JPS6250059B2 - - Google Patents
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- JPS6250059B2 JPS6250059B2 JP57092738A JP9273882A JPS6250059B2 JP S6250059 B2 JPS6250059 B2 JP S6250059B2 JP 57092738 A JP57092738 A JP 57092738A JP 9273882 A JP9273882 A JP 9273882A JP S6250059 B2 JPS6250059 B2 JP S6250059B2
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- lead
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 7
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 5
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/58—Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
- H01L23/64—Impedance arrangements
- H01L23/645—Inductive arrangements
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- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
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- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
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- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
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- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/30107—Inductance
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体装置に係り、特にそのパツケー
ジの構造に関する。
ジの構造に関する。
最近、半導体集積回路素子の高速化が進行し、
この為にきわめて短時間のうちに多数の回路が動
作し大きな電流が流れる事態が起こつている。こ
のような状態においては、パツケージの各リード
線のインダクタンスが小さくても、短時間の電流
変化のための大きなノイズが発生し、半導体集積
回路素子の誤動作や速度の遅れが生じる。とくに
接地(グランド)端子の場合この影響は大きい。
グランド端子のインダクタンスはチツプ内の配
線、ボンデイングパツドからパツケージの内部リ
ードのボンデイング線および内部リードから外部
ピンまでのケースのリード配線の各インダクタン
ス成分の和となる。デユアル−イン−ラインパツ
ケージではグランドピンは一般に一番外側に位置
するためにチツプをマウントするアイランド部が
ケースの中央部にある従来型のパツケージの場
合、パツケージの外部リードから外部ピンまでの
距離が他ピンに比し大きく、グランドに寄生する
インダクタンスが大きくなつてしまう。
この為にきわめて短時間のうちに多数の回路が動
作し大きな電流が流れる事態が起こつている。こ
のような状態においては、パツケージの各リード
線のインダクタンスが小さくても、短時間の電流
変化のための大きなノイズが発生し、半導体集積
回路素子の誤動作や速度の遅れが生じる。とくに
接地(グランド)端子の場合この影響は大きい。
グランド端子のインダクタンスはチツプ内の配
線、ボンデイングパツドからパツケージの内部リ
ードのボンデイング線および内部リードから外部
ピンまでのケースのリード配線の各インダクタン
ス成分の和となる。デユアル−イン−ラインパツ
ケージではグランドピンは一般に一番外側に位置
するためにチツプをマウントするアイランド部が
ケースの中央部にある従来型のパツケージの場
合、パツケージの外部リードから外部ピンまでの
距離が他ピンに比し大きく、グランドに寄生する
インダクタンスが大きくなつてしまう。
本発明は、該アイランド部をグランドピンに近
い方にずらすことによりグランドに寄生するイン
ダクタンスを小さくしたパツケージを提供するこ
とを目的とする。
い方にずらすことによりグランドに寄生するイン
ダクタンスを小さくしたパツケージを提供するこ
とを目的とする。
次に図面を用いて本発明の一実施例の詳細を説
明する。
明する。
第1図AおよびBは、各々従来のデユアル−イ
ン−ラインパツケージの平面図および側面図であ
る。アイランド部11にチツプ12がマウントさ
れており、チツプ内のGNDパツドと内部リード
端子はボンデイング線13により接続されパツケ
ージのリード配線14からGND外部ピン15へ
と導びかれる。一般にはGNDピンは図の位置に
あるためにリード配線14は長くなる。GNDに
つく寄生インダクタンスをL、Δtの短かい時間
に流れる電流ΔiとするとGND電位は ΔV=LΔi/Δt のノイズが生じる。Lは18ピンケースを用いた
場合約20nHとなる。又一般に用いられるパワー
ダウンモードつきの4KスタテツクRAMでは活性
化されたときに一斉に電源電流が流れΔi/Δtは20m A/secとなるΔVは400mVにもなる。すなわち
GND電位が0.4Vになるために入力レベルが厳し
くなり誤動作や速度遅れの原因となる。このよう
な現象は多数の出力回路を有する集積回路素子で
は出力端子に接続される外部の容量を充放電する
電流が瞬時に流れる為にΔi/Δtはきわめて大
きくなる。寄生インダクタンスのうち第1図の
GNDピンの場合大部分はリード線14によるも
ので、ノイズΔVを小さくするためにはこのリー
ド線14を短かくする必要がある。
ン−ラインパツケージの平面図および側面図であ
る。アイランド部11にチツプ12がマウントさ
れており、チツプ内のGNDパツドと内部リード
端子はボンデイング線13により接続されパツケ
ージのリード配線14からGND外部ピン15へ
と導びかれる。一般にはGNDピンは図の位置に
あるためにリード配線14は長くなる。GNDに
