JPH0843098A - 多機能測量計測システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 一般測量と内空変位や天端沈下量を求める特
殊測量とを行う際の測定装置を共通化して部品点数を削
減するとともに、そのト−タルコストを大幅に低減させ
ることができる。 【構成】 測距、測角を行ない測距データと測角データ
とを得るトータルステーション２と、トータルステーシ
ョン２で得られた測距データと測角データとを受信して
データ処理を実行するデータコレクタ３とを備え、トー
タルステーション２は、一般測量対応の測定を行う一般
モードと、特殊測量対応の測定を行う特殊モードとを有
し、データコレクタ３は、トータルステーション２に対
して一般モードや特殊モードを指示するキーボード部１
１と、トータルステーション２から測距データと測角デ
ータとを受信してキーボード部１１の指示するモードに
応じたデータ処理を行い測量結果を得る電子機器１２と
を有する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は例えば斜距離、水平距
離、比高差等の一般測量とトンネルの内空変位や天端沈
下量等の特殊測量を高精度で行なう多機能測量計測シス
テムに関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、測量計測システムにおいては、ト
ンネル内の内空変位や天端沈下量を測量する特殊測量の
場合、専用の測定装置、すなわち、ト−タルステ−ショ
ンを使用した３次元計測システムが適用される。

【０００３】この３次元計測システムによりトンネル内
に設けられている測定対象部分の３次元位置が計測され
ると、作業者は、この計測結果に基づいてトンネル内空
の天端付近だけが沈下したのか、山全体が沈降したのか
を判定する。この判定結果に基づき、山全体が沈降した
ときには、根固めを入れ、また天端付近だけが沈下した
ときには、支保を入れる作業が行われる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た測量計測システムでは、一般測量対応のト−タルステ
−ションを用いてもトンネル内の内空変位や天端沈下量
を測量することができないので、特殊測量を行う度に専
用のト−タルステ−ションを別に用意しなければならな
かった。従って、システムを構築する部品点数が増えて
しまい、システム全体のト−タルコストが高くなってし
まうという問題があった。

【０００５】請求項１の発明は、上記の事情に鑑み、一
般測量と内空変位や天端沈下量を求める特殊測量とを行
う際の測定装置を共通化して部品点数を削減するととも
に、そのト−タルコストを大幅に低減させることができ
る多機能測量計測システムを提供することを目的として
いる。

【０００６】請求項２の発明は、請求項１の発明の目的
に加え、一般測量、特殊測量のどちらも高精度な測量を
実現させることができる多機能測量計測システムを提供
することを目的としている。

【０００７】請求項３の発明は、請求項１の発明の目的
に加え、測量後、場所を移したり、時間をずらして、分
析、作図等の処理を実施することができる多機能測量計
測システムを提供することを目的としている。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに請求項１の発明に係る多機能測量計測システムは、
測量対象となる対象部に対して測距、測角を行ない測距
データと測角データとを得る測定装置と、該測定装置で
得られた測距データと測角データとを受信して該測距デ
ータと測角データとに基づくデータ処理を実行するデー
タ処理端末とを備える多機能測量計測システムであっ
て、前記測定装置は、一般測量に対応した測定を行う一
般モードと、内空変位や天端沈下量を求めるための特殊
測量に対応した測定を行う特殊モードとを有し、前記デ
ータ処理端末は、前記測定装置に対して前記一般モード
と前記特殊モードとのいずれかひとつのモードを指示す
る指示手段と、前記測定装置から測距データと測角デー
タとを受信して前記指示手段により指示されたモードに
応じたデータ処理により測量結果を得るデータ処理手段
とを有することを特徴とする。

【０００９】また、請求項２の発明に係る多機能測量計
測システムは、前記測定装置は測量対象となる対象部に
配置されたターゲットを用いて光波により測距を行う光
学部を有し、該光学部は発光され前記ターゲットに入射
される光線と前記ターゲットから出射され受光される光
線に対してそれぞれ独立した光路を形成することを特徴
とする。

【００１０】さらに、請求項３の発明に係る多機能測量
計測システムは、前記データ処理手段が、前記測定装置
から受信される測距データと測角データとを記憶すると
ともに前記データ処理により得られた測量結果も記憶す
る記憶手段を有することを特徴とする。

