JPS625110A - 座標測定機の制御方法および制御装置 - Google Patents

座標測定機の制御方法および制御装置

Info

Publication number
JPS625110A
JPS625110A JP61149889A JP14988986A JPS625110A JP S625110 A JPS625110 A JP S625110A JP 61149889 A JP61149889 A JP 61149889A JP 14988986 A JP14988986 A JP 14988986A JP S625110 A JPS625110 A JP S625110A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measuring machine
coordinate measuring
displacement
probe
control device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP61149889A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0792382B2 (ja
Inventor
ゲアハルト・トリープ
カール・シエツペルレ
カール−オイゲン・アウベーレ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss SMT GmbH
Carl Zeiss AG
Original Assignee
Carl Zeiss SMT GmbH
Carl Zeiss AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss SMT GmbH, Carl Zeiss AG filed Critical Carl Zeiss SMT GmbH
Publication of JPS625110A publication Critical patent/JPS625110A/ja
Publication of JPH0792382B2 publication Critical patent/JPH0792382B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/18Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
    • G05B19/401Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by control arrangements for measuring, e.g. calibration and initialisation, measuring workpiece for machining purposes
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y15/00Nanotechnology for interacting, sensing or actuating, e.g. quantum dots as markers in protein assays or molecular motors
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/37Measurements
    • G05B2219/37193Multicoordinate measuring system, machine, cmm
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/50Machine tool, machine tool null till machine tool work handling
    • G05B2219/50134Tool pushes reference plane, or vice versa, reverse motion until again zero

