JPS6269554A - 半導体装置 - Google Patents
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- JPS6269554A JPS6269554A JP60209749A JP20974985A JPS6269554A JP S6269554 A JPS6269554 A JP S6269554A JP 60209749 A JP60209749 A JP 60209749A JP 20974985 A JP20974985 A JP 20974985A JP S6269554 A JPS6269554 A JP S6269554A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「発明の利用分野」
この発明は、アクティブマトリックス方式による表示パ
ネル好ましくは液晶表示パネルを設けることにより、マ
イクロコンピュータ、ワードプロセッサまたはテレビ等
の表示部の固体化を図る半導体装置に関するものである
。
ネル好ましくは液晶表示パネルを設けることにより、マ
イクロコンピュータ、ワードプロセッサまたはテレビ等
の表示部の固体化を図る半導体装置に関するものである
。
この発明は、かかる固体表示装置を同一基板に一体化せ
しめ、ライトペン等を用いて光軌跡入力せしめ、マトリ
ックス配列した光検出装置により手書き文字等を検出せ
しめたパターン書き込みを行う固体書き込み装置に関す
る。
しめ、ライトペン等を用いて光軌跡入力せしめ、マトリ
ックス配列した光検出装置により手書き文字等を検出せ
しめたパターン書き込みを行う固体書き込み装置に関す
る。
「従来の技術」
固体表示パネルは各絵素を独立に制御する方式が大面積
用として有効である。このようなアクティブ素子を用い
たパネルとして、1つの絶縁ゲイト型電界効果半導体装
1f(tcpという)とそれに直列に連結した液晶素子
とよりなるl絵素を構成せしめ、これをX、Y配線に連
結したマトリックス構成よりなるものがある。
用として有効である。このようなアクティブ素子を用い
たパネルとして、1つの絶縁ゲイト型電界効果半導体装
1f(tcpという)とそれに直列に連結した液晶素子
とよりなるl絵素を構成せしめ、これをX、Y配線に連
結したマトリックス構成よりなるものがある。
また、固体書き込み装置としては文字等の筆圧による圧
力センサを平面に具備する感圧式手書き装置よりなるも
のがある。
力センサを平面に具備する感圧式手書き装置よりなるも
のがある。
「発明が解決しようとする問題点−1
しかし、このTGFを用いた表示パネルにおいて、その
重合わせを伴う製造プロセスに必要なフォトマスク数は
6〜8枚もなり、そのため製造歩留りが低くなってしま
うことが予想される。
重合わせを伴う製造プロセスに必要なフォトマスク数は
6〜8枚もなり、そのため製造歩留りが低くなってしま
うことが予想される。
加えて、従来公知の感圧式の書き込み装置においては、
その圧力に対し信号検出が人の書き込み筆圧のバラツキ
により微妙である。また応答速度が遅い。加えて、この
基板側に絶えず局部圧力を加えるため基板側の疲労によ
る破fJ4がみられ、高い信軟性を期待し得ない。さら
に、この固体表示素子と感圧書き込みを一体化−1んと
すると、書き込みの筆圧がその下面に設けられている液
晶にも加わり、結果として液晶自体の疲労または液晶の
上下電極間に揺らぎが生ずることによる液晶の表示コン
トラストのバラツキが発生ずる等の大きな信頼性低下の
要因を本質的に内在している。
その圧力に対し信号検出が人の書き込み筆圧のバラツキ
により微妙である。また応答速度が遅い。加えて、この
基板側に絶えず局部圧力を加えるため基板側の疲労によ
る破fJ4がみられ、高い信軟性を期待し得ない。さら
に、この固体表示素子と感圧書き込みを一体化−1んと
すると、書き込みの筆圧がその下面に設けられている液
晶にも加わり、結果として液晶自体の疲労または液晶の
上下電極間に揺らぎが生ずることによる液晶の表示コン
トラストのバラツキが発生ずる等の大きな信頼性低下の
要因を本質的に内在している。
「問題を解決するだめの手段」
本発明はかかる問題を解決するため、アクティブ素子を
制御する系としてIGFを用いず、非線型素子としてア
モルファス半導体等の水素またはハロゲン元素が添加さ
れた非単結晶半導体よりなる複合ダイオードを用いたこ
とを主としている。本発明は本発明人による特許側(特
願昭59−189182昭和59年9月10日)を更に
改定したものである。
制御する系としてIGFを用いず、非線型素子としてア
モルファス半導体等の水素またはハロゲン元素が添加さ
れた非単結晶半導体よりなる複合ダイオードを用いたこ
とを主としている。本発明は本発明人による特許側(特
願昭59−189182昭和59年9月10日)を更に
改定したものである。
本発明はこのフォトマスク数を6〜8枚より3枚(1回
の精密重合わ廿)とすることにより、その製造歩留りの
向上を図らんとするものである。
の精密重合わ廿)とすることにより、その製造歩留りの
向上を図らんとするものである。
そして固体表示装置に設けられた光検出素子(フォトト
ランジスタまたはフォトセンサともいう)に対し液晶側
より光信号を与えんとしたものである。その結果、この
光検出素子と固体表示装置に連結する非線型素子とを同
時に設け、またこの2つの素子が基板側より上方に林立
し、その一部の素子が破壊することがないようその側周
辺特にその中挟の面に対し絶縁物好ましくは有機樹脂で
補強して設けたものである。
ランジスタまたはフォトセンサともいう)に対し液晶側
