JPS6257246B2 - - Google Patents

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JPS6257246B2
JPS6257246B2 JP12638781A JP12638781A JPS6257246B2 JP S6257246 B2 JPS6257246 B2 JP S6257246B2 JP 12638781 A JP12638781 A JP 12638781A JP 12638781 A JP12638781 A JP 12638781A JP S6257246 B2 JPS6257246 B2 JP S6257246B2
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JP
Japan
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lead wire
ceramic body
capacitor
view
ceramic
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JP12638781A
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JPS5827315A (ja
Inventor
Shinichi Takakura
Shoichiro Noyone
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、セラミツクコンデンサの製造方
法、特に、微小容量のセラミツクコンデンサの製
造方法に関する。
一般に電子部品は小型のものが要求されている
が、あえて小型化を避ける場合がある。たとえば
小容量のコンデンサは相対的に小型になるがこれ
を他の電子部品と等しい大きさにするため、わざ
と大きな寸法にすることがある。なぜならば、製
品の出荷および電子回路への実装等における取り
扱いが容易となるからである。ところで、コンデ
ンサの容量は、対向する1対の電極の重なり面
積、電極間距離、および誘電体層の誘電率で決定
される。したがつて、コンデンサの容量を小さく
するには、コンデンサの形状の観点からは、電極
の重なり面積を小さくすることおよび電極間距離
を大きくすることが要求される。特に、1pFのよ
うな微小容量を達成するには、重なり面積を極め
て小さくかつ電極間距離を極めて大きくしなけれ
ばならない。従来、この要請を満たすために、さ
まざまな構造のコンデンサが提案され、かつ実施
されてきた。
第1図ないし第4図は、従来から提案されてき
た微小容量のコンデンサの構造の3つの例を示す
図である。
第1図は従来の微小容量コンデンサの第1の例
を示す斜視図であり、第2図は縮尺は異なるが第
1図に示された微小容量コンデンサの正面図であ
る。第1図および第2図から明らかなように、こ
のコンデンサ1では、誘電体層2の上面に、2個
の電極3,4が形成されている。このセラミツク
コンデンサ1は、いわゆる縁端容量タイプのコン
デンサと呼ばれるものである。すなわち、コンデ
ンサを構成する2個の電極3,4は、面対向され
ておらず、同一平面に形成されている。したがつ
て、実質的に電極間距離を極めて大きくしたもの
に相当するため、非常に小さな容量のコンデンサ
となるものである。
第3図は、従来の微小容量コンデンサの第2の
例を示す正面図であり、先に説明された第1の例
の第2図に相当する図である。第3図から明らか
なように、この第2の例の微小容量コンデンサ1
は、3個の電極3,4,5を有する。電極3と電
極4とは、第1の例の微小容量コンデンサ1と同
様に、誘電体層2の上面に形成されており、同一
平面上に存在する。他方、電極5は、誘電体層2
の他方の面すなわち第3図の下面に形成されてお
り、誘電体層2を介して電極3および電極4と部
分的に対向されている。この第3図に示された第
2の例の微小容量コンデンサ1では、電極3と電
極4とにより容量が取り出される。このことは、
電極3および電極5で構成される第1のコンデン
サと、電極5および電極4で構成される第2のコ
ンデンサとが直列に接続されているのと同等のコ
ンデンサであることを意味する。すなわち、第3
