JP5645311B2 - 光波距離計 - Google Patents

Description

本発明は、水準測量に用いられる標尺及びレベルに係り、特に、電子的に高低差を測量する一組の電子レベル及びこれに使用する電子レベル用標尺からなる水準測量装置に関する。

電子レベル及び電子レベル用標尺による水準測量は、電子レベルを扱う測量者と標尺を持つ作業者により行われ、作業者により立てられた標尺の目盛を電子レベルで読み取ることで、自動的に測定点の高さが求められる。即ち、標尺が鉛直に立てられることで測定誤差を少なくすることができるが、標尺が鉛直に立てられているか否かを測量者側で判断することは困難であった。

これに対して、特許文献１のように、標尺本体に鉛直状態を検出するセンサ及び傾斜検出部を設け、センサで検知した情報を傾斜検出部において演算し、鉛直と判定されると標尺のランプを点灯させて測量者に知らせる電子レベル及び標尺がある。

特開２０００−８１３３３号（段落番号００２７、００４４、図１）

しかし、特許文献１のような電子レベル及び標尺では、標尺に設けられた鉛直状態検出センサ及び傾斜検出部が正確に動作するよう整備点検する必要があり、電気的なメンテナンス作業が面倒であるという問題があった。また、太陽光による照度が大きい場合、標尺から発信される点灯が測量者側で確認しにくいという問題もあった。

本願発明は、かかる問題点に鑑みて為されたものであり、その目的は、従来の標尺の鉛直検知に見られる問題点を解決するとともに、煩雑なメンテナンス作業が不要で測量者が確認容易な電子レベル及び電子レベル用標尺からなる水準測量装置を提供することにある。

前記目的を達成するために、請求項１に係る水準測量装置においては、測定点に立てられる標尺と、前記標尺の目盛の読み取りを電子的に行って測定点間の高低差を算出する電子レベルと、からなる水準測量装置において、前記電子レベルに、変調光を送出して前記測定点に設けられた反射物からの反射光を受光して前記反射物までの直線距離を光電的に測距する光波距離計が設け、前記標尺の少なくとも上端部及び下端部に前記反射物が設け、前記光波距離計付電子レベルの演算処理部に、前記光波距離計で前記標尺を視準して求められる該光波距離計の視準高さにおける前記標尺までの実測直線距離Ｙと、該光波距離計で測距された前記標尺の反射物までの直線距離及び前記標尺の長さから求められる前記標尺までの計算直線距離Ｘと、から前記標尺の鉛直状態を判定する傾斜検出手段を設けた。

（作用） 光波距離計付電子レベル配置点を点Ｃ、測定点に立てられた標尺の上端側反射物配置点を点Ｂ、標尺の下端側反射物配置点を点Ａとした３点で形成される三角形を三角形ＡＢＣとして、その三辺を、∠Ａに対向する辺をＬＡ、∠Ｂに対向する辺をＬＢ、∠Ｃに対向する辺をＬＣとする。ここで、ＬＣは標尺の長さゆえ既知であり、光波距離計付電子レベルで標尺両端部の反射物までの直線距離を測距すればＬＡ及びＬＢが求まり、三角形ＡＢＣについて余弦定理を適用すれば∠Ａ、∠Ｂ、∠Ｃを求めることができる。そして、光波距離計付電子レベルが標尺と正対していた場合、視準高さにおける標尺までの直線距離は点Ｃから辺ＬＣに下ろした垂線の長さに相当するため、計算上直線距離Ｘは、幾何学的にＸ＝ＬＡ×sinＢで算出される。ここで、仮に標尺が鉛直状態であれば、前記計算による計算直線距離Ｘと、実測した実測直線距離Ｙは一致する。逆に、計算直線距離Ｘ≠実測直線距離Ｙであれば、標尺は鉛直状態にない。よって、これらの演算を演算処理部で行うことで標尺の傾斜の有無を判定することができる。

請求項２においては、請求項１に記載の水準測量装置において、前記演算処理部に、前記実測直線距離Ｙと前記計算直線距離Ｘとを用いて、前記標尺の前後方向傾斜角θを算出する傾度算出手段を設けた。

（作用） 標尺が鉛直方向から前後方向に角度θ（但し０°＜θ＜９０°）傾斜している場合、幾何学的にθ＝ｃｏｓ⁻¹(Ｘ／Ｙ)が成り立つことから、実測直線距離Ｙを測距し、計算直線距離Ｘを計算することで、標尺の前後方向傾斜角θを求めることができる。

