JPS6148709A - 接触子の移動制御方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は接触子たとえばならいノステムにおけるトレー
サヘッドあるいは測定システムにおけろプローブの移動
制御方法に係り、特に接触子をモデル形状あるいはワー
ク形状に応じて所定角度回転させた状態で該接触子をモ
デルあるいはワークに接触させながら移動させる接触子
の移動制御方法に関する。

〈従来技術〉 ならいシステム又は測定システムて（よ、トレーサヘッ
ドやプローブと呼ばれろ接触子を設け、該接触子をモデ
ルあるいはワ゛−りに接触させろことにより、接触点の
位置情報ｔｅ得、該位置情報により種々の処ｆ！］！　
（ならい処理や測定処理）を行っている。そして、トレ
ーサヘッドあるいはプローブは一般に軸に平行となるよ
うに該軸にとりつけて固定されているか、又はせいぜい
８９．４４的に軸方向から所定の傾きを持たせて固定す
るような傾斜角の半固定のシステムが殆どであっｔ：。

〈発明が屏決しようとしている問題点〉さて、測定シス
テムにおいては、プローブを測定面にてきるだけ直角に
当てないと精度が悪（なる。しかし、上記従来の方法て
はワークの形状によってプローブを測定面に略直角に当
てろことができず、測定精度の低下を来たしている。又
、ならいシステムにおいては、動的に傾斜角度を変えら
れた方がならい可能領域が広がって好都合であるが、上
記従来の方法で（よ傾斜角度は一定であるため、第４図
にしめすようにモデルＭＤＬにオーバハング部ＯＨ３が
存在する場合、１１部分のならいは出来るが１２部分の
ならいはてきず、ならい可能領域を広げることができな
かった。

く問題点を解決ずろための手段〉 本発明の接触子の移動開園方法は、トレーサへ・ノドあ
るいはプローブなどの接触子を軸に取り付けろと共に、
軸を該軸に平行な所定平面上で回転可能に構成し、当今
により該軸を所定角度回転させた状態で接触子をモデル
あるいはワークに接触させ、該接触子に加わっている変
位を検出し、該変位と前記回転角度を用いて接触子の移
動制御を行うように構成されている。

く作用〉 接触子が取り付けられている軸（接触子取り付け軸）に
回転の自由度を持たせ、接触子取り付け軸を該軸に平行
な所定平面上で所定角度（傾斜角度）８０回転させろ。

そして、この状態で接触子なとんばトレーサヘッドをモ
デルに接触させろ。

ところで、傾斜角度零度の時の前記接触子取り付け軸方
向をＺ軸方向とする第１の直交座標系を老人、該第１の
直交座標系をＹ軸を中心に前記回転角度８０回転させて
なる座標系を第２の直交座標系とすれば、トレーサヘッ
ドをモデルに接触させろことにより該トレーサヘッドか
らモデル形状に応じた第２の直交座標系におけろ各軸変
位量が得られる。　　　。

この第２直交座標系におけろ各軸変位量を用いて第２直
交座標系におけろ所定軸方向の速度信号を演算し、該速
度信号をｍＪ記記報転角度用いて第１直交座標系の所定
軸方向の速度（：号に変換し、該第１直交座１学系にお
けろ速度信号を用いて前記トレーサヘッドを移動すれば
トレーサヘッド（よモデル表面に治って移動することに
なる。

〈実施例〉 第１図は本発明の詳細な説明図、第２図は本発明を適用
したならい制御ｉｌＩ］装置のブロック図、第３図は軸
方向の速度信号発生説明図である。

Ｘ軸を送り方向、Ｚ軸をならい方向、Ｙ軸をピックフィ
ード方向とするＸ−Ｚ平面におけろ表ｉｉ’ｊｊｔらい
により第１図に示すモデルＭＤＩ−をならう場合、予め
モデル表面を複数の領域（第１、第２、第３領域ＴＲ，
−ＴＲ，）に区分し、各領域を特定しておく。そして、
トレーサヘッドＴＨを第１領域のならい開始点の真上に
位置決め後（図中（，１て示す位置）、該トレーサヘッ
ドをモデルＭ　Ｄ　Ｌにアプロ−チしく（ｂ）参照）、
アプローチ完了後第１領域を表面ならいする（（Ｃ）参
照）。

