JPS63150609A - 外径測定方法 - Google Patents
外径測定方法Info
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- JPS63150609A JPS63150609A JP29763686A JP29763686A JPS63150609A JP S63150609 A JPS63150609 A JP S63150609A JP 29763686 A JP29763686 A JP 29763686A JP 29763686 A JP29763686 A JP 29763686A JP S63150609 A JPS63150609 A JP S63150609A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 27
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 9
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 241000406668 Loxodonta cyclotis Species 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の利用分野］
本弁明は丸断面を有する長尺物の外径を測定する方法に
関する。
関する。
し従来技術」
丸ｍ等の丸断面を有する長尺物は、持聞昭６１−２５８
１０５号公報等の如くレーザー等の平行光を用いて外径
を測定するのが一般である。
１０５号公報等の如くレーザー等の平行光を用いて外径
を測定するのが一般である。
しかし、平行光を用いて外径を測定する場合対象物の外
径より大きなレンズ等を有する光学系が必要であり、対
象物の外径が大きくなると、収差の小さい光学系を構成
するとことが困難となり又価格の増大をきたすという問
題があった。又更に外径が大きくなるとかかる平行光に
よる測定法は実際には適用できない問題があった。
径より大きなレンズ等を有する光学系が必要であり、対
象物の外径が大きくなると、収差の小さい光学系を構成
するとことが困難となり又価格の増大をきたすという問
題があった。又更に外径が大きくなるとかかる平行光に
よる測定法は実際には適用できない問題があった。
［発明の目的１
本発明はかかる問題に鑑みなされたもので、その目的は
平行光を用いなくても安価な散乱光光源で測定装置が構
成でき、対象物のパスラインが変動しても正確に外径を
測定でき、かつ大きな外（￥にも適用できる方法を提供
することにある。
平行光を用いなくても安価な散乱光光源で測定装置が構
成でき、対象物のパスラインが変動しても正確に外径を
測定でき、かつ大きな外（￥にも適用できる方法を提供
することにある。
［発明の構成・作用１
上述の目的は、以下の本発明により達成される。
すなわち、本発明は丸断面を有する長尺の被測定物に対
してその半径方向に被測定物を中にして光源とイメージ
センサ−を対向配置し、被測定物の影像をイメージセン
ナ−で検出して被測定物の外径を測定する外径測定方法
において、拡散光源と受光レンズを有するイメージセン
サ−とからなる２組の測定系をその光軸が被測定物の軸
に垂直な平面の２次元座標系の座標軸になるように配置
し、２つのイメージセンサ−の信号から被測定物の断面
中心の前記２次元座標系での座標を測定し、該座標に阜
いて被測定物の外径を１ｌｌｌｌ定ザることを特徴とす
る外径測定方法を第１発明とし、第１発明と同じ測定系
とその配置ににす、２つのイメージセンサ−の信号から
