JPS6299071A - デイスクサブストレ−トの研削・研磨方法 - Google Patents

デイスクサブストレ−トの研削・研磨方法

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Publication number
JPS6299071A
JPS6299071A JP60237023A JP23702385A JPS6299071A JP S6299071 A JPS6299071 A JP S6299071A JP 60237023 A JP60237023 A JP 60237023A JP 23702385 A JP23702385 A JP 23702385A JP S6299071 A JPS6299071 A JP S6299071A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
grinding
polishing
disk substrate
less
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60237023A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideyoshi Kakui
確井 栄喜
Eiichi Kurihara
栗原 栄一
Hideo Fujimoto
日出男 藤本
Yutaka Kaneda
豊 金田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kobe Steel Ltd
Original Assignee
Kobe Steel Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kobe Steel Ltd filed Critical Kobe Steel Ltd
Priority to JP60237023A priority Critical patent/JPS6299071A/ja
Publication of JPS6299071A publication Critical patent/JPS6299071A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
  • Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の利用分野] 本発明は、ディスクサブストレートの研磨方法に関する
[発明の背景] 磁気ディスク用サブストレートは主にアルミニウム合金
が用いられているが、製置時に着目される特性にはディ
スク表面の平坦度と表面粗さがある。この平坦度と表面
粗さを目的の範囲内とするため表面加工は■粗切削、(
2)ダイヤモンドターニング、■仕上げ研削、■ポリッ
シュの工程で行なわれている。
しかし、これらの表面加工の工程では、■粗切削:生産
性は大きいが、片面ずつ切削するため、平坦度の向上に
限界がある。したがって、薄肉小径サブストレートの加
工には適さない、(リダイヤモンドターニング二表面粗
さは良好であるが、平坦度の向上に限界があり、薄肉小
径サブストレートの加工には適さない、■仕上げ研削:
要求粗さくRa : 0.(12p m以下)を得るの
が困難であり、得られたとしても、スクラッチ等の表面
欠陥を生じ易い、■ポリッシュ:従来技術によるポリッ
シュでは、表面酸化皮膜の生成による変色、オレンジピ
ールやビットの発生、研磨速度が遅ぐエッヂドロップを
生じ易い等の問題点がある。
[発明の目的] 本発明は上述したディスクサブストレートの研磨方法の
問題点に着目し、10pm以下の平坦度とRaO,01
5g、m以下の粗さが得られる研磨方法を提供すること
を目的とする。
[発明の概要] 上記目的は、アルミ合金製のディスクサブストレートの
研削・研磨方法において、該ディスクサブストレートの
表面を両面研削盤により片面当り40〜100.wm研
削するとともに、表面粗さをRa0.05μm以下にし
、研削後の該ディスクサブストレートの表面を、PHが
1.5〜4の水系分散媒中に、平均粒径0.05〜5μ
mの研磨用微粉末を1〜20重量%分散させた研磨剤に
より、片面当り1〜5g、m研磨することを特徴とする
ディスクサブストレートの研削・研磨力法によって達成
される。
ここでディスクサブストレートの表面を片面当り40〜
1100p研削する理由について説明する。
ディスクサブストレート用ブランクの平坦度は、95m
mφディスクにおいて15〜40pm/面程度であり、
現行工程における表面加工によりサブストレートの平坦
度は10〜204 m / 面程度が得られている。し
かしながら、従来技術によりサブストレートの平坦度を
10μm以下にコントロールすることは極めて困難であ
った。サブストレートの平坦度の向上について各種加工
方法、加工条件を検討した結果、加工方法としては両面
研削盤による両面同時研削が最も有効であり、このとき
、加工量とサブストレートの平坦度との間に以下の相関
があることが判明した。
サブストレートの平坦度(μm)=ブランク平坦度×(
K/研削量(片面)) (研削量40pm−100JLmの範囲ではに=10〜
20である。) この結果より、サブストレートの平坦度を10μm以下
にするためには、40〜1007zm/片面の研削量が
必要となる。すなわち、40pm未満の研削量では目標
である10μm以下とする平坦度が得られず、また、1
100pを越えると効果は飽和し、素材費、加工コスト
の上昇につながるため好ましくない、したがって、両面
研削盤による研削量は40 = l OOg mの範囲
に限定した。なお、40〜l OOpmの研削量を得る
には#600−1000程度の砥粒によるグラインドが
適当であるが、次工程であるポリッシングで表面粗さが
問題となるため#2000〜4000の砥粒による中間
加重工程を加えるのが好ましい。
次に、研削による表面粗さをRa0.05JLm以下に
した理由を述べる。
ディスクサブストレートの粗さを小さくするには、研削
だけでは限界があるため、研磨をする必要がある。この
とき当然、研磨を行なう前の表面粗さは小さい程良いの
である。すなわち研磨前の表面粗さが小さければ研磨加
工駿が抑制でき、そのために研磨による、オレンジビー
ルや微少うねりの発生が防止でき、エッヂドロップの抑
制が可能となる。研削による表面粗さの小ささには限界
がめるが、研削による表面粗さがRaO,05pm以下