請求項３においては、請求項１又は２に記載の水準測量装置において、前記反射物の固定位置と前記光波距離計付電子レベルに求められる仕様最小距離Ｌminおよび仕様最大距離Ｌmaxで規定される測量範囲Ｒに対して、前記反射物は、前記標尺の長さＬＣと前記仕様最小距離Ｌminから得られる∠δ＝ｔａｎ ^−１ （Ｌmin／ＬＣ）を用いて、標尺軸と直交する標尺水平方向から∠φ＝（９０−∠δ）／２だけ内に傾けて配置した。

（作用） 水準測量に望まれる仕様最小距離をＬminとする。Ｌminは前記三角形ＡＢＣで表すところの辺ＬＢに当たり、また、標尺軸と、標尺上端部と光波距離計付電子レベル配置地点とを結ぶ線と、が成す∠δは、前記三角形ＡＢＣで表すところの∠Ｂに当たるので、三角形ＡＢＣにおいて幾何学的に∠δ＝ｔａｎ^−１（Ｌmin／ＬＣ）が成り立ち、また、∠φ＝（９０−∠δ）／２が成り立つ。ＬＣ（標尺長さ）は既知であることから、Ｌminの仕様によって、望ましい角度φを求めることができる。

請求項４においては、請求項１〜３のいずれかに記載の水準測量装置において、前記光波距離付き電子レベルは、前記電子レベル又は前記光波距離計のいずれか一方に他方の電子部品を組み込んだ構成とした。

（作用） それぞれの測量用途に応じて電子レベルと光波距離計に独立別個に設けられていた演算処理部やその測量値等を表示する表示器等を一に統合することができる。

請求項１の水準測量装置によれば、電子レベルに光波距離計を備え、標尺両端部に反射物を設けることで、標尺にセンサ等の電子的機構を設けなくとも、電子レベル側で演算処理するだけで傾きを検出することができるので、標尺にセンサ等を備え付ける必要がなく、煩雑な電気的メンテナンス作業も不要となる。また、電子レベルで傾斜検出するので、この結果を電子レベルの表示部に表示する等すれば、電子レベル側の測量者が容易に鉛直状態を確認することができる。

請求項２の水準測量装置によれば、標尺の前後方向傾斜角θを具体的に知ることができるので、これを補正することでより正確な水準測量が可能となる。

請求項３の水準測量装置によれば、仮に標尺両端部に設けられる反射物を傾けずに、その反射面が標尺水平方向と直交する配置（∠φ＝０）にすると、光波距離計から送出された光を反射面に入射させるために、光波距離計を標尺から所定距離離す必要があるため、その分測距可能な直線距離が遠くなり、仕様最小距離を満足することができなくなる。そこで、仕様最小距離に合わせて反射物を所定角度傾けて配置することで、水準測量に求められる仕様最小距離を満たすことができる。

請求項４の水準測量装置によれば、電子レベル又は光波距離計のいずれか一方に他方の電子部品を組み込み電子レベルと光波距離計を一体とすることで、その分部品点数が削減され、構成も簡潔となる。

本願発明の第１の実施例に係る水準測量装置の作業風景を示す図。 同水準測量装置における光波距離計付電子レベルの構成ブロック図。 同レベルの配置位置と標尺に設けられた反射プリズムの配置の関係を説明する図。 同レベルと標尺が正対した時の関係を示す図。 標尺が傾いている時の関係を示す図。 水準測量プログラムを説明するフローチャート。 標尺が１度後方に傾斜していた場合の実測直線距離と計算直線距離の差を示すグラフ。 標尺が３度後方に傾斜していた場合の実測直線距離と計算直線距離の差を示すグラフ。 本願発明の他の実施例に係る水準測量装置における電子レベルの構成ブロック図。 本願発明の他の実施例に係る水準測量装置における標尺と光波距離計付電子レベルの光送出部の位置関係を説明する図。