より光信号を与えんとしたものである。その結果、この
光検出素子と固体表示装置に連結する非線型素子とを同
時に設け、またこの2つの素子が基板側より上方に林立
し、その一部の素子が破壊することがないようその側周
辺特にその中挟の面に対し絶縁物好ましくは有機樹脂で
補強して設けたものである。
さらにこの絶縁物を設けることにより、非線型素子に連
結する画素の一方の電極および光検出素子の光検出面(
受光面)側をも滑らかに連結するまたは概略同一面とし
て設けたものである。
結する画素の一方の電極および光検出素子の光検出面(
受光面)側をも滑らかに連結するまたは概略同一面とし
て設けたものである。
かかる本発明に用いる非線形素子及び光検出素子は、1
つのPIN接合とその−L下にコンタク]・を有する電
極より構成されるダイオードを複数個用いるのではなく
、一対のそれぞれの電極とはオーム接触性を有するが、
逆向整流特性を構成する複合ダイオード構成の素子より
なるもので、その代表例は、N型半導体−I型(以下真
性または実質的に真性という)半導体−N型半導体を積
層して設けたNIN構造、即ちNl接合とIN接合とが
電気的に逆向きに連結され、かつ半導体として一体化し
たNIN接合を有する半導体をはじめ、その変形でであ
るNN−N、 NP−N、 PIP、 PP−P、 P
N−P、 NTPINまたはPTNIP接合構造を有せ
しめた複合ダイオードである。
つのPIN接合とその−L下にコンタク]・を有する電
極より構成されるダイオードを複数個用いるのではなく
、一対のそれぞれの電極とはオーム接触性を有するが、
逆向整流特性を構成する複合ダイオード構成の素子より
なるもので、その代表例は、N型半導体−I型(以下真
性または実質的に真性という)半導体−N型半導体を積
層して設けたNIN構造、即ちNl接合とIN接合とが
電気的に逆向きに連結され、かつ半導体として一体化し
たNIN接合を有する半導体をはじめ、その変形でであ
るNN−N、 NP−N、 PIP、 PP−P、 P
N−P、 NTPINまたはPTNIP接合構造を有せ
しめた複合ダイオードである。
かかる複合ダイオ−I′ば、ダイオード特性を互いに逆
向きに相対せしめ、そのビルドイン(立ち上がり)電圧
(しきい値)はNl接合のN型半導体と■型半導体との
差(第4図(41L (42))で決め得る。
向きに相対せしめ、そのビルドイン(立ち上がり)電圧
(しきい値)はNl接合のN型半導体と■型半導体との
差(第4図(41L (42))で決め得る。
さらにこの非線型素子(NIN接合ともいう)を有する
半導体は、同様に光検出素子(フォトセンサともいう)
としても併用させ得る。このためこのフォトセンサは同
じ基板上の光検出素子に用いられる非線型素子の遮光用
の金属電極を除去し、その下側には半導体に密接してク
ロム−シリサイド等の非酸化物透光性導電膜を界面での
信顛性向上用に設ける工程を加えるのみである。
半導体は、同様に光検出素子(フォトセンサともいう)
としても併用させ得る。このためこのフォトセンサは同
じ基板上の光検出素子に用いられる非線型素子の遮光用
の金属電極を除去し、その下側には半導体に密接してク
ロム−シリサイド等の非酸化物透光性導電膜を界面での
信顛性向上用に設ける工程を加えるのみである。
さらに本発明は、そのディバイス構造としてそれぞれの
素子を少数同一基板に併設することも可能である。しか
しその最も効果的な構成は1つの大きな基板にマトリッ
クス構成せしめて、面としての固体表示、光軌跡検出を
実行させ得る。
素子を少数同一基板に併設することも可能である。しか
しその最も効果的な構成は1つの大きな基板にマトリッ
クス構成せしめて、面としての固体表示、光軌跡検出を
実行させ得る。
「作用」
本発明は、光軌跡方式による固体書き込み装置と固体表
示装置とが一体化している。このため、これまでのマイ
ク1:1コンピユータの如き目の位置と指の位置が異な
る場合に生じた作業者の首の疲労がなくなり、また指も
キーボードではなくライトペン方式を用いた新筆が伴う
光軌跡を利用する方式であるため、ワードプロセッサを
学習に使用する在宅学習システムに対し、文字等をライ
トベンで書く作業を伴うため学習効果を高め得る。
示装置とが一体化している。このため、これまでのマイ
ク1:1コンピユータの如き目の位置と指の位置が異な
る場合に生じた作業者の首の疲労がなくなり、また指も
キーボードではなくライトペン方式を用いた新筆が伴う
光軌跡を利用する方式であるため、ワードプロセッサを
学習に使用する在宅学習システムに対し、文字等をライ
トベンで書く作業を伴うため学習効果を高め得る。
また光軌跡を基板上を前述した如く時間的に移動させる
のではなく、所定の位置に複数の光1飄または光軌跡を
与えることにより、キーボードを筆圧方式より光タッチ
方式のキーボードとすることができる。
のではなく、所定の位置に複数の光1飄または光軌跡を
与えることにより、キーボードを筆圧方式より光タッチ
方式のキーボードとすることができる。
以下に実施例に従って本発明を説明する。
「実施例1」
第1図は本発明の固体表示装置および固体書き込み装置
の等価回路(2×2の7トリソクスの場合)を示す。図
面において、矩形で囲んだ1〜6の数字は第1の電極〜
第6の電極を示す。
の等価回路(2×2の7トリソクスの場合)を示す。図
面において、矩形で囲んだ1〜6の数字は第1の電極〜
第6の電極を示す。
基板上に設けられた1つのアクティブエレメント(1)
は光検出素子(フォトセンサ)(4)と非線型素子(2
)と液晶(3)とよりなっている。このエレメントの非
線型素子(2)はX配線(リードともいう> (16)