【００１１】

【作用】請求項１の発明における多機能測量計測システ
ムは、測定装置により測量対象となる対象部に対して測
距、測角を行ない測距データと測角データとを得て、デ
ータ処理端末により測定装置で得られた測距データと測
角データとを受信して測距データと測角データとに基づ
くデータ処理を実行する。測量をする際に、データ処理
端末の指示手段により測定装置に対して測量にかかるモ
ードが指示される。一般測量に対応した測定を行う場合
には一般モードが指示され、内空変位や天端沈下量を求
めるための特殊測量に対応した測定を行う場合には特殊
モードが指示される。

【００１２】データ処理端末においては、指示されたモ
ードに応じた測定が行われた後に、データ処理手段によ
り測定装置から測距データと測角データとが受信され
る。そして指示手段により指示されたモードに応じたデ
ータ処理が行われ、測量結果が得られる。

【００１３】また、請求項２の発明における多機能測量
計測システムは、測定装置がもつ光学部により測量対象
となる対象部に配置されたターゲットを用いて光波によ
り測距が行われる。光学部においては、発光された光線
と受光される光線の各光路が独立しているので、発光さ
れた光がターゲットを介さずにそのまま受光されること
が防止され、ターゲットから反射される光は多く受光さ
れる。

【００１４】さらに、請求項３の発明における多機能測
量計測システムは、測定装置から受信される測距データ
と測角データとが記憶手段に記憶されるとともにデータ
処理により得られた測量結果も記憶手段に記憶されるの
で、記憶手段に記憶された測距データ、測角データ、測
量結果は保存される。

【００１５】

【実施例】以下に添付図面を参照して、本発明に係る好
適な一実施例を詳細に説明する。図１は本発明による多
機能測量計測システムの一実施例による測量の概要を示
す斜視図、図２は本発明による多機能測量計測システム
の一実施例を示す斜視図、図３は本実施例によるトータ
ルステーションの光学系を説明する側面図、図４は一般
的なトータルステーションの光学系を説明する側面図、
そして、図５は本実施例によるデータコレクタの内部構
成を示すブロック図である。

【００１６】本実施例による多機能測量計測システム１
は、図１に示した如く、トンネル掘削時においてトンネ
ル１００の切羽断面１００ａ側で内空変位や天端沈下量
を測量する特殊測量と坑口側の明り部で測量する一般測
量とを選択的に実施するように構成されている。この多
機能測量計測システム１では、特殊測量の場合、変位計
測の測点に例えばターゲットである反射シート１０１，
１０２，１０３が配置され、光波による測量が行われ
る。また一般測量の場合、明り部の一般測量の測点に例
えば反射シート１０４，１０５や光波プリズム１０６が
配置されて、光波による測量が行われる。

【００１７】次に多機能測量計測システム１の構成につ
いて説明する。図２に示す多機能測量計測システム１
は、測量対象となる対象部に対して測距、測角の測定を
行なう測量装置であるト−タルステ−ション２と、ト−
タルステ−ション２からのデ−タの収集や処理を行なう
データ処理端末であるデ−タコレクタ３と、デ−タコレ
クタ３とト−タルステ−ション２との間に電気的に接続
されてデータや制御信号を伝送する通信線４とを備えて
いる。

【００１８】上記ト−タルステ−ション２は、地面上に
立てられる三脚部５と、この三脚部５上に設けられる回
転部６と、この回転部６によって回転自在に保持される
匡体本体７と、この匡体本体７によって傾倒自在に設け
られる光学部８と、前記匡体本体７内に設けられる電子
機器９とを備えている。電子機器９は、全体を制御する
制御回路を備えている。そして電子機器９は、一般測量
に対応した測定を行う一般モードと、内空変位や天端沈
下量を求めるための特殊測量に対応した測定を行う特殊
モードとをもち、デ−タコレクタ３の指示に応じたモー
ドで全体を制御するように構成される。