第１領域の表面ならい完了後にトレーサヘッドＴＨを所
定の位置Ｐ、−こ移動させ（（ｄ）参照）、該位置でト
レーサヘッドをＺ軸から　ｏの方向を向くように回転さ
せろ（（ｅ）参照）。

しかる後、トレーサヘッドを傾？４角度　ｏの状態てモ
デｉＬ　Ｍ　Ｄ　Ｌにアプローチしく（ｆ）参照）、ア
プローチ完了後第２領域ＴＲ，を表面ならいずろ（（已
）参照）。

第２領域ＴＲ２の表面ならい完了後にトレーサヘッドＴ
Ｈを所定の位置Ｐ、２に移動させ（（ｈ）参照）、該位
置てトレーサヘッドをＺ軸から　ｏの方向を向くように
回転させる（（１）参照）。

しかる後、トレーサ・＼ノドを傾？４角度どの状匹でモ
デルＭＤＬにアプローチしく（Ｊ）参！！ｌＴり、アプ
ローチ完了投第３ｍ域ＴＪの表面ならいを行う。

第２図において、１はプロセッサであり、ならい制御プ
ログラムに従って演算処理を行うもの、２はならい制御
プログラムを記憶するＲＯＭ、３は加ニブログラムを記
憶する加ニブログラムメモ’Ｊ（ＲＡＭ）で、ならい方
法と、ならい加工条件データと、ならし）領域データと
を工程順に多工程分ならい加ニブログラムとして記憶す
るもの、４はデータメモリであり、複数の加工条件デー
タＰＩＩ”　１２’　　・・・・・・と複数のならい領
域データＬｌ、、Ｌ、□、・・・・・とその他のバラメ
ークを記憶するもの、５は機械現在位置（Ｘ、、　Ｙ、
。

Ｚ、）、現ならい工程の加工条件データ、領域データな
どを記憶するワーキングメモリ、６はプロセッサ１から
指令された各軸方向の速度データ　（ディジクル値）を
アナログの速度信号ｖｘ、■７、■２に変換するＤＡ変
換器、７は操作盤てあり、加工条件データ、領域データ
を設定し、かつその他の操作指令を入力するもの、８は
パルス分配器、９ζよトレーサヘッドＴＨから出力され
ろ各軸笈位景ε８、　　Ｇ７、Ｇ２をディンクル値に変
換するＡＤ変換器、１０は各軸の現在位置ｘ５、Ｙ、、
Ｚ、を記憶する現在位”Ｉｌし’）スフ、Ｉ　ＬＸ、１
１Ｙ、１１２．１１ＡｌｔＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸、Ａ　軸サ
−ホ回路、１２　Ｘ　〜１２　Ａ（−１２；ニレツレＸ
’ｃｔｌ、Ｙ　ｆ＋ｂ、Ｚ軸、Ａ￥１１１モーク、１３
ｘ〜１３Ａはそれぞれ対応するモーフが所定角度回転す
る毎に１個のパルスＸ１、Ｙｌ、Ｚ、Ａ　　を発生する
パルス発生器である。

ならい加工に先立って、操作盤７から各ならい方法に応
じてそれぞれＭ数のならい加工条件データとならい領域
データを入力する。たと又は、手動ならいのために、ｐ
ＨからＰＩ３迄の５種類の加工条件データと、Ｌｌｌか
らＬ１５迄の５皿類のならい領域データを設定し、以下
同様に表面往復ならいのためにＰ２１〜Ｐ２５、Ｌ２１
〜し２５を、表面１方向ならいのためにＰ３）〜Ｐ３５
、Ｌ３）〜Ｌ３５を、輪郭全周ならいのためにＰ４１Ａ
−Ｐ４５、Ｌ４１〜Ｌ４５を・・・・・・・それぞれ設
定する。以上の操作によりならい加工条件データＰ１１
、Ｐ２１、Ｐ３）、Ｐ４１・・・・、及びならい領域デ
ータＬｌｌ、Ｌ１２、Ｌ１３、Ｌ１２・・・がデータメ
モリ４に設定されろ。尚、１つの加工条件データＰＩＪ
はならい平面、ならい速度Ｆ、アプローチ速度Ｆ、、基
準変位１ｆ、ｃ。、ならい方向、ビックフィード量Ｐ、
ビックフィード方向等で構成され、また１つのならい領
域データＬＩ）は各軸方向におけるならい領域の境界位
置座標値で々＋１７成されている。

