JPS626544Y2

JPS626544Y2 -

Info

Publication number: JPS626544Y2
Application number: JP1981035660U
Authority: JP
Priority date: 1981-03-14
Filing date: 1981-03-14
Publication date: 1987-02-14
Also published as: JPS57147777U

Description

【考案の詳細な説明】本考案は原子力施設から放射される放射能の監
視や原子力施設作業者の被ばく監視等に使用する
放射線測定装置に関する。

従来のこの種装置は、第１図に示すように放射
線検出器１に対し１対１の関係で積算時間Ｔを取
扱かう積算計数手段又は時定数τを取扱かう計数
率算出手段を持つた演算測定部２が接続され、こ
の演算測定部２で得た測定値はそのまま指示計又
は記録計の如き表示部３に表示する構成である。

ところで、従来前記演算測定部２は一定の積分
時間Ｔ又は時定数τで演算する手法をとつている
ため、第２図ａに示す入力レベルの変化に対し積
算時間Ｔ（又は時定数τ）の大きい場合（第２図
ｂ参照）と小さい場合（第２図ｃ参照）とではそ
の応答性および精度がそれぞれ異なる。例えば積
算時間Ｔ（又は時定数τ）の大きな場合には統計
的な偏差によるふらつきが小さく高精度の測定が
可能であるが、入力レベルが急激に変化した場合
には応答性が悪く正確な測定ができなくなる欠点
がある。逆に、積算時間Ｔ（又は時定数τ）の小
さい場合には統計的な偏差によるふらつきが大き
くなつて測定精度が悪くなるが、入力レベルの急
激な変化に対しては応答性がよく速やかに正確な
測定値が得られる利点がある。このように積算時
間Ｔ又は時定数τの大きさによつて応答性および
精度に一長一短があつて問題が多かつた。

本考案は上記実情にかんがみてなされたもの
で、その目的とするところは、大小の積算時間又
は時定数を持つ２つの演算測定手段を備え、入力
信号に対しこれらの２つの演算測定手段の出力を
比較し適切な測定出力を得る放射線測定装置を提
供するものである。

以下、本考案の一実施例について第３図を参照
して説明する。同図において１１は放射線検出
器、１２は放射線検出器１１から出力された放射
線検出パルスを積算計数する積算計数部、１３ａ
は大きい積算時間Taを定めて積算計数値をメモ
リ１４ａに格納する第１のタイマー部、１３ｂは
小さい積算時間Tbを定めて積算計数値をメモリ
１４ｂに格納する第２のタイマー部、１５は例え
ば両タイマー部１３ａ，１３ｂの時間信号の割算
を行なつて時間補出を行なう時間補正部、１６は
時間補正した内容とメモリ１４ｂの内容とを比較
して何れか一方を選択出力する比較部、１７は指
示計又は記録計等の表示部である。なお第１のタ
イマー部とメモリ１４ａとにより計数率の大きい
デイジタル的な計数率計を構成し、第２のタイマ
ー部とメモリ１４ｂとにより計数率の小さなデイ
ジタル計数率計が構成される。

次に、以上のように構成せる放射線測定装置の
作用を説明する。各メモリはタイマー信号生ずる
ごとに新しいデータを貯えて、古いデータをすて
ていくようにして常にタイマ信号の所定数のデー
タを貯え、かつタイマー信号あるごとにこれら記
憶内容を出力する。一般に、積算時間Ｔ（又は時
定数τ）が大きい場合、統計変動が小さく応答性
が遅い。逆に、積算時間Ｔ（又は時定数τ）が小
さい場合には統計変動が大きく応答性が速い。そ
こで、第４図ａのように入力信号２１に対し、時
間の経過による出力特性をみると、第４図ｂのよ
うになる。同図ｂにおいて２２は積算時間Ｔの大
きい場合、２３は積算時間Ｔの小さい場合であ
る。従つて、放射線検出器１１の入力が安定して
いるとき、Ｔ又はτの大きい場合に測定精度が高
く、逆に急激な変化のときＴ又はτの小さい場合
に応答が速く入力レベルにより近くなる。

