JPS63112823A - 磁気記録媒体 - Google Patents
磁気記録媒体Info
- Publication number
- JPS63112823A JPS63112823A JP25742086A JP25742086A JPS63112823A JP S63112823 A JPS63112823 A JP S63112823A JP 25742086 A JP25742086 A JP 25742086A JP 25742086 A JP25742086 A JP 25742086A JP S63112823 A JPS63112823 A JP S63112823A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic
- protective layer
- recording medium
- magnetic recording
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims abstract description 42
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 31
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 17
- 229910052596 spinel Inorganic materials 0.000 claims abstract description 16
- 239000011029 spinel Substances 0.000 claims abstract description 15
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 abstract description 13
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 abstract description 13
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 abstract description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 8
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- 239000000956 alloy Substances 0.000 abstract description 6
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 abstract description 4
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 abstract description 4
- ZGDWHDKHJKZZIQ-UHFFFAOYSA-N cobalt nickel Chemical compound [Co].[Ni].[Ni].[Ni] ZGDWHDKHJKZZIQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 3
- 229910020630 Co Ni Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 229910002440 Co–Ni Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000010437 gem Substances 0.000 abstract description 2
- 229910026161 MgAl2O4 Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 238000004299 exfoliation Methods 0.000 abstract 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 7
- WMWLMWRWZQELOS-UHFFFAOYSA-N bismuth(III) oxide Inorganic materials O=[Bi]O[Bi]=O WMWLMWRWZQELOS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 4
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 3
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 3
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 3
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 2
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000002845 discoloration Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- VTRUBDSFZJNXHI-UHFFFAOYSA-N oxoantimony Chemical compound [Sb]=O VTRUBDSFZJNXHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 2
