JPS629602A - 電圧非直線抵抗体の製造方法 - Google Patents
電圧非直線抵抗体の製造方法Info
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- JPS629602A JPS629602A JP60149750A JP14975085A JPS629602A JP S629602 A JPS629602 A JP S629602A JP 60149750 A JP60149750 A JP 60149750A JP 14975085 A JP14975085 A JP 14975085A JP S629602 A JPS629602 A JP S629602A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は、ＺｎＯを主成分とし、これに微量の副成分
を添加した電圧非直線抵抗体、さらに詳しくは雷サージ
あるいは開閉サージを抑制するＺｎＯ型避雷器に関する
。
を添加した電圧非直線抵抗体、さらに詳しくは雷サージ
あるいは開閉サージを抑制するＺｎＯ型避雷器に関する
。
ＺｎＯを主成分として、これに副成分としてＰｒ。
Ｃｏｎ ｋ ｌＣｒ１Ｍｇ＋ Ｃａなどを化合物の形
で添加し、混合、成形、焼成することによって製造され
た焼結体は、優れた電圧非直線性を示すことが知られて
いる。上記添加物に、さらにＡ７． Ｂを添加するとサ
ージ耐量が向上することを本発明者らは特開昭５９−８
２７０２〜８２７０４号公報に開示している。 上記組成の焼結体は、径が１４鶴程度の大きさでは、通
常の乾式成形方法で、サージ耐量、高温課電特性ともに
満足する値を育している０例えば方形波インパルス放電
電流（以下開閉サージ）耐量試験では？ＯＡ／ｃｓｉ、
大電流インパルス放電電流（以下雷サージ）耐量試験で
は１００ＯＯＡ／−の特性を有している。また高温課電
試験においては、周囲温度１５０℃、課電率９５％の条
件の下に８０００時間経過した後でもバリスタ電圧ＶＩ
ＩＩＡの変化は＝１％程度であり、優れた信鯨性を有し
ている。 このように優れた特性を有する組成であるにもかかわら
ず、焼結体の直径が大きくなるにつれて、単位面積当た
りの開閉サージ耐量が低下したり、あるいは高温課電寿
命が短くなるという問題があった０本発明者らは４８φ
素子を用いて焼成密度と開閉サージ、およびＶ、。Ｉ＾
／Ｖｉｓａの関係を調べ第４図に示す関係を得た。ただ
しｖｌ。ＪＩＡ／ Ｖ ｔａｍは低電流領域の電圧非直
線性を示すもので、焼結体の両端面に付けた電極間に１
０ＩＩ＾の直流電流を流したときの電極間電圧ｖ１゜Ｉ
＾と、１■Ａの電流を流したときの電極間電圧Ｖｌｓ＾
（バリスタ電圧と呼ぶ）の比である。第４図の曲線１
は焼結密度とＶ １ａＪＩＡ／ Ｖ ＩｓＡとの関係を
示し、曲線２は開閉サージｌ０ＫＪに対する合格率を示
す、第４図の曲線ｌは焼結密度が高くなるにつれてＶ
１６＃Ａ／ Ｖ ｔｅａは向上するが、曲線２は開閉サ
ージｌ０ＫＪを印加した時の合格率は焼成密度が５．３
５〜５．４５ｇ／−の範囲になければ８０％以上の値が
得られないことを示している。 ところが最近ＺｎＯ型避雷器に対する要求は非常に厳し
く、例えば従来交流課電で課電率６０％が一般的であっ
たものが、直流課電でしかも課電率８５％にも達する要
求もなされるようになってきた。 本発明者らが行った加速寿命試験によると、課電率８５
％の直流課電で２０年以上の寿命を保証するたメニハ、
４８φ素子Ｔ！ ハＶ ＋ｓ ＪＩＡ ／ Ｖ １ｍ