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の関連する技術分野 本発明は、座標測定機上で工作物を自動的に測定する方
法および装置に関しており、その際、測定機の探触子が
工作物表面に涜って案内され、探触子が変位すると走査
ヘッド中の測定値変換器から送出される信号が、測定値
の形成のためならびに機械駆動部の制御のために用いら
れる。
従来技術 この形一式の、工作物を連続的に探触走査する測定方法
は「スキャン法」または「スキャニング」と称されてい
る。公知のスキャン法では、走査ヘッドの探触子は2つ
の座標方向に関してクランプされており、クランプされ
た軸の一方の方向に走査させられ、他方第3座標におい
て探触子は、工作物表面に対しほぼ垂直に変位可能であ
り、工作物表面に接触して案内される。
工作物と探触子との間の接触を保つために、かつ接触力
を一定に保つために、この第3座標における探触子変位
の測定に用いられる測定変換器が該当の機械軸に対する
位置調整回路に接続されている。
この方法では、走査方向が常に機械軸に拘束されるので
、走査方向と工作物表面との間の角度が急峻になったと
き、例えば60°を超えたとき「クランプ方向を替える
」即ち、走査方向と測定方向を入れ替えなければならな
い。これによって先ず1度測定過程が中断される。さら
に走査方向と工作物表面との間の角度に依存する探触子
と工作物との間の無視できない摩擦により走査時の測定
力が変化する。
走査方向と測定方向の間の切換えを、駆動軸の調整回路
における制御電圧が測定方向および走査方向に対し℃同
じになると自動的に行うことは、ドイツ連邦共和国特許
出願公開第2921166号公報から公知である。
この方法でも、走査方向が機械の各々1つの所定の駆動
座標に結び付いているので、ここでも工作物に加わる測
定力が変化し、それが測定結果に影響する。つまり、一
定に保持されるのは、合成された全測定力ではなく、走
査ヘッドにより調整される各軸における測定力成分でし
かない。さらにこのスキャニング過程は、駆動方向の速
度だけが一定に保たれ、本来の、工作物幾何構造に依存
する通路ないし経路に沿っての速度が一定に保たれない
発明が解決しようとする問題点 本発明の目的は、可及的均一なスキャン過程を一定の全
測定力で確実に行うスキャニング方法およびこの方法を
実施するのに適した装置を提供することにある。
問題点を解決するための手段 この目的は、本発明によれば次のようなステップから成
る方法によって解決される。即ちa)各座標方向(Xt
ylZ)における個々の速度(Vi)からベクトル和と
して合成された経路速度の値1v  1 を設定値とし
て予めoll 与えて一定に保ち、 b)探触子変位ないしその値+ M、。、 、 、もや
はり予め与えておいて測定された探触子変位ないしその
値” ist ’と比較し c)測定された探触子変位と予め与えられた探触子変位
との間の偏差ΔAに相応する信号な用いる。
この方法を実施するための有利な装置は本発明によれば
次のように構成される。即ち、走査ヘッドと、該走査ヘ
ッド中に設けられていて探触子の個々の座標方向x、y
、zにおける変位に比例する信号を送出する測定変換器
とを備えており、前記信号は機械軸の駆動部に帰還接続
される複数座標測定機のメ\象へ御可能な軸の制御装置
において、 a)少なくとも2つの機械軸を同時に制御する計算機が
設けられており、 b)計算機に、該計算機により制御される少なくとも2
つの機械軸に対応して設けられた、走査ヘッドの測定変
換器の出力信号が供給され、 c)計算機が探触子変位ないしその絶体値”’5oll
’と走査運動の経路速度の絶体値d)計算機が、経路速
度の方向を、測定された探触子変位の予め与えられた設
定値からの偏差に応じて新たに計算し、かつ新たに計算
した経路速度の値を一定に保ち、 整回路に案内量として供給される構成とする。
実施例 第1図において1oは工作物を示して〜・る。
この工作物を、座標測定機がその輪郭11に油って走査
する。工作物10に常に接触して〜・る探触子の球1は
従って輪郭11に平行な走査経路14Vc沿って動く。
走査過程を均−且つ可及的に誤差なく行うために1走査
速度の絶体値1v1を一定に保つ制御が行われる。この
走査速度で、探触球1が湾曲した経路14上を移動する
。換言すれ&f探触球の図示の位置に対する走査速度は
次式が成り立つ、 IV 1=IV 1=1−、1=IV、1同時に輪郭線
11に対してほぼ垂直な方向に加わる測定力Fの値も一
定に保たれる、即ち、次式が当てはまる。
1−F l −1−F l = 1731−1−F、 
1このような制御を行う装置のブロック回路図を第2図
に示す。
ここには詳細には示されていない測定機の駆動部を成″
13つのモータ6a、8b、8cの軸に速度計用発電機
7a、7b、7cが設けられている。モータ8によって
、測定機の走査ヘッド15が3つの座標X、y、Z&c
おいて移動させられる。測定値形成のため、3つの機械
軸に対応して設けられた測長器13a 、 b 、 c
の位置信号Px、 Py、P2および、走査ヘラ)11
5の、探触子2の変位を測定する信号発生器12a 、
 12b、12Cの信号Ax、Ay、A2が測定機の制
御計算機6によって公知の方法で相互に結合される。
測定値形成および測定結果指示についてはとこでは詳し
くは言及しない。
3つの機械軸x、y、zの駆動を制御するために、1つ
の基板5上に1つのマイクロプロセッサ養が設けられて
いる。このマイクロプロセッサは殊に駆動モータ8a〜
8Cに対する速度調整回路9a、9b、9cK調整量v
x、 v、 。
■2を供給する。調整回路9a、9b、9Cの電子的部
分はやはり基板5上に設けられている。
第1図に示された走査過程を実施するために、マイクロ
プロセッサ4が制御計算機6から経路の設定値”5ol
l’とを予め与えられる。ここで前提されて〜)ること
は、探触子2の戻し設定(リセット)ははね装置により
行われるので、工作物10と探触子球lとの間の力Fは
探触子変位Aに比例しているということである。同時に
マイクロプロセッサ4が測定値発生器12a 、 12
b、12Cの信号Ax * Ay t Azを受は取り
、これらの信号から、探触子変位量の実際値1^、 1
と+st 探触子変位の方向Aeとを算定する。
マイクロプロセッサ番は予め与えられた探触子変位の設
定値IX5゜II’と実際値lx、 st lとを比較
し、これらの両値の間に偏差ΔAがあると走行速度の方
向■を、以下に簡単なベクトル表示方法で示した計算式
に従って変化させる。
この記述法において、Aeは探触子変位の” 方向にお
ける単位ベクトルであり から得られる。
新たに算定された経路ないし走査速度のベクトルv2は
、先行する速度のベクトル■□に比べて一定の値に保た
れている場合、探触子変位の方向Ae、に回転する2、 マイクロプロセッサにより算定された新たな経路速度v
2は次に成分V、 、 Vy、 V2に分割されて調整
量として機械駆動部の速度調整回路9a、b、cに供給
される。
走査方向の探触子変位への適合がマイクロプロセッサの
タイムペースから導出されたクロックで連麺的に行われ
るので、走査ヘッド15の動きは、許容調整備差ΔAを
度外視すると、自動的に工作物10の輪郭に適合される
。探触子変位lX1st1が制御計算機6により予め与
えられた設定値”’5oil’を上回ると直ちに、経路
速度Vの方向が、偏差ΔAが取り除かれるように変化す
る。経路速度Vに比べて十分速い計算クロックの場合、
走査ヘッド15が工作物輪郭に沿ってほぼ連続的に動く
上記の実施例においては、探触子2の戻し設定なばね装
置により行うことが出発点となっている。このような走
査ヘッドの場合、探触子変位が自動的に工作物表面に対
してほぼ垂直に調整され、さらに、その値(変位値)が
一定なので、工作物10と探触子球1との間の測定力F
も一定に保たれる。
第2図に示された装置は、例えばドイツ連邦共和国特許
第2242335号明細書に記載のタイプの走査ヘッド
でも用いることができる。
このタイプのヘッドは戻しばねを備えておらず、変位に
依存しない測定力を探触子に加えるための可動コイル装
置を備えている。ここではばね特性曲線を次のようにし
て電気的にシミュレートすることができる。即ち、測定
力コイルに、各座標における変位に比例する信号を供給
する。
とはいえこの形式の走査ヘッドでは測定力を変位に依存
せずに加える方が有利であり、しかも実際の走査経路か
ら導出された方向において経路速度の方向に対して垂直
に加えるとよい。
探触子変位に対する設定値”’5oll’はこのときO
Fcセットするかあるいは非常に小さく保つことができ
るので、探触子2のすべての変位範囲を調整偏差として
使用することができる。これにより探触走査動作の際に
経路速度をより高くすることができる。
発明の効果 本発明により、可及的均一なスキャン過程を一定の合成
測定力で確実に行うスキャニング方法およびこの方法を
実施するのに適した装置が提供される。
【図面の簡単な説明】
第1図は工作物と工作物に沿って案内される探触子の走
査線とを略示する部分図、tIN2図は本発明による測
定機の制御装置の実施例のブロック回路図である。 1・・・探触子球、4−・・マイクロプロセッサ、6a
、 6 b 、 6 c−・・駆動モータ、Qa、9b
、QC・・・速度調整回路、10・・・工作物、12a
 * 12b+12c・・・測定変換器

