JPS63113545A - 電子写真感光体 - Google Patents
電子写真感光体Info
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- JPS63113545A JPS63113545A JP25974686A JP25974686A JPS63113545A JP S63113545 A JPS63113545 A JP S63113545A JP 25974686 A JP25974686 A JP 25974686A JP 25974686 A JP25974686 A JP 25974686A JP S63113545 A JPS63113545 A JP S63113545A
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
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- G03G5/08264—Silicon-based comprising seven or more silicon-based layers
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- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
この発明は、帯電特性、Ff#減衰特性、光感度特性及
び耐環境性等が優れた電子写真感光体に関する。
び耐環境性等が優れた電子写真感光体に関する。
[従来の技術]
水素(H)を含有するアモルファスシリコン(以下、a
−81:Hと略す)は、近年、光電変換材料として注目
されておシ、太陽電池、薄膜トランゾスタ、及びイメー
ジセンサ等のほか、電子写真プロセスの感光体として応
用されている。
−81:Hと略す)は、近年、光電変換材料として注目
されておシ、太陽電池、薄膜トランゾスタ、及びイメー
ジセンサ等のほか、電子写真プロセスの感光体として応
用されている。
従来、電子写真感光体の光導電層を構成する材料として
、CdS 、 ZnO、Ss 、若しくは5s−Ta等
の無機材料又はポIJ −N−ビニルカルバゾール(P
VCz )若しくはトリニトロフルオレノン(TNF’
)等の有機材料が使用されていた。しかしながら、a
−81: Hはこれらの無機材料又は有機材料に比して
、無公害物質であるため回収処理の必要がないこと、可
視光領域で旨い分光感度を有すること、並びに表面硬度
が高く耐磨耗性及び耐衝撃性が優れていること等の利点
を有している。このため、a −81: Hは電子写真
プロセスの感光体として注目されている。
、CdS 、 ZnO、Ss 、若しくは5s−Ta等
の無機材料又はポIJ −N−ビニルカルバゾール(P
VCz )若しくはトリニトロフルオレノン(TNF’
)等の有機材料が使用されていた。しかしながら、a
−81: Hはこれらの無機材料又は有機材料に比して
、無公害物質であるため回収処理の必要がないこと、可
視光領域で旨い分光感度を有すること、並びに表面硬度
が高く耐磨耗性及び耐衝撃性が優れていること等の利点
を有している。このため、a −81: Hは電子写真
プロセスの感光体として注目されている。
このa −81: Hは、カールソン方式に基づく感光
体として検討が進められているが、この場合。
体として検討が進められているが、この場合。
感光体特性として抵抗及び光感度が高いことが要求され
る。しかしながら、この両特性を単一の感光体で満足さ
せることが困難であるため、光導電層と導電性支持体と
の間に障壁層を設け、かつ光導電層上に表面電荷保持層
を設けた積層型の構造にすることにより、このような要
求を満足させている。
る。しかしながら、この両特性を単一の感光体で満足さ
せることが困難であるため、光導電層と導電性支持体と
の間に障壁層を設け、かつ光導電層上に表面電荷保持層
を設けた積層型の構造にすることにより、このような要
求を満足させている。
[発明が解決しようとする問題点]
ところで、a−81:Hは1通常、シラン系ガスを使用
したグロー放電分解法によ多形成されるが、この際に、
& −Si: H膜中に水素が取シ込まれ、水素量の差
によシミ気的及び光学的特性が大きく変動する。即ち、
a−8i:H膜に侵入する水素の量が多くなると、光学
的バンドギャップが大きくなシ、a−8i:Hの抵抗が
高くなるが、それにともない、長波長光に対する光感反
が低下してしまうので、例えば、半導体レーデを搭載し
たレーデビームプリンタに使用することが困難である。
したグロー放電分解法によ多形成されるが、この際に、
& −Si: H膜中に水素が取シ込まれ、水素量の差
によシミ気的及び光学的特性が大きく変動する。即ち、
a−8i:H膜に侵入する水素の量が多くなると、光学
的バンドギャップが大きくなシ、a−8i:Hの抵抗が
高くなるが、それにともない、長波長光に対する光感反
が低下してしまうので、例えば、半導体レーデを搭載し
たレーデビームプリンタに使用することが困難である。
また、a −Si: H膜中の水素の含有量が多くなる
と、成膜条件によって、(SiH2)n及びSiH2等
の結合構造を有するものが膜中で大部分の領域を占める
場合がある。そうすると、ゲイトが増加し、シリコンダ
ングリングボンドが増加するため、光導電特性が劣化し
、電子写真感光体として使用不能になる。逆に、a−8
i:H中に取込まれる水素の量が低下すると、光学的バ
ンドギャップが小さくなシ、その抵抗が小さくなるが、
長波長光に対する光感度が増加する。しかし、水素含有
量が少ないと、シリコンダングリングボンドと結合して
