JPH0547047B2

JPH0547047B2 -

Info

Publication number: JPH0547047B2
Application number: JP61161458A
Authority: JP
Inventors: Kenichi Okada
Original assignee: Japan Aviation Electronics Industry Ltd
Current assignee: Japan Aviation Electronics Industry Ltd
Priority date: 1986-07-09
Filing date: 1986-07-09
Publication date: 1993-07-15
Also published as: JPS6316219A

Description

【発明の詳細な説明】「産業上の利用分野」この発明は環状の光学路を互いに逆の向きに伝
搬する２つの光の間に生ずる位相の差を検出し、
その位相の差から光学路に印加された角速度を測
定する光干渉角速度計に関する。

「従来の技術」第６図は従来の光干渉角速度計の例を示す図で
ある。レーザなどの光源１１からの光１２が光分
配結合器１３により右廻り光１４と左廻り光１５
とに分配され、これらの光１４，１５は少なくと
も一周する光学路１６の両端に入射され、光学路
１６をそれぞれ右廻り、左廻りに通つて光学路１
６から出射光１７，１８として出射され、これら
出射光１７，１８は光分配結合器１３により結合
され、互いに干渉し、干渉光１９として光電変換
回路２１に受光される。

光学路１６は例えば光フアイバを複数回ループ
状に巻いたもので構成される。光学路１６にその
周方向の角速度が印加されない状態では出射光１
７及び１８の位相差はほゞゼロであるが、光学路
１６の軸芯まわりに角速度Ωが印加されると、こ
の角速度によつていわゆるサニヤツク効果が生
じ、光学路１６を伝搬した出射光１７，１８の間
に位相差Δφ〓が生ずる。この位相差Δφ〓は、 Δφ〓＝（4πRL／cλ）・Ω ………(1) で表される。ここでＲはループ状に構成された光
学路１６の半径、Ｌはループ状に構成された光学
路１６の長さ、λは光源１１の光波長、ｃは光の
速度を示す。また干渉光１９の光強度I₀は I₀∝１−cosΔφ〓 ………(2) となる。従つて干渉光１９の強度I₀を測定するこ
とにより角速度Ωを検出することができる。

しかしこの場合、入力角速度が小さい場合には
位相差Δφ〓が小さく、cosΔφΩの変化が僅かなの
で感度が極端に低くなる。

このような点から従来より入力感度を最適化す
るために、第７図に示すように光学路１６の一端
と光分配結合器１３との間に例えば電歪振動子に
光フアイバを巻回して構成した位相変調器２２を
直列に挿入し、変調信号源２３からの駆動信号f₀
により互いに逆方向に伝搬する光１４，１５を位
相変調する方法がとられている。この場合、干渉
光の強度I₀は I₀＝Ｃ｛１−cosΔφ〓（J₀(X) ＋2J₂(X)cos2ωJ′＋…… 32J_2n(X)cos2mωt′＋……） −sinΔφ〓（2J₁(X)sinωt′ ＋2J₃(X)sin3ωt′＋…… ＋2J_2n-1(X)sin（2m−１）ωt′＋…）｝………(3) となる。

ここで、Ｃ：定数 J_o：２次のベツセル関数（ｎ＝０，１，
２，３，…）Ｘ：2Asinπf₀τ Ａ：変調指数 τ：光学路１６を通る光の伝搬時間 f₀：位相変調器２２の駆動周波数 t′：ｔ−τ／２式(3)から明らかなように、干渉光１９の強度I₀
には、cosΔφ〓に比例する項と、sinΔφ〓に比例す
る項とが含まれている。

先行技術として、特願昭59−70452号に述べら
れているように、Δφ〓が±mπ，（ｍ＝０，１，
２，……）に対し、約±π／４の範囲で高感度化
するために、光電変換回路２１の出力を同期検波
手段２４において駆動信号源２３の周波数2f₀を
１／２分周器２５で分周した変調信号f₀により同期
検波してsinΔφ〓に比例する成分の内、位相変調
器２２の駆動周波数f₀と同一成分V₁を取り出し、
更にΔφ〓が±（2m＋１）・（π／２），（ｍ＝０，
１，２，……）に対し約±π／４の範囲で高感度
化するため、光電変換回路２１の出力を他の同期
検波手段２６において変調信号源２３の周波数
2f₀により同期検波してcosΔφ〓に比例する成分の
内、位相変調器２２の駆動周波数f₀の２倍波成分
V₂を取り出している。

