JPS6316219A - 光干渉角速度計 - Google Patents
光干渉角速度計Info
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- JPS6316219A JPS6316219A JP61161458A JP16145886A JPS6316219A JP S6316219 A JPS6316219 A JP S6316219A JP 61161458 A JP61161458 A JP 61161458A JP 16145886 A JP16145886 A JP 16145886A JP S6316219 A JPS6316219 A JP S6316219A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は環状の光学路を互いに逆の向きに伝搬する2
つの光の間に生ずる位相の差を検出し、その位相の差か
ら光学路に卯月11さ?′1.之角速゛用達:I’、’
1定する光干渉角速度計に関する。
つの光の間に生ずる位相の差を検出し、その位相の差か
ら光学路に卯月11さ?′1.之角速゛用達:I’、’
1定する光干渉角速度計に関する。
「従来の技術」
第6図は従来の光子7歩用達度計の例を示す図である。
レーザなどの光aQ11からの光12が光分配結合器1
3により右廻り光14と左廻り光15とに分配され、こ
れらの光14.15は少な(とも−周する光学路16の
両端に入射され、光学路16をそれぞれ右廻り、左廻り
に通って光学路16から出射光17.18として出射さ
れ、これら出射光17.18は光分配結合器13により
結合され、互いに干渉し、干渉光19として光電変換回
路21に受光される。
3により右廻り光14と左廻り光15とに分配され、こ
れらの光14.15は少な(とも−周する光学路16の
両端に入射され、光学路16をそれぞれ右廻り、左廻り
に通って光学路16から出射光17.18として出射さ
れ、これら出射光17.18は光分配結合器13により
結合され、互いに干渉し、干渉光19として光電変換回
路21に受光される。
光学路16は例えば光ファイバを複数回ループ状に巻い
たもので構成される。光学路16にその周方向の角速度
が印加されない状態では出射光17及び18の位相差は
はX゛ゼロあるが、光学路16の軸芯まわりに角速度Ω
が印加されると、この角速度によっていわゆるサニヤッ
ク効果が生じ、光学路16を伝搬した出射光17.18
の間に位相差Δφ。が生ずる。この位相差Δφ9は、Δ
φ9=(4πRL/cλ)・Ω ・・・・・・・・・
(1)で表される。ここでRはループ状に構成された光
学路16の半径、Lはループ状に構成された光学路16
の長さ、λは光′fA11の光波長、Cは先の速度を示
す。また干渉光19の光強度■。はre ” 1− c
osΔψ2・・・・・・・・・(2)となる、従って干
渉光19の強度I0を測定することにより角速度Ωを検
出することができる。
たもので構成される。光学路16にその周方向の角速度
が印加されない状態では出射光17及び18の位相差は
はX゛ゼロあるが、光学路16の軸芯まわりに角速度Ω
が印加されると、この角速度によっていわゆるサニヤッ
ク効果が生じ、光学路16を伝搬した出射光17.18
の間に位相差Δφ。が生ずる。この位相差Δφ9は、Δ
φ9=(4πRL/cλ)・Ω ・・・・・・・・・
(1)で表される。ここでRはループ状に構成された光
学路16の半径、Lはループ状に構成された光学路16
の長さ、λは光′fA11の光波長、Cは先の速度を示
す。また干渉光19の光強度■。はre ” 1− c
osΔψ2・・・・・・・・・(2)となる、従って干
渉光19の強度I0を測定することにより角速度Ωを検
出することができる。
しかしこの場合、入力角速度が小さい場合には位相差Δ
φ9が小さく、cosΔφΩの変化が僅かなので感度が
極端に低くなる。
φ9が小さく、cosΔφΩの変化が僅かなので感度が
極端に低くなる。
このような点から従来より入力感度を最適化するために
、第7図に示すように光学路16の一端と光分配結合器
13との間に例えば電歪振動子に光ファイバを巻回して
構成した位相変調器22を直列に挿入し、変調信号′r
A23からの駆動信号f0により互いに逆方向に伝搬す
る光14.15をイ2″L相変j)目する方法がとられ
ている。この場合、干渉光の強度I0は 1o=c (1cosΔφQ(JO(X)+2J2(X
)CO32(1) J ”+ ・、 、、。
、第7図に示すように光学路16の一端と光分配結合器
13との間に例えば電歪振動子に光ファイバを巻回して
構成した位相変調器22を直列に挿入し、変調信号′r
A23からの駆動信号f0により互いに逆方向に伝搬す
る光14.15をイ2″L相変j)目する方法がとられ
ている。この場合、干渉光の強度I0は 1o=c (1cosΔφQ(JO(X)+2J2(X
)CO32(1) J ”+ ・、 、、。
+2Jz*(X)cos 2 m <1) t’ +
−・−、、、)−sinΔφo(2J+(X)sinω
t’+2J*(X)sin3ωt゛+・・・・・・+2
J2.−+(X)sin(2m−1)ωt’+−))・
・・・・・(3) となる。
−・−、、、)−sinΔφo(2J+(X)sinω
t’+2J*(X)sin3ωt゛+・・・・・・+2
J2.−+(X)sin(2m−1)ωt’+−))・
・・・・・(3) となる。
ここで、C:定数
J、:n次のベッセル関数(n =0.L2,3.・・
・)X :2Asin7CfoT Δ:変調指数 τ:光学路16を通る光の伝搬時間 f、二位相変調器22の駆動周波数 t’:t−τ/2 式(3)から明らかなように、干渉光19の強度1oに
は、cosΔφ9に比例する項と、sinΔφ。に比例
する項とが含まれている。
・)X :2Asin7CfoT Δ:変調指数 τ:光学路16を通る光の伝搬時間 f、二位相変調器22の駆動周波数 t’:t−τ/2 式(3)から明らかなように、干渉光19の強度1oに
は、cosΔφ9に比例する項と、sinΔφ。に比例
する項とが含まれている。
先行技術として、特願昭59−70452号に述べられ
ているように、Δφ9が:mπ、(m=0.1゜2、・
・・・・・);こ対し、約±π/4の範囲で高感度化す
るために、光電変換回路21の出力を同期検波手段24
において駆動信号源23の周波数2roを1/2分周器
25で分周した変調信号f0により同期横波してsin
Δφ7二こ比例する成分の内、位相変調2L22の駆動