これを減少させるべき水素が少なくなる。このため、発
生するキャリアの移動度が低下し、寿命が短くなると共
に、光導電特性が劣化してしまい、電子写真感光体とし
て使用し難いものとなる。
と、成膜条件によって、(SiH2)n及びSiH2等
の結合構造を有するものが膜中で大部分の領域を占める
場合がある。そうすると、ゲイトが増加し、シリコンダ
ングリングボンドが増加するため、光導電特性が劣化し
、電子写真感光体として使用不能になる。逆に、a−8
i:H中に取込まれる水素の量が低下すると、光学的バ
ンドギャップが小さくなシ、その抵抗が小さくなるが、
長波長光に対する光感度が増加する。しかし、水素含有
量が少ないと、シリコンダングリングボンドと結合して
これを減少させるべき水素が少なくなる。このため、発
生するキャリアの移動度が低下し、寿命が短くなると共
に、光導電特性が劣化してしまい、電子写真感光体とし
て使用し難いものとなる。
このように、電子写真感光体の光導電層を単一のa −
Si: H層のみで構成したのでは、a −8i :
H層の製造条件によって特性が大きく変化し、望ましい
特性が得られないという問題がある。
Si: H層のみで構成したのでは、a −8i :
H層の製造条件によって特性が大きく変化し、望ましい
特性が得られないという問題がある。
この発明は、かかる事慣に鑑みてなされたものであって
、帯電能が優れておシ、残留電位が低く。
、帯電能が優れておシ、残留電位が低く。
近赤外領域までの広い波長領域に亘って感度が高く、基
板との密着性が良く、耐環境性が優れた電子写真感光体
を提供することを目的とする。
板との密着性が良く、耐環境性が優れた電子写真感光体
を提供することを目的とする。
[発明の構成コ
(問題点を解決するための手段)
本発明者らは、種々研究を重ねた結果、電子写真感光体
の光導電層を電荷保持層と電荷発生層とによシ構成し、
そのうち電荷発生層をシリコンを母体とした非晶質材料
により構成し、電荷保持層に所定の複数の半導体膜の積
層即ち超格子構造の領域を形成することにより、上記目
的を達成し得ることを見出し、本発明を完成するに至っ
た。
の光導電層を電荷保持層と電荷発生層とによシ構成し、
そのうち電荷発生層をシリコンを母体とした非晶質材料
により構成し、電荷保持層に所定の複数の半導体膜の積
層即ち超格子構造の領域を形成することにより、上記目
的を達成し得ることを見出し、本発明を完成するに至っ
た。
即ち、本発明の電子写真感光体は、導電性支持体と光導
電層とを具備する電子写真感光体において、前記光導電
層は電荷発生層と電荷保持層とを有し、前記電荷発生層
はシリコンを母体とした非晶質材料からなり、前記電荷
保持層はシリコンを母体とし炭素、酸素、および窒素か
らなる群から選択された元素の少なくとも一種を含む非
晶質膜とシリコンを母体としその少なくとも一部が微結
晶化した半導体膜とを交互に積層した領域を有すること
を特徴とする。
電層とを具備する電子写真感光体において、前記光導電
層は電荷発生層と電荷保持層とを有し、前記電荷発生層
はシリコンを母体とした非晶質材料からなり、前記電荷
保持層はシリコンを母体とし炭素、酸素、および窒素か
らなる群から選択された元素の少なくとも一種を含む非
晶質膜とシリコンを母体としその少なくとも一部が微結
晶化した半導体膜とを交互に積層した領域を有すること
を特徴とする。
本発明において用いる、シリコンを母体としその少なく
とも一部が微結晶化した半導体は、一般にマイクロクリ
スタリンシリコン(μc−8i)と呼ばれるものである
。
とも一部が微結晶化した半導体は、一般にマイクロクリ
スタリンシリコン(μc−8i)と呼ばれるものである
。
上記μc−31は、粒径が約数十オンゲストロムの微結
晶シリコンと非晶質シリコンとの混合層によシ形成され
ているものと考えられ、以下のような物性上の特徴を有
している。第一に、Xa回折測定では2θが28〜28
.5’付近にある結晶回折パターンを示し、ハローのみ
が現れる無定形のa−81から明確に区別される。第二
に、μc −81の暗抵抗は1010Ω・副以上に調整
することができ、暗抵抗がlO5Ω・譚のポリクリスタ
リンシリコンからも明確に区別される。
晶シリコンと非晶質シリコンとの混合層によシ形成され
ているものと考えられ、以下のような物性上の特徴を有
している。第一に、Xa回折測定では2θが28〜28
.5’付近にある結晶回折パターンを示し、ハローのみ
が現れる無定形のa−81から明確に区別される。第二
に、μc −81の暗抵抗は1010Ω・副以上に調整
することができ、暗抵抗がlO5Ω・譚のポリクリスタ
リンシリコンからも明確に区別される。
本発明で用いる上記μc −Slの光学的バンドギャッ
プ(Eg@)は、例えば1.55 eVとするのが望ま
しい。しかし、一定の範囲で任意に設定することができ
る。望ましいEgoを得るため夫々に所要量の水素を添
加し、μc −Sl:Hとして使用するのが好ましい。
プ(Eg@)は、例えば1.55 eVとするのが望ま
しい。しかし、一定の範囲で任意に設定することができ
る。望ましいEgoを得るため夫々に所要量の水素を添
加し、μc −Sl:Hとして使用するのが好ましい。
これによシ、シリコンのダングリングボンドが補償され
、暗抵抗と明抵抗との調和がとれ、光導電特性が向上す
る。
、暗抵抗と明抵抗との調和がとれ、光導電特性が向上す
る。
なお、実際のμc −Sl膜は、製造条件等の具体的な
要因によって弱いP型またはN型を帯びることが多い(
%にN型になシ易い)。そこで、超格子構造を形成する
ために必要なI型とするために、夫々逆の導電型を有す
る不純物を軽くドーグして前記のP型またはN型を打消
すのが望ましい。