ｍが０．８０以上なければならないことが判明した。従
ってｖｌ、＾／ Ｖ ＋−ａを０．８０以上に保ったま
まで、しかも開閉サージ耐量１０ＫＪを８０％以上の合
格率に保つためには第４図から焼成密度は５．４０〜５
．４５ｇ／−の範囲に管理しなければならないことがわ
かる。ところが焼成密度は、粉末の特性、成形条件、焼
成条件などによって左右されるため５．４０〜５．４５
ｇ／−の範囲に入れるのは難しく、歩留りが非常に悪か
つた。 本発明者らはこの問題を解決すべく、焼成密度。 成形密度、開閉サージ耐量の関係を詳細に検討した結果
、焼成密度を高くするためには、成形圧力を高くし成形
密度を高くしなければならず、逆に成形圧力を高くする
ほど、金型外周部へ圧力が集中し、これが開閉サージ耐
量低下の原因と推定した。 第５図は直径４８φの焼結体に１ｆｉ角の電極を１■間
隔で約５００個つけて電流１０Ａのインパルスで測定し
た時の、中心から外周へかけての電圧Ｖ 、、。 の電圧分布曲線を示したものである。第５図から明らか
に外周５〜８鶴の部分から■１゜、の低下が認められる
。この傾向は焼結体の径に関係なく、はぼ外周から５〜
１０ｍの範囲で低下が認められた。 外周部での電圧の低下する割合は、焼成密度が高いほど
大きく、これが焼成密度が高くなるにつれて開閉サージ
耐量が低下する原因と考えられる。
で添加し、混合、成形、焼成することによって製造され
た焼結体は、優れた電圧非直線性を示すことが知られて
いる。上記添加物に、さらにＡ７． Ｂを添加するとサ
ージ耐量が向上することを本発明者らは特開昭５９−８
２７０２〜８２７０４号公報に開示している。 上記組成の焼結体は、径が１４鶴程度の大きさでは、通
常の乾式成形方法で、サージ耐量、高温課電特性ともに
満足する値を育している０例えば方形波インパルス放電
電流（以下開閉サージ）耐量試験では？ＯＡ／ｃｓｉ、
大電流インパルス放電電流（以下雷サージ）耐量試験で
は１００ＯＯＡ／−の特性を有している。また高温課電
試験においては、周囲温度１５０℃、課電率９５％の条
件の下に８０００時間経過した後でもバリスタ電圧ＶＩ
ＩＩＡの変化は＝１％程度であり、優れた信鯨性を有し
ている。 このように優れた特性を有する組成であるにもかかわら
ず、焼結体の直径が大きくなるにつれて、単位面積当た
りの開閉サージ耐量が低下したり、あるいは高温課電寿
命が短くなるという問題があった０本発明者らは４８φ
素子を用いて焼成密度と開閉サージ、およびＶ、。Ｉ＾
／Ｖｉｓａの関係を調べ第４図に示す関係を得た。ただ
しｖｌ。ＪＩＡ／ Ｖ ｔａｍは低電流領域の電圧非直
線性を示すもので、焼結体の両端面に付けた電極間に１
０ＩＩ＾の直流電流を流したときの電極間電圧ｖ１゜Ｉ
＾と、１■Ａの電流を流したときの電極間電圧Ｖｌｓ＾
（バリスタ電圧と呼ぶ）の比である。第４図の曲線１
は焼結密度とＶ １ａＪＩＡ／ Ｖ ＩｓＡとの関係を
示し、曲線２は開閉サージｌ０ＫＪに対する合格率を示
す、第４図の曲線ｌは焼結密度が高くなるにつれてＶ
１６＃Ａ／ Ｖ ｔｅａは向上するが、曲線２は開閉サ
ージｌ０ＫＪを印加した時の合格率は焼成密度が５．３
５〜５．４５ｇ／−の範囲になければ８０％以上の値が
得られないことを示している。 ところが最近ＺｎＯ型避雷器に対する要求は非常に厳し
く、例えば従来交流課電で課電率６０％が一般的であっ
たものが、直流課電でしかも課電率８５％にも達する要
求もなされるようになってきた。 本発明者らが行った加速寿命試験によると、課電率８５
％の直流課電で２０年以上の寿命を保証するたメニハ、
４８φ素子Ｔ！ ハＶ ＋ｓ ＪＩＡ ／ Ｖ １ｍ