被測定物のイメージセンサ−上への影像を形成する光線
によって形成される被測定物の外接四辺形の頂点の座標
を求め、この座標から被測定物の外径を測定することを
特徴とし、第１発明より被測定物の移動に伴なう測定誤
差の小さい外径測定法を第２発明とするものである。
してその半径方向に被測定物を中にして光源とイメージ
センサ−を対向配置し、被測定物の影像をイメージセン
ナ−で検出して被測定物の外径を測定する外径測定方法
において、拡散光源と受光レンズを有するイメージセン
サ−とからなる２組の測定系をその光軸が被測定物の軸
に垂直な平面の２次元座標系の座標軸になるように配置
し、２つのイメージセンサ−の信号から被測定物の断面
中心の前記２次元座標系での座標を測定し、該座標に阜
いて被測定物の外径を１ｌｌｌｌ定ザることを特徴とす
る外径測定方法を第１発明とし、第１発明と同じ測定系
とその配置ににす、２つのイメージセンサ−の信号から
被測定物のイメージセンサ−上への影像を形成する光線
によって形成される被測定物の外接四辺形の頂点の座標
を求め、この座標から被測定物の外径を測定することを
特徴とし、第１発明より被測定物の移動に伴なう測定誤
差の小さい外径測定法を第２発明とするものである。
上述の本発明は、散乱光と小口径の受光レンズを用いる
ことによる測定ムス）差要囚の増加を２つの測定系によ
る２次元座標系で被測定物をｉｌｌ＋定し、特定データ
処理と組み合わせて解決し、安定かつ高精度な１）１１
定を可能としたもので、前述の平行光方式の問題を一挙
に解決覆ると共に、安定な遠隔測定も実現するという優
れた作用を奏するものである。
ことによる測定ムス）差要囚の増加を２つの測定系によ
る２次元座標系で被測定物をｉｌｌ＋定し、特定データ
処理と組み合わせて解決し、安定かつ高精度な１）１１
定を可能としたもので、前述の平行光方式の問題を一挙
に解決覆ると共に、安定な遠隔測定も実現するという優
れた作用を奏するものである。
なお、上述の本発明において座標系は直交座標系とする
ことがデータ処理面で有利である。２つの測定系は被測
定物の断面上で結果的に２次元座標系を構成すれば良く
、夫々が軸方向に隔った断面上にあった方が２つの光学
系の干渉除去上は良いが、一方散測定物が移動する場合
には同一平面上にあった方がシステム構成、測定精度面
から好ましく、２つの測定系の配置断面は状況に応じて
適宜選択すべきである。又上述の本発明においては、２
次元座標系の原点は被ｍｌｌ定物の断面中心の近傍にあ
ることが測定精度面、データ処理面から好ましい。
ことがデータ処理面で有利である。２つの測定系は被測
定物の断面上で結果的に２次元座標系を構成すれば良く
、夫々が軸方向に隔った断面上にあった方が２つの光学
系の干渉除去上は良いが、一方散測定物が移動する場合
には同一平面上にあった方がシステム構成、測定精度面
から好ましく、２つの測定系の配置断面は状況に応じて
適宜選択すべきである。又上述の本発明においては、２
次元座標系の原点は被ｍｌｌ定物の断面中心の近傍にあ
ることが測定精度面、データ処理面から好ましい。
以下本発明の詳細を実施例に基いて説明する。
第１図は本発明の一実施例の構成図である。図において
、１．２はラインセンサーカメラ、３は丸鋼等の被測定
物、４．５は散乱光光源である。
、１．２はラインセンサーカメラ、３は丸鋼等の被測定
物、４．５は散乱光光源である。
ラインセンサーカメラ１と散乱光光源４で１つの測定系
、ラインセンサーカメラ２と散乱光光源５でもう一つの
測定系を構成し、２つの測定系はその光軸Ｘ、Ｙが２次
元直交座標系のＸＮ＋、Ｙ＠を構成し、その原点が定常