周波数f0と同一成分■1を取り出し、更にΔφ9が±
(2m+1)・(π/2)、(m =0.1,2.・・
・・・・)に対し約±π/4の範囲で高感度化するため
、光電変換回路21の出力を他の同期検波手段26にお
いて駆動信号源23の周波数2r、により同期検波して
cosΔφ9に比例する成分の内、位相変調器22の駆
動周波数f0の2倍波底分V、を取り出している。
ているように、Δφ9が:mπ、(m=0.1゜2、・
・・・・・);こ対し、約±π/4の範囲で高感度化す
るために、光電変換回路21の出力を同期検波手段24
において駆動信号源23の周波数2roを1/2分周器
25で分周した変調信号f0により同期横波してsin
Δφ7二こ比例する成分の内、位相変調2L22の駆動
周波数f0と同一成分■1を取り出し、更にΔφ9が±
(2m+1)・(π/2)、(m =0.1,2.・・
・・・・)に対し約±π/4の範囲で高感度化するため
、光電変換回路21の出力を他の同期検波手段26にお
いて駆動信号源23の周波数2r、により同期検波して
cosΔφ9に比例する成分の内、位相変調器22の駆
動周波数f0の2倍波底分V、を取り出している。
ここで、V+−に+J+(X)sinΔφ9・・・・・
・(4)■z ”KzJi(X)cosΔφ9 ・・
・・・・(5)K、、に! :定数 である。
・(4)■z ”KzJi(X)cosΔφ9 ・・
・・・・(5)K、、に! :定数 である。
±mπ、(m =0.1.2.・・・・・・)に対し±
π/4の範囲では、同期検波手段24の出力v1を角速
度計の出力として取り出すと共に、±(2m−1−1)
π/2.(m=0.l、2.・・・・・・)に対し±π
/4の範囲では他の同期検波手段26の出力■2をジャ
イロ出力とじて取り出し、■1及び■2の切り換え回数
nlを計数することで、角速度情報Ωは 4 π RL により求められる。
π/4の範囲では、同期検波手段24の出力v1を角速
度計の出力として取り出すと共に、±(2m−1−1)
π/2.(m=0.l、2.・・・・・・)に対し±π
/4の範囲では他の同期検波手段26の出力■2をジャ
イロ出力とじて取り出し、■1及び■2の切り換え回数
nlを計数することで、角速度情報Ωは 4 π RL により求められる。
この方法では、広い範囲にわたって高感度にしかも直線
性良く角速度を測定することができる。
性良く角速度を測定することができる。
しかしながら、式(4)2式(5)から解かれるように
、入力感度はX(=2Asinπf0τ)の値に左右さ
れる。
、入力感度はX(=2Asinπf0τ)の値に左右さ
れる。
Xの値は変数指数A9位相変調器22の駆動周波数f0
及び光学路16を通る光の伝搬時間τによって決まる。
及び光学路16を通る光の伝搬時間τによって決まる。
駆動周波数f0及び伝搬時間τは温度による影響が比較
的小さいが、変数指数Aは温度による影響を受けやすい
。
的小さいが、変数指数Aは温度による影響を受けやすい
。
つまり位相変調器22は、例えば電歪振動子に光学路1
6を構成する光ファイバを巻きつけ、その電歪振動子に
周波数10の駆動電圧を印加して振動させ、光学路16
を伸縮させ、そこを通る右廻り光と左廻り光とを位相変
調させるようにする。
6を構成する光ファイバを巻きつけ、その電歪振動子に
周波数10の駆動電圧を印加して振動させ、光学路16
を伸縮させ、そこを通る右廻り光と左廻り光とを位相変
調させるようにする。
駆動周波数f0はその電歪振動子を効率良く伸縮させる
ために電歪振動子の共振点に合わせるのが一般的である
。この共振周波数は、温度によって変化するため変調指
数Aは電歪振動子の機械的Q(共振周波数における機械
的振動の“鋭さ”を指ず)が高い程lユ度の影響を受け
る。その結果Xの値が変化し、人力感度が変動する不都
合が生ずる。
ために電歪振動子の共振点に合わせるのが一般的である
。この共振周波数は、温度によって変化するため変調指
数Aは電歪振動子の機械的Q(共振周波数における機械
的振動の“鋭さ”を指ず)が高い程lユ度の影響を受け
る。その結果Xの値が変化し、人力感度が変動する不都
合が生ずる。
また、光ファイバは最適動作を行うため適当なテンショ
ンで巻かれている。しかし、このテンシツンは周囲温度
が変わると電歪振動子と光ファイバの熱膨張係数の差で
、初期設定値から外れてしまう、また、光ファイバの緩
衝層(シリコンまたはウレタンなど)によるダンパ効果
も温度によって変わり、その結果、変調指数Aが変化し
、人力感度が変動する。温度の変化に影響されずに、X
の値を一定に保つための先行技術として特願昭60−1
51795号に説明しているように、干渉光に含まれる
係数の中の奇数次のベッセル関数J2...(x)の相
互、または偶数次のベッセル関数、h、(X )の相互
が実質的に等しくなるように位相変調器の駆動状態を制
御する自動制御ループを設ける方法が提案されている。
ンで巻かれている。しかし、このテンシツンは周囲温度
が変わると電歪振動子と光ファイバの熱膨張係数の差で
、初期設定値から外れてしまう、また、光ファイバの緩
衝層(シリコンまたはウレタンなど)によるダンパ効果
も温度によって変わり、その結果、変調指数Aが変化し
、人力感度が変動する。温度の変化に影響されずに、X
の値を一定に保つための先行技術として特願昭60−1
51795号に説明しているように、干渉光に含まれる
係数の中の奇数次のベッセル関数J2...(x)の相
互、または偶数次のベッセル関数、h、(X )の相互
が実質的に等しくなるように位相変調器の駆動状態を制
御する自動制御ループを設ける方法が提案されている。
この提案によれば、干渉光重。に含まれる項の係数で、
奇数次のベッセル関数Jz−0+(X)相互または偶数
次のへフセル閏数、+z、(X )相互が等しくなるよ
うに、その自動制御ループにより位相変調器の駆動状態
を制御するもので、全作動温度範囲にわたって入力感度
を一定に保ら、ジャイロの入出力特性としてのスケール
ファクタを安定に保つことができる。
奇数次のベッセル関数Jz−0+(X)相互または偶数
次のへフセル閏数、+z、(X )相互が等しくなるよ
うに、その自動制御ループにより位相変調器の駆動状態
を制御するもので、全作動温度範囲にわたって入力感度
を一定に保ら、ジャイロの入出力特性としてのスケール
ファクタを安定に保つことができる。
第8図はその例を示す図である。光電変換回路21の出
力は第1同期検波手段24.第2同期検波手段27及び
第3の同期検波手段26にそれぞれ供給される。第1.
