JPS6267686A - パタ−ン認識技術における光量歪補正方法及び装置 - Google Patents
パタ−ン認識技術における光量歪補正方法及び装置Info
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- JPS6267686A JPS6267686A JP20850585A JP20850585A JPS6267686A JP S6267686 A JPS6267686 A JP S6267686A JP 20850585 A JP20850585 A JP 20850585A JP 20850585 A JP20850585 A JP 20850585A JP S6267686 A JPS6267686 A JP S6267686A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
３、発明の訂、ＩＩＩな説明
（産業上の利用分野）
本発明はパターン認識、特に線光０；（からの透過光に
よりパターンを走査する方式の認識技術に係り、魚群記
録からの魚州の計数化等に利用できる。
よりパターンを走査する方式の認識技術に係り、魚群記
録からの魚州の計数化等に利用できる。
（従来の技術と欠点）
線光源によりパターン認識を行なう場合、通常第２図に
示すように、線状フィラメント光１：（ｌとその上方に
設置された線状スリット板２の間を被ｘｌｌ＋ 定パタ
ーン３が定速で送られ、透過光はレンズ４等の光学系に
より絞り込まれて最終的に−・列に配列された多数の光
電変換素子（例えばＣＣＤ素子）５に達する如き構成と
されている。そして、パターンの読取りは、光電変換素
子を順次高速で電子走査して得る。
示すように、線状フィラメント光１：（ｌとその上方に
設置された線状スリット板２の間を被ｘｌｌ＋ 定パタ
ーン３が定速で送られ、透過光はレンズ４等の光学系に
より絞り込まれて最終的に−・列に配列された多数の光
電変換素子（例えばＣＣＤ素子）５に達する如き構成と
されている。そして、パターンの読取りは、光電変換素
子を順次高速で電子走査して得る。
」二記装置が正常に機能する前提条件としては、被測定
パターン不在時に、光電変換素子の各部位の出力が同一
レベルにあることであり、不等の場合は１１１１定誤差
となる。しかるに、次の凹円により不等出力となるのが
常である。
パターン不在時に、光電変換素子の各部位の出力が同一
レベルにあることであり、不等の場合は１１１１定誤差
となる。しかるに、次の凹円により不等出力となるのが
常である。
１）線光源の光１ｔが両端で落ちる傾向にある。
２）光電変換素子の特性にバラツキがある。
３）レンズ周辺の光ｈ１が落ちる。
４）経年変化、振動、はこり笠の不Ｊｉｌｔ要因による
影響を受ける。
影響を受ける。
上記要因のうち、ｌ）は両端＋１（Ｊ近に反射板を伺け
る。２）は同特性のものを選出する。３）は径の大きい
ものを利用する。τ・により一応解決できるが煩雑であ
る上に機械的衝撃によりすぐ狂う等の欠点があり、４）
については効果的な方法はなかった。
る。２）は同特性のものを選出する。３）は径の大きい
ものを利用する。τ・により一応解決できるが煩雑であ
る上に機械的衝撃によりすぐ狂う等の欠点があり、４）
については効果的な方法はなかった。
（問題点を解決するための手段及び作用）本発明は、被
測定パターン不在の場合の光゛屯変換素子の走査出力す
なわち不等特性を記憶しておき、生のデータとの比を取
ることによって、上記の問題を解決するものである。
測定パターン不在の場合の光゛屯変換素子の走査出力す
なわち不等特性を記憶しておき、生のデータとの比を取
ることによって、上記の問題を解決するものである。
（実施例）
第１図は本発明の実施例を示し、６は第２図に示したＣ
ＯＤ素子列と記ｔａ器等により構成された撮像装置であ
る。７は後述の中央演算処理装置８（以下ＣＰＵという
）によって切換時刻が制御される切換器であって、その
可動接点Ａには撮像装置６の出力端が接続され、固定接
点ＢはＡ−Ｄ変換器９の入力端に接続され、固定接点Ｃ
は除算器１０の入力端に接続される。なお、撮像装置か
ら走査開始点を代表する同期信号がＣＰＵに供給される
。９．１１はアナログ入力信号をデジタル出力信号−に
変換するＡ−Ｄ変換器であってその出力はＣＰＵに供給
される。１２は第１記ｔα器であって、ＣＰＵに制御さ
れて、撮像装置８の出力を何ら加工することなく記憶す
る。８は中央演算処理装置であって、第１及び後述の第
２記ｔα器に対して。
ＯＤ素子列と記ｔａ器等により構成された撮像装置であ
る。７は後述の中央演算処理装置８（以下ＣＰＵという
）によって切換時刻が制御される切換器であって、その
可動接点Ａには撮像装置６の出力端が接続され、固定接
点ＢはＡ−Ｄ変換器９の入力端に接続され、固定接点Ｃ
は除算器１０の入力端に接続される。なお、撮像装置か
ら走査開始点を代表する同期信号がＣＰＵに供給される
。９．１１はアナログ入力信号をデジタル出力信号−に
変換するＡ−Ｄ変換器であってその出力はＣＰＵに供給
される。１２は第１記ｔα器であって、ＣＰＵに制御さ
れて、撮像装置８の出力を何ら加工することなく記憶す