状態の被測定物３の断面中心に一致するように配置され
ている。
、ラインセンサーカメラ２と散乱光光源５でもう一つの
測定系を構成し、２つの測定系はその光軸Ｘ、Ｙが２次
元直交座標系のＸＮ＋、Ｙ＠を構成し、その原点が定常
状態の被測定物３の断面中心に一致するように配置され
ている。
ラインセンサーカメラ１，２は被測定物の直径より小さ
い口径の受光レンズｌａ、２ａを備え、被測定物の半径
方向の寸法が測定できるようにその搬像素子の一次元の
ラインセンサー１ｂ、２ｂのアレイ方向が各軸に垂直に
なるように配置される。このラインセンサーカメラ２に
はＣＯＤ、ＭＯ３Ｗのラインセンサー素子を用いた市販
品がそのまま適用でき、本例では余人エンジニアリング
（株製のＣＯＤ素子を用いたチルスキャン（商品名）を
使用した。又、散乱光光源４．５は被測定物の直径より
良い高周波点灯蛍光灯を用い、ラインセンサー１１］、
２ｂのアレイ方向になるように配置されている。なお、
測定系の光軸は光源４．５とラインセンサー１ｂ、２ｂ
の各中心と受光レンズ１ａ、２ａの中心を通る光線軸で
ある。
い口径の受光レンズｌａ、２ａを備え、被測定物の半径
方向の寸法が測定できるようにその搬像素子の一次元の
ラインセンサー１ｂ、２ｂのアレイ方向が各軸に垂直に
なるように配置される。このラインセンサーカメラ２に
はＣＯＤ、ＭＯ３Ｗのラインセンサー素子を用いた市販
品がそのまま適用でき、本例では余人エンジニアリング
（株製のＣＯＤ素子を用いたチルスキャン（商品名）を
使用した。又、散乱光光源４．５は被測定物の直径より
良い高周波点灯蛍光灯を用い、ラインセンサー１１］、
２ｂのアレイ方向になるように配置されている。なお、
測定系の光軸は光源４．５とラインセンサー１ｂ、２ｂ
の各中心と受光レンズ１ａ、２ａの中心を通る光線軸で
ある。
又、図のａｘ、 ａｙはラインセンサーカメラ１，２の
受光レンズ１ａ、２ａの座標系の原点０からの距離すな
わち対物距離、ｂｘ、 ｂｙは受光レンズ１ａ。
受光レンズ１ａ、２ａの座標系の原点０からの距離すな
わち対物距離、ｂｘ、 ｂｙは受光レンズ１ａ。
２ａと一次元ラインセンサー１ｂ、２ｂとの距離すなわ
ち結像距離である。
ち結像距離である。
そしてラインセンサーカメラ１．２の出力は、図示省略
したマイクロコンピュータよりなるデータ処理装置に接
続され一データ処理装置において以下の処理をすること
により、被測定物の外径を測定するように構成されてい
る。
したマイクロコンピュータよりなるデータ処理装置に接
続され一データ処理装置において以下の処理をすること
により、被測定物の外径を測定するように構成されてい
る。
すなわち、上述の構成において被測定物３が図の実線か
ら点線の位置へ移動した時換言すればその断面の中心点
が１．原点Ｏから座標（Ｘｏ、Ｙｏ）に移動したとき、
ラインセンサー１ｂ、２６上・での該中心点の像の移動
量をそれぞれ△△、Δ泊とすると、次の■、■式が成立
する。
ら点線の位置へ移動した時換言すればその断面の中心点
が１．原点Ｏから座標（Ｘｏ、Ｙｏ）に移動したとき、
ラインセンサー１ｂ、２６上・での該中心点の像の移動
量をそれぞれ△△、Δ泊とすると、次の■、■式が成立
する。
△Ａ＝ ｂｒ ／ （ａ ［＋Ｘｏ ） ・Ｙｏ −
−■ΔＢ＝ ｂｙ ／ （ａ ｙ−←Ｙｏ）・Ｘｏ ・
・・・・・■■、■式をＸｏ、Ｙｏについて解くと ＸＯ＝ΔＢ （ａ ｙ ｂ 、 ＋ａ Ｋ△Ａ）／ （
ｂ Ｘ ｂ ｙ−八へΔＢ） ・・・・・・■Ｙｏ＝
Δ△（ａｙｌ）ｙ＋ａｙ△Ｂ） ／（ｂにｂｙ−へＡへＢ） ・・・・・・ ■又、被測
定物の外径のラインセンサー１１１゜２ｂ上での像の大
