JPH0792382B2 - 座標測定機の制御方法および制御装置 - Google Patents
座標測定機の制御方法および制御装置Info
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- JPH0792382B2 JPH0792382B2 JP61149889A JP14988986A JPH0792382B2 JP H0792382 B2 JPH0792382 B2 JP H0792382B2 JP 61149889 A JP61149889 A JP 61149889A JP 14988986 A JP14988986 A JP 14988986A JP H0792382 B2 JPH0792382 B2 JP H0792382B2
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- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
- G05B19/401—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by control arrangements for measuring, e.g. calibration and initialisation, measuring workpiece for machining purposes
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
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- B82Y15/00—Nanotechnology for interacting, sensing or actuating, e.g. quantum dots as markers in protein assays or molecular motors
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/37—Measurements
- G05B2219/37193—Multicoordinate measuring system, machine, cmm
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- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 発明の関連する技術分野 本発明は、座標測定機上で工作物を自動的に測定する方
法及び装置に関しており、その際、測定機の探触子が工
作物表面に沿って案内され、探触子が変位すると走査ヘ
ッド中の測定値変換器から送出される信号が、測定値の
形成のためならびに機械駆動部の制御のために用いられ
る。
法及び装置に関しており、その際、測定機の探触子が工
作物表面に沿って案内され、探触子が変位すると走査ヘ
ッド中の測定値変換器から送出される信号が、測定値の
形成のためならびに機械駆動部の制御のために用いられ
る。
従来技術 この形式の、工作物を連続的に探触走査する測定方法は
「スキャン法」または「スキヤニング」と称されてい
る。公知のスキャン法では、走査ヘッドの探触子は2つ
の座標方向に関してクランプされており、クランプされ
た軸の一方の方向に走査させられ、他方第3座標におい
て探触子は、工作物表面に対しほぼ垂直に変位可能であ
り、工作物表面に接触して案内される。工作物と探触子
との間の接触を保つために、かつ接触力を一定に保つた
めに、この第3座標における探触子変位の測定に用いら
れる測変換器が該当の機械軸に対する位置調整回路に接
続されている。
「スキャン法」または「スキヤニング」と称されてい
る。公知のスキャン法では、走査ヘッドの探触子は2つ
の座標方向に関してクランプされており、クランプされ
た軸の一方の方向に走査させられ、他方第3座標におい
て探触子は、工作物表面に対しほぼ垂直に変位可能であ
り、工作物表面に接触して案内される。工作物と探触子
との間の接触を保つために、かつ接触力を一定に保つた
めに、この第3座標における探触子変位の測定に用いら
れる測変換器が該当の機械軸に対する位置調整回路に接
続されている。
この方法では、走査方向が常に機械軸に拘束されるの
