JPS61224122A - 磁気記録媒体およびその製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体およびその製造方法Info
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- JPS61224122A JPS61224122A JP6553285A JP6553285A JPS61224122A JP S61224122 A JPS61224122 A JP S61224122A JP 6553285 A JP6553285 A JP 6553285A JP 6553285 A JP6553285 A JP 6553285A JP S61224122 A JPS61224122 A JP S61224122A
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- JP
- Japan
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- substrate
- magnetic
- thin film
- film
- magnetic recording
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- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁気記録媒体、特に水平即ち面内記録に使用さ
れるリジッド磁気記録ディスクに関する。
れるリジッド磁気記録ディスクに関する。
リジントディスクの磁気記録媒体としてはγ−へマタイ
ト(T−Petos)粉末、Co−Pt膜、Co−N1
−pt膜あるいはCo−N1−P膜が使用されている。
ト(T−Petos)粉末、Co−Pt膜、Co−N1
−pt膜あるいはCo−N1−P膜が使用されている。
ヘマタイト塗布媒体はアルミニウムあるいはアルミニウ
ム合金基板上に樹脂とともに薄膜状に形成される。この
ヘマタイト塗付媒体は長期にわたり広い用途に使われて
いた。しかし、最近になって高記録密度ディスクの高い
需要が起って来たが、ヘマタイト塗布媒体では高記録密
度に対応出来ない。そこでヘマタイト塗布媒体に代って
、薄膜媒体が高記録密度の用途に提案されている。この
薄膜媒体としてはメッキ及び蒸着媒体がある。
ム合金基板上に樹脂とともに薄膜状に形成される。この
ヘマタイト塗付媒体は長期にわたり広い用途に使われて
いた。しかし、最近になって高記録密度ディスクの高い
需要が起って来たが、ヘマタイト塗布媒体では高記録密
度に対応出来ない。そこでヘマタイト塗布媒体に代って
、薄膜媒体が高記録密度の用途に提案されている。この
薄膜媒体としてはメッキ及び蒸着媒体がある。
Go−Ni−Pのようなメッキ媒体には残留した化学物
質による腐食が起るなどの欠点がある。また、この腐食
のためにデータの書き込み、読み出しする際のエラーが
起るので、極めて高い記録密度を達成することが出来な
い。メッキ薄膜媒体は本質的に高い欠陥密度を有し、耐
食性に劣るものである。
質による腐食が起るなどの欠点がある。また、この腐食
のためにデータの書き込み、読み出しする際のエラーが
起るので、極めて高い記録密度を達成することが出来な
い。メッキ薄膜媒体は本質的に高い欠陥密度を有し、耐
食性に劣るものである。
これに比して、スパッタリングや蒸着で作った薄膜媒体
は、電磁特性、浮上性、耐久性、損傷、摩耗、欠陥密度
、耐食性、再生特性のすべての面で優れていることが考
えられて来た。蒸着薄膜媒体として、例えばCo−Ni
−PtやCo−Niなどのコバルト基合金が高い水平記
録密度の磁気記録媒体に適しているとして提案されてい
る。Co −Ni −Pt+Go−Ptは水平記録に適
したものであるが、高価な元素であるptを約10at
%含んでいるので、媒体の価格も高いものとなっている
。
は、電磁特性、浮上性、耐久性、損傷、摩耗、欠陥密度
、耐食性、再生特性のすべての面で優れていることが考
えられて来た。蒸着薄膜媒体として、例えばCo−Ni
−PtやCo−Niなどのコバルト基合金が高い水平記
録密度の磁気記録媒体に適しているとして提案されてい
る。Co −Ni −Pt+Go−Ptは水平記録に適
したものであるが、高価な元素であるptを約10at