要因によって弱いP型またはN型を帯びることが多い(
%にN型になシ易い)。そこで、超格子構造を形成する
ために必要なI型とするために、夫々逆の導電型を有す
る不純物を軽くドーグして前記のP型またはN型を打消
すのが望ましい。
(作用)
本発明の電子写真感光体では、電荷保持層に前記超格子
構造が設けられているため、この領域では発生したキャ
リアの寿命が長く、移動度も大きくなる。その理論につ
いては未だ充分に確立しているとは言えないが、超格子
構造に特徴的な周期的井戸型ポテンシャルによる量子効
果であることは疑いがなく、これは特に超格子効果とい
われる。
構造が設けられているため、この領域では発生したキャ
リアの寿命が長く、移動度も大きくなる。その理論につ
いては未だ充分に確立しているとは言えないが、超格子
構造に特徴的な周期的井戸型ポテンシャルによる量子効
果であることは疑いがなく、これは特に超格子効果とい
われる。
こうして電荷保持層でのキャリアの移動度が大きくなシ
、またキャリアの寿命が長くなることによって電子写真
感光体の感度は著しく向上することになる。
、またキャリアの寿命が長くなることによって電子写真
感光体の感度は著しく向上することになる。
(実施例)
第1図は、本発明の一実施例に係る電子写真感光体の断
面構造を示す図である。同図において、導電性支持体1
の上に障壁層2が形成され、その上に電荷保持層5およ
び電荷発生層6からなる光導電層3が形成されている。
面構造を示す図である。同図において、導電性支持体1
の上に障壁層2が形成され、その上に電荷保持層5およ
び電荷発生層6からなる光導電層3が形成されている。
また、電荷発生層6の上に表面層4が形成されている。
なお、電荷保持層5は超格子構造を有している。
第2図は、本発明の他の実施例に係る電子写真感光体の
断面構造を示す。第2図に示す感光体では、電荷保持層
の一部が超格子構造を有している。
断面構造を示す。第2図に示す感光体では、電荷保持層
の一部が超格子構造を有している。
以下、第1図に示す電子写真感光体の構成について、よ
シ詳細に説明する。
シ詳細に説明する。
導電性支持体lは、通常はアルミニウム製のドラムで構
成される。
成される。
障壁層2はμc−81やa −St: Hを用いて形成
してもよく、またa −BN:H(窒素および水素を添
加したアモルファス硼素)を使用してもよい。更に、絶
縁性の膜を用いてもよい。例えばμc−Si:H及びa
−8l:Hに炭素C1窒索N及び酸素0から選択された
元素の一種以上を含有させることによシ、高抵抗の絶縁
性障壁層を形成することができる。障壁層2の膜厚は1
0.OX−10ttI!+が好ましい。
してもよく、またa −BN:H(窒素および水素を添
加したアモルファス硼素)を使用してもよい。更に、絶
縁性の膜を用いてもよい。例えばμc−Si:H及びa
−8l:Hに炭素C1窒索N及び酸素0から選択された
元素の一種以上を含有させることによシ、高抵抗の絶縁
性障壁層を形成することができる。障壁層2の膜厚は1
0.OX−10ttI!+が好ましい。
上記障壁層2は、導電性支持体1と電荷発生層5との間
の電荷の流れを抑制することによシ感光体表面の電荷保
持機能を高め、感光体の帯電能を高めるために形成され
るものである。従って、半導体層を障壁層に用いてカー
ルソン方式の感光体を構成する場合には、表面に帯電さ
せた電荷の保持能力を低下させないために、障壁層2を
P型またはN型とする。即ち、感光体表面を正帯電させ
る場合には障壁層2をP型とし、表面電荷を中和する電
子が電荷発生層を注入されるのを防止する。
の電荷の流れを抑制することによシ感光体表面の電荷保
持機能を高め、感光体の帯電能を高めるために形成され
るものである。従って、半導体層を障壁層に用いてカー
ルソン方式の感光体を構成する場合には、表面に帯電さ
せた電荷の保持能力を低下させないために、障壁層2を
P型またはN型とする。即ち、感光体表面を正帯電させ
る場合には障壁層2をP型とし、表面電荷を中和する電
子が電荷発生層を注入されるのを防止する。
逆に表面を負帯電させる場合には障壁層2をN型とし、
表面電荷を中和するホールが電荷発生層へ注入されるの
を防止する。障壁層2から注入されるキャリアは元の入
射で電荷発生層6内に発生するキャリアに対してノイズ
となるから、上記のようにしてキャリアの注入を防止す
ることは感度の向上をもたらす。なお、μc −Si:
H+a −Sl: HをP型にするためには、周期律
表の第m族に属する元素、例えば硼素B、アルミニウム
At、ガリウムGム、インゾウムIn 、及びタリウム
Tt@−をドーピングすることが好ましい。また、μc
−8i:Hやa −St :H’izN型にするために
は周期律表の第V族に属する元素1例えば窒素期硼素A
s 、アンチモンSb、及びビスマスBi等をドーピン
グすることが好ましい。
表面電荷を中和するホールが電荷発生層へ注入されるの
を防止する。障壁層2から注入されるキャリアは元の入
射で電荷発生層6内に発生するキャリアに対してノイズ
となるから、上記のようにしてキャリアの注入を防止す
ることは感度の向上をもたらす。なお、μc −Si:
H+a −Sl: HをP型にするためには、周期律
表の第m族に属する元素、例えば硼素B、アルミニウム
At、ガリウムGム、インゾウムIn 、及びタリウム
Tt@−をドーピングすることが好ましい。また、μc
−8i:Hやa −St :H’izN型にするために
は周期律表の第V族に属する元素1例えば窒素期硼素A
s 、アンチモンSb、及びビスマスBi等をドーピン
グすることが好ましい。
電荷発生層6は、光の入射によりキャリアを発生し、こ
のキャリアは、−万の極性のものが感光体表面の帯1!
