決定される。
sinθ＝CD／CR ………(9)
ここに、
CR；表面波音速
CD；シユー７内の縦波音速
シユー７の材料としては、その音速が被検体１
の音速より小さいことが必要であり、通常、シリ
コンゴムコンパウンドを使用する。この材料の音
速CDは1010ｍ／ｓであり、CDは鉄の場合は2950
ｍ／ｓであるから、入射角θは20゜となる。した
がつて、このときは、シユー７の斜面角度を図示
のように20゜とする。図示を省略するが、受波器
５についても同様の構造のものとする。
の音速より小さいことが必要であり、通常、シリ
コンゴムコンパウンドを使用する。この材料の音
速CDは1010ｍ／ｓであり、CDは鉄の場合は2950
ｍ／ｓであるから、入射角θは20゜となる。した
がつて、このときは、シユー７の斜面角度を図示
のように20゜とする。図示を省略するが、受波器
５についても同様の構造のものとする。
送波子６に必要な周波数可変範囲は、(7)、(8)式
より、1＝0.1MHz（Ｄ＝25mmの場合）、2＝0.4M
Hzとなる。第４図は、上記の周波数範囲を満足す
る市販の送波子の周波数特性の一例を示す線図で
ある。
より、1＝0.1MHz（Ｄ＝25mmの場合）、2＝0.4M
Hzとなる。第４図は、上記の周波数範囲を満足す
る市販の送波子の周波数特性の一例を示す線図で
ある。
第５図は本発明の装置の一実施例を示す回路ブ
ロツク図であり、第６図は第５図の各部信号のタ
イムチヤート、第７図は第５図のマイクロプロセ
ツサーにおける処理の一実施例を示すフローチヤ
ートである。以下、これらの図を参照して構成、
作用について説明する。
ロツク図であり、第６図は第５図の各部信号のタ
イムチヤート、第７図は第５図のマイクロプロセ
ツサーにおける処理の一実施例を示すフローチヤ
ートである。以下、これらの図を参照して構成、
作用について説明する。
マイクロプロセツサー９にて発振器１０の周波
数を設定する（第７図ステツプS1）。発振器１０
から第６図ａに示す例えば0.4MHzの連続正弦波
が出力されると、この正弦波をマイクロプロセツ
サー９からのトリガーパルスの発信により（第７
図ステツプS3）ゲート回路１１にて所定の時間
幅（例えば10μs）のパルス状正弦波に変換する。
第６図ｂは変換のためのゲート信号、第６図ｃは
パルス状正弦波の波形である。このパルス状正弦
波は、パワー増幅器１２にて増幅され、送波器３
に印加される。これにより送波器３から表面波が
発信され、受波器５で受信される。（第６図ｄ）。
受波器５からの信号は、増幅器１７で増幅され、
パルスシエーバー１８でデイジタルパルスに変換
される（第６図ｅ）。一方、パルス発生器１３か
らは、ゲート信号と同期した時間計測用パルス
（第６図ｆ）が発信され、カウンタ１９により発
信時からデイジタルパルスが入力するまでのパル
ス発生器１３からの時間計測用パルスが計数さ
れ、その値、つまり伝播時間がマイクロプロセツ
サー９に記憶される（第７図ステツプS4）。
数を設定する（第７図ステツプS1）。発振器１０
から第６図ａに示す例えば0.4MHzの連続正弦波
が出力されると、この正弦波をマイクロプロセツ
サー９からのトリガーパルスの発信により（第７
図ステツプS3）ゲート回路１１にて所定の時間
幅（例えば10μs）のパルス状正弦波に変換する。
第６図ｂは変換のためのゲート信号、第６図ｃは
パルス状正弦波の波形である。このパルス状正弦
波は、パワー増幅器１２にて増幅され、送波器３
に印加される。これにより送波器３から表面波が
発信され、受波器５で受信される。（第６図ｄ）。
受波器５からの信号は、増幅器１７で増幅され、
パルスシエーバー１８でデイジタルパルスに変換
される（第６図ｅ）。一方、パルス発生器１３か
らは、ゲート信号と同期した時間計測用パルス
（第６図ｆ）が発信され、カウンタ１９により発
信時からデイジタルパルスが入力するまでのパル
ス発生器１３からの時間計測用パルスが計数さ
れ、その値、つまり伝播時間がマイクロプロセツ
サー９に記憶される（第７図ステツプS4）。
マイクロプロセツサー９では、送・受波器間距
離Ｌ（例えば４ｍ）をカウンタ１９の値で割り
（ステツプS5）、音速Ｃを求める。この値が表面