以下、図面を参照して本願発明の一実施例に係る水準測量装置を説明する。本願発明において、水準測量装置とは、後述する光波距離計付電子レベル１及びこれに使用する電子レベル用標尺３から構成される。図１は、本願発明の一実施例に係る水準測量装置を用いた作業風景を示す図である。図１左には、標高が既知である基準点上に、電子的に高低差を測量する電子レベル機構に位相差方式の光波距離計機構の電子部品が組み込まれ、電子レベルと光波距離計の両機構が一の箱体内に収容された、光波距離計付電子レベル１が設置されている。図１右には、基準点に基づいて標高を測量しようとしている測定点上に、所定の目盛が付された電子レベル用標尺３が設置されている。標尺３は、図示しない作業者によって支えられた状態で起立している。係る水準測量では、作業者により立てられた標尺３の目盛を、光波距離計付電子レベル１を扱う測量者の操作によって電子レベルで読み取ることで、自動的に測定点の高さを求める。また、光波距離計付電子レベル１は、内蔵した光波距離計機構により、変調光を送出して測定点に設けられた反射物からの反射光を受光して反射物までの直線距離を光電的に測距する。

次に、図２を用いて光波距離計付電子レベル１の構成を説明する。図２は、光波距離計付電子レベルの構成ブロック図である。光波距離計付電子レベル１の内部には、水準測量機構に係る、集光レンズ等の光学系２１及び傾斜自動補償機構（コンペンセータ）２２が設けられており、受光された標尺３の画像はビームスプリッタ２３によってラインセンサ２４に分岐される。ビームスプリッタ２３を通過するものが視準光学系、ラインセンサ２４へと分岐されたものが映像光学系となる。視準光学系は上記光学系２１と傾斜自動補償機構２２とビームスプリッタ２３と焦点板２０ａと接眼レンズ２０ｂとで構成されている。映像光学系は光学系２１と傾斜自動補償機構２２とビームスプリッタ２３とラインセンサ２４とで構成されている。該ラインセンサ２４は受光された標尺３の画像を電気信号に変換しアンプ２５に出力する。アンプ２５で増幅された信号はクロック信号に同期してサンプルホールドされ、ホールドされた信号はＡ／Ｄコンバータ２６でデジタル信号に変換される。デジタル化された信号はメモリ２７に記憶される。ＣＰＵ（演算処理部）２８は該メモリ２７に記憶されている信号を基に標尺３の目盛幅寸法を求める。そして、目盛幅寸法とメモリ２７内に予め格納されたテーブル値とから視準位置の高さを求める。尚、駆動回路２９はラインセンサ２４の作動を制御する回路である。また、上記視準光学系の光軸と映像光学系の光軸とは互いに一致させている。

また、上記電子レベル機構には、光波距離計機構の部品が組み込まれている。詳しくは、駆動回路４１により駆動され、図示しない発振器から発生した基準信号を重畳化した信号の振幅で強度変調した光を送出させる送光部４２から送出された光は、図示しないビームスプリッタ等で測定点に配置された反射物へ向かう測距光と装置内部を通過する参照光に分けられる。測定点に配置した反射物によって反射された測距光は、水準測量機構と共通する光学系２１で集光され、受光部４５によって受光される。一方、参照光も既知の測距光路を経て受光部４５で受光される。受光部４５でアナログ信号となった測距信号及び参照信号は、Ａ／Ｄコンバータ４６でデジタル信号に変換され、デジタル化された信号はメモリ４７に記憶される。水準測量系と共通するＣＰＵ２８はメモリ４７に記憶されている測距信号と参照信号それぞれの信号振幅と位相情報を解析し、測距光と参照光の位相差により内部で発生する誤差を補正した形で、光波距離計付電子レベル１から反射物までの直線距離（測距値）を算出する。ＣＰＵ２８で算出された各測量結果は、水準測量機構及び光波距離計機構の両者で共通する表示器３０に表示される。また、ＣＰＵ２８には、後述する標尺３の鉛直状態を判定する傾斜検出手段と標尺３の前後方向傾斜角θを算出する傾度算出手段が設けられている。

即ち、光波距離計付電子レベル１では、電子レベルの電子部品に光波距離計の電子部品が組み込まれ、水準測量と測距というそれぞれの測量用途に応じて別個独立に設けられていた集光レンズ等の光学系やＣＰＵ及び表示器が一に統合されているので、その分部品点数が削減され、構成も簡潔となっている。