ｍが０．８０以上なければならないことが判明した。従
ってｖｌ、＾／ Ｖ ＋−ａを０．８０以上に保ったま
まで、しかも開閉サージ耐量１０ＫＪを８０％以上の合
格率に保つためには第４図から焼成密度は５．４０〜５
．４５ｇ／−の範囲に管理しなければならないことがわ
かる。ところが焼成密度は、粉末の特性、成形条件、焼
成条件などによって左右されるため５．４０〜５．４５
ｇ／−の範囲に入れるのは難しく、歩留りが非常に悪か
つた。 本発明者らはこの問題を解決すべく、焼成密度。 成形密度、開閉サージ耐量の関係を詳細に検討した結果
、焼成密度を高くするためには、成形圧力を高くし成形
密度を高くしなければならず、逆に成形圧力を高くする
ほど、金型外周部へ圧力が集中し、これが開閉サージ耐
量低下の原因と推定した。 第５図は直径４８φの焼結体に１ｆｉ角の電極を１■間
隔で約５００個つけて電流１０Ａのインパルスで測定し
た時の、中心から外周へかけての電圧Ｖ 、、。 の電圧分布曲線を示したものである。第５図から明らか
に外周５〜８鶴の部分から■１゜、の低下が認められる
。この傾向は焼結体の径に関係なく、はぼ外周から５〜
１０ｍの範囲で低下が認められた。 外周部での電圧の低下する割合は、焼成密度が高いほど
大きく、これが焼成密度が高くなるにつれて開閉サージ
耐量が低下する原因と考えられる。
本発明は上述の点に鑑みてなされたものであり、その目
的はＺｎＯ電圧非直線抵抗体を製造する際に、成形時の
圧力分布の不均一さによって生じる電圧の外周部での低
下を防止し、■、。Ｉ＾／Ｖ＋−ａを０．８０
’以上に保ったままで、開閉サージ耐量を向上させ
ることができる製造方法を提供することにある。
的はＺｎＯ電圧非直線抵抗体を製造する際に、成形時の
圧力分布の不均一さによって生じる電圧の外周部での低
下を防止し、■、。Ｉ＾／Ｖ＋−ａを０．８０
’以上に保ったままで、開閉サージ耐量を向上させ
ることができる製造方法を提供することにある。
本発明は成形時の外周部への圧力集中によって起こる粒
成長を、外周部の添加物の添加量を変えることによりて
抑制することにある。その方法として、 ３．１工□□□。あ、。１ｏ□０．１ ぺ外周部は少なくする。 （２）粒成長抑制作用のある添加物の量を内部に比べ外
周部は多くする。 ことにより高い焼成密度の場合でも外周部の電圧分布が
高い特性を有する焼結体、すなわちＶＩＩＩＪＩＡ／
Ｖ ｌ−ａが高くしかも開閉サージ耐量の大きなＺｎＯ
型電圧非直線抵抗体を得るようにしたものである。
成長を、外周部の添加物の添加量を変えることによりて
抑制することにある。その方法として、 ３．１工□□□。あ、。１ｏ□０．１ ぺ外周部は少なくする。 （２）粒成長抑制作用のある添加物の量を内部に比べ外
周部は多くする。 ことにより高い焼成密度の場合でも外周部の電圧分布が
高い特性を有する焼結体、すなわちＶＩＩＩＪＩＡ／
Ｖ ｌ−ａが高くしかも開閉サージ耐量の大きなＺｎＯ
型電圧非直線抵抗体を得るようにしたものである。
以下本発明を実施例に従って説明する。ただし実施例１
と実施例２は粒成長促進作用のある添加物の量を焼結体
の内部より外周部の方を少なくした例であり、実施例３
は粒成長抑制作用のある添加物の量を内部に比べ外周部
を多（した例である。 実施例１： まずＺｎＯを主成分とし、これに副成分としＰｒ。 Ｃｏ、 ｋ、 Ｃｒ、 Ｍｇ＋ Ｃａｔ ｋｌなどを
所定量添加し、さらにＢを１００ａｔ■ｐｐ−添加した
ものに有機バインダを加えボールミルにより湿式混合し
、スラリー化する。このスラリーをスプレードライヤを