%含んでいるので、媒体の価格も高いものとなっている
。
他方、直接にスパッターしたGo合金膜はC軸がスパッ
ター面に垂直になる傾向があるので、水平記録に適さな
い。
ター面に垂直になる傾向があるので、水平記録に適さな
い。
水平記録媒体用としてスパッター薄膜磁気記録媒体が文
献で報告されている。前日のJ、 Appl。
献で報告されている。前日のJ、 Appl。
Phys、 53 (5) May 1982 P、3
735“旧gh coercivityCo and
Co−Ni alloy films”及びJ、 A
ppl。
735“旧gh coercivityCo and
Co−Ni alloy films”及びJ、 A
ppl。
Phys、 53 (10) Oct、 1982 P
、6941″tlffect ofnitrogen
on the high coercivity an
d +wicrost−ructures of C
o −Ni alloy fil++s”及び特許出願
特開昭57−72307号によれば、金属コバルトある
いはGo−Ni合金を窒素を含む雰囲気中でスパッター
を行い窒素を含む薄膜を形成し、その上で真空あるいは
不活性ガス中で熱処理して、良好な磁気特性をもった薄
膜磁気記録媒体を得ている。これらの文献では、スパッ
タリングはスパッター膜中に十分に窒素を含ませるため
に液体窒素で冷した基板に対して行う必要がある。
、6941″tlffect ofnitrogen
on the high coercivity an
d +wicrost−ructures of C
o −Ni alloy fil++s”及び特許出願
特開昭57−72307号によれば、金属コバルトある
いはGo−Ni合金を窒素を含む雰囲気中でスパッター
を行い窒素を含む薄膜を形成し、その上で真空あるいは
不活性ガス中で熱処理して、良好な磁気特性をもった薄
膜磁気記録媒体を得ている。これらの文献では、スパッ
タリングはスパッター膜中に十分に窒素を含ませるため
に液体窒素で冷した基板に対して行う必要がある。
このように液体窒素で基板を冷却するので、液体窒素を
消費する上に複雑なスパッタリング装置となり、基板の
両面同時スパッターが出来ないなど・のためにディスク
の製造原価が高(なる。
消費する上に複雑なスパッタリング装置となり、基板の
両面同時スパッターが出来ないなど・のためにディスク
の製造原価が高(なる。
また、Co基合金は通常の場合垂直磁気記録用の媒体と
して用いられるものであるが面内磁化用の媒体としても
優れた特性を示すことが、本発明者らは認識して本発明
にいたったものである。
して用いられるものであるが面内磁化用の媒体としても
優れた特性を示すことが、本発明者らは認識して本発明
にいたったものである。
本発明は優れた磁気特性を有し、耐食性の良い本発明の
他の目的は、室温以上の温度の基板にスパッターして水
平磁気記録瓢体を作ることのできる製造方法を提案する
ことである。
他の目的は、室温以上の温度の基板にスパッターして水
平磁気記録瓢体を作ることのできる製造方法を提案する
ことである。
下地層及び磁性層が形成されており、必要によって磁性
層の表面に保護膜(スパッタ・−されたアモルファス状
、グラファイト状あるいはダイヤモンド状のカーボン膜
や液体潤滑材の塗布など)が形成されて、 磁性膜は、 (イ)0.5at%以上のRu、 5at%以上のT
i、 5at%以上のHfの1種又は2種以上を総量
で22at%以下含むCo基合金であり、 (ロ)100〜500人の粒径の結晶粒を主体とし、 (ハ)そのC軸が実質的に面内にあるh.c.p.結晶
である、 ことを特徴とするものである。
層の表面に保護膜(スパッタ・−されたアモルファス状
、グラファイト状あるいはダイヤモンド状のカーボン膜
や液体潤滑材の塗布など)が形成されて、 磁性膜は、 (イ)0.5at%以上のRu、 5at%以上のT
i、 5at%以上のHfの1種又は2種以上を総量
で22at%以下含むCo基合金であり、 (ロ)100〜500人の粒径の結晶粒を主体とし、 (ハ)そのC軸が実質的に面内にあるh.c.p.結晶
である、 ことを特徴とするものである。
この磁性膜は残留するCoNやCoQの双方がX線的に
は検出されないことが望ましいが、化学分析によっては
窒素や酸素が5at%以下検出されることもある。
は検出されないことが望ましいが、化学分析によっては