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 2
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical group [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical compound [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910007541 Zn O Inorganic materials 0.000 description 1
- IGOJDKCIHXGPTI-UHFFFAOYSA-N [P].[Co].[Ni] Chemical compound [P].[Co].[Ni] IGOJDKCIHXGPTI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 229910000410 antimony oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012300 argon atmosphere Substances 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 229910000416 bismuth oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- TYIXMATWDRGMPF-UHFFFAOYSA-N dibismuth;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Bi+3].[Bi+3] TYIXMATWDRGMPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 229910001751 gemstone Inorganic materials 0.000 description 1
- UQSXHKLRYXJYBZ-UHFFFAOYSA-N iron oxide Inorganic materials [Fe]=O UQSXHKLRYXJYBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052755 nonmetal Inorganic materials 0.000 description 1
- NDLPOXTZKUMGOV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoferriooxy)iron hydrate Chemical compound O.O=[Fe]O[Fe]=O NDLPOXTZKUMGOV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 description 1
- 238000005477 sputtering target Methods 0.000 description 1
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 230000002747 voluntary effect Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910006297 γ-Fe2O3 Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、磁気記録媒体に関する。さらに詳しくは、デ
ィスク」二に設けられた磁性層の表面上に耐摩耗性a3
よび耐食性を有するスピネル型結晶構造相からなる保護
層が形成されている磁気記録媒体に関するものである。
ィスク」二に設けられた磁性層の表面上に耐摩耗性a3
よび耐食性を有するスピネル型結晶構造相からなる保護
層が形成されている磁気記録媒体に関するものである。
[従来の技術]
従来、磁気記録媒体、例えば磁気ディスクにおいては、
特願昭60−65722に示すようにディスク状のアル
ミニウム合金板上に、アルマイト加工または非晶質メッ
キ処理などの硬化処理を行なった後に、γ−Fe2O3
(ガンマ型酸化第2鉄)を主成分としてこれにGoなど
の金属を添加した金属酸化物からなる磁性層、あるいは
Co−N1(コバルミルーニッケル) 、Co−P (
]]バルト−リンおよびCo−N i −P (コバル
ト−ニッケルーリン)などの合金からなる磁性層を塗布
法、メッキ法またはスパッタリング法などによって形成
している。とりわけ、記録密度を向上するには前記メッ
キ法およびスパッタリング法による合金磁性層がよいと
されている。
特願昭60−65722に示すようにディスク状のアル
ミニウム合金板上に、アルマイト加工または非晶質メッ
キ処理などの硬化処理を行なった後に、γ−Fe2O3
(ガンマ型酸化第2鉄)を主成分としてこれにGoなど
の金属を添加した金属酸化物からなる磁性層、あるいは
Co−N1(コバルミルーニッケル) 、Co−P (
]]バルト−リンおよびCo−N i −P (コバル
ト−ニッケルーリン)などの合金からなる磁性層を塗布
法、メッキ法またはスパッタリング法などによって形成
している。とりわけ、記録密度を向上するには前記メッ