図に示された第2の例の微小容量コンデンサ1で
は、部分的に面対向されたすなわち重なり面積が
小さくされた2個の電極から構成されるコンデン
サが2個実質的に直列に接続されているような構
造により、微小容量を達成する。
第4図は、従来の微小容量コンデンサの第3の
例を示す斜視図である。第3の例の微小容量コン
デンサ1は、誘電体層2の内部にリード線6,7
が挿入されているものである。ここでは、誘電体
層2内部でのリード線6,7の端面により容量が
取り出される。
以上のように、微小容量コンデンサとして、さ
まざまな形式のものが提案されているが、上述の
第1ないし第3の例の微小容量コンデンサはいず
れもその製作が非常に難しいという欠点を有して
いた。特に、微小容量を正確に得るためには、対
向される1対の電極の位置関係を正確に決定する
必要があるため、製作の自動化は極めて困難であ
つた。また、第4図に示された第3の例において
は、焼結前にリード線を挿入するため、リード線
が約1400℃程度の焼結温度に耐える必要があり、
高融点の材料を使うことが要請される。このよう
な高融点材料としては、たとえば白金、パラジウ
ム等が存在するが極めて高価であるため、セラミ
ツクコンデンサの価格を上昇させるという欠点が
存在した。
それゆえに、この発明の主たる目的は、微小容
量のセラミツクコンデンサを容易にかつ安価に製
造し得る方法を提供することである。
この発明の他の目的は、微小容量であつても、
大容量のコンデンサと同一の大きさのセラミツク
コンデンサを製造する方法を提供することであ
る。
この発明は、要約すれば、2個の貫通孔が形成
されたセラミツク体の前記各貫通孔の内面に導電
膜を形成する導電膜形成工程、前記貫通孔に全体
U字または全体V字形リード線を挿入するリード
線挿入工程、前記リード線が挿入されたセラミツ
ク体をはんだ槽に浸漬するはんだづけ工程、およ
び前記リード線を分断してコンデンサのための電
極から引き出される2本のリード線を形成するリ
ード線形成工程を備えるセラミツクコンデンサの
製造方法である。
この発明の上述の目的およびその他の目的と特
徴は、図面を参照して行なう以下の詳細な説明か
ら一層明らかとなろう。
第5図ないし第10図は、この発明の第1の実
施例を説明するための各図であり、以下の説明は
この第5図ないし第10図と、この実施例の各工
程を示す第20図とを参照して行なわれる。な
お、説明を容易にするために、各図面は任意の縮
尺により表わされることを指摘しておく。
第20図を参照して、この実施例は、第1にセ
ラミツク体準備工程31により開始される。第5
図に示されるようなセラミツク体10が準備され
る。セラミツク体10には、2個の貫通孔11,
12が形成されている。各貫通孔11,12の内
径は、後述されるリード線の外径より大きく選ば
れる。
次に、第20図の導電膜形成工程32が実施さ
れる。各貫通孔11,12の内周面に、たとえば
銀パラジウムが塗布され、その後焼き付けされ
る。導電膜は、この実施例により製造されるセラ
ミツクコンデンサの容量を取り出す部分となるも
のである。なお、導電膜を形成する材料としては
銀パラジウムに限らず、さまざまな導電性材料を
用いることができ、かつ塗布に限らずレジスト形
成後に無電解めつきを行なう方法または無電解め
つき後にセラミツク体10の上下面を研削する方
法等のさまざまな膜形成手段が用いられ得る。
次に、第20図のリード線準備工程33が実施
される。後述される第6図に示されるような、全
体U字形のリード線13が準備される。なお、リ
ード線13は、第6図において示されるような全
体U字形には必ずしも限られず、全体V字形であ
つてもよい。また、この実施例においては、セラ
ミツク体10はすでに焼結されているため、この
リード線13に高融点の材料たとえば白金線等を
用いる必要はない。すなわち、銅等の安価な材料
を用いることが可能である。
第20図を参照して、リード線挿入工程34が
実施される。全体U字形リード線13が、その両
端部よりセラミツク体10の各貫通孔11,12
に挿入される。このようにして、リード線13が
挿入されたセラミツク体10は、第6図において
部分切欠斜視図により示される。
次に、第20図のはんだ浸漬工程35が実施さ
れる。このはんだ浸漬工程35の途中の状態は、
