JPS63109170A - SiC被膜を有する部材及びSiC被膜の形成方法 - Google Patents

SiC被膜を有する部材及びSiC被膜の形成方法

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JPS63109170A
JPS63109170A JP25495386A JP25495386A JPS63109170A JP S63109170 A JPS63109170 A JP S63109170A JP 25495386 A JP25495386 A JP 25495386A JP 25495386 A JP25495386 A JP 25495386A JP S63109170 A JPS63109170 A JP S63109170A
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sic
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coating
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Osami Yamamoto
修身 山本
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長島 義悟
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Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd
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Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はSiC被膜を有する部材及びSiC被膜の形成
方法に係り、特にポリシリコン基材とSiC被膜との接
着性を改良したSiC被膜を有する部材及びSiC被膜
の形成方法に関する。
[従来の技術] 近年、高温高強度材料として、窒化珪素、炭化珪素、サ
イアロン等の非酸化物セラミックス、あ゛るいは酸化ア
ルミニウム、酸化ジルコニウム等、いわゆるニューセラ
ミックスが急速にクローズアップされ、多くの研究や開
発がなされている。
これらセラミックスのうち、炭化珪素(以下「SiC」
と略記する。)は、 ■ 軽い材料である。
■ 常温から高温まで機械的強度が高く安定している。
■ 熱膨張が小さく熱伝導性が良いため耐スポーリング
性に優れる。
■ 耐食性が極めて大きい。
■ 硬度が高く、耐摩耗性に優れる。
■ 導電性があり電気素子としても使用できる。
などの特徴を有し、極めて重要な工業材料としてン主目
されている。
とりわけ、CVD法等の気相法によって製造されるSi
Cは、緻密で高純度であることから、これらの特性が著
しく高いため、気相法SiC膜で被覆することにより、
各種部材の特性を改良する方法が従来より提案されてい
る。
[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、基材表面に気相法により高純度SiC被
膜を形成した場合、基材と膜との熱膨張係数の差が大き
い場合には、膜剥離や亀裂発生の問題がある。
このため、従来においては、SiC被膜を形成すること
のできる材料は、等方性炭素が焼結SiCに限られてお
り、例えば半導体拡散炉に用いられている既存のポリシ
リコン製ウェハーボート等に、剥離や亀裂の問題なく、
SiC被膜を形成することはできなかった。
[問題点を解決するための手段] 本発明は、ポリシリコン製つエノ\−ボート等の基材表
面に、SiC被膜を形成した場合に起こる膜剥離や亀裂
発生の問題を解決するものであって、 ポリシリコン基材上にSiCとSiとを含む被膜が形成
された部材であって、ポリシリコン基材表面から離隔す
るに従って該被膜中のSiC含有量が高められ、被膜表
面はSiCのみからなることを特徴とするSiC被膜を
有する部材、及び ポリシリコン基材上に珪素原料ガスと炭素原料ガスとを
流してSiCを析出させるに際し、初期には珪素原料ガ
スのみもしくは少量の炭素原料ガスを含む珪素原料ガス
を流してSiのみ又は少量のSiCを含むSi層を析出
させ、その後順次炭素原料ガスの割合を増加させてSi
Cの析出割合を増加させ、終期にはSiCのみを析出さ
せることを特徴とするSiC被膜の形成方法、を要旨と
するものである。
[作用コ 本発明の部材のSiC被膜は、SiCとSiとを含み、
ポリシリコン基材表面から離隔するに従って該被膜中の
SiC含有量が高められ、被膜表面はSiCのみからな
るものであるため、表面は高特性のSiCであるが、ポ
リシリコン基材はSiCと直接接触せずSL或はSi及
び少量のSiCよりなる複合層゛と接触する。このため
、ポリシリコン基材と被膜との間の熱膨張係数の差は小
さいものとなる。そして、被膜の熱膨張率は、ポリシリ
コン基材接触面側から、その厚さ方向に次第にSiCの
熱膨張率に近ずくため、熱膨張係数の差に起因する膜剥
離や亀裂発生の問題が解消される。
しかして、このようにSiC含有率が厚さ方向で変化す
るSiCとSLとを含む被膜は、本発明の方法に従って
、ポリシリコン基材上に珪素原料ガスと炭素原料ガスと
を流してSiCを析出させるに際し、初期には珪素原料
ガスのみもしくは少量の炭素原料ガスを含む珪素原料ガ
スを流してSiのみ又は少量のSiCを含むSi層を析
出させ、その後順次炭素原料ガスの割合を増加させてS
i、Cの析出割合を増加させ終期にはSiCのみを析出
させることにより容易に形成される。このような気相法
によれば、SiとSiCが極めて均一に分散した層を析
出させることが可能であるので、被膜内部のS i−S
 i C複合層の形成に有利である。
[実施例] 以下に図面を参照して本発明の実DfE例を詳細に説明
する。
第1図は本発明の実施例に係るSiC被膜を有する部材
の部分断面図である。図示の如く、本発明のSiC被膜
を有する部材は、ポリシリコン基材1上にSiCとSi
