JPS6316128Y2 - - Google Patents

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JPS6316128Y2
JPS6316128Y2 JP1566982U JP1566982U JPS6316128Y2 JP S6316128 Y2 JPS6316128 Y2 JP S6316128Y2 JP 1566982 U JP1566982 U JP 1566982U JP 1566982 U JP1566982 U JP 1566982U JP S6316128 Y2 JPS6316128 Y2 JP S6316128Y2
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JP
Japan
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shaft
axis
observation chamber
fluorescent screen
needle wire
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JP1566982U
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JPS58119713U (ja
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  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本案は透過電子顕微鏡において蛍光板上に投影
された試料像の任意の点の座標或るいは任意の2
点間の距離を測長することのできる電子顕微鏡に
関する。
透過型電子顕微鏡において蛍光板上に投影され
た試料像の任意の点の座標或るいは任意の2点間
の距離を測長しようとする場合、従来においては
鏡体外に座標平面を作成しておき、この座標平面
上の各点が光学レンズ及びオプテイカルフアイバ
ー等を介して蛍光板上に一対一に投影できるよう
にし、座標平面上の或る点に点光源を配置すると
この点に対応する蛍光板上の点に点光源の像が形
成されるように構成していた。そこで、試料像に
おける或る2点間の距離を測定するには前記点光
源の蛍光板上における像点が像の一方の点に重な
るように点光源を移動させた後、その時の座標平
面上における点光源の座標を電気的に読み取り、
次に点光源の蛍光板上における像点が像の他方の
点に重なるように点光源を移動させたあと、この
時の点光源の座標を電気的に読み取り、両者の座
標値に基づいて両点の距離を算出して測長を行う
ようにしていた。
しかしながら、このような従来の装置は、構造
が複雑であり製造コストも高く実際に製品化する
には適当でなかつた。
本考案はこのような従来の欠点を解決し、構造
簡単で製造コストの安い測長機能を備えた透過電
子顕微鏡を提供するもので、観察室1に配置され
た蛍光板3上に試料像を投影する透過電子顕微鏡
において、前記観察室の壁面2を貫通して観察室
内に挿入された軸6と、該軸の観察室側の端部に
その一端が固定された針線4と、前記軸6の回転
中心から一定距離離されていると共に前記軸6の
先端より観察室の中心側に位置するように前記針
線4の他端に取り付けられた微小な電子線遮蔽体
5と、該電子線遮蔽体の前記蛍光板上における投
影像Pを前記軸の方向に移動させるため前記軸を
鏡筒外から移動させるための移動機構と、該投影
像Pを前記軸の方向とは垂直な方向に移動させる
ため前記軸を鏡筒外から回転させるための回転機
構と、前記移動機構及び回転機構による移動量を
電気信号に変換するための手段11x,11y,
17と、該手段よりの出力信号と観察倍率に対応
する信号が供給される演算手段19と、該演算手
段の出力信号を表示するための手段24を備える
ことを特徴としており、以下図面に基づき本考案
の一実施例を詳述する。
第1図は本考案の一実施例の部分拡大図であ
り、図面1は電子顕微鏡の観察室であり、2はそ
の壁面である。3は蛍光板であり、該蛍光板の上
方には針線4によつて支持された微小な電子線遮
蔽体5が配置されている。該電子線遮蔽体5は回
折電子線パターン等を写真撮影する際にO次の回
折電子線によるハレーシヨンを防ぐためにこのO
次の回折電子線をカツトするため従来より備えら
れているものである。針線4は直角に折れ曲がつ
ており、軸6から一定の距離にある部分イと、軸
6に一体的に取りつけられている部分ロとから成
つている。軸6は鏡筒外から真空を破ることなく
水平方向に移動できるようになつており、又回転
できるようになつている。7はこの軸6が挿入さ
れている穴であり、8は真空シール用のOリング
である。軸6には円筒状の外周に沿つてラツク9
が刻まれている。このラツクにはピニオン10が
噛み合わされている。このピニオン10の軸12
は貫通型の第1のポテンシヨメータ11Xに連結
されており、このポテンシヨメータ11Xの回転
軸には摘み13Xが取りつけられている。又軸6
の他端は貫通型の第2ポテンシヨメータ11Yを
介して摘み13Yに一体的に連結されている。
尚、14は軸6を案内すると共に、ポテンシヨメ
ータ11Yの支持体15を溝16に沿つて案内す
るための基台である。
第2図は上記一実施例装置の電気回路部を説明
するための図であり、この図より明らかなように
前記第2のポテンシヨメータ11Yの出力信号は
回転角位置座標変換回路17、AD変換器18を
介して座標値算出回路19に供給されており、同
様に第1のポテンシヨメータ11Xの出力もAD
変換器20を介して座標値算出回路19に供給さ
れている。21は倍率設定器であり、22は倍率
制御回路である。倍率制御回路22は倍率設定器
21によつて設定された倍率に観察倍率を変化さ
せるため図示外の電子レンズ電源を制御すると共
に観察倍率を表わすデジタル信号を座標値算出回
路19に供給する。座標値算出回路19よりの出
力信号は演算制御回路23に供給されており、こ
の演算制御回路23の出力信号は表示器24に表
示できるようになつている。25は試料像の特定
の点の座標値を表示器24に表示させる様指示す
るスイツチであり、26は試料像中の2点間の距
離を表示器24に表示させる様指示するスイツチ
である。
このような構成において、倍率設定器21によ
つて観察倍率を例えばM倍に設定して蛍光板上に
例えば第1図に示す如き試料像を得たとすると、
この像のA点からB点までに対応する試料上の実
際の距離を求める場合について説明する。但し、