に第1の電極(7)により連結し、またこのX配線は同
時にフォトセンサ(4)の第4の電極(8)に連結して
いる。このフォトセンサの配線を他のX配線として独立
して設けてもよい。さらにこのフォトセンサ(4)に直
列に非線型素子(2)をクロストークを防ぐため設けて
もよい。他方、フォトセンサ(4)の他の電極(第5の
電極)(9)は基板上の透光性導電膜により設けられた
X配線り−ド(18)に連結し、その結果、フォトセン
サはX(18)。
は光検出素子(フォトセンサ)(4)と非線型素子(2
)と液晶(3)とよりなっている。このエレメントの非
線型素子(2)はX配線(リードともいう> (16)
に第1の電極(7)により連結し、またこのX配線は同
時にフォトセンサ(4)の第4の電極(8)に連結して
いる。このフォトセンサの配線を他のX配線として独立
して設けてもよい。さらにこのフォトセンサ(4)に直
列に非線型素子(2)をクロストークを防ぐため設けて
もよい。他方、フォトセンサ(4)の他の電極(第5の
電極)(9)は基板上の透光性導電膜により設けられた
X配線り−ド(18)に連結し、その結果、フォトセン
サはX(18)。
Y(16)マトリックスを構成した配線の交点に位置せ
しめることができる。他方、液晶(3)の一方の電極(
10)(第3の電極)とそれに連結した非線型素子(2
)の電極(第2の電極)(5)が設けられる。
しめることができる。他方、液晶(3)の一方の電極(
10)(第3の電極)とそれに連結した非線型素子(2
)の電極(第2の電極)(5)が設けられる。
液晶(3)の第6の電極(6)(対抗電極ともいう)は
相対する他の基板上に設けられた透光性のZ配線(14
)に連結している。このX配線、X配線は同一絶縁基板
代表的にはガラス基板(第5図(^)、(B)。
相対する他の基板上に設けられた透光性のZ配線(14
)に連結している。このX配線、X配線は同一絶縁基板
代表的にはガラス基板(第5図(^)、(B)。
(C)、第6図(A) 、 (B)における(20))
J二に設けられてフォトセンサをマI・リソクス構成
させている。
J二に設けられてフォトセンサをマI・リソクス構成
させている。
また、液晶(3)はX配線を有する基板(20)とZ配
線(14)を有する他の基板(20”)とではさまれて
マトリックス構成せしめている。
線(14)を有する他の基板(20”)とではさまれて
マトリックス構成せしめている。
かかるアクティブエレメントをマトリックス構成せしめ
、図面では2×2とした。これはスケール・アンプした
表示装置例えば(アクティブエレメント数が640 X
400)としても同−技術思思である。
、図面では2×2とした。これはスケール・アンプした
表示装置例えば(アクティブエレメント数が640 X
400)としても同−技術思思である。
かくの如き1つのNIN接合を有する半導体非線型素子
の積層体により、一方の固体表示素子の制御用と、他方
のフォトセンサの半導体として用いたものである。かか
る非線型素子及びフォトセンサとの構成及び特性の例を
第2図、第3図に示している。
の積層体により、一方の固体表示素子の制御用と、他方
のフォトセンサの半導体として用いたものである。かか
る非線型素子及びフォトセンサとの構成及び特性の例を
第2図、第3図に示している。
この第2図を以下に略記する。
第2図(A)は実際の非線型素子構造の縦断面図を示し
ている。
ている。
この第2図(^)は第6図(A)における図で囲んだ1
に対応する。第2図(八)においてガラス基板C9) (20)上のY方向のリードおよび電極としての金属導
体(7)よりなる第1の電極(7)、N(31)I(3
2)N(33)半導体積層体よりなる旧N接合型複合ダ
イオード(2)、オーム接触用合金層(34)遮光用を
兼ねた金属電極(5)、液晶の一方の電極(第3の電極
)(10)よりなる。この1つのセルはここでは100
μ口の面積とした。
に対応する。第2図(八)においてガラス基板C9) (20)上のY方向のリードおよび電極としての金属導
体(7)よりなる第1の電極(7)、N(31)I(3
2)N(33)半導体積層体よりなる旧N接合型複合ダ
イオード(2)、オーム接触用合金層(34)遮光用を
兼ねた金属電極(5)、液晶の一方の電極(第3の電極
)(10)よりなる。この1つのセルはここでは100
μ口の面積とした。
このNTN型の半導体は公知のプラズマCvD法または
光CVD法を用い、水素またはハロゲン元素が添加され
たアモルファスシリコン半導体を主成分として用いた。
光CVD法を用い、水素またはハロゲン元素が添加され
たアモルファスシリコン半導体を主成分として用いた。
さらに1層に対しP型用不純物を少し添加した実質的に
真性として、NrN構造とした。
真性として、NrN構造とした。
第2図(八)の構成によって得られた特性例を第3図(
^)に示す。
^)に示す。
第3図(八)のI−V(電圧−電流)特性は第3図にお
ける(46) 、 (47)の原点に対し対称型のr−
v特性を得ることができた。
ける(46) 、 (47)の原点に対し対称型のr−
v特性を得ることができた。
この値は、意図した画素の液晶(例えば強誘電性液晶)
に対し5vを印加してオン状態とする時、この画素の隣
に位置する画素(例えば第1図(2°))にかかる電圧
はこの]/3である。この1/3の電圧により隣の画素
がオン状態U疲fらないためには、1.7v以下におい
て電流が流れないことが必要である。第3図(^)ばし
きい値として2.7vを有し、これを十分満足させるこ
とができる。即ち非線型素子として十分有効に動作し得
る。
に対し5vを印加してオン状態とする時、この画素の隣