電荷と中和し、他方のものが電荷保持層5内を走行して
4iIL性支持体1に到達する。
のキャリアは、−万の極性のものが感光体表面の帯1!
電荷と中和し、他方のものが電荷保持層5内を走行して
4iIL性支持体1に到達する。
電荷保持層5は、第3図にその断面を拡大して示すよう
に、a−8iからなる薄N11とμc−8tからなる薄
層12とを交互に積taして構成されている。薄層11
,12d、光学的バンドギャップが相違し、それぞれ厚
みが30〜200Xの範囲にある。
に、a−8iからなる薄N11とμc−8tからなる薄
層12とを交互に積taして構成されている。薄層11
,12d、光学的バンドギャップが相違し、それぞれ厚
みが30〜200Xの範囲にある。
第4図は横軸に厚み方向をとシ、縦軸に光学的バンドギ
ャップをとって示す超格子構造のエネルギバンド図であ
る。このように、光学的バンドギャップが相互に異なる
薄層を積層することによって、光学的バンドギャップの
大きさ自体に拘シなく、光学的バンドギャップが小さい
層を基準にして光学的バンドギャップが大きな層がバリ
アとなる周期的なポテンシャルバリアを有する超格子構
造が形成される。この超格子構造においては、バリア薄
層が極めて薄いので、薄層におけるキャリアのトンネル
効果によシ、キャリアはバリアを通過して超格子構造中
を走行する。また、このような超格子構造においては、
元の入射によ多発生するキャリアの数が多い。従って、
光感度が高い。
ャップをとって示す超格子構造のエネルギバンド図であ
る。このように、光学的バンドギャップが相互に異なる
薄層を積層することによって、光学的バンドギャップの
大きさ自体に拘シなく、光学的バンドギャップが小さい
層を基準にして光学的バンドギャップが大きな層がバリ
アとなる周期的なポテンシャルバリアを有する超格子構
造が形成される。この超格子構造においては、バリア薄
層が極めて薄いので、薄層におけるキャリアのトンネル
効果によシ、キャリアはバリアを通過して超格子構造中
を走行する。また、このような超格子構造においては、
元の入射によ多発生するキャリアの数が多い。従って、
光感度が高い。
なお、超格子構造の薄層のバンドギャップと層厚を変更
することによシ、ヘテロ接合超格子構造を有する層のみ
かけのバンドギャップを自由に調整することができる。
することによシ、ヘテロ接合超格子構造を有する層のみ
かけのバンドギャップを自由に調整することができる。
電荷保持層5訃よび電荷発生層6を構成するa−81:
Hおよびμc −81: Hにおける水素の含有量は、
0.01〜30原子チが好ましく、1〜25原子チがよ
シ好ましい。このような水素の含有量により、シリコン
のダングリングゲンドが補償され、暗抵抗と明抵抗とが
調和のとれたものとなり、光導電特性が向上する。
Hおよびμc −81: Hにおける水素の含有量は、
0.01〜30原子チが好ましく、1〜25原子チがよ
シ好ましい。このような水素の含有量により、シリコン
のダングリングゲンドが補償され、暗抵抗と明抵抗とが
調和のとれたものとなり、光導電特性が向上する。
a −St: H層をグロー放電分解法により成膜する
には、原料としてS IH4及び512H6等のシラン
類ガスを反応室に導入し、高周波によりグロー放電する
ことにより薄層中にHを添加することができる。必要に
応じて、シラン類のキャリアガスとして水素又はヘリウ
ムをガスを使用することができる。一方、 5IF4ガ
ス及び5tcr4ガス等の710グン化ケイ素を原料ガ
スとして使用することができる。
には、原料としてS IH4及び512H6等のシラン
類ガスを反応室に導入し、高周波によりグロー放電する
ことにより薄層中にHを添加することができる。必要に
応じて、シラン類のキャリアガスとして水素又はヘリウ
ムをガスを使用することができる。一方、 5IF4ガ
ス及び5tcr4ガス等の710グン化ケイ素を原料ガ
スとして使用することができる。
また、シラン類ガスと710rン化ケイ素ガスとの混合
ガスで反応させても、同様にHを含有するa−8i:H
を成膜することができる。なお、グロー放電分解法によ
らず、例えば、ス・ヤツタリング等の物理的な方法によ
ってもこれ等の薄層を形成することができる。
ガスで反応させても、同様にHを含有するa−8i:H
を成膜することができる。なお、グロー放電分解法によ
らず、例えば、ス・ヤツタリング等の物理的な方法によ
ってもこれ等の薄層を形成することができる。
μc −S1層も、a −Sl: Hと同様に、高周波
グロー放電分解法によシ、シランガスを原料として、成
膜することができる。この場合に、支持体の温度をa−
81:Hを形成する場合よシも高く設足し、高周波を力
a −Si: Hの場合よシも高く設定すると、μc−
8t:Hを形成しやすくなる。また、支持体温度及び高
周波電力を高くすることによシ、シランガスなどの原料
ガスの流量を増大させることができ、その結果、成膜速
度を早くすることができる。また、原料ガスのSiH4
及び5t2f(6等の高次のシランガスを水素で希釈し
たガスを使用することにより、μc−8t:Hを一層高
効率で形成することができる。
グロー放電分解法によシ、シランガスを原料として、成
膜することができる。この場合に、支持体の温度をa−
81:Hを形成する場合よシも高く設足し、高周波を力
a −Si: Hの場合よシも高く設定すると、μc−
8t:Hを形成しやすくなる。また、支持体温度及び高
周波電力を高くすることによシ、シランガスなどの原料
ガスの流量を増大させることができ、その結果、成膜速