【００１９】トータルステーション２では、斜距離、水
平距離、比高差等を求める一般測量やトンネルの内空変
位、天端沈下量等を求める特殊測量を行なう場合、測量
対象や計測対象に対応した場所に三脚部５が立てられた
後、光学部８によって測量対象や計測対象となる反射シ
−トやコ−ナ−キュ−ブなどのターゲットが視準し得る
ように、匡体本体７が回転されるとともに、光学部８が
傾倒され、電子機器９によってこのときのデ−タが取り
込まれてこれがデ−タコレクタ３に供給されるように測
量が行われる。

【００２０】上記光学部８は、図３に示した如く、発光
する発光素子８１と、この発光素子８１に対向して配置
され発光された光線の戻りを受光する受光素子８２と、
光線の経路に配置されターゲットであるコーナーキュー
ブ８５に入射させる光線とコーナーキューブ８５からの
出射された光線とを通過させる対物レンズ８３と、発光
素子８１と受光素子８２との間に配置されプリズム状に
設けた一面で発光素子８１から発光された光線の光路を
コーナーキューブ８５の方向に屈曲させ、他面でコーナ
ーキューブ８５から出射された光線の光路を受光素子８
２に屈曲させる受発光分割ミラー８４とを備えている。

【００２１】光学部８では、図３に示した如く、発光素
子８１から発光された光は受発光分割ミラー８４の一面
で屈曲し、さらに対物レンズ８３の中心よりも上方を通
過してコーナーキューブ８５に入射される。この入射さ
れた光は、コーナーキューブ８５で反射して、再び対物
レンズ８３を通過するが、この際に、対物レンズ８３の
中心よりも下方を通過する。この通過した光は、受発光
分割ミラー８４の他面で屈曲されて、受光素子８２によ
り受光される。このように、発光素子８１からコーナー
キューブ８５までの光路とコーナーキューブ８５から受
光素子８２までの光路とは交差せずに平行に独立に形成
される。

【００２２】一般的には、図４に示した如く、コーナー
キューブ９１が使用された場合、主光線９５は発光素子
９２から発光されて元の発光素子９２に戻ってしまい、
角度のついた弱い光線９６が受光素子９３に受光され
る。このように、一般的な光学部では、発光させたとき
の光線の強さを弱めることなく受光させることが不可能
である。すなわち、長い距離には不向きであって、精度
も低くなる。本実施例の光学部８では、発光させたとき
の光線の強さを弱めることなく受光させることが可能で
あるので、長い距離にも適し、高精度の測量を可能にす
る。

【００２３】上記デ−タコレクタ３は、図２に示した如
く、ト−タルステ−ション２に着脱自在に取り付けられ
る匡体１０と、この匡体１０の上面に設けられ、オペレ
−タによって操作されたとき、この操作内容に対応する
各種の指令や各種のデ−タを生成するキ−ボ−ド部１１
と、匡体１０内に設けられ、キ−ボ−ド部１１の操作内
容に基づいて、ト−タルステ−ション２の電子機器９か
ら出力されるデ−タを取り込んで記憶したり処理したり
する電子機器１２と、前記匡体１０の上面に設けられ、
前記電子機器１２から出力されるデ−タを取り込んで表
示する表示器１３と、前記匡体１０に着脱自在に取り付
けられ、前記電子機器１２から印字デ−タが出力された
とき、これを取り込んでプリントアウトするプリンタ装
置１４とを備えている。

【００２４】また、データコレクタ３は、図５に示した
如く、プログラムによって動作するＣＰＵ１２ａと、こ
のＣＰＵ１２ａを動作させるためのプログラム（図８、
図９のフローに対応したプログラムなど）を格納したＲ
ＯＭ１２ｂ、各種プログラムのワークエリアとして用い
るＲＡＭ１２ｃとを電子機器１２に具備させ、内部で各
種データや制御信号（アドレス信号を含む）を伝送する
データバス１７を各部に接続させている。データコレク
タ３はさらに測量にかかる測距データ、測角データなら
びに測量結果を記憶する記憶装置１５を具備している。
なお、構成上、電子機器１２に記憶装置１５を具備させ
ても良い。

【００２５】そして、データコレクタ３では、キ−ボ−
ド部１１の操作内容に基づいてト−タルステ−ション２
から出力されるデ−タを取り込んでこれを記憶した後、
一般測量処理や特殊測量処理を行ない、この後、例えば
接続されている外部装置の分析装置に転送指令が操作さ
れたとき、記憶しているデ−タや処理結果を読み出して
これを分析装置に供給して分析させる処理が行われるよ
うに構成される。