つく寄生インダクタンスをL、Δtの短かい時間
に流れる電流ΔiとするとGND電位は ΔV=LΔi/Δt のノイズが生じる。Lは18ピンケースを用いた
場合約20nHとなる。又一般に用いられるパワー
ダウンモードつきの4KスタテツクRAMでは活性
化されたときに一斉に電源電流が流れΔi/Δtは20m A/secとなるΔVは400mVにもなる。すなわち
GND電位が0.4Vになるために入力レベルが厳し
くなり誤動作や速度遅れの原因となる。このよう
な現象は多数の出力回路を有する集積回路素子で
は出力端子に接続される外部の容量を充放電する
電流が瞬時に流れる為にΔi/Δtはきわめて大
きくなる。寄生インダクタンスのうち第1図の
GNDピンの場合大部分はリード線14によるも
ので、ノイズΔVを小さくするためにはこのリー
ド線14を短かくする必要がある。
第2図は本発明の実施例を示したもので第1図
Aの場合よりアイランドの位置を中心部より
GNDピン寄りに10%以上下げることにより、
GNDのリード配線24の長さを短かくしてい
る。本実施例では第1図Aの場合よりリード配線
24を太くし、さらにリード端を左によせてい
る。このようにすることによりインダクタンスを
1/3にすることができる。本発明に基づいて試作
し実測したところによるとGNDの寄生インダク
タンスは20nHから8nHに低下しノイズ量は0.16V
におさえることができた。
Aの場合よりアイランドの位置を中心部より
GNDピン寄りに10%以上下げることにより、
GNDのリード配線24の長さを短かくしてい
る。本実施例では第1図Aの場合よりリード配線
24を太くし、さらにリード端を左によせてい
る。このようにすることによりインダクタンスを
1/3にすることができる。本発明に基づいて試作
し実測したところによるとGNDの寄生インダク
タンスは20nHから8nHに低下しノイズ量は0.16V
におさえることができた。
本発明から明らかなようにリードフレーム形状
とアイランドの位置を変更するだけで容易に
GNDノイズの小さなパツケージを実現すること
ができる。
とアイランドの位置を変更するだけで容易に
GNDノイズの小さなパツケージを実現すること
ができる。
第1図A,Bは各々従来の半導体装置の平面図
および側面図、第2図は本発明の実施例の半導体
装置を示す平面図、である。 なお図において、11……アイランド部、12
……搭載チツプ、13……チツプのGNDパツド
とリード配線端を結ぶボンデイング線、14,2
4……パツケージのリード配線、15……GND
外部ピン、である。
および側面図、第2図は本発明の実施例の半導体
装置を示す平面図、である。 なお図において、11……アイランド部、12
……搭載チツプ、13……チツプのGNDパツド
とリード配線端を結ぶボンデイング線、14,2
4……パツケージのリード配線、15……GND
外部ピン、である。
Claims (1)
- 1 半導体素子がアイランド部に搭載されたパツ
ケージ構造を有する半導体装置において、該アイ
ランド部の中心が該パツケージの中心部より外部
接地端子側に配置されたことを特徴とする半導体
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57092738A JPS58209146A (ja) | 1982-05-31 | 1982-05-31 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57092738A JPS58209146A (ja) | 1982-05-31 | 1982-05-31 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58209146A JPS58209146A (ja) | 1983-12-06 |
JPS6250059B2 true JPS6250059B2 (ja) | 1987-10-22 |
Family
ID=14062755
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57092738A Granted JPS58209146A (ja) | 1982-05-31 | 1982-05-31 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58209146A (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50118684A (ja) * | 1974-03-01 | 1975-09-17 | ||
JPS53115176A (en) * | 1977-03-17 | 1978-10-07 | Sanyo Electric Co Ltd | Production of resn mold type semiconductor device |
JPS54161270A (en) * | 1978-06-09 | 1979-12-20 | Nec Corp | Lead frame for integrated-circuit device |
JPS5593243A (en) * | 1979-01-04 | 1980-07-15 | Nec Corp | Semiconductor device |
-
1982
- 1982-05-31 JP JP57092738A patent/JPS58209146A/ja active Granted
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50118684A (ja) * | 1974-03-01 | 1975-09-17 | ||
JPS53115176A (en) * | 1977-03-17 | 1978-10-07 | Sanyo Electric Co Ltd | Production of resn mold type semiconductor device |
JPS54161270A (en) * | 1978-06-09 | 1979-12-20 | Nec Corp | Lead frame for integrated-circuit device |
JPS5593243A (en) * | 1979-01-04 | 1980-07-15 | Nec Corp | Semiconductor device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS58209146A (ja) | 1983-12-06 |
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