に位置する画素(例えば第1図(2°))にかかる電圧
はこの]/3である。この1/3の電圧により隣の画素
がオン状態U疲fらないためには、1.7v以下におい
て電流が流れないことが必要である。第3図(^)ばし
きい値として2.7vを有し、これを十分満足させるこ
とができる。即ち非線型素子として十分有効に動作し得
る。
第4図(A)〜(rl)に本発明の非線型素子の動作原
理の概要を示す。
理の概要を示す。
第4図(^)はN(31)T(32)N(33)構造を
有する半導体(2)である。例えば水素を含む珪素を」
;成分とする非単結晶半導体である。その厚さはN(3
1)は700 人、 +(32) 4j:8000八、
N(33)は700 人とした。
有する半導体(2)である。例えば水素を含む珪素を」
;成分とする非単結晶半導体である。その厚さはN(3
1)は700 人、 +(32) 4j:8000八、
N(33)は700 人とした。
この場合の電圧が電極(5) 、 (7)間に印加され
ていない場合におけるエネルギバンド図を第4図(11
)に示す。これに対し、もし電極(5)に比べて(7)
に正の電圧がかかると、第4図(C)のエネルギバンド
構造となる。すると、電子(43)ぽ障壁(41)が(
旧″)にその高さを低くするに準じて順方向の電流とし
て流れる。
ていない場合におけるエネルギバンド図を第4図(11
)に示す。これに対し、もし電極(5)に比べて(7)
に正の電圧がかかると、第4図(C)のエネルギバンド
構造となる。すると、電子(43)ぽ障壁(41)が(
旧″)にその高さを低くするに準じて順方向の電流とし
て流れる。
また、逆に、電極(5)に対しく7)に負の電圧が加わ
ると、障壁(42°)が(42)に比べ低くなり、その
N型半導体層(35)の電子(43°)が(7)より(
5)へと流れる。
ると、障壁(42°)が(42)に比べ低くなり、その
N型半導体層(35)の電子(43°)が(7)より(
5)へと流れる。
結果として、第3図(A)に示すごとき非線型特性(4
6) 、 (47)を第4図(C)、(rl)に対応し
て有せしめることができる。
6) 、 (47)を第4図(C)、(rl)に対応し
て有せしめることができる。
他方、第2図(C) 、 ([1)に示す光検出素′:
F−(フォトセンサ)は第1図(B)における口で囲ん
だ4に対応する。この素子につき、その動作を略記する
。
F−(フォトセンサ)は第1図(B)における口で囲ん
だ4に対応する。この素子につき、その動作を略記する
。
このN(31)T(32)N(33)の半導体積層体は
、第2図(A)の非線型素子と同一半導体材料で同一プ
ロセスにより形成される。
、第2図(A)の非線型素子と同一半導体材料で同一プ
ロセスにより形成される。
即ちガラス基板(2OL+−の金属導体の電極(8)(
第4の電極)上の半導体(4)とその上にクロムシリサ
イドの非酸化物導電性導電膜(34)およびITO等の
透光性酸化物導電膜の上側電極(9)(第5の電極)よ
りなっている。
第4の電極)上の半導体(4)とその上にクロムシリサ
イドの非酸化物導電性導電膜(34)およびITO等の
透光性酸化物導電膜の上側電極(9)(第5の電極)よ
りなっている。
この半導体(33)と金属との間に設けられる非酸化物
導電膜(34)は例えばクロム・シリサイドであす、厚
さ30〜100人で透光性であり、きわめて熱的、化学
的に安定である。そのため、電流パルスを加えても、そ
の上のITOと半導体とが互いに進行性反応をして劣化
しないように保護することができる。この発明はかかる
構造を有しているため、ライトペンよりの光(100)
は(第5図(C)におりる対抗電極(6)側に対応)上
方より照射される。
導電膜(34)は例えばクロム・シリサイドであす、厚
さ30〜100人で透光性であり、きわめて熱的、化学
的に安定である。そのため、電流パルスを加えても、そ
の上のITOと半導体とが互いに進行性反応をして劣化
しないように保護することができる。この発明はかかる
構造を有しているため、ライトペンよりの光(100)
は(第5図(C)におりる対抗電極(6)側に対応)上
方より照射される。
この光の上方より即ら利用者の11の側より印加するこ
とは液晶表示装置におけるバンクライトの影響をフォト
センサが避けることができる点できわめて重要である。
とは液晶表示装置におけるバンクライトの影響をフォト
センサが避けることができる点できわめて重要である。
このフォトセンサの等価回路を第2図(rl)に示す。
項中作用は必ずしもあるとは限らないが、みかけ上第2
図(D)に示ずフォ]−トランジスタ構成で略記する。
図(D)に示ずフォ]−トランジスタ構成で略記する。
即ち照射光(100)によるベースへの注入により電流
が大きくなる。
が大きくなる。
その−例の特性を第3図(B)に示している。図面にお
いて(46) 、 (47)は「暗の時j(+)I−V
特性である。さらに、ここに4501、に(室内灯)を
照射する(I3) と、それでは曲線(46”)、(47’)に変化する。
いて(46) 、 (47)は「暗の時j(+)I−V
特性である。さらに、ここに4501、に(室内灯)を
照射する(I3) と、それでは曲線(46”)、(47’)に変化する。
さらに55001、×(白熱灯)を加えると、(46”
)+ (47”)にそれぞれ変化する。
)+ (47”)にそれぞれ変化する。
これらの信号をマトリックス構成をした第1図において
はデコーダ(13)のトランジスタで受けて出力(18
”)または(19’)に俄り出せばいい。
はデコーダ(13)のトランジスタで受けて出力(18