で、走査方向と工作物表面との間の角度が急峻になった
とき、例えば60°を超えたとき「クランプ方向を替え
る」即ち、走査方向と測定方向を入れ替えなければなら
ない。これによって先ず1度測定過程が中断される。さ
らに走査方向と工作物表面との間の角度に依存する探触
子と工作物との間の無視できない摩擦により走査時の測
定力が変化する。
で、走査方向と工作物表面との間の角度が急峻になった
とき、例えば60°を超えたとき「クランプ方向を替え
る」即ち、走査方向と測定方向を入れ替えなければなら
ない。これによって先ず1度測定過程が中断される。さ
らに走査方向と工作物表面との間の角度に依存する探触
子と工作物との間の無視できない摩擦により走査時の測
定力が変化する。
走査方向と測定方向の間の切替えを、駆動軸の調整回路
における制御電圧が測定方向および走査方向に対して同
時じになると自動的に行うことは、ドイツ連邦共和国特
許出願公開第2921166号公報から公知である。
における制御電圧が測定方向および走査方向に対して同
時じになると自動的に行うことは、ドイツ連邦共和国特
許出願公開第2921166号公報から公知である。
この方法でも、走査方向が機械の各々1つの所定の駆動
座標に結び付いているので、ここでも工作物に加わる測
定力が変化し、それが測定結果に影響する。つまり、一
定に保持されるのは、合成された全測定力ではなく、走
査ヘッドにより調整される各軸における測定力成分でし
かない。さらにこのスキヤニング過程は、駆動方向の速
度だけが一定に保たれ、本来の、工作物幾何構造に依存
する通路ないし経路に沿っての速度が一定に保たれな
い。
座標に結び付いているので、ここでも工作物に加わる測
定力が変化し、それが測定結果に影響する。つまり、一
定に保持されるのは、合成された全測定力ではなく、走
査ヘッドにより調整される各軸における測定力成分でし
かない。さらにこのスキヤニング過程は、駆動方向の速
度だけが一定に保たれ、本来の、工作物幾何構造に依存
する通路ないし経路に沿っての速度が一定に保たれな
い。
発明が解決しようとする問題点 本発明の目的は、可及的均一なスキャン過程を一定の全
測定力で確実に行うスキヤニング方法およびこの方法を
実施するのに適した装置を提供することにある。
測定力で確実に行うスキヤニング方法およびこの方法を
実施するのに適した装置を提供することにある。
問題点を解決するための手段 この目的は、本発明によれば次のようなステップから成
る方法によって解決される。即ち a)各座標方向(x,y,z)における個々の速度(Vi)か
らベクトル和として合成された経路速度の値|soll|
を設定値として予め与えて一定に保ち、 b)探触子変位ないしその値|soll|もやはり予め与
えておいて測定された探触子変位ないしその値|ist
|と比較し c)測定された探触子変位と予め与えられたd)探触子
変位との間の偏差ΔAに相応する信号ならびに探触子変
位の方向eに相応する信号を形成して経路速度istの
方向eの修正に用い、探触子(1,2)に、変位の絶対値
に依存しない一定の測定力を、経路速度の方向Veに対し
ほぼ垂直に、走査ヘッドに設けられたアクチュエータ
(可動コイル装置)によって加える。
る方法によって解決される。即ち a)各座標方向(x,y,z)における個々の速度(Vi)か
らベクトル和として合成された経路速度の値|soll|
を設定値として予め与えて一定に保ち、 b)探触子変位ないしその値|soll|もやはり予め与
えておいて測定された探触子変位ないしその値|ist
|と比較し c)測定された探触子変位と予め与えられたd)探触子
変位との間の偏差ΔAに相応する信号ならびに探触子変
位の方向eに相応する信号を形成して経路速度istの
方向eの修正に用い、探触子(1,2)に、変位の絶対値
に依存しない一定の測定力を、経路速度の方向Veに対し
ほぼ垂直に、走査ヘッドに設けられたアクチュエータ
(可動コイル装置)によって加える。
この方法を実施するための有利な装置は本発明によれば
次のように構成される。即ち、走査ヘッドと、該走査ヘ
ッド中に設けられていて探触子の個々の座標方向x,y,z
における変位に比例する信号を送出する測定変換器とを
備えており、前記信号は機械軸の駆動部に帰還接続され
る複数座標測定機の移動可能な制御装置において、 a)少なくとも2つの機械軸を同時に制御する計算機が