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、座標測定機で工作物の自動測定を行なう方法であつ
    て、該座標測定機の探触子(1、2)が連続的に工作物
    表面(10)に沿つて案内され、探触子の変位■の際に
    走査ヘッドの測定変換器から送出される信号が測定値の
    形成ならびに機械駆動部(6a、8b、8c)の制御に
    用いられる、座標測定機の制御方法において、 a)各座標方向(x、y、z)における個々の速度(V
    i)の合成からベクトル和とし て生成される経路速度の絶対値|■_s_o_l_l|
    を設定値として予め与えて一定に保ち、 b)探触子変位ないしその絶対値|■_s_o_l_l
    |もやはり予め与えておいて測定された探触 子変位ないしその絶対値|■_i_s_t|と比較し、
    c)測定された探触子変位と予め与えられた探触子変位
    との間の偏差Δ■に相応する信 号ならびに探触子変位の方向■_eに相応する信号を形
    成して、経路速度■_i_s_tの方向■_eの修正に
    用いる ことを特徴とする座標測定機の制御方法。 2、探触子(1、2)に、変位の値に依存しない一定の
    測定力を、経路速度の方向■_eに対しほぼ垂直に、走
    査ヘッドに設けられたアクチュエータ(可動コイル装置
    )によつて加える特許請求の範囲第1項記載の座標測定
    機の制御方法。 3、経路速度の方向を次の計算式に従つて変化させる、
    即ち: ■_2=(■_0/|■_0|)・|■_s_o_l_
    l|■_0=■_1+[■_i_s_t/|■_i_s
    _t|]・(|■_s_o_l_l|−|■_i_s_
    t|)なお ■_1は方向変化の前の速度ベクトル ■_2は方向変化後の速度ベクトル ■_i_s_tは測定された探触子変位 ■_s_o_l_lは予め与えられた探触子変位|■_
    s_o_l_l|は予め与えられた経路速度である特許
    請求の範囲第1項記載の座標測定機の制御方法。 4、走査ヘッド(3)と、該走査ヘッド中に設けられて
    いて探触子(1、2)の個々の座標方向(x、y、z)
    における変位に比例する信号を送出する測定変換器(1
    2a、12b、12c)とを備えており、前記信号は機
    械軸の駆動部(8a、8b、8c)に帰還接続される複
    数座標測定機の移動可能な軸の制御装置において、 a)少なくとも2つの機械軸を同時に制御する計算機(
    4)が設けられており、 b)計算機(4)に、該計算機により制御される少なく
    とも2つの機械軸に対応して設 けられた、走査ヘッド(3)の測定変換器 (12)の出力信号が供給され、 c)計算機(4)が探触子変位ないしその絶体値|■_
    s_o_l_l|と走査運動の経路速度の絶体値|■_
    s_o_l_l|とを設定値として送出可能であり、 d)計算機(4)が、経路速度の方向を、予め与えられ
    た設定値からの測定された探触 子変位の偏差に応じて新たに計算し、かつ 新たに計算した経路速度の値を一定に保ち、e)新たに
    計算した経路速度の成分(V_x、V_y、V_z)に
    相応する信号がプログラム制御可能な機械軸の速度調整
    回路(9)に案内量 として供給される ことを特徴とする、座標測定機の制御装置。 5、3つの空間座標方向(x、y、z)に対応して走査
    ヘッド中に設けられたすべての測定変換器(12a、1
    2b、12c)の信号が計算機に供給され、計算機は3
    つのすべての機械軸の速度調整回路(9a、9b、9c
    )に作用する特許請求の範囲第4項記載の座標測定機の
    制御装置。 6、探触子変位の方向(x、y、z)の各々に対応して
    、探触子の変位(■)に比例する戻し力(■)を発生す
    る調整回路が設けられている特許請求の範囲第4項記載
    の座標測定機の制御装置。 7、経路速度の方向(■)に対してほぼ垂直に作用する
    、変位に依存しない一定値の測定力が走査ヘッドの探触
    子(1、2)に加えられる特許請求の範囲第4項記載の
    座標測定機の制御装置。 8、計算機が、すべての機械機能の制御に用いられるプ
    ロセス計算機である特許請求の範囲第4項記載の座標測
    定機の制御装置。 9、計算ユニット(4)が機械の位置・速度調整回路に
    接続されたマイクロプロセッサ(5)である特許請求の
    範囲第4項記載の座標測定機の制御装置。
JP61149889A 1985-06-28 1986-06-27 座標測定機の制御方法および制御装置 Expired - Lifetime JPH0792382B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19853523188 DE3523188A1 (de) 1985-06-28 1985-06-28 Steuerung fuer koordinatenmessgeraete
DE3523188.2 1985-06-28