第7図において側面断面図により示される。はん
だ浸漬槽14が準備される。はんだ浸漬槽14の
内部には、溶融されたはんだ15が用意されてい
る。この溶融されたはんだ15の中にリード線1
3が挿入されたセラミツク体10が第7図の矢印
X方向に浸漬される。
次に、第20図のはんだ固化工程36が実施さ
れる。第7図で示されたような溶融されたはんだ
15内に浸漬されたセラミツク体10は、はんだ
浸漬槽14から引き上げられる。このとき、セラ
ミツク体10の貫通孔11,12の内部には溶融
されたはんだ15がプリント回路基板のスルホー
ルと同じように入つていくため、室温で冷却され
て、リード線13とセラミツク体10の貫通孔1
1,12の内周面の導電膜とがはんだづけされ
る。このようにして、リード線13がはんだづけ
されたセラミツク体10は、第8図において断面
図により示される。すなわち、セラミツク体10
の各貫通孔11,12の内部にはんだ層16,1
7が存在し、セラミツク体10とリード線13と
を固着している。
次に、第20図のリード線切断工程37が実施
される。セラミツク体10にはんだづけされたリ
ード線13は、第8図の一点鎖線Yの方向に切断
される。全体U字形のリード線13の屈曲部分が
切断除去されるのである。このようにしてリード
線13の一部が切断されたセラミツク体10の正
面図は、第9図に示される。屈曲部分で分断され
たリード線13の残存部分は、2つの部分13A
および13Bに分かれる。第9図から明らかなよ
うに、この残つたリード線の部分13A,13B
は、コンデンサのための電極から引き出される2
本のリード線を構成することになる。
次に、第20図のデイツプ掛け工程38が実施
される。第9図に示されたセラミツク体10、お
よびリード線13の残存部分13A,13Bに、
デイツプ掛けが実施される。このデイツプ掛け
は、コンデンサチツプの保護のために行なわれる
ものである。第10図は、デイツプ掛けされた後
の状態を示す断面図である。このようにして、微
小容量のセラミツクコンデンサが製造される。
以上のように説明されたこの実施例では、各工
程を全て手作業によることなく実施することがで
きる。したがつて、微小容量のコンデンサが容易
に製作され得る。また、リード線13は、セラミ
ツク体10の焼成後に挿入されるため、リード線
13に高価な高融点材料を用いる必要がなく、安
価に製造することが可能である。
第11図ないし第13図は、この発明の第2の
実施例を説明するための図である。第2の実施例
の特徴は、先の実施例について説明された第20
図におけるリード線挿入工程34が異なることに
ある。すなわち、第20図におけるリード線準備
工程33までの各工程については第5図ないし第
10図を参照して説明された先の実施例と同様で
ある。また、第20図に示されたはんだ浸漬工程
35以下の各工程についても先の実施例と同様で
ある。したがつて、先の実施例と異なる工程につ
いてのみ説明する。第21図は、この第2の実施
例の特徴となる工程を示す図である。リード線挿
入工程34は、2つの工程から成る。まず、第2
1図のリード線挿通工程34Aが実施される。す
なわち、全体U字形リード線13が、セラミツク
体10の貫通孔11,12の中に挿通される。こ
れは、第6図において示された状態と同様であ
る。次に、第21図のリード線折曲工程34Bが
実施される。挿通されたリード線13は、その屈
曲部分と逆の側すなわち両端部の側で、セラミツ
ク体10と平行に折曲げられる。この折曲げられ
たリード線13の状態は、第11図に正面図で、
第12図で側面図でそれぞれ示される。すなわ
ち、リード線13の折曲げられた部分は、セラミ
ツク体10と平行であり、かつセラミツク体10
の一方面に接触されている。この後、はんだ浸漬
工程35以下の各工程が実施されるわけである
が、リード線13の切断は、第11図および第1
2図において一点鎖線Zで示された方向に行なわ
れる。これは、前述された実施例における第8図
に相当するものであり、特に異なるものではな
い。第13図は、この第2の実施例により得られ
たセラミツクコンデンサ1を示す斜視図である。
第14図および第15図は、この発明の第3の
実施例を説明するための斜視図である。第3の実