以下の説明においては蛍光板上の各点の位置を表
わすため蛍光板3の中心を原点Oとして軸6の移
動方向をX軸、それとは垂直な方向をY軸とする
座標系を仮想的に設けるものとし、この座標系に
基づく点A,Bの座標が各々(Xa,Ya),(Xb,
Yb)であるとする。
まず初めにスイツチ26をオンにした後、摘み
13Xを回転させて軸6をX軸に平行に移動さ
せ、遮蔽体5の蛍光板3上における電子線投影像
PのX座標が点BのX座標に一致するようにし、
又摘み13Yを回転させることにより、この軸か
ら一定距離にある針線4のイの部分を軸6の周り
に回転させ、前記投影像PがY方向に移動した後
完全に点Bに重なるようにする。その結果、ポテ
ンシヨメータ11XよりAD変換器20を介して
座標値算出回路19にはCXb(但し、Cは比例定
数)なる値に対応したデジタル信号が供給され
る。又ポテンシヨメータ11Yよりこの時のポテ
ンシヨメータ11Yの基準位置からの回転角θに
比例した信号が発生するが、この信号は変換回路
17においてsinθに比例した値を有するCYbなる
値に対応した信号に変換されデジタル化されて座
標値算出回路19に供給される。座標値算出回路
19においてこれら両座標値に比例した信号は倍
率制御回路22により倍率を表わす信号CMで除
算され、像点Bの試料面上における座標値
(Xb/M,Yb/M)に対応した信号に変換され
る。この信号は演算制御回路23内の第1のメモ
リーに記憶される。次に同様にして摘み13X、
13Yを回転させて電子線投影像Pが像点Aに重
なるようにする。その結果、同様にして座標値算
出回路19より像点Aの試料面上における座標値
(Xa/M,Ya/M)に対応した信号が演算制御
回路23に供給され、該信号は回路23内の第2
のメモリーに記憶される。演算制御回路23にお
いては、第1、第2のメモリーからの信号を読み
出して、 √{(−)}2+{(−
)}2 なる演算を行ない、その結果を表示器24に供給
して表示する。
上述したように、本考案により試料像の任意の
2点間の実際の距離を容易に表示可能な構造簡単
で製作コストの安価な電子顕微鏡が提供される。
尚、像上の任意の点の座標を表示するには、座
標値算出回路19の出力信号を演算制御回路23
を介して表示器24にそのまま導けば良い。
更に、上述した実施例では電子線遮蔽体はハレ
ーシヨン防止用に従来から設けられていたものを
兼用したが別個に設けても良い。又針線4の先端
を変形させることにより電子線遮蔽体としても良
いし、或いは針線4の先端を遮蔽体そのものとし
て使用しても良い。
更に上述した実施例では変換回路17によつて
θに比例した信号をsinθに比例した信号に変換し
たが、最初からsinθに比例した信号を出力する型
のポテンシヨメータを使用することにより回路1
7を省くこともできる。又ポテンシヨメータに代
えて所謂光エンコーダ等の回転量を電気信号に変
換する手段を用いても良い。又回路17の演算を
回路19においてまとめて演算させることもで
き、更にはコンピユータを用いて全ての計算制御
を行なわせることもできる。
又、上述した実施例では遮蔽体5を照明する電
子線が略平行であると仮定して信号処理を行なつ
たが、放射状に照明していることによる微小な測
定誤差を補正するような信号処理を行なうことも
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例の要部を示すための
図、第2図はこの一実施例の電気回路系を示すた
めの図である。 1:観察室、3:蛍光板、4:針線、5:遮蔽
体、6:軸、9:ラツク、10:ピニオン、11
X,11Y:ポテンシヨメータ、13X,13
Y:摘み、17:変換回路、19:座標値算出回
路、21:倍率設定器、22:倍率制御回路、2
3:演算制御回路、24:表示器。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 観察室1に配置された蛍光板3上に試料像を投
    影する透過電子顕微鏡において、前記観察室の壁
    面2を貫通して観察室内に挿入された軸6と、該
    軸の観察室側の端部にその一端が固定された針線
    4と、前記軸6の回転中心から一定距離離されて
    いると共に前記軸6の先端より観察室の中心側に
    位置するように前記針線4の他端に取り付けられ
    た微小な電子線遮蔽体5と、該電子線遮蔽体の前
    記蛍光板上における投影像Pを前記軸の方向に移
    動させるため前記軸を鏡筒外から移動させるため
    の移動機構と、該投影像Pを前記軸の方向とは垂
    直な方向に移動させるため前記軸を鏡筒外から回
    転させるための回転機構と、前記移動機構及び回
    転機構による移動量を電気信号に変換するための
    手段11x,11y,17と、該手段よりの出力
    信号と観察倍率に対応する信号が供給される演算
    手段19と、該演算手段の出力信号を表示するた
    めの手段24を備えることを特徴とする透過電子
    顕微鏡。
JP1566982U 1982-02-06 1982-02-06 透過電子顕微鏡 Granted JPS58119713U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1566982U JPS58119713U (ja) 1982-02-06 1982-02-06 透過電子顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1566982U JPS58119713U (ja) 1982-02-06 1982-02-06 透過電子顕微鏡

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58119713U JPS58119713U (ja) 1983-08-15
JPS6316128Y2 true JPS6316128Y2 (ja) 1988-05-09

Family

ID=30028073

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1566982U Granted JPS58119713U (ja) 1982-02-06 1982-02-06 透過電子顕微鏡

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JPS58119713U (ja) 1983-08-15

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