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS625110A true JPS625110A (ja) 1987-01-12
JPH0792382B2 JPH0792382B2 (ja) 1995-10-09

Family

ID=6274461

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61149889A Expired - Lifetime JPH0792382B2 (ja) 1985-06-28 1986-06-27 座標測定機の制御方法および制御装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4769763A (ja)
EP (1) EP0211202B1 (ja)
JP (1) JPH0792382B2 (ja)
DE (2) DE3523188A1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005009917A (ja) * 2003-06-17 2005-01-13 Mitsutoyo Corp 表面倣い測定装置、表面倣い測定方法、表面倣い測定プログラムおよび記録媒体
JP2005345123A (ja) * 2004-05-31 2005-12-15 Mitsutoyo Corp 表面倣い測定装置、表面倣い測定方法、表面倣い測定プログラムおよび記録媒体
JP2008539431A (ja) * 2005-04-25 2008-11-13 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 工作物の表面を走査する方法
JP2009534636A (ja) * 2006-04-24 2009-09-24 カール ツァイス インドゥストリエレ メステヒニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 座標測定器による表面のスキャニング

Families Citing this family (110)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4945501A (en) * 1987-01-20 1990-07-31 The Warner & Swasey Company Method for determining position within the measuring volume of a coordinate measuring machine and the like and system therefor
GB8729638D0 (en) * 1987-12-19 1988-02-03 Renishaw Plc Mounting for surface sensing device
US5212646A (en) * 1987-12-19 1993-05-18 Renishaw Plc Method of using a mounting for surface-sensing stylus
US5152072A (en) * 1988-02-18 1992-10-06 Renishaw Plc Surface-sensing device
US5189806A (en) * 1988-12-19 1993-03-02 Renishaw Plc Method of and apparatus for scanning the surface of a workpiece
GB9002154D0 (en) * 1990-01-31 1990-03-28 Renishaw Plc Measurement of a workpiece
FR2662793B1 (fr) * 1990-05-30 1994-03-18 Renault Installation de mesure en continu des defauts de forme d'une piece, et procede de mesure mis en óoeuvre dans cette installation.
GB9013744D0 (en) * 1990-06-20 1990-08-08 Renishaw Plc Measurement of a workpiece
US5121550A (en) * 1990-12-03 1992-06-16 Gerber Optial, Inc. Automatic surface tracer
DE4107269C2 (de) * 1991-03-07 1994-12-15 Bayerische Motoren Werke Ag Verfahren zur Ermittlung von Flächennormalen
JP2902205B2 (ja) * 1992-03-06 1999-06-07 株式会社ミツトヨ 空間誤差補正装置
US5208995A (en) * 1992-03-27 1993-05-11 Mckendrick Blair T Fixture gauge and method of manufacturing same
DE4212455C3 (de) * 1992-04-14 2001-09-06 Zeiss Carl Verfahren zur Messung von Formelementen auf einem Koordinatenmeßgerät
DE4245012B4 (de) * 1992-04-14 2004-09-23 Carl Zeiss Verfahren zur Messung von Formelementen auf einem Koordinatenmeßgerät
US5611147A (en) * 1993-02-23 1997-03-18 Faro Technologies, Inc. Three dimensional coordinate measuring apparatus
US5402582A (en) * 1993-02-23 1995-04-04 Faro Technologies Inc. Three dimensional coordinate measuring apparatus
US6535794B1 (en) 1993-02-23 2003-03-18 Faro Technologoies Inc. Method of generating an error map for calibration of a robot or multi-axis machining center
US5563808A (en) * 1993-05-03 1996-10-08 General Electric Company Pilger mill mandrel measuring device
US5739811A (en) 1993-07-16 1998-04-14 Immersion Human Interface Corporation Method and apparatus for controlling human-computer interface systems providing force feedback
US5734373A (en) * 1993-07-16 1998-03-31 Immersion Human Interface Corporation Method and apparatus for controlling force feedback interface systems utilizing a host computer
US5805140A (en) * 1993-07-16 1998-09-08 Immersion Corporation High bandwidth force feedback interface using voice coils and flexures
US5724264A (en) * 1993-07-16 1998-03-03 Immersion Human Interface Corp. Method and apparatus for tracking the position and orientation of a stylus and for digitizing a 3-D object
CA2167304C (en) * 1993-07-16 1998-04-21 Louis B. Rosenberg Multi degree of freedom human-computer interface with tracking and forcefeedback
US5721566A (en) 1995-01-18 1998-02-24 Immersion Human Interface Corp. Method and apparatus for providing damping force feedback
US5731804A (en) * 1995-01-18 1998-03-24 Immersion Human Interface Corp. Method and apparatus for providing high bandwidth, low noise mechanical I/O for computer systems
US5767839A (en) * 1995-01-18 1998-06-16 Immersion Human Interface Corporation Method and apparatus for providing passive force feedback to human-computer interface systems
US6437771B1 (en) 1995-01-18 2002-08-20 Immersion Corporation Force feedback device including flexure member between actuator and user object
US5625576A (en) 1993-10-01 1997-04-29 Massachusetts Institute Of Technology Force reflecting haptic interface
US5821920A (en) 1994-07-14 1998-10-13 Immersion Human Interface Corporation Control input device for interfacing an elongated flexible object with a computer system
US5623582A (en) 1994-07-14 1997-04-22 Immersion Human Interface Corporation Computer interface or control input device for laparoscopic surgical instrument and other elongated mechanical objects
US5510977A (en) * 1994-08-02 1996-04-23 Faro Technologies Inc. Method and apparatus for measuring features of a part or item
DE4433917A1 (de) * 1994-09-23 1996-03-28 Zeiss Carl Fa Verfahren zur Messung von Werkstücken mit einem handgeführten Koordinatenmeßgerät