キ法およびスパッタリング法による合金磁性層がよいと
されている。
しかし、この合金から7>る磁性層は耐食性が劣り、さ
らにこの磁性層が非晶質以外のもので形成されているば
あいにはその耐摩耗性も劣るので、これらの磁性層の表
面には保護層が設(プられる必要がある。
らにこの磁性層が非晶質以外のもので形成されているば
あいにはその耐摩耗性も劣るので、これらの磁性層の表
面には保護層が設(プられる必要がある。
従来、この保護層としては、0.1μm程度の膜厚でC
r(クロム)を電気メッキしたもの、0.1μm程度の
膜厚でRh(ロジウム)を電気メッキしたもの、スパッ
タリング法により0.05μm程度の膜厚のアルミナ層
を形成したもの、0.5μm程度の膜厚で5i02(酸
化りい索)をコーディングしたもの、ならびにダイヤモ
ンド;アモルファスカーボン;黒鉛またはこれらのいく
つかの混合物または磁性膜の主成分の酸化物であるCO
30dなどをスパッタリング法にJzリ 0.05μ■
程度の膜厚で形成したものなどがある。
r(クロム)を電気メッキしたもの、0.1μm程度の
膜厚でRh(ロジウム)を電気メッキしたもの、スパッ
タリング法により0.05μm程度の膜厚のアルミナ層
を形成したもの、0.5μm程度の膜厚で5i02(酸
化りい索)をコーディングしたもの、ならびにダイヤモ
ンド;アモルファスカーボン;黒鉛またはこれらのいく
つかの混合物または磁性膜の主成分の酸化物であるCO
30dなどをスパッタリング法にJzリ 0.05μ■
程度の膜厚で形成したものなどがある。
[発明が解決しようとする問題点]
しかしながら前記保護層が形成されている従来の磁気記
録媒体においては、前記保護層が非金属からなるばあい
には保護層の磁性層に対する密着性、保護層の緻密性、
そしてとくに保護層の耐食性などの長期安定性が劣ると
いう問題点があり、前記保護層がRhなどの貴金属から
なるばあいには磁気記録媒体の製造コストが高くなると
ともに保護層を形成する方法いかんによっては磁性層を
部分的に損傷するおそれがあるという問題点があった。
録媒体においては、前記保護層が非金属からなるばあい
には保護層の磁性層に対する密着性、保護層の緻密性、
そしてとくに保護層の耐食性などの長期安定性が劣ると
いう問題点があり、前記保護層がRhなどの貴金属から
なるばあいには磁気記録媒体の製造コストが高くなると
ともに保護層を形成する方法いかんによっては磁性層を
部分的に損傷するおそれがあるという問題点があった。
また炭素を主成分とするダイヤモンドなどにより保護層
を形成するばあいには、形成条件がわずかに変化しても
ダイヤモンドなどの相構成が変化するため、形成された
保護層のIt磁性層対する保護性能が大きく変化すると
いう問題点があった。
を形成するばあいには、形成条件がわずかに変化しても
ダイヤモンドなどの相構成が変化するため、形成された
保護層のIt磁性層対する保護性能が大きく変化すると
いう問題点があった。
また前記CO3O4などの酸化物で磁性を右するもので
保護層を形成するばあいには、磁気記録媒体の磁束を乱
すという問題点があった。
保護層を形成するばあいには、磁気記録媒体の磁束を乱
すという問題点があった。
本発明は前記のような問題点を解消するためになされた
もので、耐摩耗性および耐食性などが優れた磁気記録媒
体を提供することを目的とする。
もので、耐摩耗性および耐食性などが優れた磁気記録媒
体を提供することを目的とする。
[問題点を解決するための手段]
本発明に係る磁気記録媒体は、情報を記録できる磁性層
の表面上にスピネル型結晶構造相からなる保護層が形成
されているものである。
の表面上にスピネル型結晶構造相からなる保護層が形成
されているものである。
[作 用]
= 3 −
そして本発明の磁気記録媒体は、[)a記スピネル型結
晶構造相からなる保護層を磁性層上に形成することによ
り磁気記録媒体の耐食性および耐摩耗性を向上させるこ
とができ、また保護層の磁性層に対する耐剥離性が向上
する。そしてさらに前記磁性層が安定して保護される。
晶構造相からなる保護層を磁性層上に形成することによ
り磁気記録媒体の耐食性および耐摩耗性を向上させるこ
とができ、また保護層の磁性層に対する耐剥離性が向上
する。そしてさらに前記磁性層が安定して保護される。
[実施例]
以下、本発明に係る磁気記録媒体の実施例についてその
製法および特性とともに説明する。
製法および特性とともに説明する。
まず本発明の実施例1について説明する。
直径が80mmであって厚さが1.9mmであるアルミ
ニウム合金からなる基板上に、厚さが500人であるC
o−N1(コバルト−ニッケル)合金からなる磁性層を
従来と同様のスパッタリング法によって形成した。
ニウム合金からなる基板上に、厚さが500人であるC
o−N1(コバルト−ニッケル)合金からなる磁性層を
従来と同様のスパッタリング法によって形成した。
そしてこの磁性層の上に、非磁性であってかつ硬く、宝
石の一種であるスピネル(80M204)を主成分とす
るスピネル結晶構造相からなる保護層をクラスターイオ
ンビーム法により形成した。該保護層の形成は、いわゆ
る2ルツボ方式により一方のルツボにMを入れ、他方の
ルツボにH(]を入れ、前記一方のルツボ中のMの温度
を1830℃とし、また前記他方のルツボ中のH(]の
温度を1020℃とし、また雰囲気中の酸素分圧は3
X 1O−4Torrとし、イオンビームの加速電圧は
300vとして行なった。保護層の形成速度は約50人
/分であり、えられた保護層の厚さは約1000人であ
った。