ついて、操作盤７上の釦を操作してＩＩｌ！８動をかけ
ればプロセッサ１は予め加ニブログラムメモリ３に記憶
されているならい加ニブログラムを１ブロツクづつ読み
出し、多工程のならい加工側「＋１１を行う。尚、この
ならい加ニブログラムはたとえば息下のごとく構成され
ている。

ＧＯＯ１Ｚ　−Ｐ３）　　Ｌ３２ｉ　　　　（ＡＩＧ９
０３　　Ｐ３４　　Ｌ３４．　　　　　　（Ｂ）ＧＯＯ
Ｘｘ、、Ｙｙ、、Ｚｚ９１；　　　　　（Ｃ）Ａ　ａ　
、；　　　　　　　　　　　　　（ＤＩＧ９０１　　・
・・・・・・・・・・　　　（ＥｌＧ９０３　　Ｐ３５
　　Ｌ３５；　　　　　　　　　（ＦＩＧＯＯＸｘ、□
Ｙｙｓ２Ｚｚ、；　　　　　（ＧｌＡａ２；　　　　　
　　　　　　　（Ｈ）ＧＯＯ１・・・・・・・・・・・
　　　　　（１）ＧｅＯ２Ｐ３６　　Ｌ３６；　　　　
　　　　　（Ｊ）ＭＯ２，（Ｋ） １旦し、フ゛ログラム中、　（Ａ）、（Ｅ）、（１１は
アプローチ指令ブロックであり、Ｇ１１能命令”　ＧＯ
Ｏ１”はアプローチ指令であることを意味し、゛。

Ｚ−０°゛は−Ｚ軸方向へのアプローチであることを意
味し、”　Ｐ　３）′’、”Ｌ３２°゛はそれぞれアプ
ローチの際の送り速度、及び減速位置等を特定ずろもの
である。又、ブロック　（Ｂｌ　、ｆＦ）、（Ｊ）はそ
れぞれ第１領域ＴＲ，、第２領域ＴＲ２、第３領域ＴＲ
，（第１図参照）におけるならい方法、ならい加工条件
データ、ならい領域データを特定するブロックであり、
“Ｇ９０３°′により表面性（夏ならいが指示され、Ｐ
３４〜Ｐ３６、Ｌ３４〜Ｌ３６によりならい加工条件デ
ータ、ならい加工領域データかそれぞれ特定される。ブ
τ−１ツク　（Ｃ）・　（Ｇｌ　はトレーサヘッドＴＨ
の取り付け軸を回転させろために、第２領域及び第３領
域の加工開始点の衰上にトレーサヘッドを早送りで位置
決めする命令である。ブロック　（Ｄ）、（Ｈ）はそれ
ぞれトレーサへｙドをＺ軸方向から　ｏ、ａｏの方向へ
向けろ回転位置指令であり、ブロック　（Ｋｌはプログ
ラムエンドを示すＭ機能命令である。

さて、起動がかかるとプロセッサ１はブロック（Ａ）の
アプローチ指令をＲＡＭ　３から読み取り、ついてデー
タメモリ４から’Ｐ３）”により特定されたならい加工
条件データと、’Ｌ３２”により特定されたならい領域
データを読み取り、ワーキングメモリ５に格納する。し
かる後、加工条件に含まれる早送りのアプローチ速度デ
ータＦ、の符号を反転し、これをＺ軸送り速度■２とし
てＤＡ変換器６に入力する。ＤＡ変換器６はＺ軸送り速
度■、をアナログの速度信号■２．に変換し、Ｚ軸のサ
ーボ回路１１Ｚに印加する。この結果、Ｚ軸モータ１２
Ｚが回転しトレーサヘッドはモデル方向に下降する。Ｚ
軸モータ１２Ｚが回転すればパルス発生器１３Ｚからパ
ルスＺｌが発生し、現在位置レレスク１０はパルスＺｌ
が発生する毎に移動方向に応してＺ　’！ＩＩＩ現在位
置Ｚ、位置新する。

