JPS6250894B2 - - Google Patents
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- JPS6250894B2 JPS6250894B2 JP57008304A JP830482A JPS6250894B2 JP S6250894 B2 JPS6250894 B2 JP S6250894B2 JP 57008304 A JP57008304 A JP 57008304A JP 830482 A JP830482 A JP 830482A JP S6250894 B2 JPS6250894 B2 JP S6250894B2
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
-
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
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- G11B7/0943—Methods and circuits for performing mathematical operations on individual detector segment outputs
-
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
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- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
情報信号と対応するピツトの配列による記録跡
が形成されている信号面を備えている記録媒体に
おける信号面に対して、記録跡巾と略々等しい直
径寸法となるように集光された光のスポツトを投
射し、ピツトによつて強度変調された反射光を、
記録媒体の信号面における記録跡の延在方向と、
記録媒体の信号面への投射光の光軸とを含む平面
によつて２分割された光検出器で受光して、情報
信号を光学的に再生しうるようになされている光
学的情報信号再生装置において、記録媒体からの
反射光の光の強度分布がトラツキング誤差によつ
て偏ることを利用してトラツキング誤差の検出を
行なうようにする、いわゆるプツシユプル法によ
るトラツキング誤差検出方式は、光学系の構成が
単純なものとなつてコスト的に有利なために広く
使用されている。
が形成されている信号面を備えている記録媒体に
おける信号面に対して、記録跡巾と略々等しい直
径寸法となるように集光された光のスポツトを投
射し、ピツトによつて強度変調された反射光を、
記録媒体の信号面における記録跡の延在方向と、
記録媒体の信号面への投射光の光軸とを含む平面
によつて２分割された光検出器で受光して、情報
信号を光学的に再生しうるようになされている光
学的情報信号再生装置において、記録媒体からの
反射光の光の強度分布がトラツキング誤差によつ
て偏ることを利用してトラツキング誤差の検出を
行なうようにする、いわゆるプツシユプル法によ
るトラツキング誤差検出方式は、光学系の構成が
単純なものとなつてコスト的に有利なために広く
使用されている。
第１図は、前記したプツシユプル法によるトラ
ツキング誤差検出方式が適用された光学的情報信
号再生装置の基本的な構成を示す概略図であつ
て、この第１図において、１は光源であつて、光
源１としては例えば半導体レーザが用いられる。
そして光源１は微小な発光部から直線偏光を出射
する。
ツキング誤差検出方式が適用された光学的情報信
号再生装置の基本的な構成を示す概略図であつ
て、この第１図において、１は光源であつて、光
源１としては例えば半導体レーザが用いられる。
そして光源１は微小な発光部から直線偏光を出射
する。
光源１から出射された光は、コリメートレンズ
２によつて平行光となされた後に偏光プリズム３
を透過し、次いでλ／４波長板４によつて円偏光
となされてから集光レンズ５により集光されて記
録媒体６（デイスク６）の信号面上に微小な径の
光スポツトを生じさせる。
２によつて平行光となされた後に偏光プリズム３
を透過し、次いでλ／４波長板４によつて円偏光
となされてから集光レンズ５により集光されて記
録媒体６（デイスク６）の信号面上に微小な径の
光スポツトを生じさせる。
デイスク６の信号面は高い反射率を有するもの
となされているから、前記のようにして集光レン
ズ５によつて集光された光はデイスク６の信号面
で反射して逆向きの円偏光となり再び集光レンズ
５を通りλ／４波長板４に与えられる。λ／４波
長板４において前記の反射光は入射光と直交する
偏光面を有する直線偏光となされるから、反射光
は偏光プリズム３の反射面３ａで反射されて光検
出器７に与えられる。
となされているから、前記のようにして集光レン
ズ５によつて集光された光はデイスク６の信号面
で反射して逆向きの円偏光となり再び集光レンズ
５を通りλ／４波長板４に与えられる。λ／４波
長板４において前記の反射光は入射光と直交する
偏光面を有する直線偏光となされるから、反射光
は偏光プリズム３の反射面３ａで反射されて光検
出器７に与えられる。
前記の光検出器７は、デイスク６の信号面にお
ける記録跡の延在方向と、デイスク６の信号面に
投射された光の光軸とを含む面によつて分割され
た２つの受光素子７ａ，７ｂを備えており、前記
の２つの受光素子７ａ，７ｂからの出力信号が加
算器８と減算器９とに与えられ、加算器８からは
再生信号が出力端子１０に送出され、また減算器
９からはトラツキング誤差信号が出力端子１１に
送出される。なお図中のｌは光検出器７における
分割線である。
ける記録跡の延在方向と、デイスク６の信号面に
投射された光の光軸とを含む面によつて分割され
た２つの受光素子７ａ，７ｂを備えており、前記
の２つの受光素子７ａ，７ｂからの出力信号が加
算器８と減算器９とに与えられ、加算器８からは
再生信号が出力端子１０に送出され、また減算器
９からはトラツキング誤差信号が出力端子１１に
送出される。なお図中のｌは光検出器７における
分割線である。
第１図に示す光学的情報信号再生装置では、前
記の説明のように光検出器７における２つの受光
素子７ａ，７ｂからの出力信号の和によつて再生
信号出力が得られ、また、光検出器７における２
つの受光素子７ａ，７ｂからの出力信号の差によ
つてトラツキング誤差信号が得られるので、装置
の構成が簡単なものになるという特徴を有する
が、第１図示の光学的情報信号再生装置におい
て、正確なトラツキング誤差信号が得られる状態
は、デイスク６の信号面がそれに投射される光の
光軸に対して直交している場合だけであり、デイ
スク６の信号面が記録跡の巾方向に傾斜している
場合には、デイスク６の信号面からの反射光の光
軸が傾斜し、それにより反射光の光軸が光検出器
７における２つの受光素子７ａ，７ｂの分割線の
位置から移動してしまい、２つの受光素子７ａ，
７ｂの出力信号の差信号が正しいトラツキング誤
差情報を示さないものとなるという重大な欠点を
有している。
記の説明のように光検出器７における２つの受光
素子７ａ，７ｂからの出力信号の和によつて再生
信号出力が得られ、また、光検出器７における２
つの受光素子７ａ，７ｂからの出力信号の差によ
つてトラツキング誤差信号が得られるので、装置
の構成が簡単なものになるという特徴を有する
が、第１図示の光学的情報信号再生装置におい
て、正確なトラツキング誤差信号が得られる状態
は、デイスク６の信号面がそれに投射される光の
光軸に対して直交している場合だけであり、デイ
スク６の信号面が記録跡の巾方向に傾斜している
場合には、デイスク６の信号面からの反射光の光
軸が傾斜し、それにより反射光の光軸が光検出器
７における２つの受光素子７ａ，７ｂの分割線の
位置から移動してしまい、２つの受光素子７ａ，
７ｂの出力信号の差信号が正しいトラツキング誤
差情報を示さないものとなるという重大な欠点を
有している。
第２図ａ〜ｄ図は、第１図示のような構成形態
を有する光学的情報信号再生装置における上述の
問題点を説明するための図であつて、第２図ａ〜
ｄ図において、６はデイスク、５は集光レンズ、
７は光検出器である。また、第２図ａ〜ｄ図は、
第１図中における偏光プリズム３とλ／４波長板
４とを省き、光検出器７の分割線ｌの位置に光軸
がある光が集光レンズ５を通してデイスク６の信
号面に投射され、デイスク６の信号面からの反射
光が集光レンズ５を通して光検出器７の方へ戻つ
てくるものとして図示されている。
を有する光学的情報信号再生装置における上述の
問題点を説明するための図であつて、第２図ａ〜
ｄ図において、６はデイスク、５は集光レンズ、
７は光検出器である。また、第２図ａ〜ｄ図は、
第１図中における偏光プリズム３とλ／４波長板
４とを省き、光検出器７の分割線ｌの位置に光軸
がある光が集光レンズ５を通してデイスク６の信
号面に投射され、デイスク６の信号面からの反射
光が集光レンズ５を通して光検出器７の方へ戻つ
てくるものとして図示されている。
第２図ａ図はデイスク６の信号面が入射光の光
軸Piと直交するような状態で存在する場合の入射
光の光軸Piと反射光の光軸Prとを示しており、ま
た第２図ｂ図は、デイスク６の信号面が、集光レ
ンズ５の合焦点Ｏの位置において、入射光の光軸
Piと直交する状態から角度θだけ傾斜するような
