JPS6263929U - - Google Patents

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JPS6263929U
JPS6263929U JP15597485U JP15597485U JPS6263929U JP S6263929 U JPS6263929 U JP S6263929U JP 15597485 U JP15597485 U JP 15597485U JP 15597485 U JP15597485 U JP 15597485U JP S6263929 U JPS6263929 U JP S6263929U
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JP
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substrate
incident angle
ion beam
ion source
ion
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【図面の簡単な説明】
第1図は、この考案の一実施例に係る基板清浄
化装置を示す概略図である。第2図は、イオンビ
ームの入射角に対するスパツタリング収率の依存
性を示す図である。第3図は、従来の基板清浄化
装置の一例を示す概略図である。第4図は、第3
図のデイスク部分を示す平面図である。 2……デイスク、4……基板(ウエハ)、6…
…イオン源、8……イオンビーム、12……デイ
スク駆動機構、14……ロータリエンコーダ、1
6……制御回路、θ……入射角。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 真空中で基板に対してイオン源からイオンビー
    ムを照射して当該基板の表面を清浄化する装置に
    おいて、基板およびイオン源の少なくとも一方を
    機械的に駆動することによつて基板表面に対する
    イオンビームの入射角を変える入射角可変手段を
    備えることを特徴とする基板清浄化装置。
JP15597485U 1985-10-12 1985-10-12 Pending JPS6263929U (ja)

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JP15597485U JPS6263929U (ja) 1985-10-12 1985-10-12

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JP15597485U JPS6263929U (ja) 1985-10-12 1985-10-12

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JPS6263929U true JPS6263929U (ja) 1987-04-21

Family

ID=31077155

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15597485U Pending JPS6263929U (ja) 1985-10-12 1985-10-12

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6263929U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6412526A (en) * 1987-07-02 1989-01-17 Ibm Method of removing fine particles from solid surface

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS6412526A (en) * 1987-07-02 1989-01-17 Ibm Method of removing fine particles from solid surface

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