第2同期検波手段24.27には位相変調器22に供給
される信号f0の隣接する奇数倍または隣接する偶数倍
の参照信号が供給される。この例では、奇数倍の参照信
号f0及び3f。
力は第1同期検波手段24.第2同期検波手段27及び
第3の同期検波手段26にそれぞれ供給される。第1.
第2同期検波手段24.27には位相変調器22に供給
される信号f0の隣接する奇数倍または隣接する偶数倍
の参照信号が供給される。この例では、奇数倍の参照信
号f0及び3f。
が第1.第2同期検波手段24.27に供給されている
例で、それぞれ信号V、、V、を出力する。
例で、それぞれ信号V、、V、を出力する。
他の同期検波手段26には参照信号2foが供給され、
信号■2を出力する。信号V、は式(4ンで表され、s
inΔφ。に比例するジャイロ出力として端子33に出
力されると共に、差動増幅器31のプラス入力端に供給
される。
信号■2を出力する。信号V、は式(4ンで表され、s
inΔφ。に比例するジャイロ出力として端子33に出
力されると共に、差動増幅器31のプラス入力端に供給
される。
信号v2は弐(5)で表され、cosΔφ。に比例する
ジャイロ出力として端子34に出力される。
ジャイロ出力として端子34に出力される。
信号■3は
V 3 = K 3J3(X )sinΔφo ”
・”’ +6)K、:定数 で表され、差動増幅器31のマイナス入力端に供給され
る。
・”’ +6)K、:定数 で表され、差動増幅器31のマイナス入力端に供給され
る。
自動電圧調整器30は差動増幅器31の正の信号によっ
て位相変調器22に印加する駆動周波数10の信号の電
圧を増加させ、差動増幅器31の負の信号によって位相
変調器22に印加する駆動周波数f0の信号電圧を小さ
くする制御ループが構成される。
て位相変調器22に印加する駆動周波数10の信号の電
圧を増加させ、差動増幅器31の負の信号によって位相
変調器22に印加する駆動周波数f0の信号電圧を小さ
くする制御ループが構成される。
この装置は、差動増幅器31の出力がゼロ、罪ち、V、
=V3のとき(但し、K + 、 K 3は予め等しく
なるように閤%%されているものとする)第1種ベッセ
ル関数Jl(X)とJ、(X)とが同じ値になるように
構成される。第9図は第1種ベッセル関数の関数曲線を
示す図、第10図は第9図のA点付近の詳細を示すプロ
ット図である。第1種の1次ベッセル関数J、(X)は
X=2の付近で極大となり、X=5の付近で極小となり
、・・・・・・極大値と掻小植とを交互にもつ関数であ
る。2次、3次、・・・・・・ベッセル関数も同様に増
減を繰り返す関数であることが示される。この図から判
るように、A点、つまりX =3.054付近では1次
ベッセル関数J、(X)は減少傾向にあり、3次ベフセ
ル関数J)(X)は増加傾向にあって、互いに交叉して
いる。この1次及び3次ヘンセル関GJ+(X)及びJ
3(X)との関係を利用して自動制御ループが構成され
る。つまりX嬌3.054(第9図のA点)になるよう
に自動電圧調整器30により位相変調器22に印加され
る電圧が調整されている。
=V3のとき(但し、K + 、 K 3は予め等しく
なるように閤%%されているものとする)第1種ベッセ
ル関数Jl(X)とJ、(X)とが同じ値になるように
構成される。第9図は第1種ベッセル関数の関数曲線を
示す図、第10図は第9図のA点付近の詳細を示すプロ
ット図である。第1種の1次ベッセル関数J、(X)は
X=2の付近で極大となり、X=5の付近で極小となり
、・・・・・・極大値と掻小植とを交互にもつ関数であ
る。2次、3次、・・・・・・ベッセル関数も同様に増
減を繰り返す関数であることが示される。この図から判
るように、A点、つまりX =3.054付近では1次
ベッセル関数J、(X)は減少傾向にあり、3次ベフセ
ル関数J)(X)は増加傾向にあって、互いに交叉して
いる。この1次及び3次ヘンセル関GJ+(X)及びJ
3(X)との関係を利用して自動制御ループが構成され
る。つまりX嬌3.054(第9図のA点)になるよう
に自動電圧調整器30により位相変調器22に印加され
る電圧が調整されている。
今、何らかの原因、例えば変調指数Aが増加し、その結
果Xの値が大きくなると、第9図のA点付近に示すよう
に1次ベフセル関数Jl(X)は減少し、3次ヘソセル
関数J、(X)は増加する。1次ベッセル関数と3次ヘ
ソセル関数との差、J+(X)−J3(X)は第10図
に示すようにA点より右側(X >3.054)では負
になり、差動増幅器31は負の信号を自動電圧調整器3
0に供給する。従って、位相変調器22への印加電圧が
低くなり光に対する位F目変調度は減少する。
果Xの値が大きくなると、第9図のA点付近に示すよう
に1次ベフセル関数Jl(X)は減少し、3次ヘソセル
関数J、(X)は増加する。1次ベッセル関数と3次ヘ
ソセル関数との差、J+(X)−J3(X)は第10図
に示すようにA点より右側(X >3.054)では負
になり、差動増幅器31は負の信号を自動電圧調整器3
0に供給する。従って、位相変調器22への印加電圧が
低くなり光に対する位F目変調度は減少する。
一方、変調指数が減少し、それに応じてXの値が小さく
なると、第9図から判るように、1次べ ゛ッセル関数
J、(X)は増加し、3次ベンセル関数J3(X)は減
少する。第10図のA点の左側(X<3.054)では
、J+(X) Jx(X)は正となり、従って、差動