状態で存在する場合の入射光の光軸Piと反射光の
光軸Prとを示し、さらに第２図ｃ、ｄ図は、デ
イスク６の信号面が集光レンズ５の合焦点Ｏの位
置からずれていて、しかも入射光の光軸Piに対し
て直交する状態にない場合における入射光の光軸
Piと反射光の光軸Prとを示している。
軸Piと直交するような状態で存在する場合の入射
光の光軸Piと反射光の光軸Prとを示しており、ま
た第２図ｂ図は、デイスク６の信号面が、集光レ
ンズ５の合焦点Ｏの位置において、入射光の光軸
Piと直交する状態から角度θだけ傾斜するような
状態で存在する場合の入射光の光軸Piと反射光の
光軸Prとを示し、さらに第２図ｃ、ｄ図は、デ
イスク６の信号面が集光レンズ５の合焦点Ｏの位
置からずれていて、しかも入射光の光軸Piに対し
て直交する状態にない場合における入射光の光軸
Piと反射光の光軸Prとを示している。
デイスク６の信号面が、入射光の光軸Piに直交
している場合には、デイスク６の信号面が第２図
ａ図の実線図示のように集光レンズ５の合焦面と
一致している状態にあつても、あるいは、集光レ
ンズ５の合焦点Ｏの位置から光軸上で前後してい
る状態にあつてもデイスク６の信号面からの反射
光の光軸Prは入射光の光軸Piと一致するが、デイ
スク６の信号面が入射光の光軸Piと直交しない第
２図ｂ〜ｄ図示の場合には、デイスク６の信号面
からの反射光の光軸Prは、入射光の光軸Prとは
一致せず、前記した反射光はそれの光軸Prが光
検出器７の分割線ｌの位置からｙだけ離れた状態
で光検出器７に到達するから、第２図ｂ〜ｄ図示
のようにデイスク６の信号面が傾斜している状態
においては、光検出器７に与えられる反射光の中
心が光検出器７の分割線ｌの位置からずれること
になる。
している場合には、デイスク６の信号面が第２図
ａ図の実線図示のように集光レンズ５の合焦面と
一致している状態にあつても、あるいは、集光レ
ンズ５の合焦点Ｏの位置から光軸上で前後してい
る状態にあつてもデイスク６の信号面からの反射
光の光軸Prは入射光の光軸Piと一致するが、デイ
スク６の信号面が入射光の光軸Piと直交しない第
２図ｂ〜ｄ図示の場合には、デイスク６の信号面
からの反射光の光軸Prは、入射光の光軸Prとは
一致せず、前記した反射光はそれの光軸Prが光
検出器７の分割線ｌの位置からｙだけ離れた状態
で光検出器７に到達するから、第２図ｂ〜ｄ図示
のようにデイスク６の信号面が傾斜している状態
においては、光検出器７に与えられる反射光の中
心が光検出器７の分割線ｌの位置からずれること
になる。
そして、一般に光源１から出射する光は、それ
の中心が最大の強度を示すような強度分布を有し
ているものであるから、前記のように反射光の中
心が光検出器の分割線ｌの位置からずれた場合に
は、反射光の中心が位置する受光素子の出力の方
が他方の受光素子の出力よりも大となる。このこ
とを、第２図ｂ〜ｄ図についていうと、受光素子
７ａの出力の方が受光素子７ｂの出力よりも大き
くなるということである。
の中心が最大の強度を示すような強度分布を有し
ているものであるから、前記のように反射光の中
心が光検出器の分割線ｌの位置からずれた場合に
は、反射光の中心が位置する受光素子の出力の方
が他方の受光素子の出力よりも大となる。このこ
とを、第２図ｂ〜ｄ図についていうと、受光素子
７ａの出力の方が受光素子７ｂの出力よりも大き
くなるということである。
したがつて、光検出器７の２つの受光素子７
ａ，７ｂの出力信号の差によつてトラツキング誤
差信号を得るようにしている第１図示の光学的情
報信号再生装置では、デイスク６の信号面が傾斜
した状態において偽のトラツキング誤差信号が生
じることになり、トラツキング制御動作が良好に
行なわれ得ないことになる。
ａ，７ｂの出力信号の差によつてトラツキング誤
差信号を得るようにしている第１図示の光学的情
報信号再生装置では、デイスク６の信号面が傾斜
した状態において偽のトラツキング誤差信号が生
じることになり、トラツキング制御動作が良好に
行なわれ得ないことになる。
本発明は、上述のようにデイスクの信号面が傾
斜したときに生じる偽のトラツキング誤差信号が
良好に除去された状態でのトラツキング誤差検出
が容易に行なわれうるようにした光学的情報信号
再生装置のトラツキング誤差検出方式を提供する
ものであり、以下、添付図面を参照しながら本発
明方式の具体的内容を詳細に説明する。
斜したときに生じる偽のトラツキング誤差信号が
良好に除去された状態でのトラツキング誤差検出
が容易に行なわれうるようにした光学的情報信号
再生装置のトラツキング誤差検出方式を提供する
ものであり、以下、添付図面を参照しながら本発
明方式の具体的内容を詳細に説明する。
まず、第３図乃至第８図などの各図を参照して
本発明の光学的情報信号再生装置のトラツキング
誤差検出方式の構成原理及び動作原理の概略につ
いて説明する。
本発明の光学的情報信号再生装置のトラツキング
誤差検出方式の構成原理及び動作原理の概略につ
いて説明する。
第３図は、デイスク６にピツト１２，１２…の
配列によつて形成されている記録跡TRと、集光
レンズ５により集光された光のスポツトの色々な
投射位置とを図示説明した平面図であつて、第３
図中のＣ〜Ｅは各異なる投射位置における光のス
ポツトを示している。そして第３図中の光のスポ
ツトＣ、Ｄは記録跡TRの中心に光のスポツトの
中心が位置している状態における光のスポツトで
あり、光のスポツトＣはピツト１２の中心と光の
スポツトの中心とが一致している場合、光のスポ
ツトＤはピツト１２とピツト１２との中間の部分
（以下、ランドの部分と記載されることもある）
に光のスポツトが位置している場合をそれぞれ示
している。
配列によつて形成されている記録跡TRと、集光
レンズ５により集光された光のスポツトの色々な
投射位置とを図示説明した平面図であつて、第３
図中のＣ〜Ｅは各異なる投射位置における光のス
ポツトを示している。そして第３図中の光のスポ
ツトＣ、Ｄは記録跡TRの中心に光のスポツトの
中心が位置している状態における光のスポツトで
あり、光のスポツトＣはピツト１２の中心と光の
スポツトの中心とが一致している場合、光のスポ
ツトＤはピツト１２とピツト１２との中間の部分
（以下、ランドの部分と記載されることもある）
に光のスポツトが位置している場合をそれぞれ示
している。
また、第３図中において、光のスポツトＥ、Ｆ
は、記録跡TRの中心と光のスポツトの中心と
が、ずれている場合の光のスポツトであり、光の
スポツトＥはランドの部分にある光のスポツトを
示し、光のスポツトＦは、ピツト１２とランドの
部分とに光のスポツトがまたがつている状態にお
ける光のスポツトを示している。
は、記録跡TRの中心と光のスポツトの中心と
が、ずれている場合の光のスポツトであり、光の
スポツトＥはランドの部分にある光のスポツトを
示し、光のスポツトＦは、ピツト１２とランドの
部分とに光のスポツトがまたがつている状態にお
ける光のスポツトを示している。
デイスク６におけるピツト１２の底面は、ラン
ドの部分に対して入射光の波長λの1/4よりもや
や小さな値の段差（深さｄ）を有するものとなさ
れているから、光のスポツトが第３図中のＣの位
置にある場合におけるデイスク６からの反射光
（０次回折光）は、ピツト１２の底面部分におけ
る反射光とランドの部分における反射光との干渉
によつて極小の強度のものとなり、また、光のス
ポツトがランドの部分だけに投射されている第３
図中のＤ、Ｅの場合には、デイスク６からの反射
光の強度は極大となる。
ドの部分に対して入射光の波長λの1/4よりもや
や小さな値の段差（深さｄ）を有するものとなさ
れているから、光のスポツトが第３図中のＣの位
置にある場合におけるデイスク６からの反射光
（０次回折光）は、ピツト１２の底面部分におけ
る反射光とランドの部分における反射光との干渉
によつて極小の強度のものとなり、また、光のス
ポツトがランドの部分だけに投射されている第３
図中のＤ、Ｅの場合には、デイスク６からの反射
光の強度は極大となる。
ところが、光のスポツトが第３図中の光のスポ
ツトＦのように、光のスポツトの中心がピツト１
２の中心からずれているときにおけるピツト１２
によつて反射光に与えられる強度変調の態様は光
軸の両側について異なつたものとなる。第４図
は、第３図中の光のスポツトＦの状態を拡大して
図示した平面図であつて、また、第５図は第４図
中の−線位置における断面図である。第４図
において、Saはランドの部分を照射しているス
ポツトＦの部分を示し、また、Sbはピツト１２
の底面の部分を照射しているスポツトＦの部分を
示している。
ツトＦのように、光のスポツトの中心がピツト１
２の中心からずれているときにおけるピツト１２
によつて反射光に与えられる強度変調の態様は光
軸の両側について異なつたものとなる。第４図
は、第３図中の光のスポツトＦの状態を拡大して
図示した平面図であつて、また、第５図は第４図
中の−線位置における断面図である。第４図
において、Saはランドの部分を照射しているス
ポツトＦの部分を示し、また、Sbはピツト１２
の底面の部分を照射しているスポツトＦの部分を
示している。
既述のように、ピツト１２の底面はランドの部
分に対して段差ｄだけ凹んでいるから、スポツト
Ｆにおける部分Saからの反射光と部分Sbからの
反射光とは位相が異なるものとなつている。それ
で、第４図示のように、ランドの部分とピツト１
