JPS624168B2 - - Google Patents
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- JPS624168B2 JPS624168B2 JP55166038A JP16603880A JPS624168B2 JP S624168 B2 JPS624168 B2 JP S624168B2 JP 55166038 A JP55166038 A JP 55166038A JP 16603880 A JP16603880 A JP 16603880A JP S624168 B2 JPS624168 B2 JP S624168B2
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- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 57
- 239000003463 adsorbent Substances 0.000 claims description 31
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims description 28
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- 229910021536 Zeolite Inorganic materials 0.000 claims description 14
- HNPSIPDUKPIQMN-UHFFFAOYSA-N dioxosilane;oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Si]=O.O=[Al]O[Al]=O HNPSIPDUKPIQMN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000010457 zeolite Substances 0.000 claims description 14
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 11
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 11
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 4
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 3
- 229910003902 SiCl 4 Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052680 mordenite Inorganic materials 0.000 description 23
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 13
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 description 8
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 description 8
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 6
- 239000002808 molecular sieve Substances 0.000 description 6
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 6
- URGAHOPLAPQHLN-UHFFFAOYSA-N sodium aluminosilicate Chemical compound [Na+].[Al+3].[O-][Si]([O-])=O.[O-][Si]([O-])=O URGAHOPLAPQHLN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 5
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 5
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 3
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 3
- 238000011160 research Methods 0.000 description 3
- 239000000344 soap Substances 0.000 description 3
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 238000004518 low pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 239000003345 natural gas Substances 0.000 description 2
- QGZKDVFQNNGYKY-NJFSPNSNSA-N nitrogen-16 Chemical compound [16NH3] QGZKDVFQNNGYKY-NJFSPNSNSA-N 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 231100000331 toxic Toxicity 0.000 description 2