US6850222B1 (en) 1995-01-18 2005-02-01 Immersion Corporation Passive force feedback for computer interface devices
DE19508861A1 (de) * 1995-03-11 1996-09-12 Zeiss Carl Fa Koordinatenmeßgerät mit einer Einrichtung für die Rauheitsmessung
US5691898A (en) * 1995-09-27 1997-11-25 Immersion Human Interface Corp. Safe and low cost computer peripherals with force feedback for consumer applications
US7113166B1 (en) 1995-06-09 2006-09-26 Immersion Corporation Force feedback devices using fluid braking
US6166723A (en) * 1995-11-17 2000-12-26 Immersion Corporation Mouse interface device providing force feedback
US6697748B1 (en) 1995-08-07 2004-02-24 Immersion Corporation Digitizing system and rotary table for determining 3-D geometry of an object
DE19529547A1 (de) * 1995-08-11 1997-02-13 Zeiss Carl Fa Verfahren zur Steuerung von Koordinatenmeßgeräten
DE19529574A1 (de) * 1995-08-11 1997-02-13 Zeiss Carl Fa Koordinatenmeßgerät mit einer Steuerung, die den Tastkopf des Meßgeräts nach Solldaten verfährt
US5959613A (en) 1995-12-01 1999-09-28 Immersion Corporation Method and apparatus for shaping force signals for a force feedback device
US5999168A (en) 1995-09-27 1999-12-07 Immersion Corporation Haptic accelerator for force feedback computer peripherals
USD377932S (en) * 1995-10-31 1997-02-11 Immersion Human Interface Corporation Mechanical digitizing arm used to input three dimensional data into a computer
US6704001B1 (en) 1995-11-17 2004-03-09 Immersion Corporation Force feedback device including actuator with moving magnet
EP0864145A4 (en) 1995-11-30 1998-12-16 Virtual Technologies Inc TACTILE FEEDBACK FOR HUMAN / MACHINE INTERFACE
US5956484A (en) * 1995-12-13 1999-09-21 Immersion Corporation Method and apparatus for providing force feedback over a computer network
US7027032B2 (en) 1995-12-01 2006-04-11 Immersion Corporation Designing force sensations for force feedback computer applications
US6147674A (en) 1995-12-01 2000-11-14 Immersion Corporation Method and apparatus for designing force sensations in force feedback computer applications
US6219032B1 (en) 1995-12-01 2001-04-17 Immersion Corporation Method for providing force feedback to a user of an interface device based on interactions of a controlled cursor with graphical elements in a graphical user interface
US6028593A (en) * 1995-12-01 2000-02-22 Immersion Corporation Method and apparatus for providing simulated physical interactions within computer generated environments
US8508469B1 (en) 1995-12-01 2013-08-13 Immersion Corporation Networked applications including haptic feedback
US6859819B1 (en) 1995-12-13 2005-02-22 Immersion Corporation Force feedback enabled over a computer network
US6078308A (en) 1995-12-13 2000-06-20 Immersion Corporation Graphical click surfaces for force feedback applications to provide user selection using cursor interaction with a trigger position within a boundary of a graphical object
US6161126A (en) * 1995-12-13 2000-12-12 Immersion Corporation Implementing force feedback over the World Wide Web and other computer networks
US5691909A (en) * 1995-12-29 1997-11-25 Western Atlas Method of virtual machining to predict the accuracy of part to be made with machine tools
US6050718A (en) * 1996-03-28 2000-04-18 Immersion Corporation Method and apparatus for providing high bandwidth force feedback with improved actuator feel
US6125385A (en) * 1996-08-01 2000-09-26 Immersion Corporation Force feedback implementation in web pages
US6084587A (en) 1996-08-02 2000-07-04 Sensable Technologies, Inc. Method and apparatus for generating and interfacing with a haptic virtual reality environment
US5887356A (en) * 1996-09-03 1999-03-30 Sheldon/Van Someren, Inc. Multi-axis continuous probe
US6024576A (en) 1996-09-06 2000-02-15 Immersion Corporation Hemispherical, high bandwidth mechanical interface for computer systems
US6411276B1 (en) 1996-11-13 2002-06-25 Immersion Corporation Hybrid control of haptic feedback for host computer and interface device
DE59711570D1 (de) * 1996-12-21 2004-06-03 Zeiss Carl Verfahren zur Steuerung eines Koordinatenmessgerätes und Koordinatenmessgerät
WO1998033136A1 (en) * 1997-01-27 1998-07-30 Immersion Human Interface Corporation Method and apparatus for providing high bandwidth, realistic force feedback including an improved actuator
EP0858015B1 (en) * 1997-02-10 2003-05-07 Mitutoyo Corporation Measuring method and measuring instrument with a trigger probe
DE19730471C5 (de) * 1997-07-16 2009-02-19 Hexagon Metrology Gmbh Verfahren zum Scannen mit einem Koordinatenmeßgerät
US6191796B1 (en) 1998-01-21 2001-02-20 Sensable Technologies, Inc. Method and apparatus for generating and interfacing with rigid and deformable surfaces in a haptic virtual reality environment
DE19809690A1 (de) * 1998-03-06 1999-09-09 Zeiss Carl Fa Koordinatenmeßgerät mit Benutzerführung
US5991704A (en) * 1998-03-26 1999-11-23 Chrysler Corporation Flexible support with indicator device
US6552722B1 (en) 1998-07-17 2003-04-22 Sensable Technologies, Inc. Systems and methods for sculpting virtual objects in a haptic virtual reality environment