２の部分との双方にまたがつて光のスポツトＦが
存在している状態の場合には、ランドの部分とピ
ツト１２の底面の部分とにそれぞれ個別の点光源
Sa，Sbが距離Ｌを隔てて存在しているものと考
えてもよい。
分に対して段差ｄだけ凹んでいるから、スポツト
Ｆにおける部分Saからの反射光と部分Sbからの
反射光とは位相が異なるものとなつている。それ
で、第４図示のように、ランドの部分とピツト１
２の部分との双方にまたがつて光のスポツトＦが
存在している状態の場合には、ランドの部分とピ
ツト１２の底面の部分とにそれぞれ個別の点光源
Sa，Sbが距離Ｌを隔てて存在しているものと考
えてもよい。
さて、デイスク６に垂直に入射した光が、ラン
ドの部分とピツト１２の底面の部分とを、第５図
中の距離Ｌだけ隔ててそれぞれ点光源とみなせる
程に微小な面積を照射するときに、ランドの部分
とピツト１２の底面の部分とにおける反射光は、
単孔による回折を生じて第５図中に示すように
方向へ回折する。
ドの部分とピツト１２の底面の部分とを、第５図
中の距離Ｌだけ隔ててそれぞれ点光源とみなせる
程に微小な面積を照射するときに、ランドの部分
とピツト１２の底面の部分とにおける反射光は、
単孔による回折を生じて第５図中に示すように
方向へ回折する。
そして、第５図における図中の左側への回折光
イ、ロの光路差Δ１と右側への回折光ハ、ニの光
路差Δ２とはそれぞれ次のように示される。
イ、ロの光路差Δ１と右側への回折光ハ、ニの光
路差Δ２とはそれぞれ次のように示される。
Δ１＝ｄ（１＋cos）＋Lsin
≒2d＋Ｌ （ただし、≪１） …(1)
Δ２＝ｄ（１＋cos）−Lsin
≒2d−Ｌ （ただし、≪１） …(2)
前記の(1)、(2)式中におけるｄ、すなわちピツト
１２の深さｄは、入射光の波長λの1/4よりも小
さく、例えばλ／５〜λ／６とされているから、
(1)式で示される光路差Δ１はλ／２に近づき、ま
た、(2)式で示される光路差Δ２は２λ／５〜２
λ／６よりも小さくなる。したがつて、第５図中
で左側に回折される光は干渉によつて強度が小さ
くなり、逆に右側に回折される光は強度が大きく
なる。そして、前記した左右の回折光が、光検出
器７における２つの受光素子７ａ，７ｂで受光さ
れた場合には、光のスポツトＦがピツト１２の中
心、すなわち記録跡TRの中心から左に変位して
いる状態を示す信号が出力端子１１に現われる。
ピツト１２の側壁１２ａは、第５図に示すように
傾斜しているので、側壁１２ａの部分へ照射され
た光は図中の右側へ反射され、したがつて、右側
へ向う光の強度は側壁１２ａからの反射光も加わ
るために一層大きくなる。
１２の深さｄは、入射光の波長λの1/4よりも小
さく、例えばλ／５〜λ／６とされているから、
(1)式で示される光路差Δ１はλ／２に近づき、ま
た、(2)式で示される光路差Δ２は２λ／５〜２
λ／６よりも小さくなる。したがつて、第５図中
で左側に回折される光は干渉によつて強度が小さ
くなり、逆に右側に回折される光は強度が大きく
なる。そして、前記した左右の回折光が、光検出
器７における２つの受光素子７ａ，７ｂで受光さ
れた場合には、光のスポツトＦがピツト１２の中
心、すなわち記録跡TRの中心から左に変位して
いる状態を示す信号が出力端子１１に現われる。
ピツト１２の側壁１２ａは、第５図に示すように
傾斜しているので、側壁１２ａの部分へ照射され
た光は図中の右側へ反射され、したがつて、右側
へ向う光の強度は側壁１２ａからの反射光も加わ
るために一層大きくなる。
光のスポツトが第３図中のＤ、Ｅのようにラン
ドの部分だけに在る場合には、光のスポツトＤ、
Ｅは単一の光源となり、光検出器７の２つの受光
素子７ａ，７ｂに与えられる光量は、トラツキン
グ誤差の有無とは無関係に常に等しくなる。
ドの部分だけに在る場合には、光のスポツトＤ、
Ｅは単一の光源となり、光検出器７の２つの受光
素子７ａ，７ｂに与えられる光量は、トラツキン
グ誤差の有無とは無関係に常に等しくなる。
これまでの説明は、デイスク６に対する入射光
がデイスク６の面に垂直であつた場合についての
ものであつたが、次にデイスク６の面が入射光の
光軸に対して垂直でない状態（以下、デイスク６
が傾斜している状態という）の場合について説明
する。
がデイスク６の面に垂直であつた場合についての
ものであつたが、次にデイスク６の面が入射光の
光軸に対して垂直でない状態（以下、デイスク６
が傾斜している状態という）の場合について説明
する。
デイスク６の面が傾斜した場合には、デイスク
６からの反射光の光軸Prは第２図ｂ〜ｄ図に示
されているように、光検出器７の面において入射
光の光軸Piからｙだけ離れるから、光検出器７に
おける２つの受光素子７ａ，７ｂの出力信号間に
はデイスク６の傾斜と対応して差が生じることに
なる。
６からの反射光の光軸Prは第２図ｂ〜ｄ図に示
されているように、光検出器７の面において入射
光の光軸Piからｙだけ離れるから、光検出器７に
おける２つの受光素子７ａ，７ｂの出力信号間に
はデイスク６の傾斜と対応して差が生じることに
なる。
前記のように、デイスク６の面の傾斜に応じて
光検出器７ａ，７ｂの出力信号間に生じる差信号
は、光のスポツトが第３図のＣ〜Ｆの何れの状態
のものであつても現われるのであるが、光のスポ
ツトが第３図中のＣ、Ｆのようにランドの部分と
ピツトの部分とにまたがつて存在している状態に
おける光検出器７の２つの受光素子７ａ，７ｂの
差信号は、既述したトラツキング誤差情報とデイ
スク６の傾斜情報との双方の情報に基づいて生じ
ているものであり、また、光のスポツトが第３図
中のＤ、Ｅのように、光のスポツトの全体がラン
ドの部分に在る状態における光検出器７の２つの
受光素子７ａ，７ｂからの出力信号間の差信号
は、デイスク６の傾斜情報を示している。
光検出器７ａ，７ｂの出力信号間に生じる差信号
は、光のスポツトが第３図のＣ〜Ｆの何れの状態
のものであつても現われるのであるが、光のスポ
ツトが第３図中のＣ、Ｆのようにランドの部分と
ピツトの部分とにまたがつて存在している状態に
おける光検出器７の２つの受光素子７ａ，７ｂの
差信号は、既述したトラツキング誤差情報とデイ
スク６の傾斜情報との双方の情報に基づいて生じ
ているものであり、また、光のスポツトが第３図
中のＤ、Ｅのように、光のスポツトの全体がラン
ドの部分に在る状態における光検出器７の２つの
受光素子７ａ，７ｂからの出力信号間の差信号
は、デイスク６の傾斜情報を示している。
それで、本発明の光学的情報信号再生装置のト
ラツキング誤差検出方式では、情報信号と対応す
るピツトの配列による記録跡が形成されている信
号面を備えている記録媒体における信号面に対し
て、記録跡巾と略々等しい直径寸法となるように
集光された光のスポツトを投射し、ピツトによつ
て強度変調された光のスポツトを投射し、ピツト
によつて強度変調された反射光を記録媒体の信号
面における記録跡の延在方向と、記録媒体の信号
面への投射光の光軸とを含む平面によつて２分割
された光検出器７で受光して、情報信号を光学的
に再生しうるようになされている光学的情報信号
再生装置における前記の光検出器７の２分割され
た部分７ａ，７ｂ（２つの受光素子７ａ，７ｂ）
からそれぞれ得られる変調信号Ia、Ibと、前記の
各変調信号Ia、Ibにおけるピーク値Iap、Ibpとを
演算して得た２組の信号の差信号をトラツキング
誤差信号とするのであるが、次に、前記のような
本発明方式の動作が確実に行なわれ得るというこ
とを数式をも用いて具体的に明らかにする。
ラツキング誤差検出方式では、情報信号と対応す
るピツトの配列による記録跡が形成されている信
号面を備えている記録媒体における信号面に対し
て、記録跡巾と略々等しい直径寸法となるように
集光された光のスポツトを投射し、ピツトによつ
て強度変調された光のスポツトを投射し、ピツト
によつて強度変調された反射光を記録媒体の信号
面における記録跡の延在方向と、記録媒体の信号
面への投射光の光軸とを含む平面によつて２分割
された光検出器７で受光して、情報信号を光学的
に再生しうるようになされている光学的情報信号
再生装置における前記の光検出器７の２分割され
た部分７ａ，７ｂ（２つの受光素子７ａ，７ｂ）
からそれぞれ得られる変調信号Ia、Ibと、前記の
各変調信号Ia、Ibにおけるピーク値Iap、Ibpとを
演算して得た２組の信号の差信号をトラツキング
誤差信号とするのであるが、次に、前記のような
本発明方式の動作が確実に行なわれ得るというこ
とを数式をも用いて具体的に明らかにする。
まず、光のスポツトが第３図中のＤのように、
光のスポツトの全体がランドの部分に在る場合に
おける反射光が与えられた光検出器７の２つの受
光素子７ａ，７ｂからそれぞれ出力される出力信
号の大きさをＡとし、また、光のスポツトが第３
図中のＣのようにピツト１２に正確に一致したと
きにおける反射光が与えられた検出器７の２つの
受光素子７ａ，７ｂからそれぞれ出力される出力
信号を（Ａ−2B）として、光のスポツトが記録
跡を正確に追跡している状態における光検出器７
の２つの受光素子７ａ，７ｂの出力信号Ia，Ib
（変調信号Ia，Ib）を数式で表わすと次の(3)式の
ようになる。
光のスポツトの全体がランドの部分に在る場合に
おける反射光が与えられた光検出器７の２つの受
光素子７ａ，７ｂからそれぞれ出力される出力信
号の大きさをＡとし、また、光のスポツトが第３
図中のＣのようにピツト１２に正確に一致したと