増幅2S31は正の信号を自動電圧調整器30に供給す
るようになり、位相変調器22への駆動信号の印加電圧
を増加させ、光位相変調の変調指数Aが大きくなる。
なると、第9図から判るように、1次べ ゛ッセル関数
J、(X)は増加し、3次ベンセル関数J3(X)は減
少する。第10図のA点の左側(X<3.054)では
、J+(X) Jx(X)は正となり、従って、差動
増幅2S31は正の信号を自動電圧調整器30に供給す
るようになり、位相変調器22への駆動信号の印加電圧
を増加させ、光位相変調の変調指数Aが大きくなる。
このように、変調指数Aの値を変えるような外部作用9
例えば温度、振動、衝撃などが働いてもXの値が常に一
定に保たれ、ジャイロの出力としてのvl及び■2の感
度を一定に保つことができろ。
例えば温度、振動、衝撃などが働いてもXの値が常に一
定に保たれ、ジャイロの出力としてのvl及び■2の感
度を一定に保つことができろ。
この従来例では、1次ベフセル関数J、(X)と3次ベ
フセル関数Js(X)とが等しくなるように動作させた
場合であるが、2次ヘソセル関数J2(X)と4次ベッ
セル関数J、(X)とが等しくなるように制御すること
もできる。こ0場合には第9図の8点に示す付近で制御
が行われることになる。この場合位相変調器22の駆動
周波数f0に対し、2倍の周波数2foと4倍の周波数
4f・とでそれぞれ同期検波し、その同期検波出力■2
と■、とを差動増幅器31に与え、その差動出力を自動
電圧調整器30に与えるようにし、位相変調器22を制
御する制御ループが構成される。
フセル関数Js(X)とが等しくなるように動作させた
場合であるが、2次ヘソセル関数J2(X)と4次ベッ
セル関数J、(X)とが等しくなるように制御すること
もできる。こ0場合には第9図の8点に示す付近で制御
が行われることになる。この場合位相変調器22の駆動
周波数f0に対し、2倍の周波数2foと4倍の周波数
4f・とでそれぞれ同期検波し、その同期検波出力■2
と■、とを差動増幅器31に与え、その差動出力を自動
電圧調整器30に与えるようにし、位相変調器22を制
御する制御ループが構成される。
また、この場合には、sinΔφ。に比例するジャイロ
出力は同期検波出力v3を、cosΔφ9に比例するジ
ャイロ出力としては同期検波出力■よまたは■。
出力は同期検波出力v3を、cosΔφ9に比例するジ
ャイロ出力としては同期検波出力■よまたは■。
を使用している。
またこの例では位相変調器22に印加する駆動信号の電
圧を制御するように構成しであるが、位相変調器22に
与える駆動信号の周波数を制御するようにしても同様の
効果得られている。
圧を制御するように構成しであるが、位相変調器22に
与える駆動信号の周波数を制御するようにしても同様の
効果得られている。
また、この従来例では位相変調器22の駆動周波数f0
とその2倍の周波数2f0または周波数2f。
とその2倍の周波数2f0または周波数2f。
と周波数4foとで信号を同期検波する構成であるが、
他の例として同期検波手段24.26及び27のそれぞ
れの前段にミキサを設け、このミキサにより局部発振器
から与えられる局部発振信号fLと和または差の周波数
(ro + fL)または(f、 −rt)を得るよう
にし、その和または差の周波数の何れか一方をフィルタ
によって取り出し、その取り出した信号の周波数の奇数
次と偶数次の周波数の信号により同期検波するようにし
、同期検波出力■1゜V、、V、またはV t、 V
s、 V aを得るように構成することも考えられる。
他の例として同期検波手段24.26及び27のそれぞ
れの前段にミキサを設け、このミキサにより局部発振器
から与えられる局部発振信号fLと和または差の周波数
(ro + fL)または(f、 −rt)を得るよう
にし、その和または差の周波数の何れか一方をフィルタ
によって取り出し、その取り出した信号の周波数の奇数
次と偶数次の周波数の信号により同期検波するようにし
、同期検波出力■1゜V、、V、またはV t、 V
s、 V aを得るように構成することも考えられる。
「発明が解決しようとする問題点1
第11図は第8図で示した従来の光干渉角速度計の干渉
出力に含まれるベッセル関数J(X)の、変数Xの値を
安定に保つために構成された回路の伝達関数を表すブロ
ック図である。同図において、K1はXに対するJ +
(X ) J 3 (X ) の(頃き(K、#
0.556)、Kcは位相変調利得、Eはオフセットエ
ラー、K、は定数である。
出力に含まれるベッセル関数J(X)の、変数Xの値を
安定に保つために構成された回路の伝達関数を表すブロ
ック図である。同図において、K1はXに対するJ +
(X ) J 3 (X ) の(頃き(K、#
0.556)、Kcは位相変調利得、Eはオフセットエ
ラー、K、は定数である。
二の伝達ブロック図において、Xの伝達関数X (s)
は次の式で表される。
は次の式で表される。
1+sT。
ここで、
T
To−□
に−Kb−K(sinΔφΩ
この弐から明らかなように、sinΔφ1.が充分に大
きい時はχを安定化の目標値X i(= 3.054)
に確実に保持するのが可能である。し力’L、sinΔ
φ0がゼロ君しくはゼロに近い値の場合には、電気回路
のオフセット電圧等の方が大きく影響し、Xの値を目標
値Xi に保つことが困難になる。
きい時はχを安定化の目標値X i(= 3.054)
に確実に保持するのが可能である。し力’L、sinΔ