設けられており、 b)計算機に、該計算機により制御される少なくとも2
つの機械軸に対応して設けられた、走査ヘッドの測定変
換器の出力信号が供給され、 c)計算機が探触子変位ないしその絶対値|soll|と
走査運動の経路速度の絶対値|soll|とを設定値とし
て送出可能であり、 d)計算機が、経路速度の方向を、測定された探触子変
位の予め与えられた設定値からの偏差に応じて新たに計
算し、かつ新たに計算した経路速度の値を一定に保ち、 e)新たに計算した経路速度の成分に相応する信号が移
動可能な機械軸の速度調整回路に案内量として供給され f)探触子変位の方向(x,y,z)の各々に対応して探触
子の変位()に比例する戻し力()を発生する調整
回路が設けられている構成とする。
次のように構成される。即ち、走査ヘッドと、該走査ヘ
ッド中に設けられていて探触子の個々の座標方向x,y,z
における変位に比例する信号を送出する測定変換器とを
備えており、前記信号は機械軸の駆動部に帰還接続され
る複数座標測定機の移動可能な制御装置において、 a)少なくとも2つの機械軸を同時に制御する計算機が
設けられており、 b)計算機に、該計算機により制御される少なくとも2
つの機械軸に対応して設けられた、走査ヘッドの測定変
換器の出力信号が供給され、 c)計算機が探触子変位ないしその絶対値|soll|と
走査運動の経路速度の絶対値|soll|とを設定値とし
て送出可能であり、 d)計算機が、経路速度の方向を、測定された探触子変
位の予め与えられた設定値からの偏差に応じて新たに計
算し、かつ新たに計算した経路速度の値を一定に保ち、 e)新たに計算した経路速度の成分に相応する信号が移
動可能な機械軸の速度調整回路に案内量として供給され f)探触子変位の方向(x,y,z)の各々に対応して探触
子の変位()に比例する戻し力()を発生する調整
回路が設けられている構成とする。
実施例 第1図において10は工作物を示している。この工作物
を、座標測定機がその輪郭11に走査する。工作物10に常
に接触している探触子の球1は従って輪郭11に平行な走
査経路14に沿って動く。
を、座標測定機がその輪郭11に走査する。工作物10に常
に接触している探触子の球1は従って輪郭11に平行な走
査経路14に沿って動く。
走査過程を均一且つ可及的に誤差なく行うために、走査
速度の絶対値||を一定に保つ制御が行われる。この
走査速度は、探触球1が湾曲した経路14上を移動する。
換言すれば探触球の図示の位置に対する走査速度は次式
が成り立つ。
速度の絶対値||を一定に保つ制御が行われる。この
走査速度は、探触球1が湾曲した経路14上を移動する。
換言すれば探触球の図示の位置に対する走査速度は次式
が成り立つ。
|1|=|2|=|3|=|4| 同時に輪郭線11に対してほぼ垂直な方法に加わる測定力
の一定に保たれる、即ち、次式が当てはまる。
の一定に保たれる、即ち、次式が当てはまる。
|1|=|2|=|3|=|4| このような制御を行う装置のブロック回路図を第2図に
示す。
示す。
ここには詳細に示されていない測定機の駆動部を成す3
つのモータ8a,8b,8cの軸に速度計用発電機7a,7b,7cが設
けられている。モータ8によって、測定機の走査ヘッド
15が3つの座標x,y,zにおいて移動させられる。測定値
形成のため、3つの機械軸に対応いて設けられた測長器
13a,13b,13cの位置信号Px,Py,Pzおよび、走査ヘッド1
5の、探触子2の変位を測定する信号発生器12a,12b,12c
の信号Ax,Ay,Azが測定機の制御計算機6によって公知
の方法で相互に結合される。測定値形式および測定結果
指示についてはここでは詳しくは言及しない。
つのモータ8a,8b,8cの軸に速度計用発電機7a,7b,7cが設
けられている。モータ8によって、測定機の走査ヘッド
15が3つの座標x,y,zにおいて移動させられる。測定値
形成のため、3つの機械軸に対応いて設けられた測長器
13a,13b,13cの位置信号Px,Py,Pzおよび、走査ヘッド1
5の、探触子2の変位を測定する信号発生器12a,12b,12c
の信号Ax,Ay,Azが測定機の制御計算機6によって公知
の方法で相互に結合される。測定値形式および測定結果
指示についてはここでは詳しくは言及しない。
3つの機械軸x,y,zの駆動を制御するために、1つの基