石の一種であるスピネル(80M204)を主成分とす
るスピネル結晶構造相からなる保護層をクラスターイオ
ンビーム法により形成した。該保護層の形成は、いわゆ
る2ルツボ方式により一方のルツボにMを入れ、他方の
ルツボにH(]を入れ、前記一方のルツボ中のMの温度
を1830℃とし、また前記他方のルツボ中のH(]の
温度を1020℃とし、また雰囲気中の酸素分圧は3
X 1O−4Torrとし、イオンビームの加速電圧は
300vとして行なった。保護層の形成速度は約50人
/分であり、えられた保護層の厚さは約1000人であ
った。
なおこの保護層を薄膜X線回折装置を用いて解析すると
HQM20aによる回折X線強度の回折ピークが検出さ
れた。
HQM20aによる回折X線強度の回折ピークが検出さ
れた。
つぎにこの発明の実施例2について説明する。
実施例1のばあいと同様にして、直径がaommであっ
て厚さが1.9n+mであるアルミニウム合金からなる
基板上に、厚さが500人であるCo−N i (コバ
ルト−ニッケル)合金からなる磁性層を形成した。そし
てこの磁性層の上に、前記スピネル(HQM 204)
と同じ結晶構造即ちスピネル型結晶構造を有するlny
5b20+2(但しこれにBiを固溶させている)を
主成分とする保護層をスパッタリング法により形成した
。スパッタリングのターゲットの材料は酸化亜鉛(Zn
O)、酸化アンチモン(St)203)および酸化ビス
マス(Bi203)の各粉体(これらの粉体の平均粒径
は0.6〜4μmである)をそれぞれモル比で7.1・
01〜7:1:0.5の範囲で配合し、これをボールミ
ルによって粉砕するとともに混合し、さらに乾燥した後
にポリビニールアル」−ルなどのバインダーを用いてパ
ワーミルによって混練し、これを用法が130φ×10
tのアルミナ製鋳型中に装填して焼結することによって
作製した。該焼結は5b2o3が充分に分散するように
650°Cの雰囲気の炉中で2時間放置して、その後昇
温(昇温速度:200℃/l+r)L、950℃の最高
温度で1時間保持した1す、炉への電力供給を停止して
そのまま炉を冷7.II−!J’ることにより行った。
て厚さが1.9n+mであるアルミニウム合金からなる
基板上に、厚さが500人であるCo−N i (コバ
ルト−ニッケル)合金からなる磁性層を形成した。そし
てこの磁性層の上に、前記スピネル(HQM 204)
と同じ結晶構造即ちスピネル型結晶構造を有するlny
5b20+2(但しこれにBiを固溶させている)を
主成分とする保護層をスパッタリング法により形成した
。スパッタリングのターゲットの材料は酸化亜鉛(Zn
O)、酸化アンチモン(St)203)および酸化ビス
マス(Bi203)の各粉体(これらの粉体の平均粒径
は0.6〜4μmである)をそれぞれモル比で7.1・
01〜7:1:0.5の範囲で配合し、これをボールミ
ルによって粉砕するとともに混合し、さらに乾燥した後
にポリビニールアル」−ルなどのバインダーを用いてパ
ワーミルによって混練し、これを用法が130φ×10
tのアルミナ製鋳型中に装填して焼結することによって
作製した。該焼結は5b2o3が充分に分散するように
650°Cの雰囲気の炉中で2時間放置して、その後昇
温(昇温速度:200℃/l+r)L、950℃の最高
温度で1時間保持した1す、炉への電力供給を停止して
そのまま炉を冷7.II−!J’ることにより行った。
なd3この焼結された結晶体の格子常数はBi2O3の
含有量が前記の比で1.2〜59モルのあいだで変化す
るのに対応して8.5= 8.6人となった。そしてこ
の焼結結晶体をダイA7モンド4+1削により寸法が1
00φ×5Lの精密な円板にし、これを通常のセラミッ
クスターゲットの製造方法によりバッキングプレート上
に接合して実施例2に係る保護層を形成すべきスパッタ
リングに使用するターゲットとした。そして実施例2に
係る保護層は高周波マグネトロンスパッタリング装置を
用い、装置内はアルゴン雰囲気としとくに酸素は加えず
にその真空度を10’Torrとし、4分間スパッタリ
ングを行って形成された。保M層の形成速度は50人/
分であり、形成された保護層の厚さは200人であった
。
含有量が前記の比で1.2〜59モルのあいだで変化す
るのに対応して8.5= 8.6人となった。そしてこ
の焼結結晶体をダイA7モンド4+1削により寸法が1
00φ×5Lの精密な円板にし、これを通常のセラミッ
クスターゲットの製造方法によりバッキングプレート上
に接合して実施例2に係る保護層を形成すべきスパッタ
リングに使用するターゲットとした。そして実施例2に
係る保護層は高周波マグネトロンスパッタリング装置を
用い、装置内はアルゴン雰囲気としとくに酸素は加えず
にその真空度を10’Torrとし、4分間スパッタリ
ングを行って形成された。保M層の形成速度は50人/
分であり、形成された保護層の厚さは200人であった
。
このようにして作製した実施例1おにび実施例2に係る
磁気ディスクと、これらの比較例として前記保護層を設
(プない以外はこれらの実施例と同様にして作製した磁
気ディスクとについて、フェライト製の磁気ヘッドを用
いた磁気ディスク試験装置により、予備試験として10
0回の磁気ディスクの回転始動−停止試験部らCSS
(コンタクト・スタート・ストップ)試験を行なった
。なお、磁気ヘッドは試験ディスクが変わるごとに新し
い磁気ヘッドと交換し、磁気ヘッドと磁気ディスクとの
接触および摩擦状態が磁気ヘッドおよび磁気デイスクに
!jえる影響を観察した。その結果、保護層を設()な