きにおける反射光が与えられた検出器７の２つの
受光素子７ａ，７ｂからそれぞれ出力される出力
信号を（Ａ−2B）として、光のスポツトが記録
跡を正確に追跡している状態における光検出器７
の２つの受光素子７ａ，７ｂの出力信号Ia，Ib
（変調信号Ia，Ib）を数式で表わすと次の(3)式の
ようになる。
第６図ａ、ｂ図は前記の(3)式で示される受光素
子７ａ，７ｂの出力信号Ia，Ibの波形図である。
前記の(3)式における右辺第３項は変調信号Ia、Ib
について同一となるから、右辺第３項を単に
Bcos ωｔとしてもよい。また、実際において
も変調信号は略々正弦波状のものとなる。
子７ａ，７ｂの出力信号Ia，Ibの波形図である。
前記の(3)式における右辺第３項は変調信号Ia、Ib
について同一となるから、右辺第３項を単に
Bcos ωｔとしてもよい。また、実際において
も変調信号は略々正弦波状のものとなる。
光スポツトが記録跡TRを正確に追跡している
状態における光検出器７の２つの受光素子７ａ，
７ｂから出力される変調信号Ia、Ibは、(3)式に示
すように同一となるから、減算器９の出力信号、
すなわちトラツキング誤差信号は０となる。
状態における光検出器７の２つの受光素子７ａ，
７ｂから出力される変調信号Ia、Ibは、(3)式に示
すように同一となるから、減算器９の出力信号、
すなわちトラツキング誤差信号は０となる。
次に、光のスポツトの中心が記録跡TRの中心
から左右にずれる場合について、光のスポツトが
第３図Ｅ、Ｆのように記録跡の左側にずれた状態
を代表例にとり説明する。
から左右にずれる場合について、光のスポツトが
第３図Ｅ、Ｆのように記録跡の左側にずれた状態
を代表例にとり説明する。
光のスポツトが記録跡の左側にずれた場合に、
第３図のＦに示す光のスポツトからの反射光は、
左側への回折光の干渉が大きくなることは既述し
たとおりであり、光検出器７の受光素子７ａの出
力信号は減少する。光のスポツトが第３図中の
Ｅ、Ｆのように記録跡から左側にずれた状態にお
ける光検出器７の２つの受光素子７ａ，７ｂから
出力される変調信号Ia、Ibは、左側への反射光の
変調の増加分をｘとして、次の(4)、(5)式で示され
るものとなる。
第３図のＦに示す光のスポツトからの反射光は、
左側への回折光の干渉が大きくなることは既述し
たとおりであり、光検出器７の受光素子７ａの出
力信号は減少する。光のスポツトが第３図中の
Ｅ、Ｆのように記録跡から左側にずれた状態にお
ける光検出器７の２つの受光素子７ａ，７ｂから
出力される変調信号Ia、Ibは、左側への反射光の
変調の増加分をｘとして、次の(4)、(5)式で示され
るものとなる。
Ia＝Ａ−Ｂ−ｘ＋（Ｂ＋ｘ） cos ωｔ…(4)
Ib＝Ａ−Ｂ＋ｘ＋（Ｂ−ｘ） cos ωｔ…(5)
また、トラツキング誤差信号は、(4)式と(5)式と
の差により Ia−Ib＝−2x＋2x cos ωｔ …(6) (6)式のように求められる。そして、(4)〜(6)式に
示すIa、Ib（Ia−Ib）は第７図ａ〜ｃ図に示すよ
うなものとなる。
の差により Ia−Ib＝−2x＋2x cos ωｔ …(6) (6)式のように求められる。そして、(4)〜(6)式に
示すIa、Ib（Ia−Ib）は第７図ａ〜ｃ図に示すよ
うなものとなる。
なお、光のスポツトが記録跡からずれた位置で
あつてもランドの部分に光のスポツトが在る場合
における反射光による光検出器７の２つの受光素
子７ａ，７ｂからの出力信号の大きさは共にＡで
あることはいうまでもない。
あつてもランドの部分に光のスポツトが在る場合
における反射光による光検出器７の２つの受光素
子７ａ，７ｂからの出力信号の大きさは共にＡで
あることはいうまでもない。
前記の(6)式及びそれを示す第７図ｃ図示の波形
図によれば、光のスポツトが第３図中のＥ、Ｆの
ように記録跡の左側にずれた場合には、光検出器
７の左側の受光素子７ａの出力信号の大きさが低
下して、差信号が生じることが判かる。
図によれば、光のスポツトが第３図中のＥ、Ｆの
ように記録跡の左側にずれた場合には、光検出器
７の左側の受光素子７ａの出力信号の大きさが低
下して、差信号が生じることが判かる。
そして、第７図ｃ図示の差信号（Ia−Ib）は情
報信号で変調されているから、それをピーク値検
波するか、あるいは積分回路で平滑化することに
より、トラツキング誤差信号が得られることは明
らかである。
報信号で変調されているから、それをピーク値検
波するか、あるいは積分回路で平滑化することに
より、トラツキング誤差信号が得られることは明
らかである。
これまでの説明は、デイスク６が傾斜していな
い状態において、デイスク６からの反射光が与え
られる光検出器７の２つの受光素子７ａ，７ｂの
出力信号の差をとれば、トラツキング誤差が正確
に検出できることを明らかにしたものである。
い状態において、デイスク６からの反射光が与え
られる光検出器７の２つの受光素子７ａ，７ｂの
出力信号の差をとれば、トラツキング誤差が正確
に検出できることを明らかにしたものである。
ところで、デイスク６に傾斜があると、第２図
ｂ図のように、反射光の光軸の位置が光検出器７
の分割線ｌの位置から移動するが、その移動量ｙ
は、集光レンズ５の集点距離をｆ、デイスク６の
傾斜角をθとすると、ｙ＝ｆθ …(7) (7)式で示される。
ｂ図のように、反射光の光軸の位置が光検出器７
の分割線ｌの位置から移動するが、その移動量ｙ
は、集光レンズ５の集点距離をｆ、デイスク６の
傾斜角をθとすると、ｙ＝ｆθ …(7) (7)式で示される。
デイスク６の傾斜により反射光の光軸の位置が
光検出器７の分割線ｌの位置からｙだけ移動する
と、今、集光レンズ５の瞳径をＤとした場合に、
光検出器７における２つの受光素子７ａ，７ｂに
おける一方の受光素子への入射光の面積はyDだ
け減少し、他方の受光素子への入射光の面積が
yDだけ増加する。ここで、前記した入射光の面
積の増加減少率をαとして、デイスク６が傾斜し
た状態における光検出器７の２つの受光素子７
ａ，７ｂからの出力される変調信号を求めると、
次の(8)，(9)式で示されるものとなる。
光検出器７の分割線ｌの位置からｙだけ移動する
と、今、集光レンズ５の瞳径をＤとした場合に、
光検出器７における２つの受光素子７ａ，７ｂに
おける一方の受光素子への入射光の面積はyDだ
け減少し、他方の受光素子への入射光の面積が
yDだけ増加する。ここで、前記した入射光の面
積の増加減少率をαとして、デイスク６が傾斜し
た状態における光検出器７の２つの受光素子７
ａ，７ｂからの出力される変調信号を求めると、
次の(8)，(9)式で示されるものとなる。
受光素子７ａからの出力信号…Ia＋αIb …(8)
受光素子７ｂからの出力信号…Ib−αIb …(9)
そして、光検出器７ａ，７ｂの出力信号の差
は、次の(10)式で示されるから、デイスク６が傾斜
した場合には、(6)式で示される真のトラツキング
誤差に対して２αIbというオフセツト（偽のトラ
ツキング誤差）が付加されることになる。
は、次の(10)式で示されるから、デイスク６が傾斜
した場合には、(6)式で示される真のトラツキング
誤差に対して２αIbというオフセツト（偽のトラ
ツキング誤差）が付加されることになる。
Ia−Ib＋２αIb ……(10)
すなわち、デイスクが傾斜した状態において
は、光のスポツトが２αIbに相当する量だけオフ
セツトされてトラツキング制御動作が行なわれる
ために正確なトラツキング制御ができないのであ
る。
は、光のスポツトが２αIbに相当する量だけオフ
セツトされてトラツキング制御動作が行なわれる
ために正確なトラツキング制御ができないのであ
る。
さて、光のスポツトがランドの部分に在る第３
図中のＤ、Ｅの状態において、デイスクが傾斜し
ていない場合の光検出器７の２つの受光素子７
ａ，７ｂの出力信号Ia、Ibは、既述のようにIa＝
Ib＝Ａであるが、デイスク６が傾斜したときは受
光素子７ａの出力信号は例えばＡ＋αＡ……(11)と
なり、また、受光素子７ｂの出力信号はＡ−αＡ
……(12)となる。
図中のＤ、Ｅの状態において、デイスクが傾斜し
ていない場合の光検出器７の２つの受光素子７
ａ，７ｂの出力信号Ia、Ibは、既述のようにIa＝
Ib＝Ａであるが、デイスク６が傾斜したときは受
光素子７ａの出力信号は例えばＡ＋αＡ……(11)と
なり、また、受光素子７ｂの出力信号はＡ−αＡ
……(12)となる。
今、ランドの部分からの反射光と、ピツトをも
含む部分からの反射光とが時間軸上で相次いで生
じているような反射光が与えられることによつて
光検出器７の２つの受光素子７ａ、７ｂから出力
される(8)、(9)式で示す変調信号と、前記したラン
ドの部分における反射光と対応して光検出器７の
２つの受光素子７ａ、７ｂから出力される前記し
た(11)、(12)式で示す出力信号などの間で、 ｛(8)式×(12)式｝ ……(13) ｛(9)式×(11)式｝ ……(14) ｛(13)式−(14)式｝ ……(15) (13)〜(15)式で示すような演算を行なうと次のよ
うになる。
含む部分からの反射光とが時間軸上で相次いで生
じているような反射光が与えられることによつて
光検出器７の２つの受光素子７ａ、７ｂから出力
される(8)、(9)式で示す変調信号と、前記したラン
ドの部分における反射光と対応して光検出器７の
２つの受光素子７ａ、７ｂから出力される前記し