用いて噴霧乾燥し、球状の造粒粉を作製し、これを第１
の造粒粉とする０次いで上述した添加物のうち、粒成長
促進作用のあるＢを除いた添加物を含む組成から得られ
た造粒粉を第２の造粒粉とする。 直径６０鶴φの円板状成形体を作製するに当たり、適当
な治具を用い、第１図に示す成形体の断面図のように中
心部がＢを含む第１の造粒粉３、外周部が第２の造粒粉
４からなるようにこれら造粒粉を金型に充填するが、こ
のとき外周部の径方向の厚さはＩｏｎ 、中心部の直径
は４０鶴すとした。各造粒粉を金型に充填した後、種々
の焼成密度の焼結体が得られるように、圧力を変化させ
ながら多数の成形体を作製した。焼成後、焼結体の両端
面を研摩し電極を付は素子特性を評価した。また１ｍ角
の電極を約５００個付けた素子も作製し、これを電圧分
布の評価用素子とした。 第２図＋４は得られた素子の焼成密度とＶ、。Ｉ＾／Ｖ
、、４との関係、第２図中）は焼成密度と開閉サージ耐
量の関係をプロットしたものであり、＋１１）、（ｂ）
両図とも比較のため従来方法の特性も再び示しである。 第２図（ａ）において実線曲線５が本発明８点線白線６
は従来の方法を表わし、第２図中）では実線曲線７が本
発明１点線曲線８は従来の方法を表わしている。第２図
中）の曲ｍ７から明らかなように、本発明の方法では、
成形圧力を高くし、焼成密度を高くしても従来法に比べ
て開閉サージは高いレベルを維持することができる。こ
のため第２図（ａ＋のようにｖｌｐ＾／Ｖ＋ａｍも本発
明の方が従来法より０．８０以上の特性を幅広い焼成密
度の範囲にわたりて得ることができる。 第３図は１鶴角の微少電極に電流１０Ａのインパルスを
流した時の電圧Ｖｌｏ＾の中心から径方向への位置によ
る変化を示したものであり、この場合も比較のため従来
方法のものを再掲しである。第３図における実線曲ｍ９
が本発明９点線曲線ｌＯが従来方法の場合である。第３
図から焼結体のｖｌ、１の分布状態を従来方法と比較す
ると外周部でＶ １１１１１値は曲ｗＡ９の方が明らか
に曲線１０より高く、本発明の有効性がはっきりと分か
る。 本実施例では、第１の造粒粉中のＢの量は１００ａｔｅ
ｐｐｍ第２の造粒粉中のＢの量はＯａｔｍｐｐｇｅと
したが、Ｂはこの量に限ることなく要するに成形時の圧
力集中によって生じる外周部の電圧の低下を抑制できる
範囲であれば良い０例えば第１の造粒粉中ＯＢの量が１
１００ａｔ ｐｐｓ＋で、第２の造粒粉中のＢの量が６
０ａ を−ｐｐｍでも、本発明の効果は十分認められる
。 実施例２： 実施例１におけるＢの代わりに、Ｂｉを２００ａｔｍｐ
ｐ−添加した組成から得られた造粒粉を第１の造粒粉と
した。また実施例１と同様Ｂｉ無添加の組成から得られ
た造粒粉を第２の造粒粉とした。この二種の造粒粉を用
いて実施例１と同様な実験を行ない第２図とほぼ同様な
結果を得ることができた。 実施例３： ＺｎＱを主成分とし、これに副成分としてＰｒ、 Ｃａ
ｔに、 Ｃｒ、 Ｍｇ、 Ｃａ、 ｋｌを含む組成から
得られた造粒粉を第１の造粒粉とする。上記組成におい
てＰｒの添加量が第１の造粒粉の１．２倍以上である組
成からなる造粒粉を第２の造粒粉とした。この二種の造
粒粉を用い、実施例１に示すのと同様の実験を行なった
。この結果得られた焼結体はほぼ第２図と同様な結果を
得ることができた。 本実施例では示さなかったが、上記添加物の他に、粒成
長を抑制する添加物Ｓｄ＋ Ｓｉｎ Ｃｒなどを外周部
の方が内部より多（添加することによっても本発明の効
果は認められることを本発明者らは確認している。 実施例ではＺｎ０−ＰｒｂＯ□系バリスタについて述べ