プロセンサ１はＺ　！ＩＩ＋現在位置Ｚ位置読み取って
、トレーサヘッドがならい領域データ”Ｌ３２”により
特定された減速位置に到達しｔ二かどうかを監視する。

そして、トレーサヘッドが減速位置に到達すれば加工条
件デーラダ′Ｐ３）″°に含まれる低速のアプローチ速
度データＦ、ｄの符号を反転し、これをＺ軸方向の送り
速度■よとしてＤＡ変換器６ニ出力する。この結果、ト
レーサヘッドは低速でモデルＭＤＬに向かって下降する
。

トレーサヘッドがモデルに接触すれば各軸変位量ε０、
εヶ、ε２が発生し、これらはＡＤ変換器９によりディ
ンクル値に変換された後、プロセッサ１に読み取られろ
。

プロセνす１は次式 ％式％（１） により合成変位量εを求め、該合成変位量εが加工条件
テーク゛’Ｐ３）”に含まれろ設工レベルε以上になっ
たかどうかをチェックする。

そして、ε≧ε、どなればプロセッサ１はトレーサヘッ
ドがならい加工開始点に到達したものとして■２−０と
しトレーサヘッドを停止する。

しかる後、プロセッサ１はＲＡＭ３からブロック　（Ｂ
）の表面性（夏ならいの指令を読み取ってワーキングメ
モリ５に記憶すると共に、該指令に含まれる”　Ｐ　３
４　”　、”Ｌ　３４　”により特定される加工条件デ
ータをデータメモリ４から読み出して同様にワーキング
メモリ５に格納する。　ついで、プロセッサ１は（１）
式の演算を行って合成変位量εを演算すると共に、加工
条件データ”Ｐ３４”により特定された基曇変位量ε。

と合成変位量εとの差分△ε　（＝ε−ε。）を演算す
る。　又、プロセンサ１は差分Δεに比例するように速
度信号ｖｌ＋を発生すると共に、ΔＣに反比例するよう
に速度イス号ｖＴを発生する。但し、Δε−０の時■８
は零てあり、■、は□’Ｐ３４”により特定されたなら
い速度Ｆである。

更に、プロセッサ１はＸ軸方向とＺ軸方向の変位信号ε
２、ε工を用いて、 ｓｉｎθ＝　６．７ｍ　　　　　　（２）ｃ　ｏ　ｓ　
ｅｌ　＝　５　、／ｎ　　　　　　（３）から変位方向
イス号ｓｉｎθ、　ＱＯ３θを演算し、又次式％式％（
４） から軸方向の速度イス号Ｖ６、■、を演算する。（４）
、（５）式によりＶ５、■、が求まれば、プロセッサ１
は′”Ｐ　３４　”により特定されたならい平面を参［
１，テＶ、＝Ｖ、、ｖ、　＝　ｖ、　トしてＤＡ変換器
６に出力する。ＤＡ変換器６はＸ釉及びＺ軸の送り速度
■８、■工をアナログの速度信号■０１、■よ、に変換
し、それぞれＸ軸、Ｚ軸サーボ回路１１Ｘ。

１１Ｚに入力する。この結果、Ｘ軸モータ１２Ｘ１Ｚ軸
モータ１２２が回転し、トレーサヘッドはモデル表面に
沿って移動する。

トレーサヘッドがモデル表面に沿って移動すれば新たな
変位量ε８、ε２、ε２が発生し、該変位量はプロセッ
サ１により読み取られ、以後該変位量に基づいて１〕口
述の（１）〜（５）式のｍｌ算を実行して新たなＶ８、
ｖ５ヲ求め、ｖ、　＝　ｖ、、ｖ、＝ｖｂとして出力す
る。以後、同様な処理が繰り返されてトレーサヘノ１ζ
１よモデル表面に沿って移動し、第１領域の表面往復な
らいが行われる。

尚、以上は第３図（Ａｌ実線に示すようにトレーサヘッ
ド取り付け軸ＭＡが直交座標系（ｘ−ｙ−２）のＺ軸と
一致する場合（傾斜角０°）である。

しかし、第３図（Ａ１点線に示すように取り付け軸ＭＡ
を該軸と平行な平面、たとえばｘ−ｚ−１−面上て所定
角Ｋ　ａ０回転し、この回転状態で（傾斜角度ａ０を維
持したまま）表面ならいを行うと、トレーサヘッドＴＨ
からは直交座標系Ｘ−Ｙ−ＺｉＰ！Ｙ軸を中心にａ０回
転してなる直交座標系Ｘ’　−Ｙ’−ｚ’軸方向の位置
偏差量ｃ８′、ε、′、ε　′が発生する。そして、こ
のε、′　　ε２′を用いて前述の（１）〜（５）式の
演算を行うと■１、■、は第３図（Ｂ）に示すようにｘ
′、Ｚ′軸方向の速度成分ｖ、’　、ｖ□′となる。