波音速2950ｍ／ｓ（被検体１が鉄材であるとす
る。）より小さければ、ステツプS6よりステツプ
S2に戻り、さらに周波数を一定値Δだけ変化さ
せ、上記と同じ処理をＣ＞2950ｍ／ｓになるまで
繰り返す。Ｃ＞2950ｍ／ｓになつたら、Ｃの値を
求め（ステツプS7）、表示装置２０に表示する
（ステツプS8）。さらに第２図あるいは(2)式にも
とづき、d値を求め（ステツプS9）、d2.5の条
件を満足しているかどうかを判定する（ステツプ
S10）。もし、満足していなければ、ステツプS2
に戻り、満足するまでをさらに変化させる。
d2.5を満足するの値が得られたら、d値を
で割り（ステツプS11）ｄ、つまり、最小肉厚
の値を求め、表示する（ステツプS12）。
離Ｌ（例えば４ｍ）をカウンタ１９の値で割り
（ステツプS5）、音速Ｃを求める。この値が表面
波音速2950ｍ／ｓ（被検体１が鉄材であるとす
る。）より小さければ、ステツプS6よりステツプ
S2に戻り、さらに周波数を一定値Δだけ変化さ
せ、上記と同じ処理をＣ＞2950ｍ／ｓになるまで
繰り返す。Ｃ＞2950ｍ／ｓになつたら、Ｃの値を
求め（ステツプS7）、表示装置２０に表示する
（ステツプS8）。さらに第２図あるいは(2)式にも
とづき、d値を求め（ステツプS9）、d2.5の条
件を満足しているかどうかを判定する（ステツプ
S10）。もし、満足していなければ、ステツプS2
に戻り、満足するまでをさらに変化させる。
d2.5を満足するの値が得られたら、d値を
で割り（ステツプS11）ｄ、つまり、最小肉厚
の値を求め、表示する（ステツプS12）。
上記の状態では、送波器３には最小肉厚部２か
らの反射波が受信されているから、この信号を増
幅器１４で増幅後、パルスシエーパー１５でデイ
ジタルパルス（第６図ｈ）に変換し、カウンタ１
６により反射波の伝播時間を測定し、マイクロプ
ロセツサー９に記憶する（第７図ステツプS13）。
この値は、反射点までの往復時間を示しているの
で、この値に表面波の音速を乗じ、２で除するこ
とによつて最小肉厚部２までの距離を求める（第
７図ステツプS14）。そしてこの値を表示装置２
０に表示する（第７図ステツプS15）。
らの反射波が受信されているから、この信号を増
幅器１４で増幅後、パルスシエーパー１５でデイ
ジタルパルス（第６図ｈ）に変換し、カウンタ１
６により反射波の伝播時間を測定し、マイクロプ
ロセツサー９に記憶する（第７図ステツプS13）。
この値は、反射点までの往復時間を示しているの
で、この値に表面波の音速を乗じ、２で除するこ
とによつて最小肉厚部２までの距離を求める（第
７図ステツプS14）。そしてこの値を表示装置２
０に表示する（第７図ステツプS15）。
以上述べたような測定および処理を行うことに
より、最小肉厚部２の位置およびその点での最小
肉厚ｄを自動的に短時間で求めることができる。
より、最小肉厚部２の位置およびその点での最小
肉厚ｄを自動的に短時間で求めることができる。
第８図は本発明の他の実施例を示す説明図であ
る。平面状の被検体１の全面を被査する場合は、
第８図に示すように、被検体１上にレール２１，
２２を設置し、それぞれその上に送波器３、受波
器５を一直線上に並ぶように設置する。このた
め、送波器３には、例えば、半導体レーザーのよ
うな発光素子２３を取り付け、また、受波器５に
は受光素子２４を取り付ける。そして、送波器３
を必要量だけ移動し、次に、受光素子２４で発光
素子２３からの光２５を受光できる位置まで受波
器５を移動する。これにより両者を一直線上に整
列させる。なお、これらの移動は、上記したマイ
クロプロセツサー９を用いて制御するようにして
もよい。このように、送波器３と受波器５とを表
面波進行方向と直角方向に連動して走査するよう
にすれば、被検体１の全面の減肉状態を検査する
ことができる。なお、配管について同様に適用で
きる。
る。平面状の被検体１の全面を被査する場合は、
第８図に示すように、被検体１上にレール２１，
２２を設置し、それぞれその上に送波器３、受波
器５を一直線上に並ぶように設置する。このた
め、送波器３には、例えば、半導体レーザーのよ
うな発光素子２３を取り付け、また、受波器５に
は受光素子２４を取り付ける。そして、送波器３