板5上に1つのマイクロプロセッサ4が設けられてい
る。このマイクロプロセッサは既に駆動モータ8a〜8cに
対する速度調整回路9a,9b,9cに調整量Vx,Vy,Vzを供給
する。調整回路9a,9b,9cの電子的部分はやはり基板5上
に設けられている。
板5上に1つのマイクロプロセッサ4が設けられてい
る。このマイクロプロセッサは既に駆動モータ8a〜8cに
対する速度調整回路9a,9b,9cに調整量Vx,Vy,Vzを供給
する。調整回路9a,9b,9cの電子的部分はやはり基板5上
に設けられている。
第1図に示された走査過程を実施するために、マイクロ
プロセッサ4に制御計算機6から経路ないし走査速度の
設定値|soll|と探触子変位の設定値|soll|とが
予め与えられる。ここで前提とされていることは、探触
子2の戻し設定(リセット)はばね装置により行われる
ので、工作物10と探触子球1との間の力は探触子変位
Aに比例しているということである。同時にマイクロプ
ロセッサ4が測定値発生器12a,12b,12cの信号Ax,Ay,A
zを受け取り、これらの信号から、探触子変位量の実施
値|ist|と探触子変位の方向eとを算定する。
プロセッサ4に制御計算機6から経路ないし走査速度の
設定値|soll|と探触子変位の設定値|soll|とが
予め与えられる。ここで前提とされていることは、探触
子2の戻し設定(リセット)はばね装置により行われる
ので、工作物10と探触子球1との間の力は探触子変位
Aに比例しているということである。同時にマイクロプ
ロセッサ4が測定値発生器12a,12b,12cの信号Ax,Ay,A
zを受け取り、これらの信号から、探触子変位量の実施
値|ist|と探触子変位の方向eとを算定する。
マイクロプロセッサ4は予め与えられた探触子変位の設
定値|soll|との実際値|ist|とを比較し、これ
らの両値の間に偏差ΔAがあると走行速度の方向を、
以下に第3図を参照して詳しく説明するように変化させ
る。
定値|soll|との実際値|ist|とを比較し、これ
らの両値の間に偏差ΔAがあると走行速度の方向を、
以下に第3図を参照して詳しく説明するように変化させ
る。
1)測定の開始時に探触子の探触球ないしピンが工作物
に初期速度(=ベクトル1)で当接することから出発
する。速度の絶対値(ベクトル1の長さ)に設定速度
に相応しかつスキヤニング過程全体の間一定に保持され
るべきである。
に初期速度(=ベクトル1)で当接することから出発
する。速度の絶対値(ベクトル1の長さ)に設定速度
に相応しかつスキヤニング過程全体の間一定に保持され
るべきである。
2)直線状の工作物面に沿った走査の際探触子球ないし
ピンの実際の変位量Aistは設定変位量Asollに相応す
る。しかし工作物が湾曲しているとき探触子変位値は変
化する。従って設定変位量と実際変位量との絶対値の偏
差、即ち差 が偏差ΔAと表される。
ピンの実際の変位量Aistは設定変位量Asollに相応す
る。しかし工作物が湾曲しているとき探触子変位値は変
化する。従って設定変位量と実際変位量との絶対値の偏
差、即ち差 が偏差ΔAと表される。
3)探触子の変位は方向も有している。走行の際変位は
工作物表面に対してほぼ垂直、即ち矢印1に対して垂
直に生じる。この方法、即ち探触子変位の単位ベクトル
と、変位量の設定値からの偏差の値ΔAとが乗算されな
ければならず、その際にベクトルV1の尖端に太く示され
たベクトルが得られる。このベクトルは初期速度V1とベ
クトル加算される。このベクトル和は0によって示さ
れている。
工作物表面に対してほぼ垂直、即ち矢印1に対して垂
直に生じる。この方法、即ち探触子変位の単位ベクトル
と、変位量の設定値からの偏差の値ΔAとが乗算されな
ければならず、その際にベクトルV1の尖端に太く示され
たベクトルが得られる。このベクトルは初期速度V1とベ
クトル加算される。このベクトル和は0によって示さ
れている。
4)このベクトル0は、探触子変位に基いて変化した
速度の新たな方向に相応する。ベクトル0の長さ、即
ちその絶対値は一定に保持すべき目標速度より大きいの
で、その絶対値は低減されなければならない。このこと
は0と絶対値の商|soll|/|0|との乗算によって
行なわれる。
速度の新たな方向に相応する。ベクトル0の長さ、即
ちその絶対値は一定に保持すべき目標速度より大きいの