度を早くすることができる。また、原料ガスのSiH4
及び5t2f(6等の高次のシランガスを水素で希釈し
たガスを使用することにより、μc−8t:Hを一層高
効率で形成することができる。
μc −81: H及び” −Si : HをP型にす
るためには、周期律表の第m族に属する元素、例えば、
ホウ素B、アルミニウムAI 、ガリウムQa、インソ
ウムIn 、及びタリウムTI等をドーピングすること
が好ましく、pc −Si:H及びa −81:Hk
N型にするためには、周期律表の第V族に属する元素、
例えば、窒iN、リンP、ヒ索As 、アンチモンSb
、及びビスマスat等をドーピングすることが好ましい
。
るためには、周期律表の第m族に属する元素、例えば、
ホウ素B、アルミニウムAI 、ガリウムQa、インソ
ウムIn 、及びタリウムTI等をドーピングすること
が好ましく、pc −Si:H及びa −81:Hk
N型にするためには、周期律表の第V族に属する元素、
例えば、窒iN、リンP、ヒ索As 、アンチモンSb
、及びビスマスat等をドーピングすることが好ましい
。
このp型不純物又はn型不純物のドーピングによシ、支
持体側から光導電層へ電荷が移動することが防止される
。一方、μe −Si:H及びa−81:Hに、炭素C
%窒素N及び#R素Oから選択された少なくともxMの
元素を含有させることによシ、高抵抗とし、表面電荷保
持能力を増大させることができる。これら元素の含有量
は5〜40原子饅、好ましくは10〜30原子チである
。
持体側から光導電層へ電荷が移動することが防止される
。一方、μe −Si:H及びa−81:Hに、炭素C
%窒素N及び#R素Oから選択された少なくともxMの
元素を含有させることによシ、高抵抗とし、表面電荷保
持能力を増大させることができる。これら元素の含有量
は5〜40原子饅、好ましくは10〜30原子チである
。
電荷発生層6の上に表面層4が設けられている。
電荷発生層6のa −Sl: H等は、その屈折率が3
乃至3.4と比較的大きいため、表面での光反射が起き
やすい。このような光反射が生じると、光導電層又は電
荷発生層に吸収される光量の割合いが低下し、光損失が
大きくなる。このため、表面層4を設けて反射を防止す
ることが好ましい。また、表面層4を設けることによシ
、!荷発生層6が損傷から保諌される。さらに、表面層
を形成することによシ、帯電能が向上し、表面に電荷が
よくのるようになる。表面層を形成する材料としては、
a −SIN:H%m −810:H、及びa −81
C:H等の無機化合物並びにポリ塩化ビニル及びポリア
ミド等の有機材料がある。
乃至3.4と比較的大きいため、表面での光反射が起き
やすい。このような光反射が生じると、光導電層又は電
荷発生層に吸収される光量の割合いが低下し、光損失が
大きくなる。このため、表面層4を設けて反射を防止す
ることが好ましい。また、表面層4を設けることによシ
、!荷発生層6が損傷から保諌される。さらに、表面層
を形成することによシ、帯電能が向上し、表面に電荷が
よくのるようになる。表面層を形成する材料としては、
a −SIN:H%m −810:H、及びa −81
C:H等の無機化合物並びにポリ塩化ビニル及びポリア
ミド等の有機材料がある。
このように構成される電子写真感光体の表面を、コロナ
放電によシ約500Vの正電圧で帯電させると、第6図
に示すように、ポテンシャルバリアが形成される。この
感光体に光(hν)が入射すると、電荷発生層6で電子
と正孔のキャリアが発生する。この伝導帯の電子は、感
光体中の電界によシ、表面層4側に向けて加速され、正
孔は導電性支持体1側に向けて加速される。この場合に
、電荷保持層5では、ポテンシャルの井戸層において、
量子効果の丸めに、超格子構造でない単一層の場合に比
して、キャリアの寿命が5乃至10倍と長い。更に、超
格子構造においては、バンドギャップの不連続性によシ
、周期的なバリア層が形成されるが、キャリアはトンネ
ル効果で容易にバイアス層を通シ抜けるので、キャリア
の実効移動度はバルクにおける移動度と同等であシ、キ
ャリアの走行性が優れている。
放電によシ約500Vの正電圧で帯電させると、第6図
に示すように、ポテンシャルバリアが形成される。この
感光体に光(hν)が入射すると、電荷発生層6で電子
と正孔のキャリアが発生する。この伝導帯の電子は、感
光体中の電界によシ、表面層4側に向けて加速され、正
孔は導電性支持体1側に向けて加速される。この場合に
、電荷保持層5では、ポテンシャルの井戸層において、
量子効果の丸めに、超格子構造でない単一層の場合に比
して、キャリアの寿命が5乃至10倍と長い。更に、超
格子構造においては、バンドギャップの不連続性によシ
、周期的なバリア層が形成されるが、キャリアはトンネ
ル効果で容易にバイアス層を通シ抜けるので、キャリア
の実効移動度はバルクにおける移動度と同等であシ、キ
ャリアの走行性が優れている。
以上のごとく、光学的バンドギャップが相違する薄層を
積層した超格子構造によれば、高光導電特性を得ること
ができ、従来の感光体よシも鮮明な画像を得ることがで
きる。
積層した超格子構造によれば、高光導電特性を得ること
ができ、従来の感光体よシも鮮明な画像を得ることがで
きる。
以下に第5図を参照し、上記実施例の電子写真感光体を
グロー放電法によシ製造する装置!、並びに製造方法を
説明する。同図において、ガスボンベ21.22,23
.24には、例えば夫々5IH4゜B2H6,H2,C
H4等の原料ガスが収容されている。
グロー放電法によシ製造する装置!、並びに製造方法を