- 230000002588 toxic effect Effects 0.000 description 2
- 239000002341 toxic gas Substances 0.000 description 2
- 229910015844 BCl3 Inorganic materials 0.000 description 1
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N Phosphine Chemical compound P XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- RJCQBQGAPKAMLL-UHFFFAOYSA-N bromotrifluoromethane Chemical compound FC(F)(F)Br RJCQBQGAPKAMLL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- PXBRQCKWGAHEHS-UHFFFAOYSA-N dichlorodifluoromethane Chemical compound FC(F)(Cl)Cl PXBRQCKWGAHEHS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000019404 dichlorodifluoromethane Nutrition 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 150000002366 halogen compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000006386 neutralization reaction Methods 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- FAIAAWCVCHQXDN-UHFFFAOYSA-N phosphorus trichloride Chemical compound ClP(Cl)Cl FAIAAWCVCHQXDN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005554 pickling Methods 0.000 description 1
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 231100000614 poison Toxicity 0.000 description 1
- 230000007096 poisonous effect Effects 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 230000001172 regenerating effect Effects 0.000 description 1
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000007873 sieving Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- TXEYQDLBPFQVAA-UHFFFAOYSA-N tetrafluoromethane Chemical compound FC(F)(F)F TXEYQDLBPFQVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
- FAQYAMRNWDIXMY-UHFFFAOYSA-N trichloroborane Chemical compound ClB(Cl)Cl FAQYAMRNWDIXMY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Compressors, Vaccum Pumps And Other Relevant Systems (AREA)
- Treating Waste Gases (AREA)
- Separation Of Gases By Adsorption (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、化学工場あるいは半導体工場等の真
空ポンプを保護するのに適したガス吸着装置に関
し、特に天然ゼオライトもしくはさらに化学処理
を行なつた吸着剤を用いたガス吸着装置に関す
る。
空ポンプを保護するのに適したガス吸着装置に関
し、特に天然ゼオライトもしくはさらに化学処理
を行なつた吸着剤を用いたガス吸着装置に関す
る。
最近、半導体工場ではプラズマ・エツチングあ
るいは低圧(減圧)CVD等のドライプロセス技
術が非常に重要な役割を占めるようになつてきて
いるが、これらのドライプロセス技術には
CBrF3、PCl3、CCl2F2、CF4、BCl3、SiH4、PH3
などの反応性が強く腐蝕性もしくは毒性のガスが
用いられ、このガスが真空排気に用いている油回
転ポンプの油もしくはポンプの容器と反応し頻繁
にオイルの交換、修理が必要となる。生産工場の