ここで、V₁＝K₁J₁(X)sinΔφ〓 ……(4) V₂＝K₂J₂(X)cosΔφ〓 ……(5) K₁，K₂：定数である。

±mπ，（ｍ＝０，１，２，……）に対し±π／
４の範囲では、同期検波手段２４の出力V₁を角
速度計の出力として取り出すと共に、±（2m＋１）
π／２，（ｍ＝０，１，２，……）に対し±π／
４の範囲では他の同期検波手段２６の出力V₂を
ジヤイロ出力として取り出し、V₁及びV₂の切り
換え回数ｍを計数することで、角速度情報Ωは Ω＝cλ／4πRL（mπ／２＋KV）により求められる。

この方法では、広い範囲にわたつて高感度にし
かも直線性良く角速度を測定することができる。

しかしながら、式(4)、式(5)から解かれるよう
に、入力感度はＸ（＝2Asinπf₀τ）の値に左右され
る。Ｘの値は変数指数Ａ、位相変調器２２の駆動
周波数f₀及び光学路１６を通る光の伝搬時間τに
よつて決まる。駆動周波数f₀及び伝搬時間τは温
度による影響が比較的小さいが、変数指数Ａは温
度による影響を受けやすい。

つまり位相変調器２２は、例えば電歪振動子に
光学路１６を構成する光フアイバを巻きつけ、そ
の電歪振動子に周波数f₀の駆動電圧を印加して振
動させ、光学路１６を伸縮させ、そこを通る右廻
り光と左廻り光とを位相変調させるようにする。

駆動周波数f₀はその電歪振動子を効率良く伸縮
させるために電歪振動子の共振点に合わせるのが
一般的である。この共振周波数は、温度によつて
変化するため変調指数Ａは電歪振動子の機械的Ｑ
（共振周波数における機械的振動の“鋭さ”を指
す）が高い程温度の影響を受ける。その結果Ｘの
値が変化し、入力感度が変動する不都合が生ず
る。

また、光フアイバは最適動作を行うため適当な
テンシヨンで巻かれている。しかし、このテンシ
ヨンは周囲温度が変わると電歪振動子と光フアイ
バの熱膨張係数の差で、初期設定値から外れてし
まう。また、光フアイバの緩衝層（シリコンまた
はウレタンなど）によるダンパ効果も温度によつ
て変わり、その結果、変調指数Ａが変化し、入力
感度が変動する。温度の変化に影響されずに、Ｘ
の値を一定に保つための先行技術として特願昭60
−151795号に説明しているように、干渉光に含ま
れる係数の中の奇数次のベツセル関数J_2o+1(X)の
相互、または偶数次のベツセル関数J_2o(X)の相互
が実質的に等しくなるように位相変調器の駆動状
態を制御する自動制御ループを設ける方法が提案
されている。

この提案によれば、干渉光I₀に含まれる項の係
数で、奇数次のベツセル関数J_2o+1(X)相互または
偶数次のベツセル関数J_2o(X)相互が等しくなるよ
うに、その自動制御ループにより位相変調器の駆
動状態を制御するもので、全作動温度範囲にわた
つて入力感度を一定に保ち、ジヤイロの入出力特
性としてのスケールフアクタを安定に保つことが
できる。

第８図はその例を示す図である。光電変換回路
２１の出力は第１同期検波手段２４、第２同期検
波手段２７及び第３の同期検波手段２６にそれぞ
れ供給される。第１、第２同期検波手段２４，２
７には位相変調器２２に供給される信号f₀の隣接
する奇数倍または隣接する偶数倍の参照信号が供
給される。この例では、奇数倍の参照信号f₀及び
3f₀が第１、第２同期検波手段２４，２７に供給
されている例で、それぞれ信号V₁，V₃を出力す
る。他の同期検波手段２６には参照信号2f₀が供
給され、信号V₂を出力する。信号V₁は式(4)で表
され、sinΔφ〓に比例するジヤイロ出力として端
子３３に出力されると共に、差動増幅器３１のプ
ラス入力端に供給される。