る。８は中央演算処理装置であって、第１及び後述の第
２記ｔα器に対して。
記憶及び読出しを制御し、又切換器７の制御を行なう、
ＣＰＵ８は次段の処理回路に接続されている。
ＣＰＵ８は次段の処理回路に接続されている。
ｌＯは除算器であって、第１記憶器の出力に対するＤ−
Ａ変換器１３の出力により入力信号を除してＡ−Ｄ変換
器１１を介しＣＰＵに印加する。１４は第２記憶回路で
あって、ＣＰＵに制御されてＡ−Ｄ変換器１１の出力が
供給される。
Ａ変換器１３の出力により入力信号を除してＡ−Ｄ変換
器１１を介しＣＰＵに印加する。１４は第２記憶回路で
あって、ＣＰＵに制御されてＡ−Ｄ変換器１１の出力が
供給される。
次に」二記装置の動作を説明する。
装置起動時には、ＣＰＵにより切換器７の可動接点は固
定接点Ｂ側に接続されている。この状＃；で撮像装置６
が作動されるが、先ず被測定パターン不在の状態とし、
線光源の光量に比例した走査データがＡ−Ｄ変換器９に
入力され、ディジタル値に変換される。ＣＰＵ８はＡ−
Ｄ変換器９の出力を第１記憶器１２に書き込む、従って
、第１記ｔα器１２には線光源の−）；μから他端に至
る光量に応じたデータが記ｔｔｉされたことになる。Ｃ
ＰＵは第１記憶器への書込み終了後切換器７の可動接点
Ａを固定接点Ｃ側に切換える。
定接点Ｂ側に接続されている。この状＃；で撮像装置６
が作動されるが、先ず被測定パターン不在の状態とし、
線光源の光量に比例した走査データがＡ−Ｄ変換器９に
入力され、ディジタル値に変換される。ＣＰＵ８はＡ−
Ｄ変換器９の出力を第１記憶器１２に書き込む、従って
、第１記ｔα器１２には線光源の−）；μから他端に至
る光量に応じたデータが記ｔｔｉされたことになる。Ｃ
ＰＵは第１記憶器への書込み終了後切換器７の可動接点
Ａを固定接点Ｃ側に切換える。
次に測定モードにおける動作を説明する。
第２図に示すように被Ｊ１１定パターンを定速で移送し
なから撮像装置６における走査が行なわれる際に、ＣＰ
Ｕ８は撮像装置６から走査同期信じ−を受ける。そして
これによりＣＰＵは第１記憶器１２に記憶した光量デー
タを読み出しこれをＤ−Ａ変換器１３を介して除算器１
０の分母側に送込む、このとき除算器１０の入力端には
撮像装置６からの走査出力が順次入力されて順次出力さ
れる。−１−述のように、撮像装置６の出力には、線光
源の位置による光量の変動成分による変調出力αも含ま
れているが、このα成分は除算器１０の分母側に入力さ
れているのでこれにより除され、結局除算器１０の出力
には被測定パターンの濃淡に応じた透過光ｉｉ１ ｉｌ
ｌ力が７すられることになる。この出力はＡ−Ｄ変換器
１１によりディジタル（ｔに変換された後ＣＰＵ８を介
して第２記憶器１４に記憶される。ＣＰＵは第２記憶器
１４の出力を適時読出して所定の処理回路（図示せず）
に出力する。
なから撮像装置６における走査が行なわれる際に、ＣＰ
Ｕ８は撮像装置６から走査同期信じ−を受ける。そして
これによりＣＰＵは第１記憶器１２に記憶した光量デー
タを読み出しこれをＤ−Ａ変換器１３を介して除算器１
０の分母側に送込む、このとき除算器１０の入力端には
撮像装置６からの走査出力が順次入力されて順次出力さ
れる。−１−述のように、撮像装置６の出力には、線光
源の位置による光量の変動成分による変調出力αも含ま
れているが、このα成分は除算器１０の分母側に入力さ
れているのでこれにより除され、結局除算器１０の出力
には被測定パターンの濃淡に応じた透過光ｉｉ１ ｉｌ
ｌ力が７すられることになる。この出力はＡ−Ｄ変換器
１１によりディジタル（ｔに変換された後ＣＰＵ８を介
して第２記憶器１４に記憶される。ＣＰＵは第２記憶器
１４の出力を適時読出して所定の処理回路（図示せず）
に出力する。
なお、光源の光量変動４．ν性を第１記憶器１２に記憶
させる際に、線光源のフィラメントの振動笠によるバラ
ツキを補正するために、複数回のデータを取り、ＣＰＵ
にて乎均化することが望ましい。
させる際に、線光源のフィラメントの振動笠によるバラ
ツキを補正するために、複数回のデータを取り、ＣＰＵ
にて乎均化することが望ましい。
（発明の効果）
本発明によれば、線光源の発光部位による光量のバラツ
キは完全に？ｌｌｉ償することができるばかりでなく、
ＣＯＤ素子のバラツキや温度変化による特性変動、さら
にはレンズ１．ν性や機械的変動又はほこりや汚れによ
る影響等も補ＩＥできる優れた効果が得られる。
キは完全に？ｌｌｉ償することができるばかりでなく、
ＣＯＤ素子のバラツキや温度変化による特性変動、さら
にはレンズ１．ν性や機械的変動又はほこりや汚れによ
る影響等も補ＩＥできる優れた効果が得られる。
又本発明は、被Ｊ１１定走査パターンを一時記憶するこ
となく、即時処理できるので、多１１ｉデータの短時間
処理が可能となった。
となく、即時処理できるので、多１１ｉデータの短時間
処理が可能となった。
第１図は本発明の実施例を示すブロック図、第２図はパ
ターン読取装置の斜視図である。 １・・・・線光源 ２・・・・線状スリット板 ３・・・・被Δ１４定パターン ４φ争争拳レンズ ５・・・・光電変換素子
ターン読取装置の斜視図である。 １・・・・線光源 ２・・・・線状スリット板 ３・・・・被Δ１４定パターン ４φ争争拳レンズ ５・・・・光電変換素子