い前記比較例の磁気ディスクは、はとんどこの試験の初
期の段階で磁気ヘッドが磁気ディスクを食い込んで記録
、再生かできなくなったが保護層を形成した実施例1お
よび実施例2の磁気ディスクは、前記予備C8S試験に
合格し、ざらにこれに合格したものは104回のC8S
試験にもづへて合格した。
磁気ディスクと、これらの比較例として前記保護層を設
(プない以外はこれらの実施例と同様にして作製した磁
気ディスクとについて、フェライト製の磁気ヘッドを用
いた磁気ディスク試験装置により、予備試験として10
0回の磁気ディスクの回転始動−停止試験部らCSS
(コンタクト・スタート・ストップ)試験を行なった
。なお、磁気ヘッドは試験ディスクが変わるごとに新し
い磁気ヘッドと交換し、磁気ヘッドと磁気ディスクとの
接触および摩擦状態が磁気ヘッドおよび磁気デイスクに
!jえる影響を観察した。その結果、保護層を設()な
い前記比較例の磁気ディスクは、はとんどこの試験の初
期の段階で磁気ヘッドが磁気ディスクを食い込んで記録
、再生かできなくなったが保護層を形成した実施例1お
よび実施例2の磁気ディスクは、前記予備C8S試験に
合格し、ざらにこれに合格したものは104回のC8S
試験にもづへて合格した。
また、実施例1、実施例2および比較例の磁気ディスク
の耐食性を調べるために、それぞれの磁気ディスクにつ
いて、5重足%の食jn水を用い、35℃の雰囲気で8
時間および16時間の塩水噴霧を行なう塩水噴霧試験を
行なった。その結果、比較例の磁気ディスクはその変色
が著しいが、実施例1および実施例2の磁気ディスクに
は著しい変色が坦れなかった。なお磁気ディスクの実際
の使用条件を考えると、前記耐食性試験によって磁気デ
ィスクの実際の長期使用にお(プる耐食性の妥当な評価
を行いうると考えられる。
の耐食性を調べるために、それぞれの磁気ディスクにつ
いて、5重足%の食jn水を用い、35℃の雰囲気で8
時間および16時間の塩水噴霧を行なう塩水噴霧試験を
行なった。その結果、比較例の磁気ディスクはその変色
が著しいが、実施例1および実施例2の磁気ディスクに
は著しい変色が坦れなかった。なお磁気ディスクの実際
の使用条件を考えると、前記耐食性試験によって磁気デ
ィスクの実際の長期使用にお(プる耐食性の妥当な評価
を行いうると考えられる。
また前記C8S試験の結果の良否に関係するのは、主と
して磁性層上に形成される保′a層の機械的性質、とく
に保護層の硬さであると考えられる。
して磁性層上に形成される保′a層の機械的性質、とく
に保護層の硬さであると考えられる。
また前記耐食性については実際上の磁気ディスクの雰囲
気が大気(例えばフィルターを通した清浄空気)である
ことを考慮J−れば、充分に酸化されたH(1#204
またはZn7Sb20+2を使用した保護層はそれ以
上に酸化されないことから、これらの保護層を使用した
磁気ディスクは安定的に使用されえる。
気が大気(例えばフィルターを通した清浄空気)である
ことを考慮J−れば、充分に酸化されたH(1#204
またはZn7Sb20+2を使用した保護層はそれ以
上に酸化されないことから、これらの保護層を使用した
磁気ディスクは安定的に使用されえる。
そしてまた、前記反応性のクラスターイオンビーム法に
よっても実施例1の保護層の酸化が不十分なばあいには
清浄な空気の雰囲気または該空気の雰囲気より酸素分圧
を高くした雰囲気で、やや低温で加熱して充分に保護層
を酸化するようにしてもよい。
よっても実施例1の保護層の酸化が不十分なばあいには
清浄な空気の雰囲気または該空気の雰囲気より酸素分圧
を高くした雰囲気で、やや低温で加熱して充分に保護層
を酸化するようにしてもよい。
またHg#204の結晶の格子常数は8059人であり
、COの通常の六方最密格子の格子常数Cのl1rj(
C= 4.0697)のほぼ2倍に等しいことから、磁
性層と保護層との結晶学的関連性(コヒーレンシー)が
高く、これらの2層の密着性が優れていることも考慮す
る必要がある。
、COの通常の六方最密格子の格子常数Cのl1rj(
C= 4.0697)のほぼ2倍に等しいことから、磁
性層と保護層との結晶学的関連性(コヒーレンシー)が
高く、これらの2層の密着性が優れていることも考慮す
る必要がある。
さらにまたzno 、5b2o3およびBi2O3のモ
ル比、従ってZn7Sb2O12に対するBiの固溶量
のモル比の変化によりBiを固溶したZn7Sb20+
2の結晶の格子常数が8.5〜8.6人の範囲で変化し
たが、この変化は保護層の特性上とくに有意な差を示さ
なかった。しかしB*2o3を使用せずBiを固溶さゼ
ないならば、これによって作製されるZny 5b20
+zの焼結物はその中のスピネル粒の結合が不充分とな
り、脆弱なものとなってしまう。
ル比、従ってZn7Sb2O12に対するBiの固溶量
のモル比の変化によりBiを固溶したZn7Sb20+
2の結晶の格子常数が8.5〜8.6人の範囲で変化し
たが、この変化は保護層の特性上とくに有意な差を示さ
なかった。しかしB*2o3を使用せずBiを固溶さゼ
ないならば、これによって作製されるZny 5b20
+zの焼結物はその中のスピネル粒の結合が不充分とな
り、脆弱なものとなってしまう。
[発明の効果]
以上のようにこの発明によれば、磁性層の表面上にスピ
ネル型結晶構造相からなる保護層を形成するようにした
ので、磁気記録媒体の耐食性および耐摩耗性を向上でき
るとともに安定的に磁性層を保護できる効果がある。
ネル型結晶構造相からなる保護層を形成するようにした
