JPS6259266B2 - - Google Patents

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JPS6259266B2
JPS6259266B2 JP52094144A JP9414477A JPS6259266B2 JP S6259266 B2 JPS6259266 B2 JP S6259266B2 JP 52094144 A JP52094144 A JP 52094144A JP 9414477 A JP9414477 A JP 9414477A JP S6259266 B2 JPS6259266 B2 JP S6259266B2
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JP
Japan
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circuit
noise
counter
output
pulse
Prior art date
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Application number
JP52094144A
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English (en)
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JPS5428669A (en
Inventor
Gozo Kage
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP9414477A priority Critical patent/JPS5428669A/ja
Priority to US05/930,837 priority patent/US4204164A/en
Publication of JPS5428669A publication Critical patent/JPS5428669A/ja
Publication of JPS6259266B2 publication Critical patent/JPS6259266B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B1/00Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
    • H04B1/06Receivers
    • H04B1/10Means associated with receiver for limiting or suppressing noise or interference
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03GCONTROL OF AMPLIFICATION
    • H03G3/00Gain control in amplifiers or frequency changers
    • H03G3/20Automatic control
    • H03G3/30Automatic control in amplifiers having semiconductor devices
    • H03G3/34Muting amplifier when no signal is present or when only weak signals are present, or caused by the presence of noise signals, e.g. squelch systems
    • H03G3/342Muting when some special characteristic of the signal is sensed which distinguishes it from noise, e.g. using speech detector
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03GCONTROL OF AMPLIFICATION
    • H03G3/00Gain control in amplifiers or frequency changers
    • H03G3/20Automatic control
    • H03G3/30Automatic control in amplifiers having semiconductor devices
    • H03G3/34Muting amplifier when no signal is present or when only weak signals are present, or caused by the presence of noise signals, e.g. squelch systems
    • H03G3/344Muting responsive to the amount of noise (noise squelch)