US6417638B1 (en) 1998-07-17 2002-07-09 Sensable Technologies, Inc. Force reflecting haptic interface
US6421048B1 (en) 1998-07-17 2002-07-16 Sensable Technologies, Inc. Systems and methods for interacting with virtual objects in a haptic virtual reality environment
US6195618B1 (en) 1998-10-15 2001-02-27 Microscribe, Llc Component position verification using a probe apparatus
DE19908706A1 (de) 1999-02-26 2000-11-02 Werth Messtechnik Gmbh Verfahren zur Feststellung der Abweichungen der geometrischen Abmessungen und/oder der Lage eines Objekts von vorgebbaren Sollwerten der geometrischen Abmessungen und/oder der Lage des Objekts
US6704684B2 (en) * 1999-10-22 2004-03-09 Carl-Zeiss-Stiftung Method for determining measuring points on a workpiece and a measuring system therefor
US6460261B1 (en) * 1999-11-18 2002-10-08 Mitutoyo Corporation V-groove shape measuring method and apparatus by using rotary table
US7084854B1 (en) 2000-09-28 2006-08-01 Immersion Corporation Actuator for providing tactile sensations and device for directional tactile sensations
US6867770B2 (en) 2000-12-14 2005-03-15 Sensable Technologies, Inc. Systems and methods for voxel warping
US6958752B2 (en) 2001-01-08 2005-10-25 Sensable Technologies, Inc. Systems and methods for three-dimensional modeling
IL143255A (en) 2001-05-20 2015-09-24 Simbionix Ltd Endoscopic ultrasonography simulation
US6937033B2 (en) 2001-06-27 2005-08-30 Immersion Corporation Position sensor with resistive element
US6952882B2 (en) * 2002-02-14 2005-10-11 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine
US6957496B2 (en) * 2002-02-14 2005-10-25 Faro Technologies, Inc. Method for improving measurement accuracy of a portable coordinate measurement machine
DE60314598T2 (de) * 2002-02-14 2007-10-25 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Ein gelenkarm für eine tragbare koordinatenmessmaschine
US6973734B2 (en) * 2002-02-14 2005-12-13 Faro Technologies, Inc. Method for providing sensory feedback to the operator of a portable measurement machine
US7246030B2 (en) * 2002-02-14 2007-07-17 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner
US7881896B2 (en) 2002-02-14 2011-02-01 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner
US7073271B2 (en) * 2002-02-14 2006-07-11 Faro Technologies Inc. Portable coordinate measurement machine
USRE42082E1 (en) 2002-02-14 2011-02-01 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for improving measurement accuracy of a portable coordinate measurement machine
US7519493B2 (en) * 2002-02-14 2009-04-14 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner
US6671651B2 (en) 2002-04-26 2003-12-30 Sensable Technologies, Inc. 3-D selection and manipulation with a multiple dimension haptic interface
US6748604B2 (en) * 2002-05-30 2004-06-15 Finger Fitting Products, Inc. Glove massager
DE10257856A1 (de) 2002-12-11 2004-07-08 Leitz Messtechnik Gmbh Verfahren zur Schwingungsdämpfung eines Koordinatenmessgerätes sowie Koordinatenmessgerät
US7850456B2 (en) 2003-07-15 2010-12-14 Simbionix Ltd. Surgical simulation device, system and method
US7411576B2 (en) 2003-10-30 2008-08-12 Sensable Technologies, Inc. Force reflecting haptic interface
US7382378B2 (en) 2003-10-30 2008-06-03 Sensable Technologies, Inc. Apparatus and methods for stenciling an image
US7095418B2 (en) * 2003-10-30 2006-08-22 Sensable Technologies, Inc. Apparatus and methods for texture mapping
US7626589B2 (en) 2003-12-10 2009-12-01 Sensable Technologies, Inc. Haptic graphical user interface for adjusting mapped texture
US7889209B2 (en) 2003-12-10 2011-02-15 Sensable Technologies, Inc. Apparatus and methods for wrapping texture onto the surface of a virtual object
US7149596B2 (en) 2004-01-13 2006-12-12 Sensable Technologies, Inc. Apparatus and methods for modifying a model of an object to enforce compliance with a manufacturing constraint
US7825903B2 (en) 2005-05-12 2010-11-02 Immersion Corporation Method and apparatus for providing haptic effects to a touch panel
JP5221004B2 (ja) * 2006-05-25 2013-06-26 株式会社ミツトヨ 測定装置、表面性状測定方法、及び表面性状測定プログラム
US8543338B2 (en) 2007-01-16 2013-09-24 Simbionix Ltd. System and method for performing computerized simulations for image-guided procedures using a patient specific model
US8500451B2 (en) 2007-01-16 2013-08-06 Simbionix Ltd. Preoperative surgical simulation
KR100996227B1 (ko) * 2008-08-01 2010-11-23 한국표준과학연구원 에스피엠 나노탐침 및 그 제조방법
DE102009004982A1 (de) * 2009-01-14 2010-07-22 Höfler Maschinenbau GmbH Messverfahren und Messvorrichtung
DE102010026892A1 (de) * 2010-04-09 2011-10-13 Stotz Feinmesstechnik Gmbh Vorrichtung zur Vermessung von Objekten
US9802364B2 (en) 2011-10-18 2017-10-31 3D Systems, Inc. Systems and methods for construction of an instruction set for three-dimensional printing of a user-customizableimage of a three-dimensional structure
JP6030339B2 (ja) * 2012-05-17 2016-11-24 株式会社ミツトヨ 形状測定装置
JP6570393B2 (ja) * 2015-09-25 2019-09-04 株式会社ミツトヨ 形状測定装置の制御方法
EP4293444A1 (de) * 2022-06-14 2023-12-20 Siemens Aktiengesellschaft Einbindung eines kontinuierlichen messtasters in eine numerische steuerung