施例の特徴は、第20図を参照して説明された先
の実施例におけるリード線準備工程33およびリ
ード線挿入工程34が異なることにある。その他
の工程については同様であるため、特に説明は行
なわない。第14図を参照して、第3の実施例に
用いられるリード線13は、全体U字形である点
で前述された各実施例と同様であるが、両端部に
おいて、直角に曲げられた折曲部分13C,13
Dを有する点で異なる。すなわち、この第3の実
施例では、第14図に示されるようなリード線1
3が準備される。次に、リード線挿入工程34が
実施されるわけであるが、リード線13のセラミ
ツク体10に対する挿入は、リード線13の折曲
部分13Cおよび13Dにより実施される。折曲
部分13Cが、セラミツク体10の貫通孔11に
挿入され、他方の折曲部分13Dが貫通孔12に
挿入される。このようにしてリード線13が挿入
されたセラミツク体10は、第15図に示され
る。第15図から明らかなように、この第3の実
施例では、リード線13はセラミツク体10を挟
むように位置される。以下の各工程については、
第20図を参照して説明された先の実施例と同様
であるが、この第3の実施例により得られるセラ
ミツクコンデンサは、第2の実施例で得られたセ
ラミツクコンデンサと同様に、リード線13の残
存部分が、各貫通孔11,12と直角をなす。
第16図は、この発明の第4の実施例を説明す
るための斜視図である。第4の実施例の特徴は、
第1の実施例について説明された第20図の導電
膜形成工程32が異なることにある。その他の工
程については同様であるためその説明を省略す
る。第4の実施例においては、導電膜がセラミツ
ク体10の各貫通孔11,12の内周面のみなら
ず、セラミツク体10の表面にも形成されている
ことにある。すなわち、たとえば銀パラジウムな
どの導電性材料が、各貫通孔11,12の内周面
とセラミツク体10の表面の一部すなわち各貫通
孔11,12の開口部周辺にも塗布される。この
ようにして導電膜が形成されたセラミツク体10
の斜視図が、第16図に示される。各貫通孔1
1,12の開口部周辺にも導電膜が形成されるの
で、はんだ浸漬によりはんだは各貫通孔11,1
2内部のみならず開口部周辺にも付着する。した
がつて、リード線13は、各貫通孔11,12と
より強固に固着される。
第17図および第18図は、この発明の第5の
実施例を説明するための図である。第5の実施例
の特徴は、第20図のリード線準備工程33にあ
る。全体U字形のリード線として、第17図に正
面図で示されるようなU字形の屈曲部分が変形さ
れたリード線13が準備される。すなわち、リー
ド線13は、全体U字の内側に屈曲された屈曲部
分13E,13Fを有する。この屈曲部分13
E,13Fは、リード線13がセラミツク体10
の各貫通孔11,12に挿入されたとき、セラミ
ツク体10の表面に接触するような形状に選ばれ
ている。第18図は、第5の実施例におけるリー
ド線13がセラミツク体10に挿入された状態を
示す正面図である。第5の実施例では、リード線
13の屈曲部分13E,13Fの部分にもはんだ
が付着して、各貫通孔11,12の開口部周辺に
はんだからなるフランジ体が形成されたのと同等
の形状となるため、リード線13と各貫通孔1
1,12との密着強度を高めることが可能とな
る。なお、この第5の実施例において、第4の実
施例のように、各貫通孔11,12の開口部周辺
に導電膜を形成してもよく、それによつてリード
線13と各貫通孔11,12との密着をより強固
にすることができる。その他の点については第2
0図を参照して説明された先の実施例と同等の効
果を奏する。
以上のように説明された各実施例においては、
セラミツク体10は、すべて角板状として図示さ
れたが、この発明に用いられるセラミツク体10
については、角板状に限られるものではない。す
なわち、第19図に示されるような円板状のセラ
ミツク体10であつてもよい。さらに角板状また
は円板状に限らず、さまざまな形状のセラミツク
体が用いられ得る。また、この発明に用いられる
リード線の全体形状についても、U字形に限ら
ず、V字形であつてもよいことはいうまでもな
い。
以上のように、この発明によれば、微小容量の
セラミツクコンデンサが容易に、かつ手作業を用
いることなく製造され得る。また、効率よく量産