【００２６】次に動作について説明する。図６は図２に
示すトータルステーションの鉛直補正動作の一例を示す
斜視図、図７は本実施例による測距の手順を説明するフ
ローチャート、図８は本実施例によるデータコレクタの
測量処理を説明するフローチャート、図９は本実施例に
よる特殊測量処理を説明するフローチャート、図１０は
図２に示す多機能測量計測システムの一般測量の一例を
示す模式図、そして、図１１は図２に示す多機能測量計
測システムの内空変位や天端沈下量を計測する特殊測量
の一例を示す模式図である。

【００２７】本実施例による多機能測量計測システム１
の設置に際して、トータルステーション２では、図６に
示した如く、不十分な整地状態で測角が行なわれても、
電子機器９内に設けられた例えばチルトセンサによって
ト−タルステ−ション２の傾きが検出されて鉛直角が自
動的に補正される。

【００２８】また、トータルステーション２において、
測距を行う場合、図７に示した如く、被測定点にプリズ
ム（コーナーキューブ８５）が設置されると（ステップ
３０１）、そのプリズムを視準した後に、一般測量に対
応した測定を行う一般モードあるいは内空変位や天端沈
下量を求めるための特殊測量に対応した測定を行う特殊
モードに応じた測距がデータコレクタ３から指示される
（ステップ３０２）。

【００２９】これによって電子機器９による光学部８の
制御が行われ、測距が実施される。測距により得られた
測距データは、電子機器９内部のメモリに格納され、デ
ータコレクタ３から指示で取り出される（ステップ３０
３）。なお、以上の図７の動作は、トータルステーショ
ン２の測距にかかる一連の動作を説明するものであり、
ステップ３０１にあるように、人的動作も含まれてい
る。

【００３０】次にデータコレクタ３の動作について詳述
する。データコレクタ３では、図８に示した如く、メイ
ン処理によって表示器１３にメインメニューを表示させ
て作業者に作業項目を視認させる（ステップ５０１）。
なお、メイン処理の中には、通常の測量にかかる処理の
項目も含まれるが、本実施例では、説明を省略する。

【００３１】作業者は表示器１３に表示されている作業
項目から各種の作業を選択する。測量に際しては、一般
測量を実施するための一般モードと特殊測量を実施する
ための特殊モードとの２つのモードが選択可能に表示さ
れる。そこでキーボード部１１の操作で一般モードが選
択された場合には、以降一般測量が実施され、特殊モー
ドが選択された場合には、以降特殊測量が実施される
（ステップ５０２〜５０４）。いずれの測量が終了して
も本処理は再びメイン処理に戻る。

【００３２】まず、ステップ５０４の特殊測量が実施さ
れる場合、トンネルの内空変位や天端沈下量の計測が実
施される。この場合、図９に示した如く、デ−タコレク
タ３が操作されて図９に示したフローと同様に、デ−タ
コレクタ３が操作されてメインメニュ−から測距・測角
指示処理が選択される（ステップ７００）。これに応じ
てトータルステーション２に対し測距・測角値送信要求
が出力される（ステップ７１０）。

【００３３】トータルステーション２では、図１１に示
した如く、光学部８によってトンネル内の測量対象とな
っているターゲット（反射シ−トあるいはコーナーキュ
ーブ）３０の各測量対象部、例えば第１の測量対象部３
１が視準される。このとき匡体本体７が回転されるとと
もに、光学部８が傾倒される。このようにして電子機器
９によって測距、測角の各データが取り込まれると、通
信線４を介してデ−タコレクタ３に伝送され、所定のチ
ェックを行った後に、記憶装置１５に記憶される（ステ
ップ７１１〜７１３）。

【００３４】ト−タルステ−ション２によって残りの各
測量対象部３２、３３、３４、３５についても同様に実
施される。なお、ステップ７１０〜７１３の処理の流れ
は、測量対象部ひとつの一連の処理の流れを示している
が、測量対象部すべての測距、測角の各データを受信
（記憶装置１５に格納）してから、その後にステップ７
１２によるチェック、ステップ７１３によるチェック後
の最終的な記憶を行うようにしても良い。