信号V₂は式(5)で表され、cosΔφ〓に比例するジ
ヤイロ出力として端子３４に出力される。

信号V₃は V₃＝K₃J₃(X)sinΔφ〓 ……(6) K₃：定数で表され、差動増幅器３１のマイナス入力端に供
給される。

自動電圧調整器３０は差動増幅器３１の正の信
号によつて位相変調器２２に印加する駆動周波数
f₀の信号の電圧を増加させ、差動増幅器３１の負
の信号によつて位相変調器２２に印加する駆動周
波数f₀の信号電圧を小さくする制御ループが構成
される。

この装置は、差動増幅器３１の出力がゼロ、即
ち、V₁＝V₃のとき（但し、K₁，K₃は予め等しく
なるように調整されているものとする）第１種ベ
ツセル関数J₁(X)とJ₃(X)とが同じ値になるように構
成される。第９図は第１種ベツセル関数の関数曲
線を示す図、第１０図は第９図のＡ点付近の詳細
を示すプロツト図である。第１種の１次ベツセル
関数J₁(X)はＸ＝２の付近で極大となり、Ｘ＝５の
付近で極小となり、……極大値と極小値とを交互
にもつ関数である。２次、３次、……ベツセル関
数も同様に増減を繰り返す関数であることが示さ
れる。この図から判るように、Ａ点、つまりＸ＝
３ 054付近では１次ベツセル関数J₁(X)は減少傾
向にあり、３次ベツセル関数J₃(X)は増加傾向にあ
つて、互いに交叉している。この１次及び３次ベ
ツセル関数J₁(X)及びJ₃(X)との関係を利用して自動
制御ループが構成される。つまりＸ≒３ 054（第
９図のＡ点）になるように自動電圧調整器３０に
より位相変調器２２に印加される電圧が調整され
ている。

今、何らかの原因、例えば変調指数Ａが増加
し、その結果Ｘの値が大きくなると、第９図のＡ
点付近に示すように１次ベツセル関数J₁（Ｘ）は
減少し、３次ベツセル関数J₃(X)は増加する。１次
ベツセル関数と３次ベツセル関数との差、J₁(X)−
J₃(X)は第１０図に示すようにＡ点より右側（Ｘ＞
３ 054）では負になり、差動増幅器３１は負の
信号を自動電圧調整器３０に供給する。従つて、
位相変調器２２への印加電圧が低くなり光に対す
る位相変調度は減少する。

一方、変調指数が減少し、それに応じてＸの値
が小さくなると、第９図から判るように、１次ベ
ツセル関数J₁(X)は増加し、３次ベツセル関数J₃(X)
は減少する。第１０図のＡ点の左側（Ｘ＜３
054）では、J₁(X)−J₃(X)は正となり、従つて、差
動増幅器３１は正の信号を自動電圧調整器３０に
供給するようになり、位相変調器２２への駆動信
号の印加電圧を増加させ、光位相変調の変調指数
Ａが大きくなる。

このように、変調指数Ａの値を変えるような外
部作用、例えば温度、振動、衝撃などが働いても
Ｘの値が常に一定に保たれ、ジヤイロの出力とし
てのJ₁及びV₂の感度を一定に保つことができる。

この従来例では、１次ベツセル関数J₁(X)と３次
ベツセル関数J₃(X)とが等しくなるように動作させ
た場合であるが、２次ベツセル関数J₂(X)と４次ベ
ツセル関数J₄(X)とが等しくなるように制御するこ
ともできる。この場合には第９図のＢ点に示す付
近で制御が行われることになる。この場合位相変
調器２２の駆動周波数f₀に対し、２倍の周波数
2f₀と４倍の周波数4f₀とでそれぞれ同期検波し、
その同期検波出力V₂とV₄とを差動増幅器３１に
与え、その差動出力を自動電圧調整器３０に与え
るようにし、位相変調器２２を制御する制御ルー
プが構成される。

また、この場合には、sinΔφ〓に比例するジヤ
イロ出力は同期検波出力V₃を、cosΔφ〓に比例す
るジヤイロ出力としては同期検波出力V₂または
V₄を使用している。

またこの例では位相変調器２２に印加する駆動
信号の電圧を制御するように構成してあるが、位
相変調器２２に与える駆動信号の周波数を制御す
るようにしても同様の効果が得られている。