説明する。同図において、ガスボンベ21.22,23
.24には、例えば夫々5IH4゜B2H6,H2,C
H4等の原料ガスが収容されている。
これらガスデンペ内のガスは、流tv4整用のパルプ2
6及び配管27t−介して混合器28に供給されるよう
になっている。各ボンベには圧力計25が設置されてお
シ、該圧力計25を監視しつつパルプ26t−調整する
ことによシ混合!a28に供給する各原料ガスの流量及
び混合比を調節できる。
6及び配管27t−介して混合器28に供給されるよう
になっている。各ボンベには圧力計25が設置されてお
シ、該圧力計25を監視しつつパルプ26t−調整する
ことによシ混合!a28に供給する各原料ガスの流量及
び混合比を調節できる。
混合器28にて混合されたガスは反応容器29に供給さ
れる。反応容器29の底部31には1回転軸30が鉛直
方向の回りに回転5]能に取付けられている。該回転軸
30の上端に、円板状の支持第32がその面を回転軸3
0に垂直にして固定されている。反応容器29内には、
円筒状の電極33がその軸中心を回転@30の軸中心と
一致させて底部31上に設置されている。感光体のドラ
ム基体34が支持台32上にその軸中心を回転軸30の
軸中心と一致させてS!置されておシ、このドラム基体
34の内側にはドラム基体加熱用のヒータ35が配設さ
れている。を極33とドラム基体34との間には高周波
電源36が接続されておシ、を極33およびドラム基体
34間に高周波電流が供給されるようになっている。回
転軸30はモータ38により回転駆動される。反応容器
29内の圧力は圧力計37によシ監視され、反応容器2
9はダートパルプ38を介して真壁ポンプ等の適宜の排
気手段に連結されている。
れる。反応容器29の底部31には1回転軸30が鉛直
方向の回りに回転5]能に取付けられている。該回転軸
30の上端に、円板状の支持第32がその面を回転軸3
0に垂直にして固定されている。反応容器29内には、
円筒状の電極33がその軸中心を回転@30の軸中心と
一致させて底部31上に設置されている。感光体のドラ
ム基体34が支持台32上にその軸中心を回転軸30の
軸中心と一致させてS!置されておシ、このドラム基体
34の内側にはドラム基体加熱用のヒータ35が配設さ
れている。を極33とドラム基体34との間には高周波
電源36が接続されておシ、を極33およびドラム基体
34間に高周波電流が供給されるようになっている。回
転軸30はモータ38により回転駆動される。反応容器
29内の圧力は圧力計37によシ監視され、反応容器2
9はダートパルプ38を介して真壁ポンプ等の適宜の排
気手段に連結されている。
上記製造装置によシ感光体を製造する場合には、反応容
器29内にドラム基体34t−設置した後、r−トバル
ブ39を開にして反応容器29内を約0、1 Torr
の圧力以下に排気する。久いで、ゴンベ21.22,2
3.24から所要の反応ガスを所定の混合比で混合して
反応容器29内に導入する。
器29内にドラム基体34t−設置した後、r−トバル
ブ39を開にして反応容器29内を約0、1 Torr
の圧力以下に排気する。久いで、ゴンベ21.22,2
3.24から所要の反応ガスを所定の混合比で混合して
反応容器29内に導入する。
この場合に1反応容器29内に導入するガス流量は反応
容器29内の圧力が0.1乃至1. Q Torrにな
るように設定する。次いで、モータ38を作動させてド
ラム基体34を回転させ、ヒータ35にょシトラム基体
34を一定温度に加熱すると共に、高Jld波電源36
1/Cよシミ極33とドラム基体34との間に高周波’
に流を供給して、両者間にグロー放電を形成する。これ
によシ、ドラム基体34上にa = Si: Hが堆積
する。なお、原料ガス中にN20 、 NH3,No2
. N2j CH4,C2H4,02ガス等を使用する
ことによシ、これらの元素をa−8l:H中に含有させ
ることができる。
容器29内の圧力が0.1乃至1. Q Torrにな
るように設定する。次いで、モータ38を作動させてド
ラム基体34を回転させ、ヒータ35にょシトラム基体
34を一定温度に加熱すると共に、高Jld波電源36
1/Cよシミ極33とドラム基体34との間に高周波’
に流を供給して、両者間にグロー放電を形成する。これ
によシ、ドラム基体34上にa = Si: Hが堆積
する。なお、原料ガス中にN20 、 NH3,No2
. N2j CH4,C2H4,02ガス等を使用する
ことによシ、これらの元素をa−8l:H中に含有させ
ることができる。
このよりに、この発明に係る電子写真感光体は、クロー
ズドシステムの製造装置で、M造することができるため
、人体に対して安全である。
ズドシステムの製造装置で、M造することができるため
、人体に対して安全である。
久て、この発明に係るt子写X感元体を成模し、電子写
真特性を試験した結果について説明する。
真特性を試験した結果について説明する。
試験例
必要に応じて、干渉防止のために、酸処理、アルカリ処
理及びサンドブラスト処理を施した直径が80m、幅が
3501のアルミニウム製ドラム基体を反応容器内に装
着し、反応容器を約10−5トルの真空度に排気した。
理及びサンドブラスト処理を施した直径が80m、幅が
3501のアルミニウム製ドラム基体を反応容器内に装
着し、反応容器を約10−5トルの真空度に排気した。
ドラム基体を2501:に加熱し、10 rpmで自転
させつつ、SiH4ガスを500 ECCM、B2H6
ガスを5IH4ガスに対する流量比で10 %cH4ガ
スを1008CC’、■という流量で反応容器内に導入