【００３５】このようにして測距、測角の各データの取
得が済むと、再び表示器１３の表示がメインメニューに
戻る。そして作業者によりメインメニュ−から内空変位
計算処理（天端沈下量計算含む）が選択される（ステッ
プ７００）。

【００３６】この内空変位計算処理は、既に測距、測角
の各データを取得していることから、処理を行う場所や
時間は自由である。記憶装置１５に格納されている測
距、測角の各データに基づいて座標変換（ステップ７２
０）、辺長計算（ステップ７２１）が実行される。これ
によって、図１１に示した如く、各測量対象部３１〜３
５の各辺長ａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、ｆが求められる。これ
らの計算結果に基づいてさらに内空変位量と天端沈下量
とが計算され、これらの計算結果が測量結果として記憶
装置１５に記憶される（ステップ７２２）。

【００３７】また、デ−タコレクタ３が操作されてプリ
ンタ印字指示が指定された場合、記憶装置１５に記憶さ
れた内空変位と天端沈下量を示す測量結果が読み出され
て、プリンタ装置１４に転送される。プリンタ装置１５
では、測量結果に基づく計測一覧表３６がプリントアウ
トされる（ステップ７３０）。

【００３８】そして、デ−タコレクタ３がパーソナルコ
ンピュータ等の外部装置（図示は省略する）などにイン
ターフェースケーブルを介して接続されている場合に
は、外部装置への転送指示が指定されたときに、記憶装
置１５に記憶されている測量結果や測距、測角の各デー
タが外部装置などに転送される（ステップ７４０）。転
送先の外部装置では、受信されたデータをもとに、磁気
テープ、磁気ディスク、光磁気ディスクなどの記憶媒体
３７に保存が行われたり、さらなる処理を施すために予
め設定されている分析プログラムなどに基づいて分析処
理が実行される。

【００３９】また、ステップ５０３（図８）の一般測量
が実施される場合、図１０に示した如く、測量対象に対
応した場所に三脚部５が立てられた後、図９に示したフ
ローと同様に、デ−タコレクタ３が操作されてメインメ
ニュ−から測距・測角指示処理が選択される。

【００４０】そして、光学部８によって測量対象となる
箱尺の計測対象部、例えばＡ点にある箱尺２０の計測対
象部２１が視準し得るように、匡体本体７が回転される
とともに、光学部８が傾倒されたとき、電子機器９にこ
のときの測角データおよび測距デ−タが取り込まれ、記
憶される。デ−タセレクタ３からの測距・測角値送信要
求に従い、電子機器９に記憶されている測角データおよ
び測量デ−タは通信線４を介してデ−タコレクタ３に伝
送され、所定のチェックがなされる。この後に、斜距離
や水平距離、比高差が計算されて記憶装置１５に記憶さ
れる。

【００４１】以下同様に、ト−タルステ−ション２によ
ってＢ点にある箱尺２２の計測対象部２３、Ｃ点にある
箱尺２４の計測対象部２５が順次、測量され、電子機器
９によってこのときのデ−タが取り込まれるとともに、
デ−タセレクタ３からの測距・測角値送信要求に従い電
子機器９に記憶されている測角データおよび測量デ−タ
がデ−タコレクタ３に伝送され、チェックされる。この
後に、斜距離や水平距離、比高差が計算されて記憶装置
１５に記憶される。

【００４２】以上説明したように本実施例によれば、ト
ータルステーション２により測量対象となる対象部に対
して測距、測角を行ない測距データと測角データとを得
て、データコレクタ３によりトータルステーション２で
得られた測距データと測角データとを通信線４を介して
受信して測距データと測角データとに基づくデータ処理
を実行することができる。

【００４３】測量をする際には、データコレクタ３の指
示によりトータルステーション２に対して測量にかかる
モードが指示される。一般測量に対応した測定を行う場
合には一般モードが指示され、内空変位や天端沈下量を
求めるための特殊測量に対応した測定を行う場合には特
殊モードが指示される。