た(11)、(12)式で示す出力信号などの間で、 ｛(8)式×(12)式｝ ……(13) ｛(9)式×(11)式｝ ……(14) ｛(13)式−(14)式｝ ……(15) (13)〜(15)式で示すような演算を行なうと次のよ
うになる。
（Ia＋αIb）Ａ（１−α）
＝（Ia−αIa＋αIb−α2Ib）Ａ ……(13)
（Ib−αIb）Ａ（１＋α）＝（Ib−α2Ib）Ａ
……(14) （Ia−Ib）（１−α）Ａ ……(15) 前記した(15)式で示される値は、真のトラツキ
ング誤差と対応する（Ia−Ib）の値に比例してい
る。また、(15)式をみると、信号の振幅はデイス
クの傾斜に応じて生じるαによつて変調されてい
るが、通常、デイスク６の傾斜角θが最大１度程
度であり、また集光レンズ５の焦点距離ｆは５mm
程度、集光レンズ５の瞳径Ｄは４mm程度であるか
ら、αの値は0.06程度が最大となり、したがつて
利得の減少は最大でも−0.5dB程度となる。
……(14) （Ia−Ib）（１−α）Ａ ……(15) 前記した(15)式で示される値は、真のトラツキ
ング誤差と対応する（Ia−Ib）の値に比例してい
る。また、(15)式をみると、信号の振幅はデイス
クの傾斜に応じて生じるαによつて変調されてい
るが、通常、デイスク６の傾斜角θが最大１度程
度であり、また集光レンズ５の焦点距離ｆは５mm
程度、集光レンズ５の瞳径Ｄは４mm程度であるか
ら、αの値は0.06程度が最大となり、したがつて
利得の減少は最大でも−0.5dB程度となる。
このように、前記した(15)式のような演算を行
なつて得られるトラツキング誤差信号を用いてト
ラツキング制御を行なうと、デイスクの傾斜の影
響を実用上受けない状態でトラツキング制御を行
なうことができる。そして、トラツキング制御系
は、それの安定性からみて±1dBの利得変動は充
分に許容するから、デイスクが2.5度傾斜したと
してもトラツキング制御系は正常に動作する。ま
た、前記のトラツキング動作は、当然のことなが
ら光スポツトのオフセツトが０の状態で行なわれ
るのである。
なつて得られるトラツキング誤差信号を用いてト
ラツキング制御を行なうと、デイスクの傾斜の影
響を実用上受けない状態でトラツキング制御を行
なうことができる。そして、トラツキング制御系
は、それの安定性からみて±1dBの利得変動は充
分に許容するから、デイスクが2.5度傾斜したと
してもトラツキング制御系は正常に動作する。ま
た、前記のトラツキング動作は、当然のことなが
ら光スポツトのオフセツトが０の状態で行なわれ
るのである。
第８図は、デイスク６が傾斜したときの光検出
器７上のスポツトの移動状態を示す平面図であ
り、第８図において、円Ｘはデイスクが傾斜して
いない状態における光のスポツトの位置であり、
また、円Ｙはデイスク６が傾斜した状態における
光のスポツトの位置であつて、デイスク６が傾斜
すると、円ＸおけるS1で示す面積の部分の光の情
報Ibαが受光素子７ｂ側から７ａ側に移ることを
示している。光源１からデイスク６に投射される
光のスポツトの断面の光の強度分布は略々ガウス
分布に従つており、また、デイスクの傾斜角θが
小であることにより面積S2，S3も小さいから、そ
の小さい面積S2，S3に含まれる光情報も小さく、
したがつて、集光レンズ５の瞳によつて面積S3の
部分の光情報が欠除されたとしても、略々正確な
解析が行なわれうるのである。
器７上のスポツトの移動状態を示す平面図であ
り、第８図において、円Ｘはデイスクが傾斜して
いない状態における光のスポツトの位置であり、
また、円Ｙはデイスク６が傾斜した状態における
光のスポツトの位置であつて、デイスク６が傾斜
すると、円ＸおけるS1で示す面積の部分の光の情
報Ibαが受光素子７ｂ側から７ａ側に移ることを
示している。光源１からデイスク６に投射される
光のスポツトの断面の光の強度分布は略々ガウス
分布に従つており、また、デイスクの傾斜角θが
小であることにより面積S2，S3も小さいから、そ
の小さい面積S2，S3に含まれる光情報も小さく、
したがつて、集光レンズ５の瞳によつて面積S3の
部分の光情報が欠除されたとしても、略々正確な
解析が行なわれうるのである。
次に、デイスク６上に投射された光のスポツト
が、それの断面の光の強度分布が一定である場合
を仮定して考察すると、第８図中の面積S3は、集
光レンズ５の瞳によつて反射光が制限されて光検
出器７の受光素子７ａ上には光が与えられない部
分であるから、この場合には既述した(8)式は次の
(16)となり、また、(11)式も次の(17)式となる。
が、それの断面の光の強度分布が一定である場合
を仮定して考察すると、第８図中の面積S3は、集
光レンズ５の瞳によつて反射光が制限されて光検
出器７の受光素子７ａ上には光が与えられない部
分であるから、この場合には既述した(8)式は次の
(16)となり、また、(11)式も次の(17)式となる。
Ia＋αIb−αIa ……(16)
Ａ ……(17)
それで前記した(16)式と(17)式と、既述した(9)式
及び(12)式などにより、既述した(13)〜(15)式で行
なつたのと同様な操作を行なうと、光検出器７の
受光素子７ａの出力信号は(18)式で、また、受光
素子７ｂの出力信号は(19)式でそれぞれ表わされ
るものとなる。
及び(12)式などにより、既述した(13)〜(15)式で行
なつたのと同様な操作を行なうと、光検出器７の
受光素子７ａの出力信号は(18)式で、また、受光
素子７ｂの出力信号は(19)式でそれぞれ表わされ
るものとなる。
（Ia＋αIb−αIa）Ａ（１−α）
＝（Ia＋αIb−αIa
−αIa−α2Ib＋α2Ia）Ａ ……(18)
（Ib−αIb）Ａ (19)
ここで、前記した(18)式と(19)式との差をとると
次の(20)式が得られる。
次の(20)式が得られる。
（Ia−Ib）（１−α）２ (20)
この(20)式で示される値は、真のトラツキング
誤差と対応する（Ia−Ib）の値に比例している。
また、(20)式において信号の振幅はデイスクの傾
斜に応じて生じるαによつて変調されているが、
通常、デイスク６の傾斜角θが最大１度程度であ
り、また、集光レンズ５の焦点距離ｆは５mm程
度、集光レンズ５の瞳径Ｄは４mm程度であるか
ら、ゲインの低下は最大でも−1dB程度となり、
実際上で問題とはならない。また、この(20)式の
場合でも光のスポツトのオフセツトが０の状態で
トラツキング制御動作が行なわれることはいうま
でもない。
誤差と対応する（Ia−Ib）の値に比例している。
また、(20)式において信号の振幅はデイスクの傾
斜に応じて生じるαによつて変調されているが、
通常、デイスク６の傾斜角θが最大１度程度であ
り、また、集光レンズ５の焦点距離ｆは５mm程
度、集光レンズ５の瞳径Ｄは４mm程度であるか
ら、ゲインの低下は最大でも−1dB程度となり、
実際上で問題とはならない。また、この(20)式の
場合でも光のスポツトのオフセツトが０の状態で
トラツキング制御動作が行なわれることはいうま
でもない。
しかも、実際には光のスポツト内の強度分布が
一様であるということはないので、トラツキング
制御は既述した(15)式で示されるような態様のト
ラツキング誤差検出に基づいて行なわれることに
なる。
一様であるということはないので、トラツキング
制御は既述した(15)式で示されるような態様のト
ラツキング誤差検出に基づいて行なわれることに
なる。
また、デイスク６が傾斜していないときの反射
光軸の光の強さを示す(4)，(5)式に、(8)，(9)式のよ
うにデイスクの傾斜によつて生じる成分αIbを加
えて、次に既述した(13)〜(15)式で行なつたよう
な操作を施こすことによつても次の(21)式で示さ
れるようにトラツキング誤差信号を得ることがで
きる。
光軸の光の強さを示す(4)，(5)式に、(8)，(9)式のよ
うにデイスクの傾斜によつて生じる成分αIbを加
えて、次に既述した(13)〜(15)式で行なつたよう
な操作を施こすことによつても次の(21)式で示さ
れるようにトラツキング誤差信号を得ることがで
きる。
（−2x＋2x cosωｔ）（１−α）……(21)
次に、光検出器７の２つの受光素子７ａ，７ｂ
からの出力信号を用いて、これまでに説明した本
発明方式の構成原理及び動作原理に従いデイスク
６の傾斜に基づく偽のトラツキング誤差成分を含
まないトラツキング誤差信号が得られるようにす
るための回路配置について、第９図以降のブロツ
ク図を参照してその詳細を説明する。
からの出力信号を用いて、これまでに説明した本
発明方式の構成原理及び動作原理に従いデイスク
６の傾斜に基づく偽のトラツキング誤差成分を含
まないトラツキング誤差信号が得られるようにす
るための回路配置について、第９図以降のブロツ
ク図を参照してその詳細を説明する。
第９図、第１０図、第１２図及び第１３図にお
いて、７は光検出器であり、７ａ，７ｂは２つの
受光素子であり、この光検出器７には例えば第１
図中に示されているような光学系を介してデイス
ク６からの反射光が与えられている。
いて、７は光検出器であり、７ａ，７ｂは２つの
受光素子であり、この光検出器７には例えば第１
図中に示されているような光学系を介してデイス
ク６からの反射光が与えられている。
第９図において、光検出器７の２つの受光素子
７ａ，７ｂからの出力信号は加算器８によつて加
算されて、出力端子１０へ再生信号を出力する。
