JPS63155345A - メモリチエツク方式 - Google Patents

メモリチエツク方式

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Publication number
JPS63155345A
JPS63155345A JP61303052A JP30305286A JPS63155345A JP S63155345 A JPS63155345 A JP S63155345A JP 61303052 A JP61303052 A JP 61303052A JP 30305286 A JP30305286 A JP 30305286A JP S63155345 A JPS63155345 A JP S63155345A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
error
bit
memory
address
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61303052A
Other languages
English (en)
Inventor
Fumihiko Sakamoto
坂本 文彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP61303052A priority Critical patent/JPS63155345A/ja
Publication of JPS63155345A publication Critical patent/JPS63155345A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔庄業止の利用分野〕 本発明はメモリチェック方式、特にECC方式を採用し
たメモリのエラー原因の屏灯を容易とすることのできる
メモリチェック方式に関する。
〔従来の技術〕
従来、gcc方式を採用したメモU!ItH,簀込み情
報に誤り訂正符号発生回路で生放された誤り訂正符号を
付加して書込み、読出し時に読出し友誤り訂正符号の付
加された情報をチェックする誤り検出拳訂正回路を介し
て情報の誤vを訂正して出力するようになっている0こ
の場合、通常誤り訂正符号のビット数に実用的な見地か
ら定めていて、1ビツトのエラーに対しては訂正を行な
うが、2ビツト以上のエラーに対しては訂正全行なわず
アラーム信号を発生するに止めているものが多い。なお
上記の誤り検出・訂正回路でop、p全検出しても、!
込み前にエラー金発生したものか、記憶中にエラーを起
したものかの判定が出来ないので、沓込み前の誤り訂正
符号の付刀口さnた情報を別に設けた誤9検出回路によ
ってチェックし。
この段階で誤v金恢出した場合にはそのアドレス?別の
メモリに記憶していて、読出し時にその1報も出力する
ものがある0 〔発明が解決しようとする問題点〕 しかしながら、上述のメモリチェック方式に、書込み直
前の情報をチェックしていないものでは。
前記のごとくエラー1&出しても記憶中のエラーか、曹
込み以前のエラーであるか切分けられず。
書込み直前の情報のチェックを行なっているものでil
、エラーアドレスのみを記憶しているので。
1ビツトのみのエラーであったか、2ビツト以上のエラ
ーがちっ友のか詳細なチェック結果を持つていないこと
と、複数のエラーアドレスを記憶している場合に、毎回
読出すアドレスと照合する必要があり5時間がか\ると
か回路がa雑になるとかの問題点t−有している。
本発明の目的は誉込み面のチェック結果を詳細に記憶し
、読取り時に時間)!!!扛が少なくて簡易な回路によ
って、前記のチェック結果が出力されるメモリチェック
方式を提供することにある0〔問題点を解決する几めの
手段〕 不発明のメモリチェック方式U、ECC方式を採用する
メモリにおいて、メモリへの書込み時に書込み情報音チ
ェックする誤り検出回路と、前記メモリと同一のアドレ
スを有して前記メモリの曹込みおよび絖出しのそれぞれ
に平行して前記fAジ検出回路からのチェック結果の書
込みおよび読出しを行なうチェック結果メモリとを有し
て構成される0 以上の構成により、例えばチェック結果メモリにアドレ
ス当り2ビットの記憶素子を有していれば、チェック結
果として少なくとも瞼9無し、1ビット誤りお工び2ビ
ット以上誤りの情報を記憶しておくことができ、f込み
および読出し共に本体メモリと殆んど時間遅れなく実行
することができる。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例について図面全診照して説明する
第1図は本発明の一実施例のブロック図で、誤り訂正符
号発生回路1と、データメモリ回路2と、誤り検出・訂
正囲路3と、−9検出回路4、チェック結果メモリ回路
5とをイfして桐成さnている。
誤り釘止符号発生回路IKμデータメモリ回路1に曹込
まnるデータビットを転送する1ど号触L1がデータメ
モリ回路1と並列に接続されていて。
データビットから誤り検出・訂正用の冗長ビットを生成
する0デ一タメモリ回路2はアドレスを転送する信号線
L2に接続されたアドレス回路21全有していて、信号
iL1からのデータビットと、誤り訂正符号発生L!j
路1から1吉号―L3全介して入力される冗長ビットと
を指定されたアドレスに記憶するメモリである0誤り検
出・訂正回路3はデータメモリ回路2から読出さnfc
テータビットと冗長ビットと金検食して、1ビツトのエ
ラーの場合は訂正し、2ビツト以上のエラーの場合にア
ラームを発生する回路で、データピットニ信号線Lla
金介して、エラー検出情報、訂正清報およびアラーム情
報は信号aLSを介して出力さnる。
誤り検出回路4は信号49 L 1と18号線L3とに