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）被測定パターン通過路を横断して設けられた線光源
と該線光源に対する光電変換素子列によりパターン認識
を行なう場合に、被測定パターン不在の上記光電変換素
子出力により被測定パターンに対する上記光電変換素子
出力を除した出力を被処理出力とすることを特徴とする
パターン認識技術における光量歪補正方法。 ２）被測定パターン通過路を横断して設けられた線光源
と、被測定パターンを透過した上記線光源の光線受光可
能位置に設置された複数の光電素子列と、被測定パター
ン不在時の上記光電素子列の出力レベルに対するＡ−Ｄ
変換器と、該Ａ−Ｄ変換器出力の記憶器と、該記憶器の
出力に対するＤ−Ａ変換器と、該Ｄ−Ａ変換器出力で被
測定パターン通過時の上記光電変換素子の出力を除する
除算器とを具備してなるパターン認識技術における光量
歪補正装置。 ３）被測定パターン通過路を横断して設けられた線光源
と、被測定パターンを透過した上記線光源の光線受光可
能位置に設置された複数の光電素子列と、被測定パター
ン不在時の上記光電素子列の出力レベルに対するＡ−Ｄ
変換器と、該Ａ−Ｄ変換器出力の記憶器と、該記憶器に
記憶された複数回のデータを平均化する平均化手段と、
該平均出力に対するＤ−Ａ変換器と、該Ｄ−Ａ変換器出
力で被測定パターン通過時の上記光電変換素子の出力を
除する除算器とを具備してなるパターン認識技術におけ
る光量補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20850585A JPS6267686A (ja) | 1985-09-19 | 1985-09-19 | パタ−ン認識技術における光量歪補正方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20850585A JPS6267686A (ja) | 1985-09-19 | 1985-09-19 | パタ−ン認識技術における光量歪補正方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6267686A true JPS6267686A (ja) | 1987-03-27 |
Family
ID=16557267
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20850585A Pending JPS6267686A (ja) | 1985-09-19 | 1985-09-19 | パタ−ン認識技術における光量歪補正方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6267686A (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5395518A (en) * | 1977-02-02 | 1978-08-21 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Facsimile input system |
| JPS57145472A (en) * | 1981-03-05 | 1982-09-08 | Canon Inc | Original reader |
| JPS60172886A (ja) * | 1984-02-17 | 1985-09-06 | Toshiba Corp | 複数受光素子を用いた読取り装置 |
| JPS60180377A (ja) * | 1984-02-28 | 1985-09-14 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 画像入力装置における画像信号補正方法 |
-
1985
- 1985-09-19 JP JP20850585A patent/JPS6267686A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5395518A (en) * | 1977-02-02 | 1978-08-21 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Facsimile input system |
| JPS57145472A (en) * | 1981-03-05 | 1982-09-08 | Canon Inc | Original reader |
| JPS60172886A (ja) * | 1984-02-17 | 1985-09-06 | Toshiba Corp | 複数受光素子を用いた読取り装置 |
| JPS60180377A (ja) * | 1984-02-28 | 1985-09-14 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 画像入力装置における画像信号補正方法 |
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