たが、本発明はこれに限らず、例えばＺｎＯ−ＢｉｌＯ
ｓ系、 ＺｎＯ−ＰｂＯ系バリスタでも有効であること
は自明である。
と実施例２は粒成長促進作用のある添加物の量を焼結体
の内部より外周部の方を少なくした例であり、実施例３
は粒成長抑制作用のある添加物の量を内部に比べ外周部
を多（した例である。 実施例１： まずＺｎＯを主成分とし、これに副成分としＰｒ。 Ｃｏ、 ｋ、 Ｃｒ、 Ｍｇ＋ Ｃａｔ ｋｌなどを
所定量添加し、さらにＢを１００ａｔ■ｐｐ−添加した
ものに有機バインダを加えボールミルにより湿式混合し
、スラリー化する。このスラリーをスプレードライヤを
用いて噴霧乾燥し、球状の造粒粉を作製し、これを第１
の造粒粉とする０次いで上述した添加物のうち、粒成長
促進作用のあるＢを除いた添加物を含む組成から得られ
た造粒粉を第２の造粒粉とする。 直径６０鶴φの円板状成形体を作製するに当たり、適当
な治具を用い、第１図に示す成形体の断面図のように中
心部がＢを含む第１の造粒粉３、外周部が第２の造粒粉
４からなるようにこれら造粒粉を金型に充填するが、こ
のとき外周部の径方向の厚さはＩｏｎ 、中心部の直径
は４０鶴すとした。各造粒粉を金型に充填した後、種々
の焼成密度の焼結体が得られるように、圧力を変化させ
ながら多数の成形体を作製した。焼成後、焼結体の両端
面を研摩し電極を付は素子特性を評価した。また１ｍ角
の電極を約５００個付けた素子も作製し、これを電圧分
布の評価用素子とした。 第２図＋４は得られた素子の焼成密度とＶ、。Ｉ＾／Ｖ
、、４との関係、第２図中）は焼成密度と開閉サージ耐
量の関係をプロットしたものであり、＋１１）、（ｂ）
両図とも比較のため従来方法の特性も再び示しである。 第２図（ａ）において実線曲線５が本発明８点線白線６
は従来の方法を表わし、第２図中）では実線曲線７が本
発明１点線曲線８は従来の方法を表わしている。第２図
中）の曲ｍ７から明らかなように、本発明の方法では、
成形圧力を高くし、焼成密度を高くしても従来法に比べ
て開閉サージは高いレベルを維持することができる。こ
のため第２図（ａ＋のようにｖｌｐ＾／Ｖ＋ａｍも本発
明の方が従来法より０．８０以上の特性を幅広い焼成密
度の範囲にわたりて得ることができる。 第３図は１鶴角の微少電極に電流１０Ａのインパルスを
流した時の電圧Ｖｌｏ＾の中心から径方向への位置によ
る変化を示したものであり、この場合も比較のため従来
方法のものを再掲しである。第３図における実線曲ｍ９
が本発明９点線曲線ｌＯが従来方法の場合である。第３
図から焼結体のｖｌ、１の分布状態を従来方法と比較す
ると外周部でＶ １１１１１値は曲ｗＡ９の方が明らか
に曲線１０より高く、本発明の有効性がはっきりと分か
る。 本実施例では、第１の造粒粉中のＢの量は１００ａｔｅ
ｐｐｍ第２の造粒粉中のＢの量はＯａｔｍｐｐｇｅと
したが、Ｂはこの量に限ることなく要するに成形時の圧
力集中によって生じる外周部の電圧の低下を抑制できる
範囲であれば良い０例えば第１の造粒粉中ＯＢの量が１
１００ａｔ ｐｐｓ＋で、第２の造粒粉中のＢの量が６
０ａ を−ｐｐｍでも、本発明の効果は十分認められる
。 実施例２： 実施例１におけるＢの代わりに、Ｂｉを２００ａｔｍｐ
ｐ−添加した組成から得られた造粒粉を第１の造粒粉と
した。また実施例１と同様Ｂｉ無添加の組成から得られ
た造粒粉を第２の造粒粉とした。この二種の造粒粉を用
いて実施例１と同様な実験を行ない第２図とほぼ同様な
結果を得ることができた。 実施例３： ＺｎＱを主成分とし、これに副成分としてＰｒ、 Ｃａ