し、反応容器内の圧力’tlトルに調節した。そして、
13.56 Mflzの高周波電力を印加してプラズマ
を生起させ、ドラム基体上にP型の& −SiC: 、
)(障壁層を形成した。
させつつ、SiH4ガスを500 ECCM、B2H6
ガスを5IH4ガスに対する流量比で10 %cH4ガ
スを1008CC’、■という流量で反応容器内に導入
し、反応容器内の圧力’tlトルに調節した。そして、
13.56 Mflzの高周波電力を印加してプラズマ
を生起させ、ドラム基体上にP型の& −SiC: 、
)(障壁層を形成した。
次に1放電を一旦停止し、 SiH4ガスを150S
CCM 、 N2jスを1200 SCCMとい5訛訃
で反応容器内に導入し、反応容器内の圧力を1.2 T
orrに調節したのち、lkwの高周波電力を印加し、
100Xのμc −81: H薄層を形成した。次いで
、cH4ガス′Jfc7.5 Sα溝の流量で導入し、
400Wの藁周波電力を印加して、50Xのa−Si:
H薄NJを形成した。このような操作を繰返して、80
0層のμc −81C: H薄aと800層のa −S
IC: H薄層とを交互に積層し、ヘテロ接合超格子構
造の電荷保持層を15μm形成した。
CCM 、 N2jスを1200 SCCMとい5訛訃
で反応容器内に導入し、反応容器内の圧力を1.2 T
orrに調節したのち、lkwの高周波電力を印加し、
100Xのμc −81: H薄層を形成した。次いで
、cH4ガス′Jfc7.5 Sα溝の流量で導入し、
400Wの藁周波電力を印加して、50Xのa−Si:
H薄NJを形成した。このような操作を繰返して、80
0層のμc −81C: H薄aと800層のa −S
IC: H薄層とを交互に積層し、ヘテロ接合超格子構
造の電荷保持層を15μm形成した。
その後、SiH,ガスを5008CCMの流量で、B2
H6ガスをS iH4ガス圧対する流量比でI X 1
0−6となるような流量で反応容器内に導入し、反応容
器内の圧力をI Torr K調iしたのち、500W
の高周波電力を印加し、51trnのa−3i重電荷生
層を形成した。
H6ガスをS iH4ガス圧対する流量比でI X 1
0−6となるような流量で反応容器内に導入し、反応容
器内の圧力をI Torr K調iしたのち、500W
の高周波電力を印加し、51trnのa−3i重電荷生
層を形成した。
最後に、0.5μ【nのa−8t:1(表面層を形成し
た。
た。
このようにして形成した感光体表面を約500Vで正帯
′ぼし、白色光を露光すると、この光は電荷発生層で吸
収され、電子正孔対のキャリアが発生する。この試1験
例においては、多数のキャリアが発生し、キャリアの寿
命が高く、高い走行性が得られた。これにより、鮮明で
高品質の画像が得られた。また、この試験例で製造され
た感光体を、繰返し帯電させたところ、転写画像の再現
性及び安定性は極めて良好であシ、更に、耐コロナ性、
耐湿性、及び耐磨耗性等の耐久性が優れていることが実
証された。
′ぼし、白色光を露光すると、この光は電荷発生層で吸
収され、電子正孔対のキャリアが発生する。この試1験
例においては、多数のキャリアが発生し、キャリアの寿
命が高く、高い走行性が得られた。これにより、鮮明で
高品質の画像が得られた。また、この試験例で製造され
た感光体を、繰返し帯電させたところ、転写画像の再現
性及び安定性は極めて良好であシ、更に、耐コロナ性、
耐湿性、及び耐磨耗性等の耐久性が優れていることが実
証された。
また、vi電荷保持層構成する薄層の種類は、上記試験
例のように2種類に限らず、3種類以上のW#層を積層
しても良く、要するに、光学的バンドギャップが相違す
る薄層の境界全形成すれば良い。
例のように2種類に限らず、3種類以上のW#層を積層
しても良く、要するに、光学的バンドギャップが相違す
る薄層の境界全形成すれば良い。
[発明の効果コ
この発明によれば、電荷保持層の一部又は全部に、光学
的バンドギャップが相互に異なるR層を積層して構成さ
れる超格子構造を使用するから、キャリアの走行性が高
いと共に、高抵抗で帯TJL特性が優れた電子写真感光
体を得ることができる。
的バンドギャップが相互に異なるR層を積層して構成さ
れる超格子構造を使用するから、キャリアの走行性が高
いと共に、高抵抗で帯TJL特性が優れた電子写真感光
体を得ることができる。
特に、この発明においては、薄層を形成する材料を適宜
組み合わせることによシ、任意の波長帯の光に対して最
適の光導電特性を有する感光体を得ることができるとい
う利点がある。
組み合わせることによシ、任意の波長帯の光に対して最
適の光導電特性を有する感光体を得ることができるとい
う利点がある。
第1図はこの発明の実施例に係る電子写真感光体を示す
断面図、第2図は同じく他の実施例に係る電子写真感光
体を示す断面図、第3図は第1図一部拡大断面図、第4
図は超格子構造のエネルギバンドを示す図、第5図はこ
の発明の実施例に係る電子写真感光体の製造装置を示す
図、第6図は感光体のエネルギギャップを示す模式図で
ある。 !・・・導電性支持体、2・・・障壁層、3・・・光導
電ノa。 4・・・表面層、5・・・電荷輸送層、6・・・電荷発
生層。 11 、12−・・薄層。 出願人代理人 弁理土鈴 圧式 彦 第1図 第2図 第3図 第 4 口 第5図 手続:?r13正と、5.30 昭和 年 月 日 一特許庁長官 黒 1)明 雄 殿 特願昭61−259746号 2、発明の名称 電子写真感光体 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 (307) 株式会社 東芝 (ほか1名)4、代