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
  • Radio Transmission System (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は受信機復調出力における雑音を測定し
検出するための雑音測定回路に関するものであ
る。
受信機の雑音測定は、多数の受信機で同一の信
号を受ける様なダイバーシチイ受信における良質
信号の選択、あるいは信号が送られて来た事を知
つて信号処理側へ受信データを送出する時の信号
の受信した事の検出等に使用される。雑音の測定
結果を用いて種々の信号制御を行なうために、プ
ロセツサ、計算機等が介在する様な場合には、特
に、測定結果は数値情報で得る方が好ましい。
従来受信機復調信号出力中より雑音を測定する
ためには、受信データ信号の帯域外雑音を使う方
法が用いられて来た。第1図はその具体例を示す
図である。図において、1は受信データ信号の帯
域外雑音を取り出すための高域通過フイルタ、2
は雑音のレベルを得るための整流、平滑回路で、
ダイオードD1,D2、コンデンサC1,C2、抵抗器
R1により整流、平滑を行なつて、更に抵抗器
R2、コンデンサC3により早い応答を除いてい
る。3はレベル調整用可変抵抗器、4は雑音レベ
ルをデイジタルの数値情報に変換するアナログ−
デイジタル変換回路、5はデイジタル化された測
定結果を処理側へ送るためのバツフアレジスタで
ある。信号DETはアナログ−デイジタル変換回
路4の内容をレジスタ5へ読み取るための検出パ
ルスである。検出パルスDETによりシフトレジ
スタ5へ読み込まれた雑音情報は処理側へ受け渡
される。
しかるに、第1図に示された従来の回路構成で
は、受信機出力のレベル変動による雑音レベルの
調整を必要とし、高価なアナログ−デイジタル変
換回路を用いなければならない。さらに、受信信
号を整流、平滑回路2で平滑を行なつて、時定数
回路R2−C3を通す結果、短時間での雑音測定が
出来ない欠点があつた。
本発明はかかる従来の難点を一挙に解決する為
になされたものであり、従つて本発明の目的は、
測定された雑音をそのまま数値情報で表現するこ
とによりアナログ−デイジタル変換回路を必要と
せず、しかも回路構成を簡単化することによつて
廉価に構成できると共に、従来のものと比べて短
時間で雑音の測定を可能にする新規な雑音測定回
路を提供することにある。
本発明の上記目的は、入力信号をわずかだけ遅
延する遅延回路と、該遅延回路の入力と出力とを
比較して雑音に比例したパルス数を有するパルス
列を発生する比較回路と、該比較回路の出力パル
ス数を計数するカウンタとを有し、前記カウンタ
の計数数値情報により雑音を検出する事を特徴と
する雑音測定回路、によつて達成される。
次に、本発明をその良好な実施例について図面
を参照しながら詳細に説明する。
第2図は本発明に係る雑音測定回路の第一の実
施例を示す構成図であり、第3図、第4図は第2
図に示された回路を説明するためのタイムチヤー
トである。第2図において、参照番号7は受信信
号Sをわずかだけ遅延させる為の遅延回路、8は
受信信号Sと遅延回路7の遅延出力S1を比較する
比較回路、9はゲート回路、10はインバータ、
11はカウンタ、12はバツフアレジスタ、13
はリセツトパルス発生回路を夫々示している。
以下、本実施例においてはFM受信機で信号を
受けた場合について説明する。受信信号Sは抵抗
器R5、コンデンサC6から成る遅延回路7により
わずかだけ遅延される。遅延回路7の入力Sと出
力S1は比較回路8で比較される。比較された結果
(比較回路8の出力)S2はゲート回路9を通つて
カウンタ11へ入力される。カウンタ11の計数
数値がある値になると、例えばカウンタの最終段
が立ち上ると、インバータ10を通してゲート回
路9が閉じてカウンタ11の入力は遮断され、カ
ウンタ11の計数数値があふれ出すのを防いでい
る。受信信号Sの周波数帯域が決まつており、し
かもカウンタ11での計数数値があふれ出す心配
がない場合には、回路9,10は必要なく、比較
回路8の出力をそのままカウントしてもよい。
パルスDETは、測定した雑音をレジスタ12
へ読み込ませるための検出パルスであるが、第3
図、第4図では、ビツト単位で雑音の測定を行な
つている場合であり、信号のクロツクパルスを検
出パルスDETとして使用している。リセツトパ
ルス発生回路13は検出パルスDETの立ち上つ
た時点で微小な幅のパルスを発生してカウンタ1
1をクリアするための回路である。カウンタ11
で計数された値は検出パルスDETの立ち上つた
時点でバツフアレジスタ12へ読み込まれて処理
側へ受け渡される。
第3図は受信電界が強く雑音が少ない場合の例
を示す動作タイムチヤートである。このときには
信号S中の雑音がほとんどないために、受信信号
Sとそれよりわずかだけ遅延した出力S1と比較し
た結果のパルスS2は変化点が少なく、検出パルス
DETの1周期内でカウンタ11が計数する値は
わずかである。
第4図は受信電界が弱い場合を示し、受信信号
Sに多くの雑音が加えられている。このときに
は、受信信号Sとその遅延出力S1の比較出力S2
雑音に比例して多数の変化点が発生する。従つ
て、これを計数すれば雑音の測定が出来る。
以上説明した本発明の一実施例による第2図の
回路構成では、受信信号Sのレベルに無関係に雑
音の測定が出来るために、従来の具体例の様にレ
ベルに対する調整は不必要となる。また、カウン
タ11で計数された値が直接雑音を表わす情報で
あり、従来の様にアナログ−デイジタル変換回路
を必要とせず、従つて廉価に回路構成できる。さ
らに、カウンタ11は雑音測定毎にクリアされて
しまい、第1図に示した従来例の整流、平滑回路
2の様に雑音測定した後の電圧がいつまでも残留
する様な現象がないために、従来のものと比べて
比較的高速測定が可能であり、検出パルスDET
の周期を小さく選ぶことができる。さらにまた回
路全体にアナログ的な要素が少ない事も利点の一
つである。
第5図は本発明に係る雑音測定回路の第二の実
施例を示す構成図である。図において、14は遅
延回路、15は比較回路、16はゲート回路、1
7はインバータ、18はカウンタ、19はフリツ
プフロツプ回路、20はアナログゲート回路、2
1はインバータを夫々示している。アナログゲー