また、この従来例では位相変調器２２の駆動周
波数f₀とその２倍の周波数2f₀または周波数2f₀と
周波数4f₀とで信号を同期検波する構成であるが、
他の例として同期検波手段２４，２６及び２７の
それぞれの前段にミキサを設け、このミキサによ
り局部発振器から与えられる局部発振信号f_Lと和
または差の周波数（f₀＋f_L）または（f₀−f_L）を
得るようにし、その和または差の周波数の何れか
一方をフイルタによつて取り出し、その取り出し
た信号の周波数の奇数次と偶数次の周波数の信号
により同期検波するようにし、同期検波出力V₁，
V₂，V₃またはV₂，V₃，V₄を得るように構成する
ことも考えられる。

「発明が解決しようとする問題点」第１１図は第８図で示した従来の光干渉角速度
計の干渉出力に含まれるベツセル関数Ｊ(X)の、変
数Ｘの値を安定に保つために構成された回路の伝
達関数を表すブロツク図である。同図において、
K_bはＸに対するJ₁(X)−J₃(X)の傾き（K_b≒０
556）、K_cは位相変調利得、Ｅはオフセツトエラ
ー、K_iは定数である。

この伝達ブロツク図において、Ｘの伝達関数Ｘ
(s)は次の式で表される。

Ｘ(s)＝Xi＋Ｅ／（Ｋ・K_bsinΔφ〓）／１＋sT₀…
…(7) ここで、 T₀＝Ｔ／Ｋ・K_b・K_csinΔφ〓この式から明らかなように、sinΔφ〓が充分に
大きい時はＸを安定化の目標値Xi（＝３ 054）
に確実に保持するのが可能である。しかし、
sinΔφ〓がゼロ若しくはゼロに近い値の場合には、
電気回路のオフセツト電圧等の方が大きく影響
し、Ｘの値を目標値Xiに保つことが困難になる。

ちなみに、ジヤイロ出力として０ 01゜／Hrも
の安定度が要求される高精度ジヤイロでは、ジヤ
イロの角速度出力信号のスケールフアクタの安定
性は10ppm程度も要求される。つまり第１種ベツ
セル関数の１次ベツセル関数J₁(X)と第３次ベツセ
ル関数J₃(X)は10ppmの安定性が要求される。

cosΔφ〓に比例する成分に関しては、Ｘ＝３
054の近辺で位相変調器２２を動作させれば第９
図のベツセル関数図に示すように、２次ベツセル
関数J₂(X)は変数Ｘの変化に対し殆ど変動せず安定
な位置にある。また、さらに好都合なことに
cosΔφ〓に比例する信号をジヤイロ出力として使
用している時は、１次、３次ベツセル関数の信号
が充分に大きく、その差動出力によりＸを効果的
に制御することが可能で、ＸはＸ≒３ 054の一
定値に維持される。

しかし、sinΔφ〓に比例する成分に関する１次
ベツセル関数J₁(X)と３次ベツセル関数J₃(X)は、変
数Ｘの僅かな変化にも敏感に変動してしまう。第
１２図はXi＝３ 054を中心として、Ｘが変化し
た時のJ₁(X)とJ₃(X)がJ₁（Xi）とJ₃（Xi）からそれぞ
れ偏する偏差率１−Ｊ(X)／Ｊ（Xi）を計算して示
した図である。この図で「Ｄ−03」は10^-3、「Ｄ
−06」は10^-6をそれぞれ示す。この図から分かる
ように、１次、３次ベツセル関数J₁、J₃(X)とも、
Ｘが目標値Xi＝３ 054からわずか±０ 001だ
け、つまり約０３％だけでもずれると、前記偏
差率は10^-3以上となり、高精度ジヤイロの安定性
を満足させるに要な10ppmの値を簡単に越えてし
まう。

「問題点を解決するための手段」この発明では、以上の点に鑑み、sinΔφ〓が微
小な値にあるときにＸの値が変わつても、最終的
にsinΔφ〓に連動するジヤイロ出力とcosΔφ〓に連
動するジヤイロ出力のスケールフアクタへ与える
影響の少ない光干渉角速度計を提供する。

即ち、この発明では、第１種ベツセル関数の隣
接する奇数次のベツセル関数信号相互または隣接
する偶数次のベツセル関数信号相互を、加算手段
により所定の比率で加算することにより、変動分
を相殺させ、安定な角速度検出信号を得る。

