JPS58119713U - 透過電子顕微鏡 - Google Patents

透過電子顕微鏡

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JPS58119713U
JPS58119713U JP1566982U JP1566982U JPS58119713U JP S58119713 U JPS58119713 U JP S58119713U JP 1566982 U JP1566982 U JP 1566982U JP 1566982 U JP1566982 U JP 1566982U JP S58119713 U JPS58119713 U JP S58119713U
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JP
Japan
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electron beam
electron microscope
shield
transmission electron
magnification
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JP1566982U
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JPS6316128Y2 (ja
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上原　重夫
森口　作美
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日本電子株式会社
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  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の一実施例の要部を示すための図、第２
図はこの一実施例の電気回路系を示すための図である。 　　− １：観察室、３：蛍光板、４：針線、５：遮蔽体、６：
軸、９ニラツク、１０：ピニオン、１１ｘ。 １１Ｙ：ポテンショメータ、１３Ｘ、１３Ｙ：摘み、　
　　　＝１７：変換回路、゛１９：座標櫃算出回路、２
１：倍率設定器、２２：倍率制御回路、２３：演算制御
回路、２４：表示器。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 針線によって支持されて観察室の上方に配置された微小
    な電子線遮蔽体と、該電子線遮蔽体の電子線投影像を前
    記蛍光板上の任意位置に移動させるため前記遮蔽体を鏡
    筒外から移動させるための機構と、蛍光板上に投影され
    る試料像の倍率に対応する信号を発生するための手段と
    、前記移動機構による移動量を電気信号に変換する手段
    と、該手段よりの出力信号と前記倍率に対応する信号が
    一供給される演算手段と、該演算手段の出力信号を表示
    するための手段とよりなる透過電子顕微鏡。
JP1566982U 1982-02-06 1982-02-06 透過電子顕微鏡 Granted JPS58119713U (ja)

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JP1566982U JPS58119713U (ja) 1982-02-06 1982-02-06 透過電子顕微鏡

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JPS58119713U true JPS58119713U (ja) 1983-08-15
JPS6316128Y2 JPS6316128Y2 (ja) 1988-05-09

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