”)または(19’)に俄り出せばいい。
第4図において、このフォトセンサの動作原理を示して
いる。第4図(^)のNIN半導体(4)に+■または
−Vの電圧を加え、第4図(C) 、 (rl)のバン
ド構成において、光(100)の照射によりホール(4
5) 。
いる。第4図(^)のNIN半導体(4)に+■または
−Vの電圧を加え、第4図(C) 、 (rl)のバン
ド構成において、光(100)の照射によりホール(4
5) 。
(45’)と電子(44)、(44’)が生じ、ともに
ドリフトして電流が増巾される。かくして第1図(B)
に示す如く、低い電圧でも電流の増加が見られ得る。
ドリフトして電流が増巾される。かくして第1図(B)
に示す如く、低い電圧でも電流の増加が見られ得る。
「実施例2」
この実施例は第5図にその平面図(八)及び縦断面図(
B) 、 (C)および第6図(A) 、 (B)が示
されている。液晶部分は第5図(C)のみに示し、他は
基板とその上の半導体のみを示す。
B) 、 (C)および第6図(A) 、 (B)が示
されている。液晶部分は第5図(C)のみに示し、他は
基板とその上の半導体のみを示す。
さらに第5図(B) 、 (C)は(A)におけるそれ
ぞれ^−^’、B−B”での縦断面図を記す。加えて、
第6図(II) 、 (B)はそれぞれ第5図(八)に
おけるC−C’及びDD’の縦断面図を示しCいる。
ぞれ^−^’、B−B”での縦断面図を記す。加えて、
第6図(II) 、 (B)はそれぞれ第5図(八)に
おけるC−C’及びDD’の縦断面図を示しCいる。
図面において、透光性絶縁2.(板とし”ζコーニング
7059ガラス(20)を用いた。この」;面に、スパ
ッタ法または電子ビーム蒸着法により導電膜であるモリ
ブデンを0.1〜0.5μの厚さに形成した。
7059ガラス(20)を用いた。この」;面に、スパ
ッタ法または電子ビーム蒸着法により導電膜であるモリ
ブデンを0.1〜0.5μの厚さに形成した。
この後、これらの全面に公知のプラズマ気相反応法また
は光気相反応法により非線形半導体素子例えばNUN構
造を有する水素また番、[ハロゲン元素が添加された非
単結晶半導体よりなる複合ダイオニドを形成した。即ち
N型半導体(31)をシランを水素にて3〜5倍に希釈
し、13.56MIIzの高周波グロー放電を行うこと
により200〜250°(:に保持された基板上1,の
被形成面一1−に、非1F結晶半導体を作る。その電気
伝導度は10−b〜102(0cm) −’を有し30
0〜1000人の厚さとした。
は光気相反応法により非線形半導体素子例えばNUN構
造を有する水素また番、[ハロゲン元素が添加された非
単結晶半導体よりなる複合ダイオニドを形成した。即ち
N型半導体(31)をシランを水素にて3〜5倍に希釈
し、13.56MIIzの高周波グロー放電を行うこと
により200〜250°(:に保持された基板上1,の
被形成面一1−に、非1F結晶半導体を作る。その電気
伝導度は10−b〜102(0cm) −’を有し30
0〜1000人の厚さとした。
さらにシランのみ、またはこれと弗化珪素(SIF41
H3SiF、II□SiF、または5izPa)をプラ
ズマ反応炉内に導入し、プラズマ反応をさ・l、■型の
水素またはハロゲン元素が添加された非Iii結晶半導
体(32)を0.2〜1メツの厚さにN型半導体(33
)lに積層して形成した。さらに、再び、同様のN型半
導体(35)を300〜1000人の厚さに積層してN
IN接合とした。
H3SiF、II□SiF、または5izPa)をプラ
ズマ反応炉内に導入し、プラズマ反応をさ・l、■型の
水素またはハロゲン元素が添加された非Iii結晶半導
体(32)を0.2〜1メツの厚さにN型半導体(33
)lに積層して形成した。さらに、再び、同様のN型半
導体(35)を300〜1000人の厚さに積層してN
IN接合とした。
このI型半導体中に、ホウ素をB、lI6/SiH4=
10−6〜10−4の割合で混入させ、P−または実質
的に真性の導電型の半導体をその一部または全部にわた
って形成してもよい。かくすると、NP−N、NT−N
の積層体とすることができる。
10−6〜10−4の割合で混入させ、P−または実質
的に真性の導電型の半導体をその一部または全部にわた
って形成してもよい。かくすると、NP−N、NT−N
の積層体とすることができる。
この後、この上面に遮光用のクロム(500〜1500
人) (35)を電子ビーム蒸着法またはスパッタ法に
より基板を150℃に加熱して積層した。するとこのク
ロムとその下側のアモルファス珪素との界面には化学的
に安定なりロムシリサイド(34)を30〜100 人
の厚さで設けることができる。
人) (35)を電子ビーム蒸着法またはスパッタ法に
より基板を150℃に加熱して積層した。するとこのク
ロムとその下側のアモルファス珪素との界面には化学的
に安定なりロムシリサイド(34)を30〜100 人
の厚さで設けることができる。
さらにこの後、第2の電極(5)、非線型素子(2)さ
らにY方向の電極(7) 、 (8)およびそのリード
(4)として設ける領域を除き、他部を第1のフォトマ
スク■を用いてフォトエツチング法により除去した。
らにY方向の電極(7) 、 (8)およびそのリード
(4)として設ける領域を除き、他部を第1のフォトマ
スク■を用いてフォトエツチング法により除去した。
さらにこれら全体に対し、光感光性有機樹脂を塗布した
。すると、このガラス基板(20)上の積層体(2)、
(4) 、、1mを含めすべてに有機樹脂がコートされ
る。この厚さは有機樹脂をキュアした後、積層体と概略
同じ高さとするようにすることが好ましい。