惺絖さnていて、データメモリ回路2に1・込ま汎る直
前のデータビットと冗長ビットとが人力さn。
誤り演出・訂正回路3に含まれる誤り検出と同一の誤り
検出回路を有し、エラー無し、1ビツトのエラー有りお
工ひ2ビツト以上のエラー有りを示す2ビットで構成さ
れ次チェック結果を信号線L4に出力する。チェック結
果メモリ回路5は信号線L2にアドレス回路21と並列
に接続され、アドレス回路21と同一アドレスを指定す
るアドレス回路51を有していて、信号線L4からのチ
ェック結果の2ビツトヲ指定されたアドレスに記憶し。
読出し時は指定さnたアドレスから記憶されているチェ
ック結果1[号HL 5 a 7!I−介して出力する
以下2本実施例の動作について説明奮進めると。
蹟ジ訂正符号発生回路1.データメモリ回路2および誤
り検出・訂正回路3によジ構放される部分は、従来のE
CC方式を採用したメモリチェック方式における構成と
同じで5本実施例においても従来と同じ動作を行なう。
そこで本実施例では書込み時に、信号線L1から入力さ
れるデータビットと信号線L3e介して出力さnる冗長
ビットとに、テータメそり回路1の指定さnたアドレス
に記憶されると共に、誤り検出回路4に入力されてチェ
ックが行なわれる0ぞの結果、菩込み直前の信号として
唄りが無いか、1ビツトのエラーが有るか、2ビツト以
上のエラーが有るか予め定められた2ビツトの情報とし
て信号線L4を介して出力され、この2ビツトの情報が
チェック結果メモリ回路のデータメモリ回路1で指定さ
れ次アドレスと同じアドレスに記憶さnる。このように
してデータメモリ回路1の何れのアドレスの記憶に対し
ても、その書込み@―σのチェック結果がそnぞnチェ
ック結果メモリ回路5の同じアドレスに記憶されること
になる。次いでアドレスが指定されて、データメモリ回
路2から読出しが行なわれると、誤り検出・訂正回路3
により信号線Leaを介してデータビットが、信号、N
L5t−介してエラー検出情報、訂正情報およびアラー
ム情報が出力されると同時に、チェック結果メモリ回路
5の同じアドレスから、その書込みi[Mのチェック結
果が信号@L5aを介して出力される。そこで信号線L
5からの出力と信号線L5aからの出力とによって、誤
り情報が含まnていた場合には、データメモリ回路1の
中で発生したエラーか、書込み削にエラーが含まれてい
たかが判定できる〇なお2以上の実施例においては、デ
ータメモリ回路2とチェック結果メモリ回路5とにそn
ぞn独立に設けられるものとしたが、チェック結果メモ
リ5のそれぞnのアドレスに対応する記憶素子をデータ
メモリ回路2のそれぞれのアドレスに設て、アドレス回
路51をアドレス回路21により共用しても一回に拘わ
ない。
なお、ま−fC,%以上の実施例Iにおいてに、チェッ
ク結果メモリ回路はそnぞnのアドレスに2ビツトのチ
ェック結果を記憶するものとしたが、1ピツトとしてエ
ラー無しか、1ビツトのエラー泪9を記憶させるとか、
3ビツト以上とじでくに豊奮なチェック結果を記憶させ
ても一同に掬わない。
〔発明の効果〕
以上詳細に説明したとおり、本発明はFCC方式を採用
したメモリチェック方式において、データメモリ回路へ
の畳込み@前の情報をチェックして、その結果t−紀憶
しているので、データメモリ回路からの読出しにおいて
、従来に判定が出来ない書込み削の1ビツトエラーと2
ビツト以上のエラーとの区別ができ、誤り訂正符号発生
回路等の障害が早急に検出され、メモリ装置の保守を容
易にすると云う効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図に本発明の一実施例のブロック図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ECC方式を採用するメモリにおいて、メモリへの書込
    み時に書込み情報をチェックする誤り検出回路と、前記
    メモリと同一のアドレスを有して前記メモリの書込みお
    よび読出しに平行して前記誤り検出回路からのチェック
    結果の書込みおよび読出しを行なうチェック結果メモリ
    とを有することを特徴とするメモリチェック方式。
JP61303052A 1986-12-19 1986-12-19 メモリチエツク方式 Pending JPS63155345A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61303052A JPS63155345A (ja) 1986-12-19 1986-12-19 メモリチエツク方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61303052A JPS63155345A (ja) 1986-12-19 1986-12-19 メモリチエツク方式

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JPS63155345A true JPS63155345A (ja) 1988-06-28

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ID=17916336

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61303052A Pending JPS63155345A (ja) 1986-12-19 1986-12-19 メモリチエツク方式

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JP (1) JPS63155345A (ja)

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