φ0がゼロ君しくはゼロに近い値の場合には、電気回路
のオフセット電圧等の方が大きく影響し、Xの値を目標
値Xi に保つことが困難になる。
らなみに、ジャイロ出力として0.01°/Hr もの
安定度が要求される高精度ジャイロでは、ジャイロの角
速度出力信号のスケールファクタの安定性はtopp1
1程度も要求される。つまり第1種ベッセル関数の1次
ヘフセル関数J、(X)と第1種ベッセル関数 J 3
(X )はloppmの安定性が要求される。
安定度が要求される高精度ジャイロでは、ジャイロの角
速度出力信号のスケールファクタの安定性はtopp1
1程度も要求される。つまり第1種ベッセル関数の1次
ヘフセル関数J、(X)と第1種ベッセル関数 J 3
(X )はloppmの安定性が要求される。
cosΔφ、に比例する成分に関しては、X=3.05
4の近辺で位相変調器22を動作させれば第9図のベッ
セル関数図に示すように、2次ベッセル関数Jz(X)
は変数Xの変化に対し殆ど変動せず安定な位置にある。
4の近辺で位相変調器22を動作させれば第9図のベッ
セル関数図に示すように、2次ベッセル関数Jz(X)
は変数Xの変化に対し殆ど変動せず安定な位置にある。
また、さらに好都合なことにcosΔφ。
に比例する48号をジャイロ出力として使用している時
は、1次、3次ベッセル関数の信号が充分に大きく、そ
の差動出力によりXを効果的に制御′Jすることが可能
で、XはX″−3,054の一定値に維持される。
は、1次、3次ベッセル関数の信号が充分に大きく、そ
の差動出力によりXを効果的に制御′Jすることが可能
で、XはX″−3,054の一定値に維持される。
しかし、sinΔφ。に比例する成分に関する1次ヘフ
セル関数Jl(X)と3次へフセル関故J3(X)!よ
、変数Xの僅かな変化にも敏感に変動してしまう。第1
2図はX i = 3.054を中心として、Xが変化
した時のJl(X)とJ3(X)がJ、(Xi)とJ3
(Xillからそれぞれ偏する偏差率1−J(X)/J
(Xi)を計2クーして示した凹である。この図から分
かるように、1次、3次ベッセル関数Jl(X)、 、
+3(x)とも、Xが目標値Xi からずれると、高精
度ジャイロの安定性を、I′5足させるに必要なtop
pm O値を喜−iD ’、こ越えてしまう。
セル関数Jl(X)と3次へフセル関故J3(X)!よ
、変数Xの僅かな変化にも敏感に変動してしまう。第1
2図はX i = 3.054を中心として、Xが変化
した時のJl(X)とJ3(X)がJ、(Xi)とJ3
(Xillからそれぞれ偏する偏差率1−J(X)/J
(Xi)を計2クーして示した凹である。この図から分
かるように、1次、3次ベッセル関数Jl(X)、 、
+3(x)とも、Xが目標値Xi からずれると、高精
度ジャイロの安定性を、I′5足させるに必要なtop
pm O値を喜−iD ’、こ越えてしまう。
「問題点を解決するための手段」
この発明では、以上の点に鑑み、sinΔ−7が微小な
値にあるときにXの値が変わっても、QN%的;こ3i
nΔφ9に連動するジャイロ出力とcosΔφ1に連動
するジャイロ出力のスケールファクタへ与える影響の少
ない光干渉角速度計を提供する。
値にあるときにXの値が変わっても、QN%的;こ3i
nΔφ9に連動するジャイロ出力とcosΔφ1に連動
するジャイロ出力のスケールファクタへ与える影響の少
ない光干渉角速度計を提供する。
即ち、この発明では、第1種ベッセル関数の隣接する奇
数次のヘンセル関数信号相互または隣接する偶数次のヘ
ンセル関数信号相互を、加算手段により所定の比率で加
算することにより、変動分を相殺させ、安定な角速度検
出13号を得る。
数次のヘンセル関数信号相互または隣接する偶数次のヘ
ンセル関数信号相互を、加算手段により所定の比率で加
算することにより、変動分を相殺させ、安定な角速度検
出13号を得る。
「実施例」
第1図はこの発明の光干渉角速度計の構成例を示す図で
ある。第6乃至第8図と対応する部分には同じ符号を付
け、重複する説明は省略する。
ある。第6乃至第8図と対応する部分には同じ符号を付
け、重複する説明は省略する。
この発明では、例えば第1同!UI検波手段24の同期
検波出力■、と第3同朋検波手段27の同期検波出力■
、とをある比率で加算する手段を設け、その加算出力を
ジャイロ出力とする。
検波出力■、と第3同朋検波手段27の同期検波出力■
、とをある比率で加算する手段を設け、その加算出力を
ジャイロ出力とする。
この例では、第3同jlJl検波手段27の検波出力■
3が増幅器36に供給される。この増幅器36は供給さ
れた倹波侶”y’ V )を増幅率にで増幅して出力す
る。その増幅13号kV、は加算増幅器37の一方の入
力端に供給される。また第1同ル1検波手段24の検波
出力■、は、1JII算増幅2337の他方の入力端に
供給される。これら信号■1及びに〜r3を供給された
加算増幅器37はそれらの(3号をlJ[I算増幅し、
角速度信号出力端33に出力する。卯ち、光干渉角速度
計のsinΔφ0の成分は2つの信号がl:にの比率で
加算された信号V sinとなり、■s i 、1=
V + ” k V 3=KsinΔφ、 (J、(X
)士kJ3(X)1に:定数 で表される。
3が増幅器36に供給される。この増幅器36は供給さ
れた倹波侶”y’ V )を増幅率にで増幅して出力す
る。その増幅13号kV、は加算増幅器37の一方の入
力端に供給される。また第1同ル1検波手段24の検波