。すると、このガラス基板(20)上の積層体(2)、
(4) 、、1mを含めすべてに有機樹脂がコートされ
る。この厚さは有機樹脂をキュアした後、積層体と概略
同じ高さとするようにすることが好ましい。
さらに裏側より基板を通して紫外光を照射すると、この
積層体に設けられている以外の側周辺領域の有機樹脂を
光感光させることができる。そしてこの積層体上の有機
樹脂をマスクを用いることなしに選択的に除去すること
ができる。
積層体に設けられている以外の側周辺領域の有機樹脂を
光感光させることができる。そしてこの積層体上の有機
樹脂をマスクを用いることなしに選択的に除去すること
ができる。
この有機樹脂はポリイミド系のものを用いた。
すると感光・キュアにより約172に厚さが減少するた
め、この厚さを考慮しておくことが重要である。かくし
て霧光の後、積層体の側周辺のみを残し他をリンスをし
、除去する。そして窒素中200〜400℃で所定の時
間キュアを行った。すると積層体の周辺部を透光性の有
機樹脂膜(21)で包み、積層体(第6図(A) 2
、(B) 4における円で囲んだ領域)を機械的に
保護することができた。
め、この厚さを考慮しておくことが重要である。かくし
て霧光の後、積層体の側周辺のみを残し他をリンスをし
、除去する。そして窒素中200〜400℃で所定の時
間キュアを行った。すると積層体の周辺部を透光性の有
機樹脂膜(21)で包み、積層体(第6図(A) 2
、(B) 4における円で囲んだ領域)を機械的に
保護することができた。
更にこの後、第2のマスク■を用い、フォトセ(II)
ンサとなる領域のみこの上面のクロムを除去し、その下
側の非酸化物透光性導電膜を残存さゼる。
側の非酸化物透光性導電膜を残存さゼる。
するとこのクロムシリサイドは、きわめて安定な層を形
成させている。この合金層は透光性であり、厚さは30
〜100 人である。
成させている。この合金層は透光性であり、厚さは30
〜100 人である。
さらにこの工程の後、これら全面に第3の電極(10)
およびフォトセンサのリード(18)となる透光性導電
膜ここではITOを層上に形成した。
およびフォトセンサのリード(18)となる透光性導電
膜ここではITOを層上に形成した。
更にこの導電膜に対し第5図(A)に示す如く、液晶の
一方の電極(第3の電極(10))とフォトセンサ(4
)の電極(9)、リード(18)を残し他を除去する。
一方の電極(第3の電極(10))とフォトセンサ(4
)の電極(9)、リード(18)を残し他を除去する。
さらにこの第3のマスク■及び有機樹脂とをマスクとし
、それぞれの半導体素子間(35)を併せて除去する。
、それぞれの半導体素子間(35)を併せて除去する。
これは隣合った非線型素子同志のクロストークを除去す
るためである。
るためである。
この工程の結果、積層体は長い機械的に丈夫な側周辺(
第5図(B))は有機樹脂で保護されていないが、中挟
の側周辺(第6図(^)、(1’l))は有機樹脂(2
1)で包むことができた。この製造工程は周辺部に有機
樹脂膜を充填する工程以外は実施例1と同−とじた。
第5図(B))は有機樹脂で保護されていないが、中挟
の側周辺(第6図(^)、(1’l))は有機樹脂(2
1)で包むことができた。この製造工程は周辺部に有機
樹脂膜を充填する工程以外は実施例1と同−とじた。
以上の工程より明らかな如く、精密な重合わせプロセス
は第2のマスクエ稈のフォトセンサ用の穴開けのみであ
る。この画素の第3の電極(10)と非線型素子(2)
の第2の電極(5)との相互位置は第3の電極(10)
の1一端と下端の間、例えば30011即ち±150μ
ずれても、まったく実用上支障がない。即ち高い製造歩
留りを期待できる。
は第2のマスクエ稈のフォトセンサ用の穴開けのみであ
る。この画素の第3の電極(10)と非線型素子(2)
の第2の電極(5)との相互位置は第3の電極(10)
の1一端と下端の間、例えば30011即ち±150μ
ずれても、まったく実用上支障がない。即ち高い製造歩
留りを期待できる。
非線型素子はその一1二下面もともに遮光用の金属(5
) 、 (37) (第2図(^)、第5図(R) 、
(C) 、第6図(^)で覆われ、また、フォトセン
サ(4)の−1−側電極(9)は透光性とするためクロ
ムが除去され、TTO(9)およびクロムシリサイド(
34)よりなる透光性導電膜が設けられている。(第2
図(C)、第5図(B)、第6図(B)) 本発明の半導体装置においては、第5図(C)に示す如
く、さらに相対する他の基板(20’)の内側に設けら
れた液晶の他方の対抗電極(第6の電極)(6)、リー
ド(14)は、他の第1のマスク■により、Z方向の配
線(この配線はフォトセンサのX方向の配線と平行に設
けている)として形成させ液晶(3)を構成している。
) 、 (37) (第2図(^)、第5図(R) 、
(C) 、第6図(^)で覆われ、また、フォトセン
サ(4)の−1−側電極(9)は透光性とするためクロ
ムが除去され、TTO(9)およびクロムシリサイド(
34)よりなる透光性導電膜が設けられている。(第2
図(C)、第5図(B)、第6図(B)) 本発明の半導体装置においては、第5図(C)に示す如
く、さらに相対する他の基板(20’)の内側に設けら
れた液晶の他方の対抗電極(第6の電極)(6)、リー
ド(14)は、他の第1のマスク■により、Z方向の配
線(この配線はフォトセンサのX方向の配線と平行に設
けている)として形成させ液晶(3)を構成している。
そしてこの対抗電極は上下の基板の合わせ精度を考慮し
て下側の電極(10)より中広(第5図(C))として