従って、傾斜角ａと、ｖ、’　、ｖ、’　を用いてＸ軸
、Ｚ軸方向の速度成分Ｖ０、Ｖ、を次式％式％（６ により求め、これをＸ軸、Ｚ軸方向の速度成分としてＤ
Ａ変換器６に出力する必要がある。

さて、トレーサヘッドが移動すれば、パルス発生ｕ　１
３　Ｘから発生するパルスＸ、及びパルス発生１Ｊ１３
Ｚから発生するパルスＺ、Ｉよそれぞれ現在位置レジス
フ１０に印加され、移動方向に応じて次式 ％式％ により現在位置ｘＩ１１Ｚ、が更新される。そして、プ
ロセッサ１は現在位置レジスフ１０から各軸現在位置Ｘ
、、Ｙ、、Ｚ、を読み取って、ワーキングメモリ５に格
納すると共に、Ｘ軸現在位置ｘ、、が領域データ”Ｌ３
４”により特定される第１境界線の座標値ｘ１に等しく
なったかどうかをチェックする。往路の表面ならいが進
行してｘ、＝Ｘ１になればプロセッサ１はｖ　　＝ｖ　
　＝Ｑとして往路のならいを終了する。往路のならいが
終了すれば、プロセッサ１はトレーサヘッドＴＨをＹ　
！＋ｈ方向へならい加工条件データ”Ｐ３４°“により
特定されている所定ＭＰだけピックフィードし、ピンク
フィード完了後復路の表面ならいを実行する。

以後、上記表面往復ならいが行われて第１領域ＴＲのな
らいが終了すれば、プロセッサ１はＲＡＭ３からブロッ
ク　（Ｃ）のならいデータを読み取り、該ならいデータ
に基づいて各軸方向の移動量（インクリメンタル値）を
演算し、該インクリメンタル値をパルス分配＠３８に入
力する。パルス分配器８は入力された各軸移動量に基づ
いてパルス分配演算を実行し、分配パルスＸ、、、Ｙｅ
、　Ｚｃを各軸サーボ回路１１Ｘ〜１１Ｚに入力する。

これにより、トレーサヘッドはポイントＰＳｔに向かっ
て移動せしめられ、最終的に該ポイントに位置決めされ
る。

トレーサヘッドＴＨがポイントＰ８１に位置決めされれ
ば、プロセッサはＲＡＭ３からブロック（ＤＪ　のトレ
ーサヘッド取り付け軸回転データ（アブソリュートとす
る）を読み取る。ついで、プロセッサ１は現回転位置（
角度）と指令回転位置（角度）との差分（インクリメン
タル値）を演算し、該インクリメンタル値をパルス分配
器８に入力する。パルス分配器８は入力された回転方向
のインクリメンタル値に基づいてパルス分配演算を実行
して、分配パルスＡＣをＡ軸サーボ回路１１Ａに入力す
る。サーボ回路１１ＡのエラーレジスフＥＲは分配パル
スＡ、の数とパルス発生”Ｊ１３Ａから発生するフィー
ドバンクパルスＡ、の数との差分（エラー）を出力し、
ＤＡ変換器ＤＡＣは該エラーに比例したアナログ値を出
力し、速度制御回路ＳＰＣは該アナログ値に基づいてＡ
軸モーク１２Ａを回転制御する。この結果、トレーサヘ
ッド取り付け軸ＭＡ（第３図（Ａ））は回転し、該取り
付け軸はＺ軸からａｌの方向を向くことになる。

ついで、プロセッサ１はブロック　（Ｅｌのならいデー
タを読み取って前述のアプローチ制御と同様な処理を行
って、トレーサヘッドを第２領域ＴＲのならい加工開始
点に位置決めする。

位置決め完了後、プロセッサ１はブロックＣＦ）のなら
いデータに基づいて第１領域ＴＲ，のならいと同様に第
２領域ＴＲ２の表面往復ならいを実行する。ただし、第
２領域ＴＲ２ではトレーサヘッド取り付け軸ＭＡがＺ軸
から　ｏの方向を向いているから、ａ＝ａ１として　（
６）〜（７）式より得られた速度成分■０、■２をＤＡ
変換器６に出方する。