できかつ安価に微小容量のセラミツクコンデンサ
を得ることが可能となる。また、正確に加工され
得る貫通孔の寸法および形状でコンデンサの容量
が決まるので、正確な容量の微小容量コンデンサ
を製造することが可能となる。さらに、従来にな
かつた新規な構造の微小容量コンデンサを得るこ
とが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来の微小容量コンデンサの第1の
例を示す斜視図である。第2図は、第1図に示さ
れた微小容量コンデンサを拡大して示す正面図で
ある。第3図は、従来の微小容量コンデンサの第
2の例を示す正面図である。第4図は、従来の微
小容量コンデンサの第3の例を示す斜視図であ
る。第5図は、この発明の第1の実施例で準備さ
れるセラミツク体を示す斜視図である。第6図
は、リード線が挿入されたセラミツク体を示す部
分切欠斜視図である。第7図は、はんだ浸漬工程
におけるリード線が挿入されたセラミツク体を示
す断面図である。第8図は、リード線がはんだづ
けされたセラミツク体を示す断面図である。第9
図は、リード線の一部が切断された状態のセラミ
ツク体を示す正面図である。第10図は、この発
明の第1の実施例により製造されるセラミツクコ
ンデンサの断面図を示す。第11図は、この発明
の第2の実施例で用いられるリード線がセラミツ
ク体に挿入された状態を示す正面図である。第1
2図は第11図に示された状態の側面図である。
第13図は、この発明の第2の実施例により得ら
れるセラミツクコンデンサを示す斜視図である。
第14図は、この発明の第3の実施例に用いられ
るリード線を示す斜視図である。第15図は、第
14図に示されたリード線が挿入されたセラミツ
ク体を示す斜視図である。第16図は、この発明
の第4の実施例に用いられるセラミツク体を示す
斜視図であり、導電膜が形成された状態を示す。
第17図は、この発明の第5の実施例に用いられ
るリード線を示す正面図である。第18図は、第
17図に示されたリード線がセラミツク体に挿入
された状態を示す正面図である。第19図は、こ
の発明に用いられるセラミツク体の他の形状の例
を示す斜視図である。第20図は、第1の実施例
の各工程を示す図である。第21図は、第2の実
施例の特徴となる工程を示す図である。 図において、1はセラミツクコンデンサ、10
はセラミツク体、11,12は貫通孔、13は全
体U字形リード線、13A,13Bはコンデンサ
のための電極から引き出される2本のリード線に
該当する部分、15ははんだ、31は準備工程、
32は導電膜形成工程、34はリード線挿入工
程、35ははんだ浸漬工程、36ははんだ固化工
程、37はリード線切断工程を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 2個の貫通孔が形成されたセラミツク体を準
    備し、前記各貫通孔の内面にコンデンサを構成す
    る電極となる導電膜を形成する導電膜形成工程、 全体U字または全体V字形リード線を準備し、
    前記セラミツク体の2個の貫通孔に前記リード線
    の両端部より前記リード線を挿入するリード線挿
    入工程、 前記リード線が挿入された前記セラミツク体を
    溶融されたはんだに浸漬して、前記リード線と前
    記貫通孔とをはんだづけするはんだづけ工程、お
    よび 前記リード線の屈曲部分を切断し、それによつ
    て、コンデンサのための電極から引き出される2
    本のリード線を形成するリード線形成工程を備え
    るセラミツクコンデンサの製造方法。
JP12638781A 1981-08-11 1981-08-11 セラミツクコンデンサの製造方法 Granted JPS5827315A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0193472U (ja) * 1987-12-11 1989-06-20
WO2020262508A1 (ja) * 2019-06-28 2020-12-30 株式会社クボタ 収穫機、システム、プログラム、記録媒体、及び方法

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