JPS6286517A - 磁気ヘツドの製造方法 - Google Patents
磁気ヘツドの製造方法Info
- Publication number
- JPS6286517A JPS6286517A JP22738085A JP22738085A JPS6286517A JP S6286517 A JPS6286517 A JP S6286517A JP 22738085 A JP22738085 A JP 22738085A JP 22738085 A JP22738085 A JP 22738085A JP S6286517 A JPS6286517 A JP S6286517A
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- JP
- Japan
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- high permeability
- magnetic layer
- magnetic
- permeability magnetic
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁気ヘッドの製造方法に関する。
本発明は、基板上に下部保護層、下部高透磁率磁性層、
絶縁層、導電体層、上部高透磁率磁性層および上部保護
層を積層することくよって成る磁気ヘッドで上下高透磁
率磁性層の少なくともどちらか一方がギャップ近傍で他
の部分より意図的に薄くしてある構造のものをリフトオ
フ法とイオンエツチング法を併用することによって高透
磁率磁性層を単層で形成することにより、高透磁率磁性
層の畠気特注の向上、高透磁率磁性層のバターニング形
状の改善およびa遣方法のlH1縮7&:実現したもの
である。
絶縁層、導電体層、上部高透磁率磁性層および上部保護
層を積層することくよって成る磁気ヘッドで上下高透磁
率磁性層の少なくともどちらか一方がギャップ近傍で他
の部分より意図的に薄くしてある構造のものをリフトオ
フ法とイオンエツチング法を併用することによって高透
磁率磁性層を単層で形成することにより、高透磁率磁性
層の畠気特注の向上、高透磁率磁性層のバターニング形
状の改善およびa遣方法のlH1縮7&:実現したもの
である。
従来、基板上に下部保護層、下部高透磁率磁性層、絶縁
層、導電体j―、上部高透磁率磁性1%!および上部保
護層を積層する仁とによって成る磁気ヘッドで上下高透
磁率磁性層の少なくともどちらか一方がギャップ近傍で
他の部分より意図的に薄くしてある構造のものの高透磁
率磁性層のパターニング方法は例えば第2図の様であっ
た1本発明でき及するような構造のi気ヘノドでは磁気
飽和しに〈〈かり発生磁界が急峻になるべく高透磁率磁
性層はギャップ近傍では薄くその他部分では厚くなりて
^る。そのため高透磁率磁性層は第2図に示Tようにリ
フトオフ法によって上下高透磁率磁性層を各々少なくと
も二層以上に分けて形成していた。
層、導電体j―、上部高透磁率磁性1%!および上部保
護層を積層する仁とによって成る磁気ヘッドで上下高透
磁率磁性層の少なくともどちらか一方がギャップ近傍で
他の部分より意図的に薄くしてある構造のものの高透磁
率磁性層のパターニング方法は例えば第2図の様であっ
た1本発明でき及するような構造のi気ヘノドでは磁気
飽和しに〈〈かり発生磁界が急峻になるべく高透磁率磁
性層はギャップ近傍では薄くその他部分では厚くなりて
^る。そのため高透磁率磁性層は第2図に示Tようにリ
フトオフ法によって上下高透磁率磁性層を各々少なくと
も二層以上に分けて形成していた。
〔発明が解決しようとする問題点および目的〕しかし、
前述の従来技術では上下高透磁率磁性層の少なくともい
ずれか一方が二層膜以上になっているため製造方法は必
ずしも簡略ではなく、また同じ厚さを有する単/if膜
に比べて透−率等の磁気特性が劣るという問題点を有す
る。更に高透磁率磁性層のパターニングをリフトオフ法
による場合、第3図のようにパターンのエツジに突起物
があるという問題点を有する。
前述の従来技術では上下高透磁率磁性層の少なくともい
ずれか一方が二層膜以上になっているため製造方法は必
ずしも簡略ではなく、また同じ厚さを有する単/if膜
に比べて透−率等の磁気特性が劣るという問題点を有す
る。更に高透磁率磁性層のパターニングをリフトオフ法
による場合、第3図のようにパターンのエツジに突起物
があるという問題点を有する。
そこで本発明はこのような問題点を解決するもので、そ
の目的とするところは基板上に下部保饅層、下部高速f
fi率磁性層、絶縁層、導電体層、上部高透磁率磁性層
および上部床rjjI−を積層することによって成る磁
気ヘッドにおいて製造に安する時間を短縮し、同時に上
下各磁性層の磁気特性の向上およびe&性層パターニン
グ形状の改善を興現する製造方法を提供することにある
。
の目的とするところは基板上に下部保饅層、下部高速f
fi率磁性層、絶縁層、導電体層、上部高透磁率磁性層
および上部床rjjI−を積層することによって成る磁
気ヘッドにおいて製造に安する時間を短縮し、同時に上
下各磁性層の磁気特性の向上およびe&性層パターニン
グ形状の改善を興現する製造方法を提供することにある
。
本発明の磁気ヘッドの製造方法は、基板上に下部保護層
、下部高透磁率磁性層、絶縁層、導電体層、上部高透磁
性層および上部保護層を積層することによって成る磁気
ヘッドで上下高透磁率磁性層の少なくともどちらか一方
がギャップ近傍では意図的に薄くなってiる嘴造のもの
をリフトオフ法とイオンエツチング法を併用することに
上り高透磁率m性層を導層で形成することを特徴とする
。
、下部高透磁率磁性層、絶縁層、導電体層、上部高透磁
性層および上部保護層を積層することによって成る磁気
ヘッドで上下高透磁率磁性層の少なくともどちらか一方
がギャップ近傍では意図的に薄くなってiる嘴造のもの
をリフトオフ法とイオンエツチング法を併用することに
上り高透磁率m性層を導層で形成することを特徴とする
。
第1図は本発明の実施例における下隅透磁率磁性層の形
成方法の概略図である。まず基板上に下保護層が形成さ
れているものの上に所望形状部分以外を憶うようにレジ
ストパターンを形成する。