きざをそれぞれｒＡ、ｒ３とし、それに対応する被測定
物の外径をＲＡ、ＲＢとすると、 Ｒｘ＝＜ａｘ＋Ｘｏ）／ｂｘ−ｒＡ−−■Ｒｅ＝（ａｙ
＋Ｙｏ）７’ｂｙ−ｒｓ−■である。ここでＸｏ、Ｙｏ
は前述の■、■式で得られる被測定物断面の中心座標で
ある。
−■ΔＢ＝ ｂｙ ／ （ａ ｙ−←Ｙｏ）・Ｘｏ ・
・・・・・■■、■式をＸｏ、Ｙｏについて解くと ＸＯ＝ΔＢ （ａ ｙ ｂ 、 ＋ａ Ｋ△Ａ）／ （
ｂ Ｘ ｂ ｙ−八へΔＢ） ・・・・・・■Ｙｏ＝
Δ△（ａｙｌ）ｙ＋ａｙ△Ｂ） ／（ｂにｂｙ−へＡへＢ） ・・・・・・ ■又、被測
定物の外径のラインセンサー１１１゜２ｂ上での像の大
きざをそれぞれｒＡ、ｒ３とし、それに対応する被測定
物の外径をＲＡ、ＲＢとすると、 Ｒｘ＝＜ａｘ＋Ｘｏ）／ｂｘ−ｒＡ−−■Ｒｅ＝（ａｙ
＋Ｙｏ）７’ｂｙ−ｒｓ−■である。ここでＸｏ、Ｙｏ
は前述の■、■式で得られる被測定物断面の中心座標で
ある。
従って、各ラインセンサー１ｂ、２ｂからの映像信号よ
り被測定物３の影（象の中心位置のラインセンＩ＋−１
ｂ、２ｂの中心点よりの変化ＲΔＡ。
り被測定物３の影（象の中心位置のラインセンＩ＋−１
ｂ、２ｂの中心点よりの変化ＲΔＡ。
ΔＢ測測定、０．０式に塁いて被測定物の断面中心座Ｉ
Ｗ（Ｘｏ、Ｙｏ）を求める。次いで前記映像信号より被
測定物３の影像の長さｒＡ、ｒ日を測定し、■、ｔΦ式
に基いて被測定物の外径を求める。
Ｗ（Ｘｏ、Ｙｏ）を求める。次いで前記映像信号より被
測定物３の影像の長さｒＡ、ｒ日を測定し、■、ｔΦ式
に基いて被測定物の外径を求める。
このようにして所望の外径が測定される。
被測定物が所定のパスライン上を移送される場合には、
その中心を原点とし、その原点位置に外径が既γ口の被
測定物３を置さ、そのときにイメージロンサ゛−カメラ
１．２で１１られる像の大きざからそれぞれのイメージ
ごンサカメラ１．２の対物距離及び結像距離を予め求め
、データ処理装置に設定しておく。
その中心を原点とし、その原点位置に外径が既γ口の被
測定物３を置さ、そのときにイメージロンサ゛−カメラ
１．２で１１られる像の大きざからそれぞれのイメージ
ごンサカメラ１．２の対物距離及び結像距離を予め求め
、データ処理装置に設定しておく。
このようにして、被測定物がパスライン上で変動し、断
面中心点が原点より移動しても、イメージセンサ−カメ
ラ１．２の映像信号より中心点座標を検出し、続けて丸
断面外径を算出して測定することができる。
面中心点が原点より移動しても、イメージセンサ−カメ
ラ１．２の映像信号より中心点座標を検出し、続けて丸
断面外径を算出して測定することができる。
さて、以上説明した第１発明で測定される被測定物の外
径ＲＡ、ＲＢは厳密には被測定物の外径ではなく、第２
図に示すように被測定物の接線光線で定められる像の大
きさである。
径ＲＡ、ＲＢは厳密には被測定物の外径ではなく、第２
図に示すように被測定物の接線光線で定められる像の大
きさである。
従って対物距離と対象物体の外径との比が大きくなると
実外径と児かｃノ上の像との差は無視できなくなる。従
って以下に説明する補正を行なうことが好ましい。
実外径と児かｃノ上の像との差は無視できなくなる。従
って以下に説明する補正を行なうことが好ましい。
すなわち、前述の第１発明で測定される外径ＲＡは第３
図図示のものである。そこで被測定物３の実際の正しい
実外径ＲＡ’、ＲＢ’ はその幾何学的関係から前述０
〜０式で求められた中心座標（Ｘｏ、Ｙｏ）、外径ＲＡ
、Ｒ８を用い、次式により補正することにより得られる
。
図図示のものである。そこで被測定物３の実際の正しい