で、その絶対値は低減されなければならない。このこと
は0と絶対値の商|soll|/|0|との乗算によって
行なわれる。
結果的に次のことが成立つ:走査速度の走査ベクトルは
探触子変位量が設定値から変化した場合に探触子変位の
方向とは反対に回転され、その際長さは一定に保持され
る。
探触子変位量が設定値から変化した場合に探触子変位の
方向とは反対に回転され、その際長さは一定に保持され
る。
このようにしてマイクロプロセッサにより算定された新
たな経路速度V2は次に成分Vx,Vy,Vzに分割されて調整
量として機械駆動部の速度調整回路9a,9b,9cに供給され
る。
たな経路速度V2は次に成分Vx,Vy,Vzに分割されて調整
量として機械駆動部の速度調整回路9a,9b,9cに供給され
る。
走査方向の探触子変位への適合がマイクロプロセッサの
タイムベースから導出されたクロックで連続的に行われ
るので、走査ヘッド15の動きは、許容調整偏差ΔAを度
外視すると、自動的に工作物10の輪郭に適合される。探
触子変位|ist|が制御計算機6により予め与えられ
た設定値|soll|を上回ると直ちに、経路速度Vの方
向が、偏差ΔAが取り除かれるように変化する。経路速
度に比べて十分速い計算クロックの場合、走査ヘッド
15が工作物輪郭に沿ってほぼ連続的に動く。
タイムベースから導出されたクロックで連続的に行われ
るので、走査ヘッド15の動きは、許容調整偏差ΔAを度
外視すると、自動的に工作物10の輪郭に適合される。探
触子変位|ist|が制御計算機6により予め与えられ
た設定値|soll|を上回ると直ちに、経路速度Vの方
向が、偏差ΔAが取り除かれるように変化する。経路速
度に比べて十分速い計算クロックの場合、走査ヘッド
15が工作物輪郭に沿ってほぼ連続的に動く。
上記の実施例においては、探触子2の戻し設定をばね装
置により行うことが出発点となっている。このような走
査ヘッドの場合、探触子変位が自動的に工作物表面に対
してほぼ垂直に調整され、さらに、その値(変位値)が
一定なので工作物10と探触子球1との間の測定力も一
定に保たれる。
置により行うことが出発点となっている。このような走
査ヘッドの場合、探触子変位が自動的に工作物表面に対
してほぼ垂直に調整され、さらに、その値(変位値)が
一定なので工作物10と探触子球1との間の測定力も一
定に保たれる。
第2図に示された装置は、例えばドイツ連邦共和国特許
第2242335号明細書に記載のタイプの走査ヘッドでも用
いることができる。このタイプのヘッドは戻しばねを備
えておらず、変位に依存しない測定力を探触子に加える
ための可動コイル装置を備えている。ここではばね特性
曲線を次のようにして電気的にシュミレートすることが
できる。即ち、測定力コイルに、各座標における変位に
比例する信号を供給する。
第2242335号明細書に記載のタイプの走査ヘッドでも用
いることができる。このタイプのヘッドは戻しばねを備
えておらず、変位に依存しない測定力を探触子に加える
ための可動コイル装置を備えている。ここではばね特性
曲線を次のようにして電気的にシュミレートすることが
できる。即ち、測定力コイルに、各座標における変位に
比例する信号を供給する。
とはいえこの形式の走査ヘッドでは測定力を変位に依存
せずに加える力が有利であり、しかも実際の走査経路か
ら導出された方向において経路速度の方向に対して垂直
に加えるとよい。探触子変位に対する設定値|soll|
はこのとき0にセットするかあるいは非常に小さく保つ
ことができるので、探触子2のすべての変位範囲を調整
偏差として使用することができる。これにより探触子走
査動作の際に経路速度をより高くすることができる。
せずに加える力が有利であり、しかも実際の走査経路か
ら導出された方向において経路速度の方向に対して垂直
に加えるとよい。探触子変位に対する設定値|soll|
はこのとき0にセットするかあるいは非常に小さく保つ
ことができるので、探触子2のすべての変位範囲を調整
偏差として使用することができる。これにより探触子走
査動作の際に経路速度をより高くすることができる。
発明の効果 本発明により、可及的均一なスキャン過程を一定の合成
測定力で確実に行うスキヤニング方法およびこの方法を
実施するのに適した装置が提供される。
測定力で確実に行うスキヤニング方法およびこの方法を
実施するのに適した装置が提供される。