「実施例」第１図はこの発明の干渉角速度計の構成例を示
す図である。第６乃至第８図と対応する部分には
同じ符号を付け、重複する説明は省略する。

この発明では、例えば第１同期検波手段２４の
同期検波出力V₁と第３同期検波手段２７の同期
検波出力V₃とをある比率で加算する手段を設け、
その加算出力をジヤイロ出力とする。

この例では、第３同期検波手段２７の検波出力
V₃が増幅器３６に供給される。この増幅器３６
は供給された検波信号V₃を増幅率ｋで増幅して
出力する。その増幅信号kV₃は加算増幅器３７の
一方の入力端に供給される。また第１同期検波手
段２４の検波出力V₁は加算増幅器３７の他方の
入力端に供給される。これら信号V₁及びkV₃を
供給された加算増幅器３７はそれらの信号を加算
増幅し、角速度信号出力端３３に出力する。即
ち、光干渉角速度計のsinΔφ〓の成分は２つの信
号が１：ｋの比率で加算された信号Vsinとなり、 Vsin＝V₁＋kV₃ ＝KsinΔφ〓｛J₁(X)＋kJ₃(X)｝ｋ：定数で表される。

いま、Ｘの関数としてのV_sio及び２次ベツセル
関数J₂A(X)の偏差率(X)をそれぞれ偏差率(X)＝Ｖ（極値）−V_sio／Ｖ（極値）及び＝J₂（３ 054）−J₂(X)／J₂（３ 054）とし、偏差率(X)曲線を示したのが第２図である。
この図からｋ＝２ 203に選定したときに、V_sio
がＸの制御目標値Xi（≒３ 054）の付近で極値
をもつことが読み取れる。従つて、この時に
sinΔφ〓及びcosΔφ〓に比例した成分の２つの出力
信号が同時に最も安定して得られる。

第３図は、ｋ＝２ 203に選定したときに、Ｘ
がその目値Xi＝３ 054から外れた場合に、
sinΔφ〓の成分V_sioが偏する偏差率を計算値で示す
図である。この図から、ジヤイロスケールフアク
タが10ppm以内に安定する範囲がＸ＝３ 054の
付近の０２％の範囲（X_nio＝３ 047〜X_MAX＝
３ 063）にまで広くなつているのが分かる。

次にオフセツトエラーＥによる影響について説
明する。式(7)において、時定数T₀に対し、取り
扱つている周波数が充分小さければ、ベツセル関
数の変数Ｘは次の式であらわすことができる。

Ｘ＝Xi＋Ｅ／（KsinΔφ〓K_b） ……(8) この式からオフセツトエラーによる偏差率を
Rxで表すと、 Rx＝（Ｘ−Xi）／Xi ＝Ｅ／（VK_bXi） ………(9) 但し、Ｖ＝KsinΔφ〓となる。sinΔφ〓成分の出力偏差Rg（sinΔφ〓成分
のスケールフアクタエラー）は次の式で示され
る。

Rg＝１−J₁(X)＋kJ₃(X)／J₁（Xi）＋kJ₃（Xi）……
…(10) 但し、Ｘ＝Xi＋Ｅ／（VK_b）と置いた今、例えば、オフセツト電圧Ｅ＝14μV、Ｋ＝
10V、K_b＝０ 556とした場合、Δφ〓に対する
sinΔφ〓成分出力の偏差Rg（ジヤイロスケールフ
アクタエラー）は式(9)、式(10)から第４図に示され
るようになる。

尚、ザグナツグ効果により生ずる光フアイバ中
の２つの光の位相差Δφ〓は、 Δφ〓＝（4πRL／cλ）・Ω Ｒ：光フアイバループの平均半径（０
04m）Ｌ：光フアイバループの長さ（１Km） λ：光源の波長（０ 85×10^-6m） Ω：入力角速度（rad／shc）とした。

即ち、オフセツト電圧による出力Vsinの偏差
は、この図によれば入力角速度が1゜／Hrより大
きいと、ジヤイロが要求するスケールフアクタの
安定性は満たされるが、1゜／Hrより小さくなる
と、スケールフアクタの要求は満足されない。し
かし、1゜／Hrのジヤイロスケールフアクタの要
求は１％（１×10^-2）まで逓減される。