次に、標尺３の構成を図１及び図３を用いて説明する。図３は光波距離計付電子レベルの配置位置と標尺に設けられた反射プリズムの配置の関係を説明する図である。標尺３は図１に示すように棒状に上下方向に伸延した矩形板が図示しない標尺台上に載せられ、作業者に支えられている。標尺３の少なくとも一方の面には、所定のバーコードパターンからなる目盛が描かれており、係るバーコード目盛幅寸法を光波距離計付電子レベル１が読み取る。また、標尺３の上端部３ｂ及び下端部３ａには反射物である反射プリズム４４ｂ,４４ａが配置されている。さらに詳細には、図３に示すように、標尺３の軸と、標尺上端部３ｂと光波距離計付電子レベル１配置地点とを結ぶ線と、が成す角度を∠δとすると、反射プリズム４４ｂは標尺水平方向から∠φ＝（９０−∠δ）／２だけ下方に（内に）傾けて配置され、反射プリズム４４ａは標尺水平方向から∠φ＝（９０−∠δ）／２だけ上方に（内に）傾けて配置されている。反射プリズム４４ｂ、４４ａは標尺３に周知の固定手段によって傾動可能に支承されている。

図３に基づいて、反射プリズム４４ｂ,４４ａを角度φ傾けて配置する理由を説明する。光波距離計付電子レベル１に求められる仕様最小距離をＬmin、仕様最大距離をＬmaxとする。光波距離計付電子レベル１を用いて水準測量する場合、角度δが最も大きくなるのは、光波距離計付電子レベル１が、Ｌmaxかつ標尺上端部３ｂの延長上となる地点Ｇか、Ｌminかつ標尺下端部３ａの延長上となる地点Ｅに設置されたときである。仮に標尺両端部３ｂ,３ａに設けられる反射プリズム４４ｂ,４４ａを傾けずに（∠φ＝０）、反射プリズム４４ｂ,４４ａの反射面が標尺３の水平方向と直交する配置にすると、光波距離計機構から送出された光を反射プリズム４４ｂ,４４ａの反射面に入射させるために、光波距離計付電子レベル１を標尺３から所定距離離す必要があるため、その分仕様最小距離Ｌminが大きくなる。そこで、地点Ｇから地点Ｅの範囲において、確実に測距が可能となるようにするには、標尺３の長さをＬＣとすると、幾何学的に
∠δ＝ｔａｎ^−１（Ｌmin／ＬＣ）・・・（１）
が成り立ち、また、２∠φ＝９０−∠δの関係から
∠φ＝（９０−∠δ）／２・・・（２）
が成り立つ。標尺３の長さＬＣは既知であることから、Ｌminの仕様によって、式（１）及び（２）から望ましい∠φを求めることができる。

例えば、ＬＣ＝４［ｍ］で、光波距離計付電子レベル１に求められるＬmin＝１．５［ｍ］で、光波距離計付電子レベル１は地点Ｅにあったとすると、式（１）からδ＝２１．８°が得られ、これを式（２）に代入して、φ＝３４．１°と求められる。よって、反射プリズム４４ａ、４４ｂを角度φだけ内に傾けることで、光波距離計付電子レベル１に求められる仕様最小距離を必ず満たすことができる。

そして、測定点に標尺３を設置し、光波距離計付電子レベル１を動作させ、（ｉ）標尺３を視準して求められる光波距離計付電子レベル１の視準高さにおける標尺３までの実測直線距離、（ｉｉ）標尺上端部３ｂの反射プリズム４４ｂまでの直線距離、（ｉｉｉ）標尺下端部３ａの反射プリズム４４ａまでの直線距離、を測距する。ここで、図４は光波距離計付電子レベルと標尺が正対した時の関係を示す図である。図４に示すように、光波距離計付電子レベル１の配置点を点Ｃ、反射プリズム４４ｂの配置点を点Ｂ、反射プリズム４４ａの配置点を点Ａとした３点で形成される三角形を三角形ＡＢＣとして、その三辺を、∠Ａに対向する辺をＬＡ、∠Ｂに対向する辺をＬＢ、∠Ｃに対向する辺をＬＣとする。ここで、ＬＣは標尺３の長さゆえ既知であり、（ｉｉ）及び（ｉｉｉ）の測距によりＬＡ、ＬＢが求まる。三角形ＡＢＣについて余弦定理を適用すれば、
∠Ａ＝ｃｏｓ^-1｛(ＬＢ^２＋ＬＣ^２−ＬＡ^２)／(２ＬＢ×ＬＣ)｝・・・（３）
∠Ｂ＝ｃｏｓ^-1｛(ＬＡ^２＋ＬＣ^２−ＬＢ^２)／(２ＬＡ×ＬＣ)｝・・・（４）
∠Ｃ＝ｃｏｓ^-1｛(ＬＡ^２＋ＬＢ^２−ＬＣ^２)／(２ＬＡ×ＬＢ)｝・・・（５）
を求めることができる。そして、光波距離計付電子レベル１が標尺３と正対していた場合、視準高さにおける標尺３までの直線距離は点Ｃから辺ＬＣに下ろした垂線の長さに相当するため、計算上、直線距離Ｘは幾何学的に、
Ｘ＝ＬＡ×sinＢ・・・（６）
で算出することができる。ここで、仮に標尺３が鉛直状態であれば、式（６）による計算直線距離Ｘと、（ｉ）の実測直線距離Ｙは一致する。一方、図５は標尺が傾いている時の関係を示す図である。図５に示すように、標尺３が鉛直状態から後方に傾いている時、計算直線距離Ｘと実測直線距離Ｙは一致しない。この関係を利用して、ＣＰＵ２８では、（ｉｉ）、（ｉｉｉ）の測距値から、上記計算直線距離Ｘを算出し、これと（ｉ）の実測した実測直線距離Ｙを比較することで、求めた計算直線距離Ｘが実測直線距離Ｙと一致しなければ、標尺は鉛直状態にないとして、標尺の傾斜の有無を判定する（傾斜検出手段）。