そこで、以上のような特性を利用して効果的に
出力を選別するものである。即ち、放射線検出器
１１による放射線検出パルスを遂次後続の積算計
数部１２で積算計数していく。この時、後続の第
１および第２のタイマー１１３ａ，１３ｂで定め
た積算時間に達すると、このタイマー１３ａ，１
３ｂからの指令で積算計数値をメモリ１４ａ，１
４ｂへ格納する。そして、このメモリ１４ａ，１
４ｂの内容が出力されるが、メモリ１４ａの出力
はメモリ１４ｂの積算時間と合せるために時間補
正部１５で時間補正を行なつて積算値を出力す
る。従つて、後続の比較部１６には積算時間を異
にして積算した値が同一時間で入力されることに
なる。このとき、時間補正部１５で時間補正して
得た内容は第４図ｂの曲線２２のようになり、ま
たメモリ１４ｂ側からは第４図ｂの曲線２３のよ
うな内容が出力される。そこで、比較部１６は、
放射線検出器１１の入力信号が安定しているか否
かをメモリ１４ａ側すなわち時間補正部１５の出
力レベルとメモリ１４ｂ側の出力レベルとを比較
することにより判断し、出力レベルに差が小さけ
れば入力信号が安定しているのでメモリ１４ａ側
の内容を出力し、出力レベルに差が大きければ入
力信号が急激に変化したのでメモリ１４ｂ側の内
容を出力するものとなつている。つまり、第４図
において、入力信号ａの低レベルでの安定時には
メモリ１４ａ側を出力し、入力信号ａの急激な立
上がり時点からはメモリ１４ｂ側を出力し、その
後、両メモリ内容の一致したt₁時点（高レベル安
定時）で再びメモリ１４ａ側を出力する。また、
入力信号ａの急激な立下がり時点からはメモリ１
４ｂ側を出力し、その後、両メモリ内容の一致し
たt₂時点（低レベル安定時）で再びメモリ１４ａ
側を出力する。こうすることにより、入力信号が
安定しているときには精度の良好なメモリ１４ａ
側の内容が出力され、入力信号に変化を生じたと
きには応答性の良好なメモリ１４ｂ側の内容が出
力される。

次に、第５図は大小の異なる時定数τを取扱う
２つの計数率計３１ａ，３１ｂを備え、これらの
計数率計３１ａ，３１ｂの出力を演算測定部１８
ａで比較しつつ選択するものである。第４図ｃは
計数率計３１ａ，３１ｂを用いた出力特性であ
る。t₁，t₂は同図ｂと同様出力の切換え点を示
す。

なお、本考案は上記実施例に限定されるもので
はない。例えば第３図において時間補正部１５は
メモリ１４ｂ側に設けてもよい。またタイマー１
３ａ，１３ｂで時間規制される２つの積算計数部
を備え、何れか一方を時間補正した積算計数とし
て比較部１６で比較し、出力の選択を行なう構成
であつてもよいものである。また、試料測定時の
積算時間をT′とする時、試料を測定する直前の
試料のない時に積算計数した値をT′／Ｔ倍して
試料のある時の積算計数値から差引くような機能
を第３図に付加するものでもよい。このような構
成にすると、試料のない時の計数率が変動する時
に最とも正しいデータを差引き、変動の少ない時
には統計変動の少ない精度の高い値を差引くこと
ができるので、試料による放射線の正味の積算計
数結果を精度よく得ることができる。

また、本考案は試料を測定する直前の値を保持
し、試料を測定する時には上記保持値に計数率計
の出力から差引きながら出力し、試料による正味
の計数率を出力する構成であつてもよい。その
他、本考案はその要旨を逸脱しない範囲で種々変
形して実施できる。

以上詳記したように本考案によれば、大小の積
算時間又は時定数で積算計数又は計数率を求める
２つの系を備え、これらの２つの系の出力を比較
し選択するようにしたので、入力信号の安定時又
は急激な変化に際しても適切な出力を選択して測
定値とすることができ、誤差の少ない測定値を得
ることができる。特に、原子力施設のゲートモニ
タやダストモニタ等の測定試料の正味の測定値を
得る必要があるシステムでは、試料測定直前ある
いは試料測定中の正しいバツクグラウンド値を把
握して正味の測定値のみを得ることができる放射
線測定装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来装置の概略構成図、第２図は第１
図に示す装置の動作を説明する図、第３図は本考
案に係る放射線測定装置の一実施例を示す構成
図、第４図は本考案装置の動作を説明する図、第
５図は本考案の他の例を示す概略構成図である。１１……放射線検出器、１２……積算計数部、
１３ａ，１３ｂ……タイマー、１４ａ，１４ｂ…
…メモリ、１５……時間補正部、１６……比較
部、１７……表示部、１８，１８ａ……演算測定
部。３１ａ，３１ｂ……計数率計。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

試料からの放射線を検出する放射線検出器と、
この放射線検出器の出力信号を長時間の積算時間
又は時定数から計数率値を求める第１の回路と、
前記放射線検出器の出力信号を短時間の積算時間
又は時定数から計数率値を求める第２の回路と、
これら第１および第２の回路を時間補正して同一
時間の積算値又は計数率値とする時間補正手段
と、この時間補正後の前記第１および第２の回路
の出力を比較し、両出力の差が小さいときには第
１の回路の出力を選択し、両出力の差が大きいと
きには第２の回路の出力を選択して表示させる回
路とを備えてなることを特徴とする放射線測定装
置。