窒素や酸素が5at%以下検出されることもある。
なお、本明細書において「主体」とは、50%以上の数
の粒子がその粒径範囲に含まれることをいい、この粒径
の測定は電子顕微鏡によって観察することにより行われ
る。
の粒子がその粒径範囲に含まれることをいい、この粒径
の測定は電子顕微鏡によって観察することにより行われ
る。
使用される基板としては、セラミックス(例えばAβ2
0ユ系)やガラスも用いることが出来るが、アルミニウ
ム基体やアルミニウム合金基板(例えば3.9重量%の
Mgを含み残部実質的にAt’の合金)が望ましい。ア
ルミニウム基体やアルミニウム合金基板の場合、アルマ
イト処理膜、N1−Pメッキ膜、Crスパッター膜を下
地として用いることが出来るが、6〜15μmの厚さに
付けたアルマイト処理膜は適切なものである。磁気ディ
スクの外径が3.5#φのように小さな場合は、360
0r、p、mで回転しても周速度が小さいので、1〜5
μm程度の薄いアルマイト処理膜でもよいことがある。
0ユ系)やガラスも用いることが出来るが、アルミニウ
ム基体やアルミニウム合金基板(例えば3.9重量%の
Mgを含み残部実質的にAt’の合金)が望ましい。ア
ルミニウム基体やアルミニウム合金基板の場合、アルマ
イト処理膜、N1−Pメッキ膜、Crスパッター膜を下
地として用いることが出来るが、6〜15μmの厚さに
付けたアルマイト処理膜は適切なものである。磁気ディ
スクの外径が3.5#φのように小さな場合は、360
0r、p、mで回転しても周速度が小さいので、1〜5
μm程度の薄いアルマイト処理膜でもよいことがある。
磁気ヘッドと磁気ディスクとの接触、衝突による衝撃に
耐え、ディスク面の変形を防ぐためにはこのアルマイト
処理膜は十分な硬度、望ましくはビッカース硬度Hvで
300以上をもっていることが必要である。N1−Pの
無電解メッキ膜は十分な硬度をもっているが、本発明の
ディスクのように後で熱処理を行うものである場合は、
この熱処理時の加熱によってN1−P膜が帯磁すること
もあるので、この帯磁の起らない温度で熱処理を行わな
ければならない。Crのスパッターをした膜も利用する
ことが出来るが、耐C8S性を上げるには数1000人
の厚さに付ける必要があり、スパンタ一時間が長く掛る
。
耐え、ディスク面の変形を防ぐためにはこのアルマイト
処理膜は十分な硬度、望ましくはビッカース硬度Hvで
300以上をもっていることが必要である。N1−Pの
無電解メッキ膜は十分な硬度をもっているが、本発明の
ディスクのように後で熱処理を行うものである場合は、
この熱処理時の加熱によってN1−P膜が帯磁すること
もあるので、この帯磁の起らない温度で熱処理を行わな
ければならない。Crのスパッターをした膜も利用する
ことが出来るが、耐C8S性を上げるには数1000人
の厚さに付ける必要があり、スパンタ一時間が長く掛る
。
スパッター媒体の厚さは400〜1000人であること
が望ましい。媒体の厚さが薄すぎる場合、十分な磁力が
得られないので、磁電変換特性が劣化する。媒体の厚さ
が厚くなると保磁力が低下する傾向がある上に、スパッ
ターリング時間が長く掛って生産効率の点からよくない
。
が望ましい。媒体の厚さが薄すぎる場合、十分な磁力が
得られないので、磁電変換特性が劣化する。媒体の厚さ
が厚くなると保磁力が低下する傾向がある上に、スパッ
ターリング時間が長く掛って生産効率の点からよくない
。
他の本発明の製造方法は、下地層の形成されたディスク
形基板を室温から300℃の温度に保持し、最終製品の
成分とほぼ同じ成分の合金ターゲットを使用して、窒素
を含む薄膜を形成した後、この薄膜を加熱して薄膜に含
有されていた窒素を放出し、0.5at%以上のRu、
5at%以上のTi、 5at%以上のHfの1
種又は2種以上を総量で22at%以下含むCo基合金
で、100〜500人の粒径の結晶粒を主体とし、その
C軸が主として面内にある実質的にh.c.p.結晶構
造の磁性薄膜とすることを特徴とするものである。
形基板を室温から300℃の温度に保持し、最終製品の
成分とほぼ同じ成分の合金ターゲットを使用して、窒素
を含む薄膜を形成した後、この薄膜を加熱して薄膜に含
有されていた窒素を放出し、0.5at%以上のRu、
5at%以上のTi、 5at%以上のHfの1
種又は2種以上を総量で22at%以下含むCo基合金
で、100〜500人の粒径の結晶粒を主体とし、その