【００４４】データコレクタ３においては、指示された
モードに応じた測定が行われた後に、トータルステーシ
ョン２から測定結果である測距データと測角データとが
受信される。そして指示されたモードに応じたデータ処
理がキーボード部１１の操作に従って行われ、演算によ
って測量結果が得られる。従って、一般測量と内空変位
や天端沈下量を求める特殊測量とを行う際のトータルス
テーションを共通化して部品点数を削減するとともに、
そのト−タルコストを大幅に低減させることができ、シ
ステムの汎用性を大幅に高めることができる。

【００４５】また、上述した多機能測量計測システム１
について、従来の測量計測に対応する操作性を実現させ
たので、誰にでも簡単に使いこなすことができる。ま
た、トータルステーション２がもつ光学部８により測量
対象となる対象部に配置されたターゲットを用いて光波
により測距が行われる。光学部８においては、発光され
た光線と受光される光線の各光路が独立しているので、
発光された光線がターゲットを介さずにそのまま受光さ
れることが防止され、ターゲットから反射される光線は
多く受光される。従って、一般測量、特殊測量のどちら
も高精度な測量を実現させることができる。

【００４６】さらに、測定装置から受信される測距デー
タと測角データとがデータコレクタ３の記憶装置１５に
記憶されるとともにデータ処理により得られた測量結果
も記憶装置１５に記憶されるので、記憶装置１５に記憶
された測距データ、測角データ、測量結果は保存され
る。従って、測量後、場所を移したり、時間をずらし
て、他の外部装置にインターフェースケーブルを接続し
てデータを移すことで、分析、作図等の処理を実施する
ことができる。このデータは、公共、登記、土木施工の
管理等の処理（作業）に適用させることができる。

【００４７】さて、上述した実施例では、モードとし
て、一般測量と特殊測量との２つのモードについて説明
したが、さらに、測角や測距の精度を測量対象に応じて
段階的に分け、これによって作業要求に応じた測量結果
を得るようにしても良い。また、上述した実施例では、
図２に示した如く、トータルステーション２とデータコ
レクタ３との間に有線である通信線４を接続させていた
が、本発明はこれに限定されるものではなく、無線によ
りデータや制御信号の通信を行うようにしても良い。こ
の場合、通信線４の空間的な確保が不要となるととも
に、作業中に通信線４のはずれを気にせずに済む。

【００４８】さらに、上述した実施例では、図２に示し
た如く、トータルステーション２とデータコレクタ３と
の間に有線である通信線４を接続させていたが、本発明
はこれに限定されるものではなく、トータルステーショ
ン２とデータコレクタ３との電気的な接続をコネクタに
よる結合機構としても良い。この場合、データコレクタ
３がトータルステーション２の一部となって、データコ
レクタ３は固定され、この場合にも、通信線４の空間的
な確保が不要となるとともに、作業中に通信線４のはず
れを気にせずに済む。

【００４９】

【発明の効果】以上説明したように請求項１の発明によ
れば、測定装置により測量対象となる対象部に対して測
距、測角を行ない測距データと測角データとを得て、デ
ータ処理端末により測定装置で得られた測距データと測
角データとを受信して測距データと測角データとに基づ
くデータ処理を実行する。

【００５０】測量をする際に、データ処理端末の指示手
段により測定装置に対して測量にかかるモードが指示さ
れる。一般測量に対応した測定を行う場合には一般モー
ドが指示され、内空変位や天端沈下量を求めるための特
殊測量に対応した測定を行う場合には特殊モードが指示
される。

【００５１】データ処理端末においては、指示されたモ
ードに応じた測定が行われた後に、データ処理手段によ
り測定装置から測距データと測角データとが受信され
る。そして指示手段により指示されたモードに応じたデ
ータ処理が行われ、測量結果が得られる。従って、一般
測量と内空変位や天端沈下量を求める特殊測量とを行う
際の測定装置を共通化して部品点数を削減するととも
に、そのト−タルコストを大幅に低減させることができ
る多機能測量計測システムを得られる効果がある。

【００５２】また、請求項２の発明によれば、測定装置
がもつ光学部により測量対象となる対象部に配置された
ターゲットを用いて光波により測距が行われる。光学部
においては、発光された光線と受光される光線の光路が
独立しているので、発光された光線がターゲットを介さ
ずにそのまま受光されることが防止され、ターゲットか
ら反射される光線は多く受光される。従って、請求項１
の発明の効果に加え、一般測量、特殊測量のどちらも高
精度な測量を実現させることができる多機能測量計測シ
ステムを得られる効果がある。