そして、第２領域ＴＲ２のならい完了後、ブロック　（
Ｇ）のならいデータに基づいてトレーサヘッドをポイン
トＰｓｐに位置決めする。

ポイントＰ８２への位置決め完了により、プロセッサ１
はブロック（Ｈｌのならいデータによりトレーサヘッド
取り付け軸ＭＡを回転させて、該軸をＺ　！１１１１か
ら８２方向に向ける。

以後、ブロック（１）のならいデータによりアプローチ
を行い、ついでブロック　（Ｊ）のならいデータに基づ
いて第３領域の表面往復ならいを実行し、最終的にブロ
ック　（Ｋｌのデータ゛’　ＭＯ２’を読み取って一連
のならい処理を終了する。

ただし、第３領域の表面性（夏ならいにおいては、トレ
ーサヘッド取り付け軸Ｍ　Ａ　ｆＪＧ　Ｚ軸からａ：の
方向を向いているから、ａ＝ａ　　として（６）〜（７
）式より１）られな進度成分Ｖ０、ｖ２を出力する。

〈発明の効果〉 以上、本発明によれば、トレーサヘッドやプローブなど
の接触子を所定の軸に取り付けると共に、該所定軸を該
軸に平行な所定平面上で回転可能に構成し、指令により
該軸を所定角度回転させ、該回転させた状態で接触子を
モデルあるいはワークに接触させ、該接触子に加わって
いる変位を検出し、該変位と前記回転角度を用いて接触
子の移動制御を行うように構成したから、プローブを測
定面に略垂直にすることができ、従ってδＩＩＩ定精度
を向上させることかてさ、またトレーサヘッドをモデル
形状に応じて自由に回転させることができ、ならい可能
領域を拡大することができろ。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の概略説明図、第２図は本発明を実現す
るならい制御装置のブロック図、第３図は本発明におけ
ろ各軸速度成分演算説明図、第４図は従来方法の欠点説
明図である。 ＭＤＬ・　・　・モデル、ＴＨ・　・　　）・レーザ・
入ソド、ＴＲ〜ＴＲ，・・・第１乃至第３領域、ＭＡ・
・トレーサヘッド取り付け軸、 １・・・プロセッサ、２・・・ＲＯＭ。 ３・・・ＲＡＭ、４・・・データメモリ、５・・・ワー
キングメモリ、６・・・ＤＡ変換器、７・・・操作盤、
８・・・パルス分配器、９・・・ＡＤ変換器、 特許出願人　　　　　　　　ファナノク株式会社代理人
　　　　　　　　　　弁理士　　齋ｒｆ３千幹第１図 第３図（Ａ） Ｍｎ 丁Ｈ 第３図（Ｂ）

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）接触子を軸に取り付けると共に、軸を該軸に平行
   な所定平面上で回転可能に構成し、指令により該軸を所
   定角度回転させ、該回転させた状態で接触子をモデルあ
   るいはワークに接触させ、該接触子に加わっている変位
   を検出し、該変位と前記回転角度を用いて接触子の移動
   制御を行うことを特徴とする接触子の移動制御方法。
2. （２）前記接触子はトレーサヘッドであることを特徴と
   する特許請求の範囲第（１）項記載の接触子の移動制御
   方法。
3. （３）第１の直交座標系を前記回転角度回転させてなる
   座標系を第２の直交座標系とするとき、トレーサヘッド
   から得られる第２の直交座標系の各軸変位量を用いて第
   ２の直交座標系における所定軸方向の速度信号を演算し
   、該速度信号を前記回転角度を用いて第１直交座標系の
   所定軸方向の速度信号に変換し、該第１直交座標系にお
   ける速度信号を用いて前記接触子を移動制御することを
   特徴とする特許請求の範囲第（２）項記載の接触子の移
   動制御方法。
4. （４）前記第１直交座標形のＺ軸方向は回転角度零度の
   時の接触子取り付け軸の方向であり、前記第２直交座標
   形のＺ軸方向は前記回転角度の時の接触子取り付け軸の
   方向であることを特徴とする特許請求の範囲第（３）項
   記載の接触子の移動制御方法。