第５図はＸを変数として、sinΔφ〓成分のスケ
ールフアクタエラーRgの計算値を示す図である。
X_nio＜Ｘ＜X_MAXの範囲ではスケールフアクタエ
ラーが１×10^-2（＝１％）より小さく、その範囲
外になると％を越えてしまう。従つて、オフセツ
ト電圧によりＸが変化しても、Ｘはその中心位置
Xi＝３ 054から約８％の変化があつても許容さ
れることになる。即ち、この８％の値の範囲では
Ｘの自動制御が行われなくても位相変調器自体の
性能で、オフセツト電圧は原因になるスケールフ
アクタエラーが許容範囲を越えないようにカバー
することができる範囲と考えられる。このこと
は、自動制御回路の範囲を±８％以内になるよう
に光干渉角速度計を設計しておけば、自特制御が
不可能になつても、ジヤイロが要求するスケール
フアクタの値を満足した出力を得ることができ
る。

「発明の効果」位相変調度の自動安定のめに用いられる
sinΔφ〓またはcosΔφ〓の出力信号がゼロ若しくは
ゼロに近い値の範囲になり、位相変調器に対する
自動制御ループが適切に働かなくなり、そのため
位相変調度が変動しても、高精度なジヤイロが要
求するスケールフアクタ安定性を充分に満足させ
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の光干渉角度計の実施例を示
す構成図、第２図はこの発明の光干渉角速度計の
出力信号J₁(X)＋kJ₃(X)が、Ｘが変化した場合の偏
差量を示す図、第３図はこの発明の光干渉角速度
計の出力信号J₁(X)＋kJ₃(X)が、Ｘが変化した場合
の偏差量Rgを計算値で示した図、第４図は角速
度計に要求されるスケールフアクタ安定性とオフ
セツト電圧によるsinΔφ〓成分のスケールフアク
タエラー線（Rg）とを比較する図、第５図はオ
フセツト電圧によるRgを計算値で示した図、第
６図は干渉角速度計の基本構成を示す図、第７図
は従来の光干渉角速度計の構成例を示す図、第８
図は他の従来例を示す図、第９図は第１種ベツセ
ル関数の関数曲線を示す図、第１０図は第９図の
Ａ点付近の詳細を示すプロツト図、第１１図は第
８図の従来例の伝達関数の簡易ブロツク図、第１
２図は変数Ｘが目標値Xiから変動することによ
るベツセル関数Ｊ(X)の偏差量を示す図である。１１：第１光源、１２：出射光、１３：光分配
結合器、１４：右廻り入射光、１５：左廻り入射
光、１６：光学路、１７：右廻り出射光、１８：
左廻り出射光、１９：干渉光、２１：光電変換
器、２２：第１位相変調器、２３：変調信号源、
２４：第１同期検波手段、２５：1/2分周器、２
６：同期検波手段、２７：第２同期検波手段、３
０：自動電圧調整器、３１：差動増幅器、３３，
３４，３５：出力端、３６：増幅器、３７：加算
増幅器。

Claims

【特許請求の範囲】１Ａ光源と、Ｂ少なくとも一周する光学路と、Ｃその光学路に対し右廻り光及び左廻り光とを
通す手段と、Ｄその光学路を伝搬してきた右廻り光及び左廻
り光とをたがいに干渉させる手段と、Ｅその干渉手段と上記光学路の一端との間に配
されて右廻り光及び左廻り光とに位相変化を、
上記干渉光に含まれる係数である第１種ベツセ
ル関数の2n次または（2n＋１）次（ｎは１以
上の整数）のベツセル関数がほゞ極大となる変
調量で与える位相変調器と、Ｆ上記干渉光の光強度を電気信号として検出す
る光電変換回路と、Ｇこの光電変換回路によつて電気信号に変換さ
れた信号を、上記位相変調器における光変調周
波数に関連した基本周波数成分の（2n−１）
倍及び（2n＋１）倍、または2n倍及び２（ｎ＋
１）倍の周波数でそれぞれ同期検波する第１、
第２同期検波手段と、Ｈこれら両同期検波手段の出力を、上記位相変
調器の変調量の変動に対して加算出力の変動が
少なくなるような所定の比率で加算して角速度
検出信号とする加算手段と、を具備した光干渉角速度計。