C軸が主として面内にある実質的にh.c.p.結晶構
造の磁性薄膜とすることを特徴とするものである。
スパッタリング時の基板温度は、室温から300℃の間
であってもよいが、生産性や窒素の吸収の容易さの点か
ら100℃以下であることが望ましい。
であってもよいが、生産性や窒素の吸収の容易さの点か
ら100℃以下であることが望ましい。
また、スパッタリング後の熱処理は、スパッター膜に吸
着されている窒素を放出する温度で行う。
着されている窒素を放出する温度で行う。
低い温度で熱処理を行った場合、十分に窒素を放出する
ためには長い加熱時間が必要で、高い温度の場合は短時
間でよい。望ましい温度範囲は310〜500℃である
。310℃未満で熱処理を行うと数10時間の温処理が
必要で実際的でない。
ためには長い加熱時間が必要で、高い温度の場合は短時
間でよい。望ましい温度範囲は310〜500℃である
。310℃未満で熱処理を行うと数10時間の温処理が
必要で実際的でない。
500℃以上にすると脱ガスは急速に行うことができる
が、Co合金結晶の粒成長によって、S/N比が低下す
るおそれがある。
が、Co合金結晶の粒成長によって、S/N比が低下す
るおそれがある。
本発明の磁気記録媒体の磁性薄膜は成分から云えば、0
.5at%以上のRu、 5at%以上のTi+
5at%以上のHfの1種あるいは2種以上を総量で2
2at%含み残部実質的にCoである合金である。Ru
を0.3at%よりも少く含む場合にはHcが極めて高
く4mMsが小さくなる。また耐食性も悪くなる。Ru
を22at%よりも多く含む場合は、Hc、 4mM
sとも低くなる。Tiを5at%よりも少く含む場合に
は、耐食性が劣り、22at%よりも多く含む場合はH
cが極めて低くなる。またHfを5at%よりも少く含
む場合は耐食性が劣り、22at%よりも多く含む場合
は特性が悪くなる。
.5at%以上のRu、 5at%以上のTi+
5at%以上のHfの1種あるいは2種以上を総量で2
2at%含み残部実質的にCoである合金である。Ru
を0.3at%よりも少く含む場合にはHcが極めて高
く4mMsが小さくなる。また耐食性も悪くなる。Ru
を22at%よりも多く含む場合は、Hc、 4mM
sとも低くなる。Tiを5at%よりも少く含む場合に
は、耐食性が劣り、22at%よりも多く含む場合はH
cが極めて低くなる。またHfを5at%よりも少く含
む場合は耐食性が劣り、22at%よりも多く含む場合
は特性が悪くなる。
Cu、 Mnを少量含む場合もあるが数at%以下これ
らを含んでも問題ない。
らを含んでも問題ない。
本発明においては、窒素中でスパッタリングした窒素を
含むCo −Cr膜は水平方向(面内)で極めて低い磁
化(4mMS) Lか示さず、はとんど非磁性であるが
、これを熱処理して脱窒素を行うと100〜500人の
結晶粒に成長し、そのC軸が実質的に面内にあるh.c
.p.結晶構造となって、面内で優れた磁気特性を有す
る磁性媒体となるので磁気記録媒体として優れたものと
なる。
含むCo −Cr膜は水平方向(面内)で極めて低い磁
化(4mMS) Lか示さず、はとんど非磁性であるが
、これを熱処理して脱窒素を行うと100〜500人の
結晶粒に成長し、そのC軸が実質的に面内にあるh.c
.p.結晶構造となって、面内で優れた磁気特性を有す
る磁性媒体となるので磁気記録媒体として優れたものと
なる。
窒素を含まない雰囲気でスパッタリングしたCo合金膜
は保磁力が4000e前後と低い上に、垂直方向に配向
していて面内磁気記録に適していない点と、本発明を比
較するとその間の違は明らかである。
は保磁力が4000e前後と低い上に、垂直方向に配向
していて面内磁気記録に適していない点と、本発明を比
較するとその間の違は明らかである。
以下、本発明を具体的実施例によって詳細に説明する。
なお以下に述べる実施例はマグネトロンr、f、スパッ
タ装置によったが、イオン工学的に同様のことが言える
イオンビームスパッタリング等によって本発明の効果を
得ることが可能であることは勿論である。
タ装置によったが、イオン工学的に同様のことが言える
イオンビームスパッタリング等によって本発明の効果を
得ることが可能であることは勿論である。
マグネシウムを4%含むアルミニウム合金基板(大きさ
:外径130m、内径40fi、厚さ1.9m)をクロ