さらに、図５に示すように、実測直線距離Ｙ及び計算直線距離Ｘが分かれば、
Ｙ＝Ｘ／ｃｏｓθ ・・・（７）
の関係から幾何学的に、標尺３の鉛直方向から後方への傾きθは、
θ＝ｃｏｓ^-1(Ｘ／Ｙ) ・・・（８） 但し、０°＜θ＜９０°
が成り立つため、式（８）より具体的な傾斜角θを求めることができる。この関係を利用して、ＣＰＵ２８では、ＹとＸが一致しなければ、実測直線距離Ｙと求めた計算直線距離Ｘから標尺３の前後方向傾斜角θを算出する（傾度算出手段）。

次に、水準測量プログラムを説明するフローチャートを示す図６に基づいて、光波距離計付電子レベル１を用いた水準測量を説明する。測定点に標尺３を立て、前記プログラムを開始すると、ステップ１で、反射プリズム４４ｂまでの直線距離ＬＢ、反射プリズム４４ａまでの直線距離ＬＡ、実測直線距離Ｙが測距される。次にステップ２に進み、ＬＡ及びＬＢから計算直線距離Ｘが算出される。次にステップ３に進み、傾斜検出手段によって実測直線距離Ｙと計算直線距離Ｘが一致するかが判定される。ステップ３でＹ≠Ｘと判定されると、ステップ４に進み、傾度算出手段によって具体的な傾斜角θが算出され、ステップ５で表示器３０に表示される。これを確認した測量者は、表示された具体的な傾斜角θを標尺３を支える作業者に伝達する。ステップ６で、作業者により傾きが補正されると、ステップ１に戻る。ステップ３でＹ＝Ｘと判定されると、ステップ７に進み、標尺３が鉛直状態である旨が表示器３０に表示され、これを確認した測量者がステップ８で水準測量を実行し、プログラムを終了する。

本実施例によれば、電子レベルに光波距離計を内蔵した光波距離計付電子レベル１を用いて、標尺両端部３ｂ、３ａに反射プリズム４４ｂ、４４ａを設けたことで、標尺３にセンサ等の電子的機構を設けなくとも、光波距離計付電子レベル１側で演算処理するだけで傾きを検出することができるので、標尺３にセンサ等を備え付ける必要がなく、煩雑な電気的メンテナンス作業も不要となる。また、この結果が表示器３０に表示されるので、光波距離計付電子レベル１側の測量者が容易に鉛直状態を確認することができる。

また、測量者は標尺３の前後方向傾斜角θを具体的に知ることができるので、これを作業者に無線機等の公知の手段を用いて伝達し、これを受けた作業者が傾きを補正することで、より正確な水準測量が可能となる。

具体的に、図３において、標尺３の長さＬＣ＝４［ｍ］、光波距離計付電子レベル１に求められる仕様最小距離Ｌmin＝１．５［ｍ］、仕様最大距離Ｌmax＝１００［ｍ］としたときの、標尺が１度後方に傾斜していた場合の計算直線距離と実測直線距離の差を示すグラフを図７に、標尺が３度後方に傾斜していた場合の計算直線距離と実測直線距離の差を示すグラフを図８に示す。