【００５３】さらに、請求項３の発明によれば、測定装
置から受信される測距データと測角データとがデータ処
理端末に記憶されるとともにデータ処理により得られた
測量結果もデータ処理端末に記憶されるので、データ処
理端末に記憶された測距データ、測角データ、測量結果
は保存される。従って、請求項１の発明の効果に加え、
測量後、場所を移したり、時間をずらして、分析、作図
等の処理を実施することができる多機能測量計測システ
ムを得られる効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による多機能測量計測システムの一実施
例による測量の概要を示す斜視図である。

【図２】本発明による多機能測量計測システムの一実施
例を示す斜視図である。

【図３】本実施例によるトータルステーションの光学系
を説明する側面図である。

【図４】一般的なトータルステーションの光学系を説明
する側面図である。

【図５】本実施例によるデータコレクタの内部構成を示
すブロック図である。

【図６】図２に示すトータルステーションの鉛直補正動
作の一例を示す斜視図である。

【図７】本実施例による測距の手順を説明するフローチ
ャートである。

【図８】本実施例によるデータコレクタの測量処理を説
明するフローチャートである。

【図９】本実施例による特殊測量処理を説明するフロー
チャートである。

【図１０】図２に示す多機能測量計測システムの一般測
量の一例を示す模式図である。

【図１１】図２に示す多機能測量計測システムの内空変
位や天端沈下量を計測する特殊測量の一例を示す模式図
である。

【符号の説明】

１ 多機能測量計測システム ２ ト−タルステ−ション（測定装置） ３ デ−タコレクタ（データ処理端末） ４ 通信線 ５ 三脚部 ６ 回転部 ７ 匡体本体 ８ 光学部 ９ 電子機器 １０ 匡体 １１ キ−ボ−ド部（指示手段） １２ 電子機器（データ処理手段） １３ 表示部 １４ プリンタ装置 １５ 記憶装置（データ処理手段、記憶手段） ２０、２２、２４ 箱尺 ２１、２３、２５ 計測対象部（対象部） ３０ 反射シ−ト ３１〜３５ 計測対象部（対象部）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 河野 興 富山県富山市桜木町１番11号 佐藤工業株 式会社内 (72)発明者 片野 富雄 富山県富山市桜木町１番11号 佐藤工業株 式会社内 (72)発明者 鈴木 仁志 富山県富山市桜木町１番11号 佐藤工業株 式会社内 (72)発明者 岩間 英治 富山県富山市桜木町１番11号 佐藤工業株 式会社内 (72)発明者 宮原 建士 千葉県市川市曽谷８丁目16番３号 マック 株式会社内

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 測量対象となる対象部に対して測距、測
   角を行ない測距データと測角データとを得る測定装置
   と、該測定装置で得られた測距データと測角データとを
   受信して該測距データと測角データとに基づくデータ処
   理を実行するデータ処理端末とを備える多機能測量計測
   システムであって、 前記測定装置は、一般測量に対応した測定を行う一般モ
   ードと、内空変位や天端沈下量を求めるための特殊測量
   に対応した測定を行う特殊モードとを有し、 前記データ処理端末は、前記測定装置に対して前記一般
   モードと前記特殊モードとのいずれかひとつのモードを
   指示する指示手段と、前記測定装置から測距データと測
   角データとを受信して前記指示手段により指示されたモ
   ードに応じたデータ処理により測量結果を得るデータ処
   理手段とを有することを特徴とする多機能測量計測シス
   テム。
2. 【請求項２】 前記測定装置は測量対象となる対象部に
   配置されたターゲットを用いて光波により測距を行う光
   学部を有し、該光学部は発光され前記ターゲットに入射
   される光線と前記ターゲットから出射され受光される光
   線に対してそれぞれ独立した光路を形成することを特徴
   とする請求項１記載の多機能測量計測システム。
3. 【請求項３】 前記データ処理手段は、前記測定装置か
   ら受信される測距データと測角データとを記憶するとと
   もに前記データ処理により得られた測量結果も記憶する
   記憶手段を有することを特徴とする請求項１記載の多機
   能測量計測システム。