ム酸を含む酸浴中で電解処理し、その表面に10〜17
μmのアルマイト層の下地層を形成し、かつその表面を
2μm程研磨し平坦にした。この下地層のビッカース硬
度Hvは300〜400であった。
:外径130m、内径40fi、厚さ1.9m)をクロ
ム酸を含む酸浴中で電解処理し、その表面に10〜17
μmのアルマイト層の下地層を形成し、かつその表面を
2μm程研磨し平坦にした。この下地層のビッカース硬
度Hvは300〜400であった。
次に、平板マグネトロンr、f、スパッタリング装置を
用い、下記条件にて下地層上にNを含む00合金薄膜を
形成した。
用い、下記条件にて下地層上にNを含む00合金薄膜を
形成した。
初期排気 1〜2X10−’Torr全雰囲
気(A r + Nz) 10〜15 mTorr雰
囲気中N2ガス濃度 (全圧に対するN2分圧の%) 0〜70%投入電力
1kW ターゲット組成 Co−Ru (Ti、 Hf)(
目標とする薄膜の組成に一致させる。
気(A r + Nz) 10〜15 mTorr雰
囲気中N2ガス濃度 (全圧に対するN2分圧の%) 0〜70%投入電力
1kW ターゲット組成 Co−Ru (Ti、 Hf)(
目標とする薄膜の組成に一致させる。
例えば、Co/Ti= 90 / 10 (at%)の
薄膜を形成する場合には、Co90at%。
薄膜を形成する場合には、Co90at%。
TilOat%のターゲットを用いる。)極間隔
1081m 薄膜形成速度 100〜300人/win。
1081m 薄膜形成速度 100〜300人/win。
膜厚 700人
基板温度 70℃
この膜形成処理後、真空中にて320〜350℃で1〜
3時間熱処理を行い、窒素を放出させた。
3時間熱処理を行い、窒素を放出させた。
この磁性膜からは、CoN 、 CoOがXvA的には
検出されなかった。その後、カーボン保護膜を500人
厚さとなるようスパッタリングして形成し、磁気記録媒
体とした。
検出されなかった。その後、カーボン保護膜を500人
厚さとなるようスパッタリングして形成し、磁気記録媒
体とした。
この磁気記録媒体の磁気特性を上記以外の条件と共に第
1表に示す。
1表に示す。
この磁気記録媒体を60℃の温度で80〜90ま
%(7)相対量炭中、、2週間露、え後。磁気特性を第
2表に示す。第2表のサンプル徹の各々は第1表のもの
に対応している。
2表に示す。第2表のサンプル徹の各々は第1表のもの
に対応している。
第1表及び第2表でサンプルll&L1〜7は本発明の
実施例で、サンプル嵐8〜工2は比較例である。
実施例で、サンプル嵐8〜工2は比較例である。
患1〜7はいずれも環境試験の前後で磁気特性にほとん
ど差がな(、耐食性が向上していることがわかる。第1
表に(002)面のx′fa回折強度と(100)面の
X線回折強度との比、即ちI (002) /1 (1
00)で定義されるR値も示しであるが、本発明のもの
はいずれも3以下で、面内にC軸が配向していることが
明らかである。比較例の1lh8〜12は上の環境試験
で特性が劣化した。また、Ruを22at%を越えて含
んでいるN[Lloは4mMsが低い。
ど差がな(、耐食性が向上していることがわかる。第1
表に(002)面のx′fa回折強度と(100)面の
X線回折強度との比、即ちI (002) /1 (1
00)で定義されるR値も示しであるが、本発明のもの
はいずれも3以下で、面内にC軸が配向していることが
明らかである。比較例の1lh8〜12は上の環境試験
で特性が劣化した。また、Ruを22at%を越えて含
んでいるN[Lloは4mMsが低い。
第 2 表
〔発明の効果〕
以上詳述通り、本発明に従えば優れた磁気特性をもった
面内記録に適した磁気記録媒体が得られる。
面内記録に適した磁気記録媒体が得られる。
手続補正書
II!($D を1・3・42B
昭和60年 特許願 第65532号
発明の名称 磁気記録媒体およびその製造方法補正をす
る者 事件との関係 特許出願人 住所 東京都千代田区丸)内二丁目1番2号名称 (5
08)日立金属株式会社 代表者 松 野 浩 二
る者 事件との関係 特許出願人 住所 東京都千代田区丸)内二丁目1番2号名称 (5
08)日立金属株式会社 代表者 松 野 浩 二
Claims (8)
- (1)ディスク形基板の板面上に、下地層及び磁性膜層
が形成された磁気記録媒体において、磁性膜は、 (イ)0.5at%以上のRu、5at%以上のTi、