代表的な例では2日間に一度程度油を交換しなく
てはならない。あるいは、かなり定期的にポンプ
の分解掃除をしなくてはならないという状況であ
る。油交換や分解掃除に要する労力は多大なもの
であり、分解掃除の場合はほぼ1日以上費さなく
てはならず、安価で優秀なガス吸着装置が望まれ
ている。従来よりゼオライトが吸着剤として周知
で、排気ガス中のハロゲン化合物、S化合物、N
化合物、Hg、As、Znなどを吸着、除去すること
は明らかなことであるが、ゼオライトの吸着特性
は、ガスの分子の大きさやイオン荷電の補償の何
如によつて大きく変化し、半導体装置に用いられ
る特殊ガスであるPCl3、BCl3、SiCl4等について
は従来その吸着特性が不明であつた。本発明は、
特に従来ゼオライトが応用されていなかつたドラ
イエツチングや減圧CVD等での減圧状態での前
記特殊ガスの吸着特性を調査し、天然ゼオライト
及びこれを化学処理したものが有効であることを
実験的に確かめ、排ガス処理装置に適用したもの
である。
るいは低圧(減圧)CVD等のドライプロセス技
術が非常に重要な役割を占めるようになつてきて
いるが、これらのドライプロセス技術には
CBrF3、PCl3、CCl2F2、CF4、BCl3、SiH4、PH3
などの反応性が強く腐蝕性もしくは毒性のガスが
用いられ、このガスが真空排気に用いている油回
転ポンプの油もしくはポンプの容器と反応し頻繁
にオイルの交換、修理が必要となる。生産工場の
代表的な例では2日間に一度程度油を交換しなく
てはならない。あるいは、かなり定期的にポンプ
の分解掃除をしなくてはならないという状況であ
る。油交換や分解掃除に要する労力は多大なもの
であり、分解掃除の場合はほぼ1日以上費さなく
てはならず、安価で優秀なガス吸着装置が望まれ
ている。従来よりゼオライトが吸着剤として周知
で、排気ガス中のハロゲン化合物、S化合物、N
化合物、Hg、As、Znなどを吸着、除去すること
は明らかなことであるが、ゼオライトの吸着特性
は、ガスの分子の大きさやイオン荷電の補償の何
如によつて大きく変化し、半導体装置に用いられ
る特殊ガスであるPCl3、BCl3、SiCl4等について
は従来その吸着特性が不明であつた。本発明は、
特に従来ゼオライトが応用されていなかつたドラ
イエツチングや減圧CVD等での減圧状態での前
記特殊ガスの吸着特性を調査し、天然ゼオライト
及びこれを化学処理したものが有効であることを
実験的に確かめ、排ガス処理装置に適用したもの
である。
減圧CVD炉の一例を第1図に示す。
図中1,2はバルブ、3はトラツプ(ガス吸着
装置)、4は排気用真空ポンプ、5は真空計、6
は反応管のキヤツプ、7はウエハ(シリコン基
板)、8は石英ボード、9は炉(ヒーター)、10
は反応管である。
装置)、4は排気用真空ポンプ、5は真空計、6
は反応管のキヤツプ、7はウエハ(シリコン基
板)、8は石英ボード、9は炉(ヒーター)、10
は反応管である。
石英ボード8に垂直にウエハ7を並べ、真空ポ
ンプ4で0.1〜1.0Torrの真空状態に排気し、バル
ブ1を通してSiH4、NH3、PH3、H2、SiH2Cl2等
のソースガスを導入し、ウエハ7上に多結晶Si、
窒化膜、酸化膜等を堆積させる。ソースガスとし
て有毒もしくは腐蝕性(反応性)ガスが使われて
いるのみならず、たとえば、 SiH2Cl2Si+2HCl 等の反応により新たに腐蝕性ガスHClが精製され
る場合もある。
ンプ4で0.1〜1.0Torrの真空状態に排気し、バル
ブ1を通してSiH4、NH3、PH3、H2、SiH2Cl2等
のソースガスを導入し、ウエハ7上に多結晶Si、
窒化膜、酸化膜等を堆積させる。ソースガスとし
て有毒もしくは腐蝕性(反応性)ガスが使われて
いるのみならず、たとえば、 SiH2Cl2Si+2HCl 等の反応により新たに腐蝕性ガスHClが精製され
る場合もある。
ガス吸着装置として第2図に示すような液体窒
素16冷却による装置が公知であるが、まだ十分
な効果を得るには至つていない。
素16冷却による装置が公知であるが、まだ十分
な効果を得るには至つていない。
ゼオライト等の吸着剤を低温に冷却すると常温
では捕捉しなかつた分子まで捕捉することが知ら
れており、この性質を積極的に利用したものとし
て、ソープシヨンポンプ、クライオソープシヨン
ポンプないしフオアライントラツプなどが知られ
ている。これらは、モレキユラーシーブ5A、1
3Xや活性炭等が吸着剤として用いられている
が、モレキユラーシーブは合成の人工ゼオライト
であり、価格が比較的高い他、耐熱性、耐酸性が
比較的低く再生使用回数が制限される。また吸着
されたものの再放出が大きい等の欠点を有してい
る。Si/Al比の高い合成ゼオライトである合成モ
ルデナイトは耐熱性、耐酸性は優れているが機械
的強度が低く、価格が高い欠点を有する。
では捕捉しなかつた分子まで捕捉することが知ら
れており、この性質を積極的に利用したものとし
て、ソープシヨンポンプ、クライオソープシヨン
ポンプないしフオアライントラツプなどが知られ
ている。これらは、モレキユラーシーブ5A、1
3Xや活性炭等が吸着剤として用いられている
が、モレキユラーシーブは合成の人工ゼオライト
であり、価格が比較的高い他、耐熱性、耐酸性が
比較的低く再生使用回数が制限される。また吸着
されたものの再放出が大きい等の欠点を有してい
る。Si/Al比の高い合成ゼオライトである合成モ
ルデナイトは耐熱性、耐酸性は優れているが機械
的強度が低く、価格が高い欠点を有する。