であれば、研磨の加工量は最大でも5JLm以下でよく
、工・7ヂドロツプも問題とならないため、研削による
粗さをRa0.057hm以下とした。
次に研磨剤をPH1,5〜4、研磨用微粉末を平均粒径
0,05〜5JLmとし、水系分散媒中に1〜20重量
%分散させたものとした理由について述べる。
研磨剤のpHをコントロールする理由は、研磨液による
メカノケミカル効果を高め、酸化皮膜を溶解するととも
にオレンジビールやピットノ発生を抑制するためである
・ 分散媒のpHを1.5〜4の範囲に限定したのは、以下
の理由による。すなわち、pHが1.5以下に低下する
と、分散媒の化学的なエツチング作用が増大し、アルミ
ニウム合金中に存在する結晶粒界や、金属間化合物周辺
が選択的にエツチングされるため、サブストレートの表
面品質として好ましくない。
反面pHが4以上になれば、化学的な酸化皮膜の除去効
果が低下するため、オレンジビールや変色を生じ易くな
り、表面品質、加工速度とも低下する。研磨に用いる分
散媒のpHは良好な表面品質が得られる範囲として1.
5〜4の範囲に限定した。
次いで研磨剤中に分散させる微粉末であるが、使用する
微粉末の材質及び粒径、分散濃度は加工速度、分散媒の
PH,潤滑性及び目的とする表面11さにより最適条件
を決定する必要があるのは言うまでもない。しかしなが
ら、微粉末径0.05〜5μm、分散濃度1〜20重量
%の範囲においてはアルミニウム合金のディスクサブス
トレートにおいて目的とする性能が得られたため、この
範囲に限定した。
ここで、微粉末には、 Al2O3やコロイダルシリカ
等があり分散媒にはリン酸やスルファミン酸、硝酩等が
ある。
(実施例) 第1表にしめした砥石、研磨剤及びポリッシングバット
を用い、第2表に示した条件でブランクよりサブストレ
ートを作成した。なお、ブランクはJIS5086−0
 材、 95罵/腫 φX25腸/脂 φ ×14m/
mtであり、平坦度は18〜22μmの範囲であった。
研削、及びポリシングに用いた研磨機はS/F社製両面
研磨機で、同時に10枚処理を行なった平均値で評価し
た。
第2表に示した条件で加工したサブストレートの平坦度
及び表面性状は第3表に示す通おりである。No、1〜
20が本発明に係るディスクサブストレートであり実施
例である。 No、21〜25が比較例、 N o、2
8〜30が従来例である。
本発明に係るディスクサブストレートは、平担度、粗さ
、エツジドロップ、変色、オレンジビール等に良好であ
り、磁気ディスクサブストレートとして充分に満足でき
る特性である。
比較例として示したN o、21〜24は平坦度、粗さ
、エツジドロップの点で不可であり、比較例のうちN 
o、25は特性上は良好であるが、コスト的に高くなる
ため好ましくない、 No、2Ei〜30は従来の加工
方法であり、それぞれ問題点があることが分かる。
(発明の効果) 以上説明した通おり、本発明に係る方法により製造した
ディスクサブストレートは10μmの平坦度とRaO,
015Bm以下の粗さが得られ従来にない優れた特性を
有しており、薄肉、小径化に対応でき、また高記憶密度
、他のメモリー用サブストレートとしても使用可能とな
った。
理ち比較的低コストで、生産性に優れ、優れた特性が得
られることにより、従来技術では対応できなかったユー
ザーニーズに対応することが可能となった。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 アルミ合金製のディスクサブストレートの研削・研
    磨方法において、該ディスクサブストレートの表面を両
    面研削盤により片面当り40〜100μm研削するとと
    もに、表面粗さをRa0.05μm以下にし、研削後の
    該ディスクサブストレートの表面を、pHが1.5〜4
    の水系分散媒中に、平均粒径0.05〜5μmの研磨用
    微粉末を1〜20重量%分散させた研磨剤により、片面
    当り1〜5μm研磨することを特徴とするディスクサブ
    ストレートの研削・研磨方法。
JP60237023A 1985-10-23 1985-10-23 デイスクサブストレ−トの研削・研磨方法 Pending JPS6299071A (ja)

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JP60237023A JPS6299071A (ja) 1985-10-23 1985-10-23 デイスクサブストレ−トの研削・研磨方法

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JP60237023A JPS6299071A (ja) 1985-10-23 1985-10-23 デイスクサブストレ−トの研削・研磨方法

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Publication Number Publication Date
JPS6299071A true JPS6299071A (ja) 1987-05-08

Family

ID=17009244

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JP60237023A Pending JPS6299071A (ja) 1985-10-23 1985-10-23 デイスクサブストレ−トの研削・研磨方法

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JP (1) JPS6299071A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103624657A (zh) * 2013-11-28 2014-03-12 潘刚 一种湿式镜面研磨抛光的方法
WO2015087771A1 (ja) * 2013-12-13 2015-06-18 株式会社フジミインコーポレーテッド 金属酸化物膜付き物品

Cited By (2)

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CN103624657A (zh) * 2013-11-28 2014-03-12 潘刚 一种湿式镜面研磨抛光的方法
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