成方法の概略図である。まず基板上に下保護層が形成さ
れているものの上に所望形状部分以外を憶うようにレジ
ストパターンを形成する。
次にリフトオフ法により、高透磁率VB磁性層形成する
1次に形成した高透磁率磁性層上にギャップ付近である
先端部だけがエツチングされるように、先端部以外を覆
うようなレジストパターンを形成する。これをイオンエ
ツチングによってエラチンブレ、レジストを剥離するこ
とによって下部高透磁率a性1−の形成は完了する1以
上率実施例によれば、高透磁率磁性層の透磁率は従来の
2層のものに比べて高くなっている。その測定結果を第
4図に示す、またこの方法で高透磁率磁性層を形成する
と一3図のような突起物は見られない。
1次に形成した高透磁率磁性層上にギャップ付近である
先端部だけがエツチングされるように、先端部以外を覆
うようなレジストパターンを形成する。これをイオンエ
ツチングによってエラチンブレ、レジストを剥離するこ
とによって下部高透磁率a性1−の形成は完了する1以
上率実施例によれば、高透磁率磁性層の透磁率は従来の
2層のものに比べて高くなっている。その測定結果を第
4図に示す、またこの方法で高透磁率磁性層を形成する
と一3図のような突起物は見られない。
また従来のようにす7トオフ法で2層形成する場合と本
実施列で快する時間を比較すると、リフトオフ法の工程
中、2層目をスパッタする為に減圧する時間が短縮され
るというメリットがある。
実施列で快する時間を比較すると、リフトオフ法の工程
中、2層目をスパッタする為に減圧する時間が短縮され
るというメリットがある。
以上は下隅透磁率磁性層の形成についての実施例である
が、上高透磁率−切層も同徐にして形成できる。
が、上高透磁率−切層も同徐にして形成できる。
以上述べたように発明によれば、高透磁率磁性層をリフ
トオフ法とイオンエツチング法を併用し単増で形成する
ことによって、磁性層の透磁率は向上しそ■バターニン
グ形状は改善され、また磁気ヘッド製造に安する時間は
短縮される。
トオフ法とイオンエツチング法を併用し単増で形成する
ことによって、磁性層の透磁率は向上しそ■バターニン
グ形状は改善され、また磁気ヘッド製造に安する時間は
短縮される。
第1図(α)〜ωは実施例による下部高透磁率磁性層の
形成方法の工程図。 第2図G)〜ωはリフトオフ法による下部高透磁率磁性
層の形成方法の工程図。 #に3図はリフトオフ法でパターニングした場合に見ら
れる突起物の図。 第4図Fie層および2 t*のCoZyNb の透
磁率の周波数特性図。 1・・基板 2−・下部保護1曽 3・・レジスト 4・・高透磁率磁性層5・・突起物 以上
形成方法の工程図。 第2図G)〜ωはリフトオフ法による下部高透磁率磁性
層の形成方法の工程図。 #に3図はリフトオフ法でパターニングした場合に見ら
れる突起物の図。 第4図Fie層および2 t*のCoZyNb の透
磁率の周波数特性図。 1・・基板 2−・下部保護1曽 3・・レジスト 4・・高透磁率磁性層5・・突起物 以上
Claims (1)
- 基板上に下部保護層、下部高透磁率磁性層、絶縁層、導
電体層、上部高透磁率磁性層および上部保護層を積層す
ることによって成る磁気ヘッドで上下高透磁率磁性層の
少なくともどちらか一方がギャップ近傍で他の部分より
意図的に薄くしてある構造のものをリフトオフ法とイオ
ンエッチング法を併用して高透磁率磁性層を単層で形成
することを特徴とする磁気ヘッドの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22738085A JPS6286517A (ja) | 1985-10-11 | 1985-10-11 | 磁気ヘツドの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22738085A JPS6286517A (ja) | 1985-10-11 | 1985-10-11 | 磁気ヘツドの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6286517A true JPS6286517A (ja) | 1987-04-21 |
Family
ID=16859900
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22738085A Pending JPS6286517A (ja) | 1985-10-11 | 1985-10-11 | 磁気ヘツドの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6286517A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0348230A2 (en) * | 1988-06-23 | 1989-12-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Process for producing thin film magnetic head |
-
1985
- 1985-10-11 JP JP22738085A patent/JPS6286517A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0348230A2 (en) * | 1988-06-23 | 1989-12-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Process for producing thin film magnetic head |
JPH025213A (ja) * | 1988-06-23 | 1990-01-10 | Sharp Corp | 薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
JP2501873B2 (ja) * | 1988-06-23 | 1996-05-29 | シャープ株式会社 | 薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
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