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS546218A (en) * 1977-06-13 1979-01-18 Akebono Brake Ind Co Ltd Device for running, floating and guiding high speed vehicle
JPS54125375A (en) * 1978-03-23 1979-09-28 Fanuc Ltd Profiling control system

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3292495A (en) * 1965-10-14 1966-12-20 Gettys Mfg Company Inc Tracer system for machine tools
DE2242355C2 (de) 1972-08-29 1974-10-17 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Elektronischer Mehrkoordinatentaster
US4215299A (en) * 1975-05-02 1980-07-29 Minnesota Mining And Manufacturing Company Adaptive path following motion control system for welding head assembly
US4118871A (en) * 1978-06-13 1978-10-10 Kearney & Trecker Corporation Binary inspection probe for numerically controlled machine tools
DE2921166C2 (de) * 1979-05-25 1986-10-16 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar Verfahren und Anordnung zur automatischen Vermessung eines Werkstückes
US4437151A (en) * 1982-04-16 1984-03-13 Deere & Company Coordinate measuring machine inspection and adjustment method
DE3234471C1 (de) * 1982-09-17 1983-08-25 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Mehrkoordinaten-Tastkopf
JPS61105411A (ja) * 1984-10-29 1986-05-23 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 多次元測定機の測定方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS546218A (en) * 1977-06-13 1979-01-18 Akebono Brake Ind Co Ltd Device for running, floating and guiding high speed vehicle
JPS54125375A (en) * 1978-03-23 1979-09-28 Fanuc Ltd Profiling control system