とを含む被膜2が形成された部材であって、ポリシリコ
ン基材表面から離隔するに従って該被膜中のSiC含有
量が高められ、被膜表面はSiCのみからなるものであ
る。
即ち、本発明に係る被膜2は、その厚さdOに対する被
膜中のある点のポリシリコン基材1からの距111id
の比、即ち、d / d oが1に近ずくに従りて、被
膜中のSiC含有比(モル%)が100に近ずき、最終
的にSfCの被膜表面を提供するものである。
このSiC含有比のd/doに対する増加割合には特に
制限はなく、第2図■の如く、比例的に増加するもの、
あるいは■、■のような増加曲線をたどるものであって
も良い。
また、被膜2のポリシリコン基材1と接触する面、即ち
、d/do=oの部分における層は、Sij$L独層で
あっても、少量のSiCを含むSiとSiCとの複合層
であっても良い。更に、被膜2の表面のSiCよりなる
層は、ある程度の厚みを有するものであっても良い。従
って、第3図■〜■に示すようなd/doに対するSi
C含有比の増加直線あるいはこれに類似した増加の曲線
をたどるものであっても良い。
このような本発明に係るsicMHは、本発明の方法に
従って、ポリシリコン基材上に珪素原料ガスと炭素原料
ガスとを流してSiCを析出させるに際し、初期には珪
素原料ガスのみもしくは少量の炭素原料ガスを含む珪素
原料ガスを流してSiのみ又は少量のSiCを含むSi
層を析出させ、その後順次炭素原料ガスの割合を増加さ
せてSiCの析出割合を増加させ、終期にはSiCのみ
を析出させることにより、容易かつ効率的に形成するこ
とができる。
例えば、ポリシリコン基材の少なくとも被膜形成部をC
VD反応温度域、例えば1050〜1250℃に加熱し
、CVD原料ガスとして初期にH2/ S i C14
を流し、 5iCf++2H2→S i +4HCJZの反応によ
りSi層を所望の厚さに形成し、次にこの原料ガスにC
2Hδを混入してゆき、順次C3H8の割合を増し、S
iC含有率が次第に増加するSiとSiCとの複合層を
所望の厚さに形成し、最終的にガス組成をS i Cf
L4/C3Haとして所望厚さのSiC層を形成する。
このような気相反応によれば、Si層とSiC層との間
に析出するSiCとSiとの複合層は、SiCとSiと
が極めて均一に分散したものとなり、優れた膜特性が得
られる。なお、本発明では珪素原料ガス及び炭素原料ガ
スとして、上記以外の各種のものを用い得る。
本発明は、ポリシリコン製ウェハーボート等に適用する
ことにより、その耐熱性、機械的強度を向上させ、耐久
性を著しく高めることができる。
[発明の効果] 以上詳述した通り、本発明のSiC被膜を有する部材は
、 ■ 表面はSiC層であるため、SiCの優れた耐食性
、耐摩耗性を有する。
■ 被膜の基材接触面側はSi又はSiCを少量含むS
iとSiCの複合層であるため、基材と被膜との熱膨張
差が緩和される。
■ 基材表面から離隔するに従って被膜中のSiC含有
量が高められ、被膜表面はSiCのみからなるようにさ
れているため、被膜中において大きな熱膨張差が生じる
ことはない。
等の特長を有し、このため高特性SiC被膜をポリシリ
コン基材表面に膜剥離や亀裂発生の問題をおこすことな
く形成した部材が提供される。
しかして、このようなSiC被膜は、ポリシリコン基材
上に珪素原料ガスと炭素原料ガスとを流してSiCを析
出させるに際し、初期には珪素原料ガスのみもしくは少
量の炭素原料ガスを含む珪素原料ガスを流してSiのみ
又は少量のSiCを含むSi層を析出させ、その後順次
炭素原料ガスの割合を増加させてSiCの析出割合を増
加さ・せ、終期にはSiCのみを析出させる本発明の方
法により、容易かつ効率的に形成される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のSiC被膜を有する部材の部分断面図
、第2図及び第3図は本発明のSiC被膜を有する部材
の被膜厚み方向のSiC含有比の変化の例を示すグラフ
である。 1・・・ポリシリコン、   2・・・被膜。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ポリシリコン基材上にSiCとSiとを含む被膜
    が形成された部材であって、ポリシリコン基材表面から
    離隔するに従って該被膜中のSiC含有量が高められ、
    被膜表面はSiCのみからなることを特徴とするSiC
    被膜を有する部材。
  2. (2)ポリシリコン基材上に珪素原料ガスと炭素原料ガ
    スとを流してSiCを析出させるに際し、初期には珪素
    原料ガスのみもしくは少量の炭素原料ガスを含む珪素原
    料ガスを流してSiのみ又は少量のSiCを含むSi層
    を析出させ、その後順次炭素原料ガスの割合を増加させ
    てSiCの析出割合を増加させ、終期にはSiCのみを
    析出させることを特徴とするSiC被膜の形成方法。
JP25495386A 1986-10-27 1986-10-27 SiC被膜を有する部材及びSiC被膜の形成方法 Expired - Lifetime JPH0733579B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003045812A (ja) * 2001-07-31 2003-02-14 Tokai Carbon Co Ltd 炭化珪素質半導体製造装置用部材およびその製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003045812A (ja) * 2001-07-31 2003-02-14 Tokai Carbon Co Ltd 炭化珪素質半導体製造装置用部材およびその製造方法
JP4556090B2 (ja) * 2001-07-31 2010-10-06 東海カーボン株式会社 炭化珪素質半導体製造装置用部材およびその製造方法

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