ｔに、 Ｃｒ、 Ｍｇ、 Ｃａ、 ｋｌを含む組成から
得られた造粒粉を第１の造粒粉とする。上記組成におい
てＰｒの添加量が第１の造粒粉の１．２倍以上である組
成からなる造粒粉を第２の造粒粉とした。この二種の造
粒粉を用い、実施例１に示すのと同様の実験を行なった
。この結果得られた焼結体はほぼ第２図と同様な結果を
得ることができた。 本実施例では示さなかったが、上記添加物の他に、粒成
長を抑制する添加物Ｓｄ＋ Ｓｉｎ Ｃｒなどを外周部
の方が内部より多（添加することによっても本発明の効
果は認められることを本発明者らは確認している。 実施例ではＺｎ０−ＰｒｂＯ□系バリスタについて述べ
たが、本発明はこれに限らず、例えばＺｎＯ−ＢｉｌＯ
ｓ系、 ＺｎＯ−ＰｂＯ系バリスタでも有効であること
は自明である。
本発明によれば、実施例で説明したように二種類の造粒
粉を用いて円板状成形体の外周から５〜１０ｍのドーナ
ツ状の部分の粒成長を内部に比べ抑制することにより、
周辺部が電圧低下をすることを防止し、このために成形
圧力を上げ焼成密度を高めても開閉サージ耐量を高いレ
ベルに維持することが可能となった。従って焼成密度が
高い方が良い特性を示すＶ ｌ＠＃Ａ／ Ｖ ＋ｍａも
良好な値の素子が得られるようになった。この結果直流
課電１課電率８５％といった過酷な条件で使用される素
子の開発に成功した。
粉を用いて円板状成形体の外周から５〜１０ｍのドーナ
ツ状の部分の粒成長を内部に比べ抑制することにより、
周辺部が電圧低下をすることを防止し、このために成形
圧力を上げ焼成密度を高めても開閉サージ耐量を高いレ
ベルに維持することが可能となった。従って焼成密度が
高い方が良い特性を示すＶ ｌ＠＃Ａ／ Ｖ ＋ｍａも
良好な値の素子が得られるようになった。この結果直流
課電１課電率８５％といった過酷な条件で使用される素
子の開発に成功した。
第１図は本発明による成形体の断面図、第２図は焼成密
度とＶ ＋ｅｊ’Ａ／ Ｖ ｌｓＡ １開閉４）−シ１
０ＫＪ（１）合格率との関係を本発明の方法と従来法と
の比較で示した線図、第３図は１■角の微少電極によっ
て測定した本発明による焼結体と従来のものとのｖｌ。 １の分布状態の比較線図、第４図は従来素子の焼成密度
とＶ、。Ｓ入／ Ｖ ｌｓＡ ｌ開閉サージｌ０ＫＪの
合格率の関係線図、第５図は従来素子のｌ鶴角の微少電
極によって測定したＶｌ＠Ａの分布状態を示した線図で
ある。 ３：第１の造粒粉、４：第２の造粒粉。 ′工゛π人／Ｆｉｘ上 山 口 員゛６第１図 （Ｑ） ＩＬＫ 領ｊｔｔＣ９１ｃｒｒ？）（ｂ）
ＫＮＮ超超９７ｃｍ 第２図 中ベーカ・ら、）コト島１（ｍｍ） 第３図 燵入忠崖（（２／ｃｍ ） ヤ曵°＃８＃躇高製＜ｍｍ）
度とＶ ＋ｅｊ’Ａ／ Ｖ ｌｓＡ １開閉４）−シ１
０ＫＪ（１）合格率との関係を本発明の方法と従来法と
の比較で示した線図、第３図は１■角の微少電極によっ
て測定した本発明による焼結体と従来のものとのｖｌ。 １の分布状態の比較線図、第４図は従来素子の焼成密度
とＶ、。Ｓ入／ Ｖ ｌｓＡ ｌ開閉サージｌ０ＫＪの
合格率の関係線図、第５図は従来素子のｌ鶴角の微少電
極によって測定したＶｌ＠Ａの分布状態を示した線図で
ある。 ３：第１の造粒粉、４：第２の造粒粉。 ′工゛π人／Ｆｉｘ上 山 口 員゛６第１図 （Ｑ） ＩＬＫ 領ｊｔｔＣ９１ｃｒｒ？）（ｂ）
ＫＮＮ超超９７ｃｍ 第２図 中ベーカ・ら、）コト島１（ｍｍ） 第３図 燵入忠崖（（２／ｃｍ ） ヤ曵°＃８＃躇高製＜ｍｍ）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）ＺｎＯを主成分とし、微量の副成分を添加、混合、