実外径ＲＡ’、ＲＢ’ はその幾何学的関係から前述０
〜０式で求められた中心座標（Ｘｏ、Ｙｏ）、外径ＲＡ
、Ｒ８を用い、次式により補正することにより得られる
。
Ｒ△’＝ＲＡ／ ＋ Ａ／ 磨Ａ 〜・・・
・・・■ Ｒ８’ ＝Ｒａ ／ｒ丁Ｔゴ主８／２ρＢ）２・・・・
・・■ 以上のように■、■式で得られた外径の測定値ＲＡ、Ｒ
８を■、■式の関係で定められる接線光線に基づく幾何
学的補正により補正することより、拡散光線による影像
誤差を補正し正しい外径の測定ＩＲ八′、Ｒ８′を得る
ことができる。
・・・■ Ｒ８’ ＝Ｒａ ／ｒ丁Ｔゴ主８／２ρＢ）２・・・・
・・■ 以上のように■、■式で得られた外径の測定値ＲＡ、Ｒ
８を■、■式の関係で定められる接線光線に基づく幾何
学的補正により補正することより、拡散光線による影像
誤差を補正し正しい外径の測定ＩＲ八′、Ｒ８′を得る
ことができる。
以上本発明の第１発明を説明した。次に第１発明の拡散
光線による影像誤差及び中心点移動に伴なう誤差のない
第２発明を第３図により説明する。
光線による影像誤差及び中心点移動に伴なう誤差のない
第２発明を第３図により説明する。
なお、測定系の構成は前述の第１発明と全く同じである
。
。
第３図に示すように被測定物３のイメージセンサ１ａ、
ｌｂ上への影像を形成する光線によって形成される被測
定物３の外接四辺形Ｐ＋ Ｐ２ Ｐ３Ｐ４はイメージセ
ンナカメラ１．２からの映像信号により以下のように求
められる。
ｌｂ上への影像を形成する光線によって形成される被測
定物３の外接四辺形Ｐ＋ Ｐ２ Ｐ３Ｐ４はイメージセ
ンナカメラ１．２からの映像信号により以下のように求
められる。
すなわらＸ軸上に設置したイメージレンυカメラ１．Ｙ
軸上に設置したイメージセンサカメラ２において、原点
○が投影されるイメージセンサ−１ｂ、２ｂ上のピッ（
・位置をＭｃ 、 Ｎｃ 、被測定物３の円周が投影さ
れるイメージセン’＋−１ｂ。
軸上に設置したイメージセンサカメラ２において、原点
○が投影されるイメージセンサ−１ｂ、２ｂ上のピッ（
・位置をＭｃ 、 Ｎｃ 、被測定物３の円周が投影さ
れるイメージセン’＋−１ｂ。
２ｂ上のビット位置を各々Ｍ＋ 、Ｍ２ 、Ｎｌ 。
Ｎ２ （但し、Ｍｌ ＜Ｍ２ 、 Ｎｌ ＜Ｎ２ ＞
、イメージセンサ−１ｂ、２ｂの素子間隔をＷとする。
、イメージセンサ−１ｂ、２ｂの素子間隔をＷとする。
そこで
ｍ １ ＝ （Ｍ２ ＭＯ） Ｗ／ｂ
Ｋｍ ２＝ （Ｍｌ Ｉｖｌｃ ） Ｗ／ｂ Ｘｎ
１ ＝ （ＮＣ−Ｎｌ ） Ｗ／ｂ ｙｎ ２＝ ＜Ｎ
ｃ −Ｎｚ ） Ｗ／ｂ ｙとすれば外接四辺形ＰＩ
Ｐ２ Ｐ３ ＰＪの頂点Ｐ１〜Ｐ４の座標は次式となる
。
Ｋｍ ２＝ （Ｍｌ Ｉｖｌｃ ） Ｗ／ｂ Ｘｎ
１ ＝ （ＮＣ−Ｎｌ ） Ｗ／ｂ ｙｎ ２＝ ＜Ｎ
ｃ −Ｎｚ ） Ｗ／ｂ ｙとすれば外接四辺形ＰＩ
Ｐ２ Ｐ３ ＰＪの頂点Ｐ１〜Ｐ４の座標は次式となる
。
これより外接四辺形ＰＩ Ｐ２Ｐ３ ＰＪの各辺の長さ
が求められる。
が求められる。
Ｌ＋ ＝Ｐ＋ Ｐ？
Ｌ２＝Ｐ２Ｐｘ
Ｌａ ＝Ｐ３ Ｐｓ
Ｌ４＝ＰＪ Ｐｌ
ここでＬｓ ＝Ｐ２ＰＪ とするとＰＩ Ｐ２ ＰＪ
。
。
Ｐ２ Ｐ３ ＰＪで囲まれる三角形の面積Ｓ＋ 、８２
はヘロンの公式より求められるため外接四辺形ＰＩ Ｐ
２Ｐ３ ＰＪの面積Ｓは下式で与えられる。
はヘロンの公式より求められるため外接四辺形ＰＩ Ｐ
２Ｐ３ ＰＪの面積Ｓは下式で与えられる。
Ｓ＝Ｓ＋ ＋８２
〈イ旦し、ｈ ＋ ＝ （Ｌ＋ ＋Ｌ４＋Ｌｓ ）／２
゜ｈ ２−（Ｌ２ ＋Ｌ３ ＋Ｌ５ ）／２）