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005009917A (ja) * 2003-06-17 2005-01-13 Mitsutoyo Corp 表面倣い測定装置、表面倣い測定方法、表面倣い測定プログラムおよび記録媒体
JP2005345123A (ja) * 2004-05-31 2005-12-15 Mitsutoyo Corp 表面倣い測定装置、表面倣い測定方法、表面倣い測定プログラムおよび記録媒体
JP2008539431A (ja) * 2005-04-25 2008-11-13 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 工作物の表面を走査する方法
JP2009534636A (ja) * 2006-04-24 2009-09-24 カール ツァイス インドゥストリエレ メステヒニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 座標測定器による表面のスキャニング

Also Published As

Publication number Publication date
EP0211202A1 (de) 1987-02-25
EP0211202B1 (de) 1989-06-14
DE3663998D1 (en) 1989-07-20
JPH0792382B2 (ja) 1995-10-09
DE3523188A1 (de) 1987-01-08
US4769763A (en) 1988-09-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS625110A (ja) 座標測定機の制御方法および制御装置
JP3946843B2 (ja) 座標測定装置を制御する方法及び座標測定装置
JP4326039B2 (ja) 座標測定装置およびその制御方法
JP2566794B2 (ja) 走査型トンネル顕微鏡の測定方法
JP3948804B2 (ja) 座標測定装置を制御する方法及び座標測定装置
JPH0360956A (ja) 非接触ならい制御装置
EP0227842A1 (en) Digitizing method
US10724840B2 (en) Control method of shape measuring apparatus
CA2526835C (en) Method and device for testing a structural component having a complex surface contour, by means of ultrasound
US5550483A (en) High speed test probe positioning system
JPH0348903A (ja) 数値制御装置
WO2000000784A1 (en) Vector measurement for coordinate measuring machine
JP2003091320A (ja) モータ駆動軸の速度パターン調整方法および調整装置、並びに当該速度パターン調整装置を備えた部品実装装置および粘性材料塗布装置
JP2607533B2 (ja) 加工装置及び加工方法
JP2000322116A (ja) サーボ制御装置及び位置決め装置
JP2001212757A (ja) 研削方法及び研削装置
JP4219550B2 (ja) 研磨方法及び研磨装置
JPS61262610A (ja) 位置決めテ−ブルの真直度測定方法
JPS63281002A (ja) 物体表面状態アクセスシステム
KR830001598B1 (ko) 모방 제어 장치
JPS63146105A (ja) 軌跡制御装置
JPS61103219A (ja) 2軸移動機構制御装置
JPS6148709A (ja) 接触子の移動制御方法
JPS62144022A (ja) レゾルバリツプル補償装置
JPS5975112A (ja) 産業用ロボツトによる寸法形状測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term