前記した加算器８からの出力信号は微分回路
DFCによつて微分されて、微分回路PFCからは
それに対する入力信号に対して90度だけ進相して
いる信号が出力されてパルス発生器１３に供給さ
れる。
７ａ，７ｂからの出力信号は加算器８によつて加
算されて、出力端子１０へ再生信号を出力する。
前記した加算器８からの出力信号は微分回路
DFCによつて微分されて、微分回路PFCからは
それに対する入力信号に対して90度だけ進相して
いる信号が出力されてパルス発生器１３に供給さ
れる。
パルス発生器１３では、それに対する入力信号
における０クロス点で立下がるパルス、すなわ
ち、再生信号におけるピーク値と対応する時間位
置のパルスを発生してゲート回路１４，１５に与
える。光検出器７の受光素子７ａからの出力信号
は、前記したゲート回路１４にも与えられている
と共に、乗算器１８へもそれの一方入力信号とし
て与えられており、また、光検出器７の受光素子
７ｂの出力信号は、前記したゲート回路１５にも
与えられていると共に、乗算器１９へそれの一方
入力信号として与えられている。
における０クロス点で立下がるパルス、すなわ
ち、再生信号におけるピーク値と対応する時間位
置のパルスを発生してゲート回路１４，１５に与
える。光検出器７の受光素子７ａからの出力信号
は、前記したゲート回路１４にも与えられている
と共に、乗算器１８へもそれの一方入力信号とし
て与えられており、また、光検出器７の受光素子
７ｂの出力信号は、前記したゲート回路１５にも
与えられていると共に、乗算器１９へそれの一方
入力信号として与えられている。
前記したゲート回路１４，１５は、パルス発生
器１３から与えられるパルスによつて、それに与
えられた信号をサンプリングして２つのホールド
回路１６，１７の内の対応するものに与え、ホー
ルド回路１６，１７ではゲート回路１４，１５に
よつて標本抽出された信号を保持し、それからの
出力信号を各対応する乗算器１８，１９に対して
それぞれ他方の入力信号として与える。前記した
乗算器１８，１９の出力信号は減算器９において
減算されて出力端子１１へはトラツキング誤差信
号が送出されるのである。
器１３から与えられるパルスによつて、それに与
えられた信号をサンプリングして２つのホールド
回路１６，１７の内の対応するものに与え、ホー
ルド回路１６，１７ではゲート回路１４，１５に
よつて標本抽出された信号を保持し、それからの
出力信号を各対応する乗算器１８，１９に対して
それぞれ他方の入力信号として与える。前記した
乗算器１８，１９の出力信号は減算器９において
減算されて出力端子１１へはトラツキング誤差信
号が送出されるのである。
すなわち、ゲート回路１４とホールド回路１６
とは、光検出器７の受光素子７ａからの出力信号
中のピーク値（光のスポツトがランドの部分だけ
に位置している状態における反射光と対応して生
じた出力信号）を抽出してそれを保持して乗算器
１９に与え、乗算器１９では光検出器７の受光素
子７ｂの出力信号と、前記した受光素子７ａから
の出力信号中のピーク値とを乗算するが、ゲート
回路１４、ホールド回路１６及び乗算回路１９な
どにおける上記の動作は、既述した(14)式、すな
わち、｛(9)式×(11)式｝の演算を行なうことと対応
しているのであり、また、同様にしてゲート回路
１５とホールド回路１７及び乗算回路１８などの
動作によつて既述した(13)式、すなわち、｛(8)式
×(12)式｝の演算が行なわれる。次いで、前記の乗
算器１８，１９の出力信号が減算器９によつて減
算されることによつて(15)式で示されるようなト
ラツキング誤差信号が出力端子１１に送出される
のである。
とは、光検出器７の受光素子７ａからの出力信号
中のピーク値（光のスポツトがランドの部分だけ
に位置している状態における反射光と対応して生
じた出力信号）を抽出してそれを保持して乗算器
１９に与え、乗算器１９では光検出器７の受光素
子７ｂの出力信号と、前記した受光素子７ａから
の出力信号中のピーク値とを乗算するが、ゲート
回路１４、ホールド回路１６及び乗算回路１９な
どにおける上記の動作は、既述した(14)式、すな
わち、｛(9)式×(11)式｝の演算を行なうことと対応
しているのであり、また、同様にしてゲート回路
１５とホールド回路１７及び乗算回路１８などの
動作によつて既述した(13)式、すなわち、｛(8)式
×(12)式｝の演算が行なわれる。次いで、前記の乗
算器１８，１９の出力信号が減算器９によつて減
算されることによつて(15)式で示されるようなト
ラツキング誤差信号が出力端子１１に送出される
のである。
次に、第１０図に示す回路配置は、前記した第
９図示の回路配置を簡略化した構成のものであ
り、この第１０図中におけるブロツク２１，２２
は、例えば第１１図に示されるようなピーク値検
波回路によるホールド回路である。第１１図に示
すピーク値検波回路によるホールド回路２１・２
２は、それに与えられた入力信号のピーク値と対
応する電圧がダイオードD1を介するコンデンサ
C1への充電動作によつてコンデンサC1の端子電
圧に現われるようにし、コンデンサC1と抵抗R1
とによつて定まる放電時定数を適当に設定するこ
とにより、再生信号のピーク値が保持された状態
となされるように構成されている。したがつて、
この第１０図示の回路配置も既述した第９図示の
回路配置と同様な演算動作を行なつて、トラツキ
ング誤差信号が出力端子１１へ送出されるのであ
る。
９図示の回路配置を簡略化した構成のものであ
り、この第１０図中におけるブロツク２１，２２
は、例えば第１１図に示されるようなピーク値検
波回路によるホールド回路である。第１１図に示
すピーク値検波回路によるホールド回路２１・２
２は、それに与えられた入力信号のピーク値と対
応する電圧がダイオードD1を介するコンデンサ
C1への充電動作によつてコンデンサC1の端子電
圧に現われるようにし、コンデンサC1と抵抗R1
とによつて定まる放電時定数を適当に設定するこ
とにより、再生信号のピーク値が保持された状態
となされるように構成されている。したがつて、
この第１０図示の回路配置も既述した第９図示の
回路配置と同様な演算動作を行なつて、トラツキ
ング誤差信号が出力端子１１へ送出されるのであ
る。
上記した構成例は、反射光の光軸の一方側の光
のピーク値と対応する信号と、反射光の光軸の他
方側の光と対応する変調信号とを、(13)、(14)式
のように乗算し、(13)式の信号と(14)式の信号と
を減算する(15)式によりトラツキング誤差信号が
得られるようにしたものであるが、反射光の光軸
の一方側の光と対応する変調信号を、同じ側の光
のピーク値と対応する信号で割算を行なつて、 （Ia−Ib）１／（１＋α）Ａ ……(22) (22)式で示されるようなトラツキグ誤差信号が
得られるような回路配置として本発明方式が実施
されてもよい。
のピーク値と対応する信号と、反射光の光軸の他
方側の光と対応する変調信号とを、(13)、(14)式
のように乗算し、(13)式の信号と(14)式の信号と
を減算する(15)式によりトラツキング誤差信号が
得られるようにしたものであるが、反射光の光軸
の一方側の光と対応する変調信号を、同じ側の光
のピーク値と対応する信号で割算を行なつて、 （Ia−Ib）１／（１＋α）Ａ ……(22) (22)式で示されるようなトラツキグ誤差信号が
得られるような回路配置として本発明方式が実施
されてもよい。
次に、第１２図は、光検出器７の２つの受光素
子７ａ，７ｂからの出力として得られる(8)，(9)式
で示される変調信号と、(11)，(12)式で示されるピー
ク値信号とを用いて次の(23)式で示されるような
演算を行なつてデイスク６に傾斜がないときの(6)
式で示されるようなトラツキング誤差信号と全く
同じトラツキング誤差信号が得られるように構成
された回路配置である。
子７ａ，７ｂからの出力として得られる(8)，(9)式
で示される変調信号と、(11)，(12)式で示されるピー
ク値信号とを用いて次の(23)式で示されるような
演算を行なつてデイスク６に傾斜がないときの(6)
式で示されるようなトラツキング誤差信号と全く
同じトラツキング誤差信号が得られるように構成
された回路配置である。
(8)式−(9)式×(11)式／(12)式＝Ia＋αIb−（Ib−α
Ib） ×Ａ＋αＡ／Ａ−αＡ＝Ia−Ib ……(23) 第１２図において、２１，２２はピーク値検波
回路、２３はコンパレータ、２４，２５はスイツ
チング回路、２６〜２８は対数変換回路、２９は
減算器、３０は逆対数変換回路、３１はインバー
タであり、ピーク値検波回路２１，２２の出力を
コンパレータ２３に与えて、コンパレータ２３に
よりデイスクの傾斜方向を判定し、その判定結果
によつてスイツチング回路２４，２５における切
換態様が定められるようにする。
Ib） ×Ａ＋αＡ／Ａ−αＡ＝Ia−Ib ……(23) 第１２図において、２１，２２はピーク値検波
回路、２３はコンパレータ、２４，２５はスイツ
チング回路、２６〜２８は対数変換回路、２９は
減算器、３０は逆対数変換回路、３１はインバー
タであり、ピーク値検波回路２１，２２の出力を
コンパレータ２３に与えて、コンパレータ２３に
よりデイスクの傾斜方向を判定し、その判定結果
によつてスイツチング回路２４，２５における切
換態様が定められるようにする。
第１２図におけるスイツチング回路２４，２５
がコンパレータ２３の出力によつて実線図示のよ