設けている。即ち、フォトセンサ(4)、リード(18
)により実質的に表示画素としての有効表示面積が減少
しても、その欠点を補って2つの基板(20) 、 (
20’ )の合わせ精度にマージンを与えることができ
る。その結果、対抗電極(6)における11広の分(3
6)は実質的に有効表示の電極として作用させることが
できる。もちろん第5図(C)における液晶はその厚さ
が1〜4μであり、電極(10) 、 (6)はその1
1が100〜1000μであるため、液晶(3)を介し
ての隣の画素とはクロストークをまったくしない。
て下側の電極(10)より中広(第5図(C))として
設けている。即ち、フォトセンサ(4)、リード(18
)により実質的に表示画素としての有効表示面積が減少
しても、その欠点を補って2つの基板(20) 、 (
20’ )の合わせ精度にマージンを与えることができ
る。その結果、対抗電極(6)における11広の分(3
6)は実質的に有効表示の電極として作用させることが
できる。もちろん第5図(C)における液晶はその厚さ
が1〜4μであり、電極(10) 、 (6)はその1
1が100〜1000μであるため、液晶(3)を介し
ての隣の画素とはクロストークをまったくしない。
以上のことより、1つの基板の一主面上にアクティブエ
レメントとしての非線型素子(2)、フォトセンサ(4
)及び液晶(3)の一方の電極を設け、かつリードはX
方向およびY方向に配設せしめている。この工程に必要
なマスクは3種類のマスクを用いるのみですみ、かつ精
密なマスク合わせは1回の第2のマスクのみでよい。
レメントとしての非線型素子(2)、フォトセンサ(4
)及び液晶(3)の一方の電極を設け、かつリードはX
方向およびY方向に配設せしめている。この工程に必要
なマスクは3種類のマスクを用いるのみですみ、かつ精
密なマスク合わせは1回の第2のマスクのみでよい。
表示パネルとしては、この後、2つの相対する主面に配
向処理を施し、相対する2つの基板(20)。
向処理を施し、相対する2つの基板(20)。
(20°)を約1〜10pの11に離間させ、その隙間
を真空引きした後、強誘電性液晶等のスメクチック液晶
、TN液晶等の公知の液晶(3)を封入した。第1図に
示す周辺回路(11) 、 (12) 、 (13)を
ハイブリッド構成として基板に中結晶ICをボンディン
グして作製し得る。またコネクタを介して他のプリント
基板のICと連結してデコーダ(11) 、 (12)
、 (13>とし得る。
を真空引きした後、強誘電性液晶等のスメクチック液晶
、TN液晶等の公知の液晶(3)を封入した。第1図に
示す周辺回路(11) 、 (12) 、 (13)を
ハイブリッド構成として基板に中結晶ICをボンディン
グして作製し得る。またコネクタを介して他のプリント
基板のICと連結してデコーダ(11) 、 (12)
、 (13>とし得る。
図面において、フォトセンサ(4)、リーク(18)に
対応してその上方に他の電極リードを設け、この一対の
電極よりこの電極間の液晶をオンまたはオフさせてもよ
い。
対応してその上方に他の電極リードを設け、この一対の
電極よりこの電極間の液晶をオンまたはオフさせてもよ
い。
「効果」
本発明は以上に示す如く、同一基板上にに非線型素子で
ある複合ダイオードを用いて液晶のアクティブ素子化を
行うとともに、同じパネルを用い、手書き用の書き込み
装置をライトペン(発光部はペン側)としてマトリック
スを構成せしめたものである。このため2つの機能を重
合わせる方式にに比べ、表示のコントラストが不明晰に
なった。
ある複合ダイオードを用いて液晶のアクティブ素子化を
行うとともに、同じパネルを用い、手書き用の書き込み
装置をライトペン(発光部はペン側)としてマトリック
スを構成せしめたものである。このため2つの機能を重
合わせる方式にに比べ、表示のコントラストが不明晰に
なった。
かつそれらを必要な製造工程に余分な半導体を作る工程
等を有しない。さらに半導体とその上の電極リードとが
一体化しているため、きわめて少ないマスク(4枚)(
精密な重合わせは1回)でパターニングを行うことがで
き、製造歩留りを向上させることができる。
等を有しない。さらに半導体とその上の電極リードとが
一体化しているため、きわめて少ないマスク(4枚)(
精密な重合わせは1回)でパターニングを行うことがで
き、製造歩留りを向上させることができる。
非線型素子及びフォトセンサに同一半導体材料を用い、
かつこの半導体は旧N接合の順方向電流を用いるため、
I型半導体表面での寄生チャネルが形成される等による
特性のバラツキが少ない。
かつこの半導体は旧N接合の順方向電流を用いるため、
I型半導体表面での寄生チャネルが形成される等による
特性のバラツキが少ない。
本発明のフォトセンサ、表示パネルは強誘電性液晶を用
いるならば、周波数光学速度を有し、かつ液晶それ自体
が不揮発性メモリ作用を有するため、プリンタの一部に
用いることも可能である。
いるならば、周波数光学速度を有し、かつ液晶それ自体
が不揮発性メモリ作用を有するため、プリンタの一部に
用いることも可能である。
さらに本発明に用いる非線型素子は、特にそのダイオー
ドのしきい値を気相反応法を用いた半導体層の積層時に
おけるプ11セス条件により制御し得るため、階調制御
かしや゛づいという特徴をイJする。
ドのしきい値を気相反応法を用いた半導体層の積層時に
おけるプ11セス条件により制御し得るため、階調制御
かしや゛づいという特徴をイJする。
本発明方法において、l、N4たはP−の半濁体を単に
水素またはハロゲン元素が添加された珪素とするのでは
なく、この中に炭素または窒素を一部または全部に添加