図７、図８において、縦軸は∠δの角度［度］、横軸は、標尺３の軸と、標尺上端部３ａと光波距離計付電子レベル１の配置地点とを結ぶ線と、が成す∠σの角度［度］を表しており、式（１）から、∠δの範囲は２１．８≦δ[度]≦９０であり、同様に２１．８≦σ[度]≦９０であり、δ＝９０°かつσ＝９０°はＬmax＞１００となるので領域外である。よって、図７、図８において扇状に囲まれた領域Ｒが測量に使用される範囲であり、領域Ｒは図３における地点Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈで囲まれる領域に対応する。図７、図８では、光波距離計付電子レベル１が∠δ及び∠σの値で決定される領域Ｒのいずれかの地点に配置されていることを表し、その配置位置で得られるＹ−Ｘ［ｍｍ］の値を色分けして示している。標尺が１度後方に傾斜している図７の範囲内において、いずれの位置においても
Ｙ−Ｘ は（直線距離誤差は）０．２ｍｍ以上であることが分かる。標尺３が３度後方に傾斜している図８の範囲内において、いずれの位置においてもＹ−Ｘは２ｍｍ以上であることが分かる。標尺３の傾きが更に大きくなる場合は、
Ｙ−Ｘ＝Ｘ（１／ｃｏｓθ − １）・・・（９）
であり、式（９）から、標尺３の傾きθが大きくなると、Ｙ−Ｘ値は単調増加で＋∞に発散することから、傾斜検出手段においてＹ＝Ｘと判定する基準をＹ−Ｘ＜２［ｍｍ］、さらに好ましくはＹ−Ｘ＜０．２［ｍｍ］とすることで、標尺３の傾きは確実に検出される。

なお、前記実施例では電子レベルに光波距離計の電子部品を組み込んだが、光波距離計に電子レベルの電子部品を組み込む構成にしても良い。また、図９の本願発明の他の実施例に係る水準測量装置における電子レベルの構成ブロック図に示すように、電子レベルと光波距離計のそれぞれの電子部品を独立別個に設けて、電子レベルのＣＰＵ２８と光波距離計のＣＰＵ４７にてお互いのデータを送受信する構成としても良い。

また、標尺３は、図１０に示すように標尺３の中心からｄだけ離れた位置に反射プリズム４４ｂ,４４ａを置く構成にしても良い。光波距離計付電子レベル１の光送出位置をレベル対物レンズ中心線からｄだけ離しておくことで、水準測量も測距も干渉せずに測定することができる。

また、標尺３の反射プリズム４４ｂ,４４ａは、反射シートを用いてもよい。

１ 光波距離計を備えた電子レベル
３ 標尺
３ａ 標尺下端部
３ｂ 標尺上端部
２８ 演算処理部
４４ａ、４４ｂ 反射プリズム（反射物）

Claims (4)

1. 測定点に立てられる標尺と、前記標尺の目盛の読み取りを電子的に行って測定点間の高低差を算出する電子レベルと、からなる水準測量装置において、
   前記電子レベルには、変調光を送出して前記測定点に設けられた反射物からの反射光を受光して前記反射物までの直線距離を光電的に測距する光波距離計が設けられ、
   前記標尺の少なくとも上端部及び下端部には前記反射物が設けられ、
   前記光波距離計付電子レベルの演算処理部には、前記光波距離計で前記標尺を視準して求められる該光波距離計の視準高さにおける前記標尺までの実測直線距離Ｙと、該光波距離計で測距された前記標尺の反射物までの直線距離及び前記標尺の長さから求められる前記標尺までの計算直線距離Ｘと、から前記標尺の鉛直状態を判定する傾斜検出手段が設けられたことを特徴とする水準測量装置。
2. 前記演算処理部に、前記実測直線距離Ｙと前記計算直線距離Ｘとを用いて、前記標尺の前後方向傾斜角θを算出する傾度算出手段が設けられたことを特徴とする請求項１に記載の水準測量装置。
3. 前記反射物の固定位置と前記光波距離計付電子レベルに求められる仕様最小距離Ｌminおよび仕様最大距離Ｌmaxで規定される測量範囲Ｒに対して、前記反射物は、前記標尺の長さＬＣと前記仕様最小距離Ｌminから得られる∠δ＝ｔａｎ ^−１ （Ｌmin／ＬＣ）を用いて、標尺軸と直交する標尺水平方向から∠φ＝（９０−∠δ）／２だけ内に傾けて配置されたことを特徴とする請求項１又は２に記載の水準測量装置。
4. 前記光波距離付き電子レベルは、前記電子レベル又は前記光波距離計のいずれか一方に他方の電子部品が組み込まれたことを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の水準測量装置。
   

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