出力■、は、1JII算増幅2337の他方の入力端に
供給される。これら信号■1及びに〜r3を供給された
加算増幅器37はそれらの(3号をlJ[I算増幅し、
角速度信号出力端33に出力する。卯ち、光干渉角速度
計のsinΔφ0の成分は2つの信号がl:にの比率で
加算された信号V sinとなり、■s i 、1=
V + ” k V 3=KsinΔφ、 (J、(X
)士kJ3(X)1に:定数 で表される。
いま、Xの関数としてのV sia及び2次ベッセル関
数Jt(X)の偏差率(X)をそれぞれJZ(3,05
4)−JZ(X) JZ(3,054) とし、偏差ぶ(X)曲線を示したのが第2+、4である
。
数Jt(X)の偏差率(X)をそれぞれJZ(3,05
4)−JZ(X) JZ(3,054) とし、偏差ぶ(X)曲線を示したのが第2+、4である
。
この図からに=2.203に選定したとき己こ、vS+
nがXの制御■目梗値X i(# 3.054:lの付
近で)翫ノ111をもっことが読み取れる。従って、こ
の時にs1nΔ名及びcosΔφ。に比例した成分の2
つの出力信号が同時に最も安定して得られる。
nがXの制御■目梗値X i(# 3.054:lの付
近で)翫ノ111をもっことが読み取れる。従って、こ
の時にs1nΔ名及びcosΔφ。に比例した成分の2
つの出力信号が同時に最も安定して得られる。
第3図は、k=2.203に選定したときに、Xがその
目標値X i = 3.054から外れた場合に、si
nΔφ9の成分V t i nが偏する偏差率を計算値
で示す図である。この図から、ジャイロスケールファク
タがlQppm以内に安定する範囲がX=3.054の
付近の0.2%の範囲(X 、i、〜Xっ^X)にまで
広くなっているのが分かる。
目標値X i = 3.054から外れた場合に、si
nΔφ9の成分V t i nが偏する偏差率を計算値
で示す図である。この図から、ジャイロスケールファク
タがlQppm以内に安定する範囲がX=3.054の
付近の0.2%の範囲(X 、i、〜Xっ^X)にまで
広くなっているのが分かる。
次にオフセットエラーEによる影響について説明する。
式(71において、時定数T oに対し、取り扱ってい
る周波数が充分小さければ、ベッセル関数の変数Xは次
の式であられすことができる。
る周波数が充分小さければ、ベッセル関数の変数Xは次
の式であられすことができる。
X=Xi↓E/(KsinΔφo K b ) ・
= −(81この弐からオフセットエラーによる偏差率
をRxで表すと、 Rx =(X −Xi)/ Xi −E / (V K b X i ) ・・・
・・・・・・(9)但し、V = KsinΔφ9 となる。sinΔφ。成分の出力偏差Rg(sfnΔφ
9成分のスケールファクタエラー)は次の弐で示される
。
= −(81この弐からオフセットエラーによる偏差率
をRxで表すと、 Rx =(X −Xi)/ Xi −E / (V K b X i ) ・・・
・・・・・・(9)但し、V = KsinΔφ9 となる。sinΔφ。成分の出力偏差Rg(sfnΔφ
9成分のスケールファクタエラー)は次の弐で示される
。
J+(Xi) + kJ3(Xi)
但し、X = X i + E / (V K b )
と置いた今、例えば、オフセット電圧E=14μV、
に=xOv、Kb=0.556とした場合、Δφ9に対
するsinΔφ。
と置いた今、例えば、オフセット電圧E=14μV、
に=xOv、Kb=0.556とした場合、Δφ9に対
するsinΔφ。
成分出力の偏差Rg(ジャイロスケールファクタエラー
)は式(9)2式qcAから第4図に示されるようにな
る。
)は式(9)2式qcAから第4図に示されるようにな
る。
尚、ザグナフグ効果により生ずる光フアイバ中の2つの
光の位相差Δψ。は ΔφQ=(4πRL/cλ)、Ω R:光フアイバループの平均半径(0,04m)L:光
フアイバループの長さくlkm)λ:光源の波長(0,
85X 10−hm )Ω:入力角速度(rad/5e
c) とした。
光の位相差Δψ。は ΔφQ=(4πRL/cλ)、Ω R:光フアイバループの平均半径(0,04m)L:光
フアイバループの長さくlkm)λ:光源の波長(0,
85X 10−hm )Ω:入力角速度(rad/5e
c) とした。
即ち、オフセット電圧による出力■5□7の偏差は、こ
の図によれば入力角速度が1”/Hrより大きいと、ジ
ャイロが要求するスケールファクタの安定性は満たされ
るが、1°/ Hrより小さくなると、スケールファク
タの要求は満足されない、しかし、1”/Hrのジャイ
ロスケールファクタの要求は1%、(I X 10−”
)まで逓減される。
の図によれば入力角速度が1”/Hrより大きいと、ジ
ャイロが要求するスケールファクタの安定性は満たされ
るが、1°/ Hrより小さくなると、スケールファク
タの要求は満足されない、しかし、1”/Hrのジャイ
ロスケールファクタの要求は1%、(I X 10−”
)まで逓減される。
第5図はXを変数として、sinΔφ9成分のスケール
ファクタエラーRgの計算値を示す図である。
ファクタエラーRgの計算値を示す図である。
X si n <X < X MAXの範囲ではスケー
ルファクタエラーがI X 10−”(= 1%)より
小さく、その範囲外になると1%を越えてしまう、従っ
て、オフセット電圧によりXが変化しても、Xはその中
心位置X i = 3.054から約8%の変化があっ