5at%以上のHfの1種あるいは2種以上を総量で2
2at%以下含むCo基合金であり、 (ロ)100〜500Åの粒径の結晶粒を主体とし、 (ハ)そのC軸が実質的に面内にあるh.c.p.結晶
である、 ことを特徴とする磁気記録媒体。 - (2)磁性膜はCoNとCoOの双方がX線的に検出さ
れないことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の磁
気記録媒体。 - (3)基板はアルミニウム基体又はアルミニウム基合金
基板であり、その上にアルマイト膜が形成されているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項記載の
磁気記録媒体。 - (4)下地層の形成されたディスク形基板を室温から3
00℃の温度に保持し、最終製品の成分とほぼ同じ成分
の合金ターゲットを使用して、窒素を含む不活性気体雰
囲気中で上記基板上にスパッタリングあるいは蒸着をし
て窒素を含む薄膜を形成した後、この薄膜を加熱して薄
膜に含有されていた窒素を放出し、0.5at%以上の
Ru、5at%以上のTi、5at%以上のHfの1種
又は2種以上を総量で22at%以下含むCo基合金で
、100〜500Åの粒径の結晶粒を主体とし、そのC
軸が主として面内にある実質的にh.c.p.結晶構造
を有する磁性薄膜とすることを特徴とする磁気記録媒体
の製造方法。 - (5)上記薄膜がアルマイト処理したアルミニウム基体
又はアルミニウム基合金基板上に形成することを特徴と
する特許請求の範囲第4項記載の製造方法。 - (6)上記薄膜が400〜1000Åの厚さであること
を特徴とする特許請求の範囲第5項記載の製造方法。 - (7)上記基板をスパッタリングあるいは蒸着時に室温
から100℃の温度に保持することを特徴とする特許請
求の範囲第4項記載の製造方法。 - (8)上記加熱処理を真空雰囲気中で310〜500℃
の温度で行うことを特徴とする特許請求の範囲第4項乃
至第7項記載の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6553285A JPS61224122A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 磁気記録媒体およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6553285A JPS61224122A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 磁気記録媒体およびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61224122A true JPS61224122A (ja) | 1986-10-04 |
Family
ID=13289715
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6553285A Pending JPS61224122A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 磁気記録媒体およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61224122A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5236791A (en) * | 1988-08-31 | 1993-08-17 | Hitachi, Ltd. | Magnetic recording medium and magnetic storage |
-
1985
- 1985-03-29 JP JP6553285A patent/JPS61224122A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5236791A (en) * | 1988-08-31 | 1993-08-17 | Hitachi, Ltd. | Magnetic recording medium and magnetic storage |
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