被測定物の直径をＲとすると Ｒ／２Ｘ （Ｌ＋ ＋Ｌ２ ＋Ｌ３ ＋１４ ）Ｘ１／
２＝Ｓ であるから、直径Ｒは下式より得られる。
゜ｈ ２−（Ｌ２ ＋Ｌ３ ＋Ｌ５ ）／２）
被測定物の直径をＲとすると Ｒ／２Ｘ （Ｌ＋ ＋Ｌ２ ＋Ｌ３ ＋１４ ）Ｘ１／
２＝Ｓ であるから、直径Ｒは下式より得られる。
Ｒ＝４Ｓ／ （Ｌ＋ ＋Ｌ２ ＋Ｌ３ ＋Ｌ４ ）以上
の通り、本発明の第２発明によれば、イメージセンサカ
メラ１，２の映像信号から被測定物３のイメージセンサ
１ｂ、２ｂ上の映像の両端及び原点に対応する点のビッ
ト位置を求め、次いで上述の演算処理により被測定物の
外径を測定することができる。そして演算処理は、被測
定物３の影像をイメージセンサ−１ｂ、２ｂ上に形成す
る光線が作る被測定物３の外接四辺形の面積を求め、次
いでこの面積に基づいて被測定物３の外（￥を求めるよ
うにしているので、幾何光学上何ら近似のない正確な測
定が得られる。従ってこの第２発明によれば、前述の測
定誤差のない測定が得られるのである。
の通り、本発明の第２発明によれば、イメージセンサカ
メラ１，２の映像信号から被測定物３のイメージセンサ
１ｂ、２ｂ上の映像の両端及び原点に対応する点のビッ
ト位置を求め、次いで上述の演算処理により被測定物の
外径を測定することができる。そして演算処理は、被測
定物３の影像をイメージセンサ−１ｂ、２ｂ上に形成す
る光線が作る被測定物３の外接四辺形の面積を求め、次
いでこの面積に基づいて被測定物３の外（￥を求めるよ
うにしているので、幾何光学上何ら近似のない正確な測
定が得られる。従ってこの第２発明によれば、前述の測
定誤差のない測定が得られるのである。
以上の通り、本発明では、２つの測定系を用い、散乱光
と小口径の受光レンズのイメージセンサとによる誤差の
小さい外径測定法を提供するもので、工業上非常に有用
なものである。
と小口径の受光レンズのイメージセンサとによる誤差の
小さい外径測定法を提供するもので、工業上非常に有用
なものである。
第１図は、実施例の全体構成の説明図、第２図は第１発
明での幾何学的補正の説明図、第３図は第２発明の測定
処理方法の説明図である。 １．２：イメージセンサ−カメラ。 ３；被測定物 ４．５＝光源
明での幾何学的補正の説明図、第３図は第２発明の測定
処理方法の説明図である。 １．２：イメージセンサ−カメラ。 ３；被測定物 ４．５＝光源
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、丸断面を有する長尺の被測定物に対してその半径方
向に被測定物を中にして光源とイメージセンサーを対向
配置し、被測定物の影像をイメージセンサーで検出して
被測定物の外径を測定する外径測定方法において、拡散
光源と受光レンズを有するイメージセンサーとからなる
２組の測定系をその光軸が被測定物の軸に垂直な平面の
２次元座標系の座標軸になるように配置し、２つのイメ
ージセンサーの信号から被測定物の断面中心の前記２次
元座標系での座標を測定し、該座標に基いて被測定物の
外径を測定することを特徴とする外径測定方法。 ２、前記測定値を被測定物の接線光線に基づく幾何学的
補正により補正する特許請求の範囲第１項記載の外径測
定方法。 ３、前記２次元座標系が直交座標である特許請求の範囲
第１項若しくは第２項記載の外径測定方法。 ４、前記被測定物はその断面中心が前記２次元座標系の
原点近傍に位置するように配置されている特許請求の範
囲第１項、第２項若しくは第３項記載の外径測定方法。 ５、前記被測定物は軸方向に移動される特許請求の範囲
第４項記載の外径測定方法。 ６、丸断面を有する長尺の被測定物に対してその半径方