ても許容されることになる。即ち、この8%の値の範囲
ではXの自動制御が行われなくても位相変調器自体の性
能で、オフセット電圧は原因になるスケールファクタエ
ラーが許容範囲を越えないようにカバーすることができ
る範囲と考えられる。このことは、自動制御回路の範囲
を±8%以内になるように光干渉角速度計を設計してお
けば、自動制御が不可能な状態になっても、ジャイロが
要求するスケールファクタの値を満足した出力を得るこ
とができる。
ルファクタエラーがI X 10−”(= 1%)より
小さく、その範囲外になると1%を越えてしまう、従っ
て、オフセット電圧によりXが変化しても、Xはその中
心位置X i = 3.054から約8%の変化があっ
ても許容されることになる。即ち、この8%の値の範囲
ではXの自動制御が行われなくても位相変調器自体の性
能で、オフセット電圧は原因になるスケールファクタエ
ラーが許容範囲を越えないようにカバーすることができ
る範囲と考えられる。このことは、自動制御回路の範囲
を±8%以内になるように光干渉角速度計を設計してお
けば、自動制御が不可能な状態になっても、ジャイロが
要求するスケールファクタの値を満足した出力を得るこ
とができる。
「発明の効果」
位相変調度の自動安定化のめに用いられるsinΔφ9
またはcosΔφ。の出力信号がゼロ若しくはゼロに近
い値の範囲になり、位相変調器に対する自動制御ループ
が適切に働かなくなり、そのため位1■変調度が変動し
ても、高精度なジャイロが要求するスケールファクタ安
定性を充分に満足させることができる。
またはcosΔφ。の出力信号がゼロ若しくはゼロに近
い値の範囲になり、位相変調器に対する自動制御ループ
が適切に働かなくなり、そのため位1■変調度が変動し
ても、高精度なジャイロが要求するスケールファクタ安
定性を充分に満足させることができる。
第1図はこの発明の光干渉角速度計の実施例を示す構成
図、第2図はこの発明の光干渉角速度計の出力信号Jl
(X)+ kJ3(X)が、Xが変化した場合の偏差量
を示す図、第3図はこの発明の光干渉角速度計の出力信
号J+(X)+ kJ3(X)が、Xが変化した場合の
偏差IRgを計算値で示した図、第4図は角速度計に要
求されるスケールファクタ安定性とオフセット電圧によ
るsinΔφ9成分のスケールファクタエラー線(Rg
)とを比較する図、第5図はオフセット電圧によるRg
を計算イ直で示し1こ図、第6図は光干渉角速度計の基
本構成を示す図、第7図は従来の光干渉角速度計の構成
例を示す図、第8図は他の従来例を示す図、第9図は第
1種ベッセル関数の関数曲線を示す図、第10図は第9
図のA点付近の詳細を示すプロット図、第11図は第8
図の従来例の伝達関数の簡易ブロック図、第12図は変
数Xが目標値Xi から変動することによるヘフセル関
故J(X)の偏差量を示す図である。 11:第1光源、12:出射光、13:光分配結合器、
14:右廻り入射光、15:左廻り入射光、16:光学
路、17:右廻り出射光、18:左廻り出射光、19:
干渉光、21:光電変換器、22:第1位相変調器、2
3:変調信号源、24:第1同期検波手段、25:%分
周器、26:同期検波手段、27:第2同期検波手段、
30:自動電圧調整器、31:差動増幅器、33゜34
.35:出力端、36:増幅器、37:加算増幅器。 特許出願人 日本航空電子工業株式会社代 理
人 草 野
卓ヤ3回 3.045 −1.47086094568
61050−053.048 −7.2851
55913749946D−063,049−5,27
75020538871550−063,05−3,6
23γr6805?696630−063.05+
−2,278907801924450−
063,054(、xL1 4.76874647
3JIH1160−083,0551,2717376
352830120−075、ur
3.453458678414555C)−05斥5回 2 +、1564133(N39102
4 −2.1 +、129
41399467(27632,2+、1046887
1890462552.3 −.082344
328587752782.4 +、06
2483447514317522.5 −
.043202880264922$42.6
−.03059505704156+452.7
−.018744004633482522.8
(Xmin) −9,726824643786
5390−032,9−3,611154176275
351D−033−4,55819105394353
7D−043,1−3,08298016%29153
D−043,2−3,205290117200995
D−033,3(XMAX) −9,1708826
918936540−033,4−,018215%6
106711193.5 −.930338
348510711973.6 −.045
521124185176583.7 −.
063732725183652763.8
−.084925891121835863.9
−、10906798イア7559944
−.13599188H402711イ
旦し k=2.203 xL = 3.054 ヤ 6配 十8回 沖 90 :)癖 −汁り管へ“°・・ノ℃ルトX=3.
054 オ 11 圓 Ki ・ 疋顎 坩12支 3.04 −.0167432512548
94373.041 −.01555170
6709685373.042 −.0143
59714291372433.043 −.