理人 東京都千代田区霞が関3丁目7番2号 UBEビル7、
補正の内容 (r) 明細書第8頁第6行目〜第11行目の「なお
、・・・・・・望ましい。」を削除する。 (2)第6図を別紙の通り訂正する。
断面図、第2図は同じく他の実施例に係る電子写真感光
体を示す断面図、第3図は第1図一部拡大断面図、第4
図は超格子構造のエネルギバンドを示す図、第5図はこ
の発明の実施例に係る電子写真感光体の製造装置を示す
図、第6図は感光体のエネルギギャップを示す模式図で
ある。 !・・・導電性支持体、2・・・障壁層、3・・・光導
電ノa。 4・・・表面層、5・・・電荷輸送層、6・・・電荷発
生層。 11 、12−・・薄層。 出願人代理人 弁理土鈴 圧式 彦 第1図 第2図 第3図 第 4 口 第5図 手続:?r13正と、5.30 昭和 年 月 日 一特許庁長官 黒 1)明 雄 殿 特願昭61−259746号 2、発明の名称 電子写真感光体 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 (307) 株式会社 東芝 (ほか1名)4、代
理人 東京都千代田区霞が関3丁目7番2号 UBEビル7、
補正の内容 (r) 明細書第8頁第6行目〜第11行目の「なお
、・・・・・・望ましい。」を削除する。 (2)第6図を別紙の通り訂正する。
Claims (7)
- (1)導電性支持体と光導電層とを具備する電子写真感
光体において、前記光導電層は電荷発生層と電荷保持層
とを有し、前記電荷発生層はシリコンを母体とした非晶
質材料からなり、前記電荷保持層はシリコンを母体とし
炭素、酸素および窒素からなる群から選択された元素の
少なくとも一種を含む非晶質膜とシリコンを母体としそ
の少なくとも一部が微結晶化した半導体膜とを交互に積
層した領域を有することを特徴とする電子写真感光体。 - (2)前記電荷保持層を構成する前記非晶質膜および半
導体膜の膜厚は、30〜200Åであることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の電子写真感光体。 - (3)前記光導電層は、周期律表第III族又は第V族に
属する元素から選択された少なくとも1種を含むことを
特徴とする特許請求の範囲第1又は2項記載の電子写真
感光体。 - (4)前記導電性支持体と光導電層との間に、非晶質材
料又は少なくとも一部が微結晶した半導体材料からなる
障壁層を有することを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の電子写真感光体。 - (5)前記障壁層は、周期律表第III族又は第V族に属
する元素から選択された少なくとも一種を含むことを特
徴とする特許請求の範囲第4項記載の電子写真感光体。 - (6)前記障壁層は、炭素、酸素および窒素からなる群
から選択された元素の少なくとも一種を含むことを特徴
とする特許請求の範囲第4項記載の電子写真感光体。 - (7)前記光導電層の上に表面層を有することを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の電子写真感光体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25974686A JPS63113545A (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25974686A JPS63113545A (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63113545A true JPS63113545A (ja) | 1988-05-18 |
Family
ID=17338372
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25974686A Pending JPS63113545A (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63113545A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19615681A1 (de) * | 1995-04-19 | 1996-11-07 | Ngk Spark Plug Co | Ultraschallwerkzeug-Horn |
-
1986
- 1986-10-31 JP JP25974686A patent/JPS63113545A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19615681A1 (de) * | 1995-04-19 | 1996-11-07 | Ngk Spark Plug Co | Ultraschallwerkzeug-Horn |
US5820011A (en) * | 1995-04-19 | 1998-10-13 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Ultrasonic tool horn |
DE19615681C2 (de) * | 1995-04-19 | 2001-09-27 | Ngk Spark Plug Co | Ultraschallwerkzeug-Horn |
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