ト回路20は受信電界が強い場合に、すなわち受
信信号S中の雑音が少ない場合に、ゲートを開い
て受信信号Sをデータ抽出側へ出力している。遅
延回路14で受信信号Sをわずかだけ遅延して比
較器15で雑音に比例したパルス数を有するパル
ス列を作り、ゲート回路16を通してカウンタ1
8で計数する。カウンタ18が立ち上つたと言う
事は雑音がある状態であり、これをフリツプフロ
ツプ回路19で抽出してインバータ回路21で反
転してアナログゲート回路20を遮断する。この
場合にも雑音の測定時間が従来のものより短かく
選べるために、信号が来たことを検出する時間は
早くなる。
以上説明した様に本発明の雑音測定回路を用い
れば、従来のものと比べて、簡単にして廉価な回
路構成で実現できて、調整が少なく、比較的短時
間で雑音を測定する事が出来る。
以上本発明はその良好な実施例について説明さ
れたが、それは単なる例示的なものであり、ここ
で説明された実施例によつてのみ前記した本願特
許請求の範囲が限定されるものでないことは勿論
である。例えば遅延回路7,14として本実施例
においては抵抗、コンデンサから成る回路が使用
されているが、代りに、BBD(Bucket Brigade
Device)またはCCD(Charge Coupled
Device)のアナログ遅延素子等、その他の回路
を使用し得ることは明らかであり、それら又はそ
の他の変形、変更はすべて本願発明の範囲内に包
含されるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の方法による雑音測定回路の具体
例を示す図、第2図は本発明に係る雑音測定回路
の第一の実施例を示す図、第3図は第2図を説明
するためのタイムチヤート(雑音の少ない場
合)、第4図は第2図を説明するためのタイムチ
ヤート(雑音の多い場合)、第5図は本発明に係
る雑音測定回路の第二の実施例を示す図である。 1……高域通過フイルタ、2……整流、平滑回
路、3……レベル調整用可変抵抗器、4……アナ
ログ−デイジタル変換回路、5……バツフアレジ
スタ、7,14……遅延回路、8,15……比較
回路、9,16,23……ゲート回路、10,1
7,21,22……インバータ、11,18……
カウンタ、12……バツフアレジスタ、13……
リセツトパルス発生回路、19……フリツプフロ
ツプ回路、20……アナログゲート回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 入力信号をわずかだけ遅延する遅延回路と、
    該遅延回路の入力と出力とを比較して雑音をパル
    ス列として発生する比較回路と、該比較回路の出
    力パルス数を計数するカウンタとを有し、前記カ
    ウンタの計数数値情報により雑音を検出する事を
    特徴とする雑音測定回路。 2 前記遅延回路として1次の抵抗−コンデンサ
    低域通過フイルタが用いられていることを更に特
    徴とする特許請求の範囲第1項記載の雑音測定回
    路。 3 前記遅延回路としてBBDまたはCCDのアナ
    ログ遅延素子が用いられていることを更に特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載の雑音測定回路。 4 前記比較回路と前記カウンタとの間に、前記
    カウンタの計数数値がある値に達した時に前記カ
    ウンタのカウント入力を遮断するゲート回路が設
    けられていることを更に特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載の雑音測定回路。 5 前記カウンタは検出パルスの立上つた時点で
    微小な幅のパルスを発生するリセツトパルス発生
    回路の出力によつてクリアされることを更に特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の雑音測定回
    路。
JP9414477A 1977-08-08 1977-08-08 Noise measuring circuit Granted JPS5428669A (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9414477A JPS5428669A (en) 1977-08-08 1977-08-08 Noise measuring circuit
US05/930,837 US4204164A (en) 1977-08-08 1978-08-03 Noise detector circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9414477A JPS5428669A (en) 1977-08-08 1977-08-08 Noise measuring circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5428669A JPS5428669A (en) 1979-03-03
JPS6259266B2 true JPS6259266B2 (ja) 1987-12-10

Family

ID=14102178

Family Applications (1)

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JP9414477A Granted JPS5428669A (en) 1977-08-08 1977-08-08 Noise measuring circuit

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US (1) US4204164A (ja)
JP (1) JPS5428669A (ja)

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Also Published As

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US4204164A (en) 1980-05-20
JPS5428669A (en) 1979-03-03

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