を必要量だけ移動し、次に、受光素子２４で発光
素子２３からの光２５を受光できる位置まで受波
器５を移動する。これにより両者を一直線上に整
列させる。なお、これらの移動は、上記したマイ
クロプロセツサー９を用いて制御するようにして
もよい。このように、送波器３と受波器５とを表
面波進行方向と直角方向に連動して走査するよう
にすれば、被検体１の全面の減肉状態を検査する
ことができる。なお、配管について同様に適用で
きる。
以上説明したように、本発明によれば、送・受
波器の走査を大幅に低減することができ、しか
も、減肉発生部の最小肉厚部の位置と最小肉厚と
を短時間で検出することができ、検査時間を大幅
に減少させることができるという効果がある。
波器の走査を大幅に低減することができ、しか
も、減肉発生部の最小肉厚部の位置と最小肉厚と
を短時間で検出することができ、検査時間を大幅
に減少させることができるという効果がある。
第１図は本発明の減肉測定装置の原理を説明す
るための被検体と送・受波器の位置関係を示す
図、第２図d値とラム波の音速との関係を示す
線図、第３図は本発明の減肉測定装置の送波器の
一実施例を示す構造説明図、第４図は送波子の周
波数特性の一例を示す線図、第５図は本発明の減
肉測定装置の一実施例を示す回路ブロツク図、第
６図は第５図の各部信号のタイムチヤート、第７
図は第５図のマイクロプロセツサーにおける処理
の一実施例を示すフローチヤート、第８図は本発
明の他の実施例を示す説明図である。 １……被検体、２……最小肉厚部、３……送波
器、４……表面波、５……受波器、９……マイク
ロプロセツサー、１０……発振器、１１……ゲー
ト回路、１３……パルス発生器、１５，１８……
パルスシエーパー、１６，１９……カウンタ、２
０……表示装置。
るための被検体と送・受波器の位置関係を示す
図、第２図d値とラム波の音速との関係を示す
線図、第３図は本発明の減肉測定装置の送波器の
一実施例を示す構造説明図、第４図は送波子の周
波数特性の一例を示す線図、第５図は本発明の減
肉測定装置の一実施例を示す回路ブロツク図、第
６図は第５図の各部信号のタイムチヤート、第７
図は第５図のマイクロプロセツサーにおける処理
の一実施例を示すフローチヤート、第８図は本発
明の他の実施例を示す説明図である。 １……被検体、２……最小肉厚部、３……送波
器、４……表面波、５……受波器、９……マイク
ロプロセツサー、１０……発振器、１１……ゲー
ト回路、１３……パルス発生器、１５，１８……
パルスシエーパー、１６，１９……カウンタ、２
０……表示装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被検体に表面波を送信する送波器と、前記表
面波を受信する受波器と、前記送波器から送信す
る表面波の周波数を変化させる周波数変化手段
と、前記送波器から表面波を送信してから該表面
波を前記受波器で受信するまでの時間を計測する
時間計測手段とを備え、前記送波器から表面波を
送信してから前記受波器で受信するまでの時間が
前記表面波の周波数を変化させたときに変化する
ことから前記被検体の減肉を検知する構成とした
ことを特徴とする減肉測定装置。 ２ 前記送波器と受波器とは表面波進行方向と直
角方向に連動して走査される構成としてある特許
請求の範囲第１項記載の減肉測定装置。 ３ 被検体に表面波を送信する送波器と、前記表
面波を受信する受波器と、前記送波器から送信す
る表面波の周波数を変化させる周波数変化手段
と、前記送波器から表面波を送信してから該表面
波を前記受波器で受信するまでの時間を計測する
時間計測手段と、前記表面波の周波数を逐次低下
させたときに前記時間計測手段による時間計測値
が所定値以下となつたら前記被検体に減肉部が存
在することを示す信号を送出する手段と、前記時
間計測値が所定値以下となつたときの前記表面波
の周波数を用いて前記減肉部の最小肉厚を演算す
る手段とを具備することを特徴とする減肉測定装
置。 ４ 被検体に表面波を送信する送波器と、前記表
面波を受信する受波器と、前記送波器から送信す
る表面波の周波数を変化させる周波数変化手段
と、前記送波器から表面波を送信してから該表面