した5ixC+−x (0<X<1)+5ixN4−x
(0<X<4)、5i02−X(0<X<2) として
耐圧の向上を図ることおよび印加電圧をOvとした時の
電流(ゼロ電流)を10−”A/20 x300 tt
以下とすることは有効である。
水素またはハロゲン元素が添加された珪素とするのでは
なく、この中に炭素または窒素を一部または全部に添加
した5ixC+−x (0<X<1)+5ixN4−x
(0<X<4)、5i02−X(0<X<2) として
耐圧の向上を図ることおよび印加電圧をOvとした時の
電流(ゼロ電流)を10−”A/20 x300 tt
以下とすることは有効である。
本発明において、表示素子と光検出素子とはその数にお
いて1:1である必要はなく、光検出に必要な素子密度
を考慮して表示素子に比べて多くも少なくもし得る。
いて1:1である必要はなく、光検出に必要な素子密度
を考慮して表示素子に比べて多くも少なくもし得る。
第1図は本発明のアクティブエ1/メントとして非線型
素子およびフA・l−センサを用いた2×2マトリツク
スの回路図を示す。 第2図は本発明の非線型素子及びフォトセンサの縦断面
(A) 、 (C)およびその等価記号(11) 、
(D)を示す。 第3図は本発明のr−v特性を示す。 第4図は非線形素子およびフォトセンサの動作原理を示
す。 第5図及び第6図は本発明のアクティブエレメント構造
を示す。
素子およびフA・l−センサを用いた2×2マトリツク
スの回路図を示す。 第2図は本発明の非線型素子及びフォトセンサの縦断面
(A) 、 (C)およびその等価記号(11) 、
(D)を示す。 第3図は本発明のr−v特性を示す。 第4図は非線形素子およびフォトセンサの動作原理を示
す。 第5図及び第6図は本発明のアクティブエレメント構造
を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、固体表示装置に連結する非線型素子と、光信号を電
気信号に変換検出する光検出素子とが同一基板上に設け
られ、液晶が充填された対抗電極側よりライトペン等に
より光信号を入力せしめ、該信号を前記光検出素子によ
り認識せしめることを特徴とする半導体装置。 2、特許請求の範囲第1項において、固体表示装置にお
ける液晶を駆動する非線型素子と光検出素子とは同一半
導体接合構造を有することを特徴とする半導体装置。 3、特許請求の範囲第1項において、前記非線型素子と
前記光検出素子は周辺部に隣接して有機樹脂が設けられ
たことを特徴とする半導体装置。 4、特許請求の範囲第1項において、光検出素子上面に
は非酸化物透光性導電膜が設けられたことを特徴とした
半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60209749A JPS6269554A (ja) | 1985-09-20 | 1985-09-20 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60209749A JPS6269554A (ja) | 1985-09-20 | 1985-09-20 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6269554A true JPS6269554A (ja) | 1987-03-30 |
Family
ID=16577998
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60209749A Pending JPS6269554A (ja) | 1985-09-20 | 1985-09-20 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6269554A (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59129892A (ja) * | 1983-01-17 | 1984-07-26 | 日本電信電話株式会社 | 多機能デイスプレイ装置 |
JPS59185381A (ja) * | 1983-04-07 | 1984-10-20 | セイコーエプソン株式会社 | 光入力装置 |
JPS60195519A (ja) * | 1984-03-17 | 1985-10-04 | Citizen Watch Co Ltd | 面入力機能付表示装置 |
JPS6244796A (ja) * | 1985-08-23 | 1987-02-26 | 株式会社日立製作所 | 撮像表示装置 |
-
1985
- 1985-09-20 JP JP60209749A patent/JPS6269554A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59129892A (ja) * | 1983-01-17 | 1984-07-26 | 日本電信電話株式会社 | 多機能デイスプレイ装置 |
JPS59185381A (ja) * | 1983-04-07 | 1984-10-20 | セイコーエプソン株式会社 | 光入力装置 |
JPS60195519A (ja) * | 1984-03-17 | 1985-10-04 | Citizen Watch Co Ltd | 面入力機能付表示装置 |
JPS6244796A (ja) * | 1985-08-23 | 1987-02-26 | 株式会社日立製作所 | 撮像表示装置 |
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