向に被測定物を中にして光源とイメージセンサーを対向
配置し、被測定物の影像をイメージセンサーで検出して
被測定物の外径を測定する外径測定方法において、拡散
光源と受光レンズを有するイメージセンサーとからなる
２組の測定系をその光軸が被測定物の軸に垂直な平面の
２次元座標系の座標軸になるように配置し、２つのイメ
ージセンサーの信号から被測定物のイメージセンサ上へ
の影像を形成する光線によって形成される被測定物の外
接四辺形の頂点の座標を求め、この座標から被測定物の
外径を測定することを特徴とする外径測定方法。 ７、前記２次元座標系が直交座標である特許請求の範囲
第６項記載の外径測定方法。 ８、前記被測定物はその断面中心が前記２次元座標系の
原点近傍に位置するように配置されている特許請求の範
囲第６項若しくは第７項記載の外径測定方法。 ９、前記被測定物は軸方向に移動される特許請求の範囲
第８項記載の外径測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29763686A JPS63150609A (ja) | 1986-12-16 | 1986-12-16 | 外径測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29763686A JPS63150609A (ja) | 1986-12-16 | 1986-12-16 | 外径測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63150609A true JPS63150609A (ja) | 1988-06-23 |
Family
ID=17849141
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29763686A Pending JPS63150609A (ja) | 1986-12-16 | 1986-12-16 | 外径測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63150609A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0312106U (ja) * | 1989-06-21 | 1991-02-07 | ||
| JP2007071752A (ja) * | 2005-09-08 | 2007-03-22 | Mitsubishi Electric Corp | 検査装置 |
| CN110595369A (zh) * | 2019-08-14 | 2019-12-20 | 太原理工大学 | 一种基于机器视觉的管材直径测量装置及其测量方法 |
-
1986
- 1986-12-16 JP JP29763686A patent/JPS63150609A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0312106U (ja) * | 1989-06-21 | 1991-02-07 | ||
| JP2007071752A (ja) * | 2005-09-08 | 2007-03-22 | Mitsubishi Electric Corp | 検査装置 |
| CN110595369A (zh) * | 2019-08-14 | 2019-12-20 | 太原理工大学 | 一种基于机器视觉的管材直径测量装置及其测量方法 |
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