ので、磁気記録媒体の耐食性および耐摩耗性を向上でき
るとともに安定的に磁性層を保護できる効果がある。
代 理 人 大 岩 増 雄手続補正書
(自発) 2、発明の名称 磁気記録媒体 3、補正をする者 代表者志岐守哉 5、補正の対象 (1)明細書の「発明の詳細な説明」の欄6、 補正の
内容 (1)明細書9頁7行の「104回」を「104回」と
補正する。
(自発) 2、発明の名称 磁気記録媒体 3、補正をする者 代表者志岐守哉 5、補正の対象 (1)明細書の「発明の詳細な説明」の欄6、 補正の
内容 (1)明細書9頁7行の「104回」を「104回」と
補正する。
以 上
Claims (4)
- (1)情報を記録できる磁性層の表面上にスピネル型結
晶構造相からなる保護層が形成されてなる磁気記録媒体
。 - (2)前記スピネル型結晶構造相が非磁性のものからな
る特許請求の範囲第1項記載の磁気記録媒体。 - (3)前記スピネル型結晶構造相にAlおよびMgが含
有されている特許請求の範囲第1項記載の磁気記録媒体
。 - (4)前記スピネル型結晶構造相にZn、SbおよびB
iが含有されている特許請求の範囲第1項記載の磁気記
録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25742086A JPS63112823A (ja) | 1986-10-28 | 1986-10-28 | 磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25742086A JPS63112823A (ja) | 1986-10-28 | 1986-10-28 | 磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63112823A true JPS63112823A (ja) | 1988-05-17 |
Family
ID=17306120
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25742086A Pending JPS63112823A (ja) | 1986-10-28 | 1986-10-28 | 磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63112823A (ja) |
-
1986
- 1986-10-28 JP JP25742086A patent/JPS63112823A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5290629A (en) | Magnetic film having a magnetic phase with crystallites of 200 A or less and an oxide phase present at the grain boundaries | |
TW424234B (en) | Magnetic recording medium, method of fabricating magnetic recording medium, and magnetic storage | |
JPS63112823A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPS5961107A (ja) | 磁気記憶体 | |
JPS61152003A (ja) | 磁気記録用六方晶フエライト磁性粉 | |
JP2021034072A5 (ja) | ||
JP3825079B2 (ja) | 非磁性セラミックスの製造方法 | |
JPS59119533A (ja) | 垂直磁化記録用磁気記録媒体 | |
JPH05143953A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPH01162214A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPS6154019A (ja) | 保護膜を設けた磁気記録媒体 | |
JPH1079309A (ja) | 磁気ヘッド用ヘマタイト系材料及びその製造方法 | |
JPS61224122A (ja) | 磁気記録媒体およびその製造方法 | |
JPH0268712A (ja) | 薄膜型磁気記録媒体 | |
JPH01102723A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPS61184725A (ja) | 磁気記録媒体及びその製造方法 | |
JPS61222030A (ja) | 磁気記録体 | |
JPS6154017A (ja) | 保護層をもつ磁気記録媒体 | |
JPH02139709A (ja) | 磁気記録媒体及びその製造方法 | |
JPH0334122A (ja) | 磁気記録媒体及びその製造方法 | |
JPH01233713A (ja) | 磁気ヘッド用基板材料 | |
JPS61224139A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JPS62232724A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPS61224121A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPS631010A (ja) | 垂直磁気異方性薄膜 |