不純物源とならず、吸着能力が優れ、多数回の
再生使用が可能で価格の安い吸着剤があれば、低
温吸着装置はより広く使用されるものと期待され
る。
再生使用が可能で価格の安い吸着剤があれば、低
温吸着装置はより広く使用されるものと期待され
る。
本発明者らは、我が国に産する天然ゼオライト
に着目し、これを化学処理する等の研究を進め、
このうち特に天然モルデナイトおよび天然ククノ
プチロライトが安価で優秀な腐蝕性ガス吸着剤と
なり得、特にこれを化学処理したものはさらに有
効な吸着剤であることを発見し、これを用いた吸
着装置の研究を進めてきた。
に着目し、これを化学処理する等の研究を進め、
このうち特に天然モルデナイトおよび天然ククノ
プチロライトが安価で優秀な腐蝕性ガス吸着剤と
なり得、特にこれを化学処理したものはさらに有
効な吸着剤であることを発見し、これを用いた吸
着装置の研究を進めてきた。
前述したようにモレキユラーシーブは吸着した
ガスの再放出が問題であり、ソープシヨンポンプ
として使つた場合の到達真空度は10-3Torr程度
であるのに対し、天然モルデナイトおよび特にこ
れを化学処理したものはガス再放出が少なく到達
真空度がモレキユラーシーブに比して約1桁改良
され、〜10-4Torr以下になり得ることを発見し
た。また、その後の検討で〜10-5Torrにまで十
分到達することが明らかになつた。
ガスの再放出が問題であり、ソープシヨンポンプ
として使つた場合の到達真空度は10-3Torr程度
であるのに対し、天然モルデナイトおよび特にこ
れを化学処理したものはガス再放出が少なく到達
真空度がモレキユラーシーブに比して約1桁改良
され、〜10-4Torr以下になり得ることを発見し
た。また、その後の検討で〜10-5Torrにまで十
分到達することが明らかになつた。
第3図に容積100のチエンバーをソープシヨ
ンポンプで排気した場合の排気特性を示す。
ンポンプで排気した場合の排気特性を示す。
破線はモレキユラーシーブを用いた場合、B―
C間の実線は天然モルデナイトを化学処理したも
のを用いた場合、A′―C′間の一点鎖線は天然モ
ルデナイトを用いた場合である。測定はチエンバ
ーを一度10-2〜10-3Torrに荒引きしてから開始し
た。SP1,SP2はモレキユラーシーブを用いて
排気した場合でほぼ4×10-4Torrで飽和の傾向
であるが、B点で天然モルデナイトを化学処理し
たもの(大阪酸素工業株式会社より商品名ゼオハ
ーブとして販売されている天然モルデナイト系吸
着材)を用いたSP3のバルブを開けると、B―
Cの実線で示すように急激に真空度が良くなるこ
とがわかる。SP2′,SP3′は化学処理していな
い天然モルデナイトを用い、一点鎖線A′―B′―
C′で示すように少し到達真空度が悪い。更に化
学処理を進めたもので、ポンプの構造を改良した
ものでは10-5Torrに達している。
C間の実線は天然モルデナイトを化学処理したも
のを用いた場合、A′―C′間の一点鎖線は天然モ
ルデナイトを用いた場合である。測定はチエンバ
ーを一度10-2〜10-3Torrに荒引きしてから開始し
た。SP1,SP2はモレキユラーシーブを用いて
排気した場合でほぼ4×10-4Torrで飽和の傾向
であるが、B点で天然モルデナイトを化学処理し
たもの(大阪酸素工業株式会社より商品名ゼオハ
ーブとして販売されている天然モルデナイト系吸
着材)を用いたSP3のバルブを開けると、B―
Cの実線で示すように急激に真空度が良くなるこ
とがわかる。SP2′,SP3′は化学処理していな
い天然モルデナイトを用い、一点鎖線A′―B′―
C′で示すように少し到達真空度が悪い。更に化
学処理を進めたもので、ポンプの構造を改良した
ものでは10-5Torrに達している。
本発明の目的は、反応室と排気装置の間に介在
させることにより前述の反応性ガスを吸着し、排
気装置の連続稼働時間を長くするガス吸着装置を
提供することにある。
させることにより前述の反応性ガスを吸着し、排
気装置の連続稼働時間を長くするガス吸着装置を
提供することにある。
本発明者らの研究の一例としてPCl3を用いた
平行平板型プラズマ・エツチングに用いた場合に
ついて述べる。装置の概略を第4図に示す。17
はPCl3を入れる本発明の真空容器、18は流量
計、19は石英製被覆、20は高周波放電用電
極、21は高周波電源、22は本発明のガラス製
反応室、23はリークバルブである。7はSiのウ
エハ2、1は本発明の第1のバルブで、流量形1
8を見ながら反応室22に流すPCl3ガス流量を
調整する。12は本発明の第2のバルブで、13
は本発明の第3のバルブ、3が本発明の排ガス吸
着室である。PCl3ガスは近年Alのドライエツチ
ングガスとして知られているように、金属に対し
て腐蝕性を有する。従来の液体窒素のみによる吸
着装置では約1〜2週間毎に油回転ポンプの油の
交換もしくは、ポンプの分解掃除が必要であつた
が、天然モルデナイトを使用することにより3ケ
月以上油を交換しなくても良好な排気特性が得ら
れるということを実験的に確かめた。従来の液体
窒素のみによる吸着装置では、1週間ぐらいで油
が鼻をつく臭気を放つようになつたのに対し、本
発明の装置によれば、3ケ月後でも油の臭気はご
くわずかなものにとどまつていることがわかり、
天然モルデナイトが優秀な吸着剤となり得ること
を見出した。さらに、天然モルデナイトを化学処
理したものについて同様に実験を進め、6ケ月以