うな切換態様となされるのは、デイスクの傾斜に
よつて光検出器７における受光素子７ａ側に反射
光の光軸が移動しているときであり、また、デイ
スクの傾斜によつて光検出器７における受光素子
７ｂ側に反射光の光軸が移動した状態において
は、コンパレータ２３の出力によつてスイツチン
グ回路２４，２５の切換態様が第１２図中の点線
図示のような状態となされる。
がコンパレータ２３の出力によつて実線図示のよ
うな切換態様となされるのは、デイスクの傾斜に
よつて光検出器７における受光素子７ａ側に反射
光の光軸が移動しているときであり、また、デイ
スクの傾斜によつて光検出器７における受光素子
７ｂ側に反射光の光軸が移動した状態において
は、コンパレータ２３の出力によつてスイツチン
グ回路２４，２５の切換態様が第１２図中の点線
図示のような状態となされる。
受光素子７ａからの出力信号のピーク値の方が
受光素子７ｂからの出力信号のピーク値よりも大
でスイツチング回路２４，２５が第１２図中の実
線図示のような切換態様となされている場合に
は、光検出器７の受光素子７ｂからの出力信号
（Ib−αIb）は対数変換回路２６を介して減算器
２９のプラス端子へ与えられ、また、ピーク値検
波回路２１から得られたピーク値（Ａ＋αＡ）も
対数変換回路２７を介して減算器２９のプラス端
子へ与えられ、さらにピーク値検波回路２２から
得られるピーク値（Ａ−αＡ）が、対数変換回路
２８を介して減算器２９のマイナス端子へ与えら
れるから、減算器２９の出力信号を逆対数変換回
路３０を通して得られる信号は、 （Ib−αIb）Ａ＋αＡ／Ａ−αＡとなされる。
受光素子７ｂからの出力信号のピーク値よりも大
でスイツチング回路２４，２５が第１２図中の実
線図示のような切換態様となされている場合に
は、光検出器７の受光素子７ｂからの出力信号
（Ib−αIb）は対数変換回路２６を介して減算器
２９のプラス端子へ与えられ、また、ピーク値検
波回路２１から得られたピーク値（Ａ＋αＡ）も
対数変換回路２７を介して減算器２９のプラス端
子へ与えられ、さらにピーク値検波回路２２から
得られるピーク値（Ａ−αＡ）が、対数変換回路
２８を介して減算器２９のマイナス端子へ与えら
れるから、減算器２９の出力信号を逆対数変換回
路３０を通して得られる信号は、 （Ib−αIb）Ａ＋αＡ／Ａ−αＡとなされる。
光検出器７の受光素子７ａからの変調信号（Ia
＋αIb）がプラス端子に与えられている減算器９
のマイナス端子には、前記した逆対数変換回路３
０からの出力信号が与えられているから、減算器
９では前記した(23)式の演算が行なわれて、減算
器９の出力側には、デイスク６に傾斜がない状態
で得られるトラツキング誤差信号、すなわち、(6)
式で示されるトラツキング誤差信号（Ia−Ib）と
同じトラツキング誤差信号（Ia−Ib）が出力され
る。
＋αIb）がプラス端子に与えられている減算器９
のマイナス端子には、前記した逆対数変換回路３
０からの出力信号が与えられているから、減算器
９では前記した(23)式の演算が行なわれて、減算
器９の出力側には、デイスク６に傾斜がない状態
で得られるトラツキング誤差信号、すなわち、(6)
式で示されるトラツキング誤差信号（Ia−Ib）と
同じトラツキング誤差信号（Ia−Ib）が出力され
る。
光検出器７における受光素子７ｂからの出力信
号のピーク値の方が、受光素子７ａからの出力信
号のピーク値よりも大きいときは、コンパレータ
２３の出力が負となつて、スイツチング回路２
４，２５の切換態様が第１２図中の点線図示の状
態となり、かつ、インバータ３１によつて信号が
反転されて、この場合にも(23)式で示されるよう
なトラツキング誤差信号が出力される。
号のピーク値の方が、受光素子７ａからの出力信
号のピーク値よりも大きいときは、コンパレータ
２３の出力が負となつて、スイツチング回路２
４，２５の切換態様が第１２図中の点線図示の状
態となり、かつ、インバータ３１によつて信号が
反転されて、この場合にも(23)式で示されるよう
なトラツキング誤差信号が出力される。
光のスポツトにおける強度分布が一様であると
したときは、(23)式中の(8)式を(16)式に置き換
え、また、(11)式を(17)式に置換えればよく、その
結果は、次の(24)式で示されるものとなる。
したときは、(23)式中の(8)式を(16)式に置き換
え、また、(11)式を(17)式に置換えればよく、その
結果は、次の(24)式で示されるものとなる。
Ia＋αIb−αIa−（Ib−αIb）Ａ／Ａ−αＡ
＝（Ia−Ib）（１−α） ……(24)
この(24)式は、同じ条件で解析した(20)式に比
べて（１−α）の項のべき数が下がつているか
ら、利得変動が小さくなつていることが判かる。
そして既述のように、光の強度分布は中央で強く
回折光も光軸に近い方が大きいので、(23)式の方
が実際のトラツキング誤差に近いということがで
きる。
べて（１−α）の項のべき数が下がつているか
ら、利得変動が小さくなつていることが判かる。
そして既述のように、光の強度分布は中央で強く
回折光も光軸に近い方が大きいので、(23)式の方
が実際のトラツキング誤差に近いということがで
きる。
第１３図は、第９図に示した回路配置のものの
変形例であり、第９図示の回路配置のものにパル
ス発生器３２とゲート回路３３，３４及びホール
ド回路３５，３６を付加した構成としたものであ
る。光のスポツトによるデイスクからの反射光が
トラツキング誤差情報を含んでいるのは、光のス
ポツトがピツトに重畳している期間のみであり、
光のスポツトがピツトに重畳していない期間にお
ける光検出器７からの出力信号は、トラツキング
誤差情報を含んでいない。すなわち、第６図ａ、
ｂ図及び第７図ａ、ｂ図における出力信号Ia，Ib
の極小値がトラツキング誤差に関係する。
変形例であり、第９図示の回路配置のものにパル
ス発生器３２とゲート回路３３，３４及びホール
ド回路３５，３６を付加した構成としたものであ
る。光のスポツトによるデイスクからの反射光が
トラツキング誤差情報を含んでいるのは、光のス
ポツトがピツトに重畳している期間のみであり、
光のスポツトがピツトに重畳していない期間にお
ける光検出器７からの出力信号は、トラツキング
誤差情報を含んでいない。すなわち、第６図ａ、
ｂ図及び第７図ａ、ｂ図における出力信号Ia，Ib
の極小値がトラツキング誤差に関係する。
そこで第１３図示の回路配置では、微分回路
DFCの出力をパルス発生器３２に与えて、パル
ス発生器３２で立上がりパルスを作り、それをゲ
ート回路３３，３４に与えて、受光素子７ａ，７
ｂからの出力信号における極小値がサンプリング
されるようにし、ゲート回路３３，３４の出力を
ホールド回路３５，３６でホールドして、トラツ
キング誤差により最大に変調された出力が得られ
るようにし、ホールド回路３５，３６の出力信号
を対応する乗算回路１８，１９へ供給するように
している。
DFCの出力をパルス発生器３２に与えて、パル
ス発生器３２で立上がりパルスを作り、それをゲ
ート回路３３，３４に与えて、受光素子７ａ，７
ｂからの出力信号における極小値がサンプリング
されるようにし、ゲート回路３３，３４の出力を
ホールド回路３５，３６でホールドして、トラツ
キング誤差により最大に変調された出力が得られ
るようにし、ホールド回路３５，３６の出力信号
を対応する乗算回路１８，１９へ供給するように
している。
この第１３図示の回路配置の利点は、トラツキ
ング誤差信号を演算によつて求めるときに、トラ
ツキング誤差により最大に変調された信号を用い
るので、Ｓ／Ｎの最も良いトラツキング誤差信号
を得ることができ、したがつて、トラツキング制
御系のループ利得を大きくして良好な再生信号が
容易に得られる点である。
ング誤差信号を演算によつて求めるときに、トラ
ツキング誤差により最大に変調された信号を用い
るので、Ｓ／Ｎの最も良いトラツキング誤差信号
を得ることができ、したがつて、トラツキング制
御系のループ利得を大きくして良好な再生信号が
容易に得られる点である。
以上、詳細に説明したところから明らかなよう
に、本発明の光学的情報信号再生装置のトラツキ
ング誤差検出方式では、情報信号と対応するピツ
トの配列による記録跡が形成されている信号面を
備えている記録媒体における信号面に対して、記
録跡巾と略々等しい直径寸法となるように集光さ
れた光のスポツトを投射し、ピツトによつて強度
変調された光のスポツトを投射し、ピツトによつ
て強度変調された反射光を記録媒体の信号面にお
ける記録跡の延在方向と、記録媒体の信号面への
投射光の光軸とを含む平面によつて２分割された
光検出器７で受光して、情報信号を光学的に再生
しうるようになされている光学的情報信号再生装
置における前記の光検出器７の２分割された部分
７ａ，７ｂ（２つの受光素子７ａ，７ｂ）からそ
れぞれ得られる変調信号Ia，Ibと、前記の各変調
信号Ia，Ibにおけるピーク値Iap，Ibpとを演算し
て得た２組の信号の差信号をトラツキング誤差信
号にするようにしたから、この本発明の光学的情
報信号再生装置のトラツキング誤差検出方式で
は、デイスクが傾斜していても正確なトラツキン
グ誤差信号が良好に得られる他、トラツキング誤
差検出のための光学系が単純であり、調整も簡単
にでき、安価に装置を構成することができ、ま
た、先に本出願人会社で特許出願を行なつた特願