第1図は工作物と工作物に沿って案内される探触子の走
査線とを略示する部分図、第2図は本発明による測定機
の制御装置の実施例のブロック回路図であり、第3図は
速度ベクトルV2の求め方を説明する線図である。 1……探触子球、2……マイクロプロセッサ、8a,8b,8c
……駆動モータ、9a,9b,9c……速度調整回路、10……工
作物、12a,12b,12c……測定変換器
査線とを略示する部分図、第2図は本発明による測定機
の制御装置の実施例のブロック回路図であり、第3図は
速度ベクトルV2の求め方を説明する線図である。 1……探触子球、2……マイクロプロセッサ、8a,8b,8c
……駆動モータ、9a,9b,9c……速度調整回路、10……工
作物、12a,12b,12c……測定変換器
Claims (6)
- 【請求項1】座標測定機で工作物の自動測定を行なう方
法であって、該座標測定機の探触子(1,2)が連続的に
工作物表面(10)に沿って案内され、探触子の変位の
際に走査ヘッドの測定変換器から送出される信号が測定
値の形成ならびに機械駆動部(8a,8b,8c)の制御に用い
られる、座標測定機の制御方法において、 a)各座標方向(x,y,z)における個々の速度(Vi)の
合成からベクトル和として生成される経路速度の絶対値
|soll|を設定値として予め与えて一定に保ち、 b)探触子変位ないしその絶対値|soll|もやはり予
め与えておいて測定された探触子変位ないしその絶対値
|ist|と比較し、 c)測定された探触子変位と予め与えられた探触子変位
との間の偏差Δに相応する信号ならびに探触子変位の
方向eに相応する信号を形成して、経路速度istの方
向eの修正に用い、 d)探触子(1,2)に、変位の絶対値に依存しない一定
の測定力を、経路速度の方向eに対しほぼ垂直に、走
査ヘッドに設けられたアクチュエータ(可動コイル装
置)によって加えることを特徴とする座標測定機の制御
方法。 - 【請求項2】経路速度の方向を次の計算式に従って変化
させる、即ち: なお1 は方向変化の前の速度ベクトル2 は方向変化後の速度ベクトルist は測定された探触子変位soll は予め与えられた探接子変位 |soll|は予め与えられた経路速度の絶対値である 特許請求の範囲第1項記載の座標測定機の制御方法。 - 【請求項3】走査ヘッドと、該走査ヘッド中に設けられ
ていて探触子(1,2)の個々の座標方向(x,y,z)におけ
る変位に比例する信号を送出する測定変換器(12a,12b,
12c)とを備えており、前記信号は機械軸の駆動部(8a,
8b,8c)に帰還接続されている、複数座標測定機の移動
可能な軸の制御装置において、 a)少なくとも2つの機械軸を同時に制御する計算機
(4)が設けられており、 b)計算機(4)に、該計算機により制御される少なく
とも2つの機械軸に対応して設けられた、走査ヘッド
(3)の測定変換器(12)の出力信号が供給され、 c)計算機(4)に探触子変位ないしその絶対値|
soll|と走査運動の経路速度の絶対値|soll|とが設
定値として入力可能であり、 d)計算機(4)が、経路速度の方向を、予め与えられ
た設定値からの測定された探触子変位の偏差に応じて新
たに計算し、かつ新たに計算した経路速度の絶対値を一
定に保ち、 e)新たに計算した経路速度の成分(Vx,Vy,Vz)に相
応する信号が移動可能な機械軸の速度調整回路(9)に
案内量として供給され、 f)探触子変位の方向(x,y,z)の各々に対応して、探
触子の変位()に比例する戻し力()を発生する調
整回路が設けられていることを特徴とする座標測定機の
制御装置。 - 【請求項4】3つの空間座標方向(x,y,z)に対応して
走査ヘッド中に設けられたすべての測定変換器(12a,12
b,12c)の信号が計算機に供給され、計算機は3つのす
べての機械軸の速度調整回路(9a,9b,9c)に作用する特
許請求の範囲第3項記載の座標測定機の制御装置。 - 【請求項5】計算機が、すべての機械機能の制御に用い
られるプロセス計算機である特許請求の範囲第3項記載
の座標測定機の制御装置 - 【請求項6】計算機(4)が機械の位置・速度調整回路
に接続されたマイクロプロセッサ(5)である特許請求
の範囲第3項記載の座標測定機の制御装置。
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