波を前記受波器で受信するまでの時間を計測する
時間計測手段と、前記表面波の周波数を逐次低下
させたときに前記時間計測手段による時間計測値
が所定値以下となつたら前記被検体に減肉部が存
在することを示す信号を送出する手段と、前記時
間計測値が所定値以下となつたときの前記表面波
の周波数を用いて前記減肉部の最小肉厚を演算す
る手段と、前記送波器から表面波を送信してから
該表面波が前記減肉部で反射して前記送波器に到
着するまでの時間を用いて前記減肉部の位置を演
算する手段とを具備することを特徴とする減肉測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7200881A JPS57187609A (en) | 1981-05-13 | 1981-05-13 | Measuring device for decrease in wall thickness |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7200881A JPS57187609A (en) | 1981-05-13 | 1981-05-13 | Measuring device for decrease in wall thickness |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57187609A JPS57187609A (en) | 1982-11-18 |
| JPS6316685B2 true JPS6316685B2 (ja) | 1988-04-11 |
Family
ID=13476949
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7200881A Granted JPS57187609A (en) | 1981-05-13 | 1981-05-13 | Measuring device for decrease in wall thickness |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57187609A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011529182A (ja) * | 2008-07-22 | 2011-12-01 | ネーデルランツ オルガニサティー フォール トゥーゲパストナトゥールヴェテンシャッペリーク オンデルズーク テーエンオー | 腐食の監視 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4500413B2 (ja) * | 2000-06-23 | 2010-07-14 | 出光エンジニアリング株式会社 | 表面波による減肉等の検査方法及び検査装置 |
| EP1959229A1 (en) * | 2007-02-19 | 2008-08-20 | Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno | Ultrasonic surface monitoring |
| JP6802113B2 (ja) * | 2017-06-06 | 2020-12-16 | 日立Ｇｅニュークリア・エナジー株式会社 | 超音波検査方法 |
-
1981
- 1981-05-13 JP JP7200881A patent/JPS57187609A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011529182A (ja) * | 2008-07-22 | 2011-12-01 | ネーデルランツ オルガニサティー フォール トゥーゲパストナトゥールヴェテンシャッペリーク オンデルズーク テーエンオー | 腐食の監視 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57187609A (en) | 1982-11-18 |
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