成形、焼成してなる電圧非直線抵抗体の円板状成形体を
製造する際に、該成形体の外周部の方が円部より粒成長
促進作用のある添加物の量を少なく、もしくは外周部の
方が内部より粒成長抑制作用のある添加物の量を多くす
ることを特徴とする電圧非直線抵抗体の製造方法。 ２）特許請求の範囲第１項記載の方法において、粒成長
促進作用のある添加物としてＢ、Ｂｉのいずれかまたは
その化合物を用いることを特徴とする電圧非直線抵抗体
の製造方法。 ３）特許請求の範囲第１項記載の方法において、粒成長
抑制作用のある添加物としてＰｒ、Ｓｂ、Ｓｉ、Ｃｒの
うちのいずれか一種またはその化合物を用いることを特
徴とする電圧非直線抵抗体の製造方法。 ４）特許請求の範囲第１項ないし第３項のいずれかに記
載の方法において、外周部の半径方向の厚さが、焼結後
に５〜１０ｍｍとなることを特徴とする電圧非直線抵抗
体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60149750A JPS629602A (ja) | 1985-07-08 | 1985-07-08 | 電圧非直線抵抗体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60149750A JPS629602A (ja) | 1985-07-08 | 1985-07-08 | 電圧非直線抵抗体の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS629602A true JPS629602A (ja) | 1987-01-17 |
Family
ID=15481937
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60149750A Pending JPS629602A (ja) | 1985-07-08 | 1985-07-08 | 電圧非直線抵抗体の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS629602A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0348401A (ja) * | 1989-07-17 | 1991-03-01 | Ngk Insulators Ltd | 電圧非直線抵抗体の製造方法 |
| JP2019165103A (ja) * | 2018-03-20 | 2019-09-26 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 積層バリスタ |
-
1985
- 1985-07-08 JP JP60149750A patent/JPS629602A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0348401A (ja) * | 1989-07-17 | 1991-03-01 | Ngk Insulators Ltd | 電圧非直線抵抗体の製造方法 |
| JP2019165103A (ja) * | 2018-03-20 | 2019-09-26 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 積層バリスタ |
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