013165014452982573.044
−.011973204489315453.04
5 −.01077849954045243
.046 −.00958439361463
1073.047 −8.387191802
692282D−033,048−7,1915714
14136978D−033,049−5,99368
68030371290−033,05−4,7989
323318375060−033,051−3,60
07750144521560−033,052−2,
403989087751273D−033,053−
4,206012505521178C)−033、o
54t−xL> −5,283458731429
374D−063,0551,19354155498
2241D−033,0562,3934261597
75872D−033,057,0035957339
7076493,0584,796117215480
8770−033,0595,9%031231189
264D−033,067,197133896969
379D−033,0610,008a1380837
8263.062 9.603493518
169238D−033,063,010806626
705360973,064,01200948263
580933,065,01321629074666
811イ旦し Xi =3.054
図、第2図はこの発明の光干渉角速度計の出力信号Jl
(X)+ kJ3(X)が、Xが変化した場合の偏差量
を示す図、第3図はこの発明の光干渉角速度計の出力信
号J+(X)+ kJ3(X)が、Xが変化した場合の
偏差IRgを計算値で示した図、第4図は角速度計に要
求されるスケールファクタ安定性とオフセット電圧によ
るsinΔφ9成分のスケールファクタエラー線(Rg
)とを比較する図、第5図はオフセット電圧によるRg
を計算イ直で示し1こ図、第6図は光干渉角速度計の基
本構成を示す図、第7図は従来の光干渉角速度計の構成
例を示す図、第8図は他の従来例を示す図、第9図は第
1種ベッセル関数の関数曲線を示す図、第10図は第9
図のA点付近の詳細を示すプロット図、第11図は第8
図の従来例の伝達関数の簡易ブロック図、第12図は変
数Xが目標値Xi から変動することによるヘフセル関
故J(X)の偏差量を示す図である。 11:第1光源、12:出射光、13:光分配結合器、
14:右廻り入射光、15:左廻り入射光、16:光学
路、17:右廻り出射光、18:左廻り出射光、19:
干渉光、21:光電変換器、22:第1位相変調器、2
3:変調信号源、24:第1同期検波手段、25:%分
周器、26:同期検波手段、27:第2同期検波手段、
30:自動電圧調整器、31:差動増幅器、33゜34
.35:出力端、36:増幅器、37:加算増幅器。 特許出願人 日本航空電子工業株式会社代 理
人 草 野
卓ヤ3回 3.045 −1.47086094568
61050−053.048 −7.2851
55913749946D−063,049−5,27
75020538871550−063,05−3,6
23γr6805?696630−063.05+
−2,278907801924450−
063,054(、xL1 4.76874647
3JIH1160−083,0551,2717376
352830120−075、ur
3.453458678414555C)−05斥5回 2 +、1564133(N39102
4 −2.1 +、129
41399467(27632,2+、1046887
1890462552.3 −.082344
328587752782.4 +、06
2483447514317522.5 −
.043202880264922$42.6
−.03059505704156+452.7
−.018744004633482522.8
(Xmin) −9,726824643786
5390−032,9−3,611154176275
351D−033−4,55819105394353
7D−043,1−3,08298016%29153
D−043,2−3,205290117200995
D−033,3(XMAX) −9,1708826
918936540−033,4−,018215%6
106711193.5 −.930338
348510711973.6 −.045
521124185176583.7 −.
063732725183652763.8
−.084925891121835863.9
−、10906798イア7559944
−.13599188H402711イ
旦し k=2.203 xL = 3.054 ヤ 6配 十8回 沖 90 :)癖 −汁り管へ“°・・ノ℃ルトX=3.
054 オ 11 圓 Ki ・ 疋顎 坩12支 3.04 −.0167432512548
94373.041 −.01555170
6709685373.042 −.0143
59714291372433.043 −.
013165014452982573.044
−.011973204489315453.04
5 −.01077849954045243
.046 −.00958439361463
1073.047 −8.387191802
692282D−033,048−7,1915714
14136978D−033,049−5,99368
68030371290−033,05−4,7989
323318375060−033,051−3,60
07750144521560−033,052−2,
403989087751273D−033,053−
4,206012505521178C)−033、o
54t−xL> −5,283458731429
374D−063,0551,19354155498
2241D−033,0562,3934261597
75872D−033,057,0035957339
7076493,0584,796117215480
8770−033,0595,9%031231189
264D−033,067,197133896969
379D−033,0610,008a1380837
8263.062 9.603493518
169238D−033,063,010806626
705360973,064,01200948263
580933,065,01321629074666
811イ旦し Xi =3.054
Claims (1)
- (1)A、光源と、 B、少なくとも一周する光学路と、 C、その光学路に対し右廻り光及び左廻り光とを通す手
段と、 D、その光学路を伝搬してきた右廻り光及び左廻り光と
をたがいに干渉させる手段と、 E、その干渉手段と上記光学路の一端との間に配されて
右廻り光及び左廻り光とに位相変化を与える位相変調器
と、 F、上記干渉光の光強度を電気信号として検出する光電
変換回路と、 G、この光電変換回路によって電気信号に変換された信
号を上記位相変調器における光変調周波数に関連した基
本周波数成分の隣接する奇数倍または隣接する偶数倍の
周波数で同期検波する第1、第2同期検波手段と、 H、上記干渉光に含まれる係数である第1種ベッセル関
数の隣接する奇数次のベッセル関数相互または隣接する
偶数次のベッセル関数相互が、実質的に等しくなるよう
に上記第1及び第2同期検波手段からの出力で上記位相
変調器の駆動状態を制御する手段と、 I、上記ベッセル関数の隣接する奇数次のベッセル関数
相互の信号または隣接する偶数次のベッセル関数相互の
信号を所定の比率で加算して角速度検出信号とする手段
と を具備した光干渉角速度計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61161458A JPS6316219A (ja) | 1986-07-09 | 1986-07-09 | 光干渉角速度計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61161458A JPS6316219A (ja) | 1986-07-09 | 1986-07-09 | 光干渉角速度計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6316219A true JPS6316219A (ja) | 1988-01-23 |
JPH0547047B2 JPH0547047B2 (ja) | 1993-07-15 |
Family
ID=15735490
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61161458A Granted JPS6316219A (ja) | 1986-07-09 | 1986-07-09 | 光干渉角速度計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6316219A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03174959A (ja) * | 1989-12-04 | 1991-07-30 | Nippon Steel Corp | モールドレベル制御方法 |
US5311924A (en) * | 1991-09-12 | 1994-05-17 | Kawasaki Steel Corporation | Molten metal level control method and device for continuous casting |
CN106597001A (zh) * | 2017-01-12 | 2017-04-26 | 北京理工大学 | 一种可消除障碍物影响的旋转体角速度探测方法与装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62108110A (ja) * | 1985-11-06 | 1987-05-19 | Toshiba Corp | 光フアイバジヤイロ |
-
1986
- 1986-07-09 JP JP61161458A patent/JPS6316219A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62108110A (ja) * | 1985-11-06 | 1987-05-19 | Toshiba Corp | 光フアイバジヤイロ |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03174959A (ja) * | 1989-12-04 | 1991-07-30 | Nippon Steel Corp | モールドレベル制御方法 |
US5311924A (en) * | 1991-09-12 | 1994-05-17 | Kawasaki Steel Corporation | Molten metal level control method and device for continuous casting |
CN106597001A (zh) * | 2017-01-12 | 2017-04-26 | 北京理工大学 | 一种可消除障碍物影响的旋转体角速度探测方法与装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0547047B2 (ja) | 1993-07-15 |
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---|---|---|---|
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