昭58−83341号の光学的情報信号再生装置に対し
ても良好に適用できるのであり、前記した既提案
装置におけるフオーカス制御系と共に、簡単な光
学系を用いて一体的に組立てることも容易であつ
て、その全体を駆動することも難かしくなく、さ
らに、光学部品間の相互移動もなくトラツキング
制御やフオーカス制御を極めて正確に行なうこと
ができる。
に、本発明の光学的情報信号再生装置のトラツキ
ング誤差検出方式では、情報信号と対応するピツ
トの配列による記録跡が形成されている信号面を
備えている記録媒体における信号面に対して、記
録跡巾と略々等しい直径寸法となるように集光さ
れた光のスポツトを投射し、ピツトによつて強度
変調された光のスポツトを投射し、ピツトによつ
て強度変調された反射光を記録媒体の信号面にお
ける記録跡の延在方向と、記録媒体の信号面への
投射光の光軸とを含む平面によつて２分割された
光検出器７で受光して、情報信号を光学的に再生
しうるようになされている光学的情報信号再生装
置における前記の光検出器７の２分割された部分
７ａ，７ｂ（２つの受光素子７ａ，７ｂ）からそ
れぞれ得られる変調信号Ia，Ibと、前記の各変調
信号Ia，Ibにおけるピーク値Iap，Ibpとを演算し
て得た２組の信号の差信号をトラツキング誤差信
号にするようにしたから、この本発明の光学的情
報信号再生装置のトラツキング誤差検出方式で
は、デイスクが傾斜していても正確なトラツキン
グ誤差信号が良好に得られる他、トラツキング誤
差検出のための光学系が単純であり、調整も簡単
にでき、安価に装置を構成することができ、ま
た、先に本出願人会社で特許出願を行なつた特願
昭58−83341号の光学的情報信号再生装置に対し
ても良好に適用できるのであり、前記した既提案
装置におけるフオーカス制御系と共に、簡単な光
学系を用いて一体的に組立てることも容易であつ
て、その全体を駆動することも難かしくなく、さ
らに、光学部品間の相互移動もなくトラツキング
制御やフオーカス制御を極めて正確に行なうこと
ができる。
本発明のトラツキング誤差検出方式では、デイ
スクの傾斜によつても偽のトラツキング誤差が生
じないようにすることができるので、本発明方式
により、従来の問題点が良好に解消され、特性の
優れた光学的情報信号再生装置を容易に提供でき
る。
スクの傾斜によつても偽のトラツキング誤差が生
じないようにすることができるので、本発明方式
により、従来の問題点が良好に解消され、特性の
優れた光学的情報信号再生装置を容易に提供でき
る。
第１図は差動式トラツキング誤差検出装置を備
えた光学的情報信号再生装置の概略構成を示す斜
視図、第２図ａ〜ｄ図はデイスクの傾斜と反射光
の光軸の移動との関係を説明する図、第３図はピ
ツトの配列よりなる記録跡と光のスポツトとを示
す平面図、第４図はピツトの中心と光のスポツト
との中心とがずれた状態におけるピツトと光のス
ポツトの関係を示す平面図、第５図はピツトの記
録跡巾方向の断面図、第６図ａ〜ｂ図はピツトに
よつて強度変調された光を受光した受光素子の出
力信号波形図、第７図ａ〜ｂ図はトラツキング誤
差を含む場合の受光素子の出力信号波形図、第７
図ｃ図はトラツキング誤差を示す信号の波形例
図、第８図はデイスクの傾斜に伴なつて生じる光
検出器上の反射光束の移動態様を示す平面図、第
９図、第１０図、第１２図及び第１３図はトラツ
キング誤差を検出するための電気回路のブロツク
図、第１１図はピーク値検波回路の一例構成のも
のの回路図である。 １…光源、３…偏光プリズム、４…λ／４波長
板、５…集光レンズ、６…デイスク、７…光検出
器、７ａ，７ｂ…受光素子、８…加算器、９，２
９…減算器、１０，１１…出力端子、１４，１
５，３３，３４…ゲート回路、１６，１７，３
５，３６…ホールド回路、１８，１９…乗算回
路、DFC…微分回路、１３，３２…パルス発生
器、２１，２２…ピーク値検波回路、２３…コン
パレータ、２４，２５…スイツチング回路、２６
〜２８…対数変換回路、３０…逆対数変換回路、
３１…インバータ。
えた光学的情報信号再生装置の概略構成を示す斜
視図、第２図ａ〜ｄ図はデイスクの傾斜と反射光
の光軸の移動との関係を説明する図、第３図はピ
ツトの配列よりなる記録跡と光のスポツトとを示
す平面図、第４図はピツトの中心と光のスポツト
との中心とがずれた状態におけるピツトと光のス
ポツトの関係を示す平面図、第５図はピツトの記
録跡巾方向の断面図、第６図ａ〜ｂ図はピツトに
よつて強度変調された光を受光した受光素子の出
力信号波形図、第７図ａ〜ｂ図はトラツキング誤
差を含む場合の受光素子の出力信号波形図、第７
図ｃ図はトラツキング誤差を示す信号の波形例
図、第８図はデイスクの傾斜に伴なつて生じる光
検出器上の反射光束の移動態様を示す平面図、第
９図、第１０図、第１２図及び第１３図はトラツ
キング誤差を検出するための電気回路のブロツク
図、第１１図はピーク値検波回路の一例構成のも
のの回路図である。 １…光源、３…偏光プリズム、４…λ／４波長
板、５…集光レンズ、６…デイスク、７…光検出
器、７ａ，７ｂ…受光素子、８…加算器、９，２
９…減算器、１０，１１…出力端子、１４，１
５，３３，３４…ゲート回路、１６，１７，３
５，３６…ホールド回路、１８，１９…乗算回
路、DFC…微分回路、１３，３２…パルス発生
器、２１，２２…ピーク値検波回路、２３…コン
パレータ、２４，２５…スイツチング回路、２６
〜２８…対数変換回路、３０…逆対数変換回路、
３１…インバータ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 情報信号と対応するピツトの配列による記録
跡が形成されている信号面を備えている記録媒体
における信号面に対して、記録跡巾と略々等しい
直径寸法となるように集光された光のスポツトを
投射し、ピツトによつて強度変調された光のスポ
ツトを投射し、ピツトによつて強度変調された反
射光を記録媒体の信号面における記録跡の延在方
向と、記録媒体の信号面への投射光の光軸とを含
む平面によつて２分割された光検出器で受光し
て、情報信号を光学的に再生しうるようになされ
ている光学的情報信号再生装置における前記の光
検出器の２分割された部分からそれぞれ得られる
変調信号Ia，Ibと、前記の各変調信号Ia，Ibにお
けるピーク値Iap，Ibpとを演算して得た２組の
信号の差信号をトラツキング誤差信号とする光学
的情報信号再生装置のトラツキング誤差検出方
式。 ２ 光検出器における２分割された部分からそれ
ぞれ得られる変調信号Ia，Ibと、前記した変調信
号Ia，Ibにおけるピーク値Iap，Ibpとによつて、
Ia，Ibp及びIb，Iapで示される２組の乗算された
信号を作り、前記した２組の信号の差信号をトラ
ツキング誤差信号とする特許請求の範囲第１項に
記載の光学的情報信号再生装置のトラツキング誤
差検出方式。 ３ 光検出器おける２分割された部分から、それ
ぞれ得られる変調信号Ia，Ibと、前記した変調信
号Ia，Ibにおけるピーク値Iap，Ibpとによつて、
Ia／Iap及びIap／Ibpで示される２組の除算信号
を得て、前記した２組の除算信号の差信号をトラ
ツキング誤差信号とする特許請求の範囲第１項に
記載の光学的情報信号再生装置のトラツキング誤
差検出方式。 ４ 光検出器における２分割された部分からそれ
ぞれ得られる変調信号Ia，Ibと、前記した変調信
号Ia，Ibにおけるのピーク値Iap，Ibpとにより、
前記した変調信号Ia，Ibのピーク値Iap，Ibpが
Iap＞Ibpの場合にはIa−Ib、Iap／Ibpの演算を行
い、また、前記した変調信号Ia，Ibのピーク値
Iap，IbpがIap＜Ibpの場合にはIa・Ibp／Iap−Ib
の演算を行つてトラツキング誤差信号とする特許
請求の範囲第１項に記載の光学的情報信号再生装
置のトラツキング誤差検出方式。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57008304A JPS58125242A (ja) | 1982-01-22 | 1982-01-22 | 光学的情報信号再生装置のトラツキング誤差検出方式 |
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Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP57008304A JPS58125242A (ja) | 1982-01-22 | 1982-01-22 | 光学的情報信号再生装置のトラツキング誤差検出方式 |
Publications (2)
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|---|---|
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Family
ID=11689407
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP57008304A Granted JPS58125242A (ja) | 1982-01-22 | 1982-01-22 | 光学的情報信号再生装置のトラツキング誤差検出方式 |
Country Status (7)
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