上油回転ポンプの油を交換しなくても良いことが
確かめられ、少なくとも化学処理しないものに比
して倍以上の性能が得られることが確かめられ
た。また、吸着剤を実験終了後大気にさらしてお
くと、次回の実験の予備排気に要する時間が長く
なり、たとえば1時間以上の排気時間が必要であ
るが、実験終了後吸着剤を第2のバルブ12と第
3のバルブ13とを用いて真空中に保持しておけ
ば、次回の予備排気は10分程度の時間で済むこと
が確かめられた。即ち、実験のスピードが格段に
速くなるわけである。
平行平板型プラズマ・エツチングに用いた場合に
ついて述べる。装置の概略を第4図に示す。17
はPCl3を入れる本発明の真空容器、18は流量
計、19は石英製被覆、20は高周波放電用電
極、21は高周波電源、22は本発明のガラス製
反応室、23はリークバルブである。7はSiのウ
エハ2、1は本発明の第1のバルブで、流量形1
8を見ながら反応室22に流すPCl3ガス流量を
調整する。12は本発明の第2のバルブで、13
は本発明の第3のバルブ、3が本発明の排ガス吸
着室である。PCl3ガスは近年Alのドライエツチ
ングガスとして知られているように、金属に対し
て腐蝕性を有する。従来の液体窒素のみによる吸
着装置では約1〜2週間毎に油回転ポンプの油の
交換もしくは、ポンプの分解掃除が必要であつた
が、天然モルデナイトを使用することにより3ケ
月以上油を交換しなくても良好な排気特性が得ら
れるということを実験的に確かめた。従来の液体
窒素のみによる吸着装置では、1週間ぐらいで油
が鼻をつく臭気を放つようになつたのに対し、本
発明の装置によれば、3ケ月後でも油の臭気はご
くわずかなものにとどまつていることがわかり、
天然モルデナイトが優秀な吸着剤となり得ること
を見出した。さらに、天然モルデナイトを化学処
理したものについて同様に実験を進め、6ケ月以
上油回転ポンプの油を交換しなくても良いことが
確かめられ、少なくとも化学処理しないものに比
して倍以上の性能が得られることが確かめられ
た。また、吸着剤を実験終了後大気にさらしてお
くと、次回の実験の予備排気に要する時間が長く
なり、たとえば1時間以上の排気時間が必要であ
るが、実験終了後吸着剤を第2のバルブ12と第
3のバルブ13とを用いて真空中に保持しておけ
ば、次回の予備排気は10分程度の時間で済むこと
が確かめられた。即ち、実験のスピードが格段に
速くなるわけである。
繰り返し再生使用するためには、第5図に示す
ようにヒータ24を装架し、N2もしくはArガス
のような不活性ガスを流すためのバルブ14,1
5および経路を設けるのがよい。第5図で12,
13は排気するための本発明の第2、第3のバル
ブ、14,15はN2ガス等で再生を行なうため
のバルブ、16は液体窒素、24は再生時の加熱
用ヒータ、25は天然モルデナイトもしくはこれ
に化学処理を施した吸着剤、26は吸着剤の色の
変化を外部から測定するための透明窓である。動
作時には、バルブ14,15を閉じ、第2のバル
ブ12と第3のバルブ13を開け、液体窒素で吸
着剤を冷却しながら、反応室を排気する。再生時
には、液体窒素を除去し、加熱用ヒータにより吸
着剤を加熱しながら、バルブ15の側から所定の
量N2ガス等を流し込み、バルブ14の側に排気
ガスを放出する。再放出されたガスは、中和等の
公知の排ガス処理装置へ導けばよい。再生加熱温
度は高い程再生が良好に行なわれるが、600℃以
上では吸着剤の天然ゼオライトが変質する可能性
があり、300℃〜600℃が好ましい。加熱時間は、
吸着量、使用用途等によつて異なるが、普通20分
から1時間くらいで十分活性化することができ、
以後ヒータ24を切つて吸着剤が室温に戻るまで
不活性ガスを流してパージしておけばよい。場合
によつては一晩パージしておけば翌朝から快適な
実験が行なえる。低吸着装置とした動作させる場
合は、ヒータで加熱しなくても室温で不活性ガス
でパージするだけで再生使用ができる。もちろん
室温以上に加熱する方が望ましい。活性化終了後
は真空排気し、バルブ12,13,14,15閉
じて吸着剤を真空中に保持しておくのがよい。
ようにヒータ24を装架し、N2もしくはArガス
のような不活性ガスを流すためのバルブ14,1
5および経路を設けるのがよい。第5図で12,
13は排気するための本発明の第2、第3のバル
ブ、14,15はN2ガス等で再生を行なうため
のバルブ、16は液体窒素、24は再生時の加熱
用ヒータ、25は天然モルデナイトもしくはこれ
に化学処理を施した吸着剤、26は吸着剤の色の
変化を外部から測定するための透明窓である。動
作時には、バルブ14,15を閉じ、第2のバル
ブ12と第3のバルブ13を開け、液体窒素で吸
着剤を冷却しながら、反応室を排気する。再生時
には、液体窒素を除去し、加熱用ヒータにより吸
着剤を加熱しながら、バルブ15の側から所定の
量N2ガス等を流し込み、バルブ14の側に排気
ガスを放出する。再放出されたガスは、中和等の
公知の排ガス処理装置へ導けばよい。再生加熱温
度は高い程再生が良好に行なわれるが、600℃以
上では吸着剤の天然ゼオライトが変質する可能性
があり、300℃〜600℃が好ましい。加熱時間は、
吸着量、使用用途等によつて異なるが、普通20分
から1時間くらいで十分活性化することができ、
以後ヒータ24を切つて吸着剤が室温に戻るまで
不活性ガスを流してパージしておけばよい。場合
によつては一晩パージしておけば翌朝から快適な
実験が行なえる。低吸着装置とした動作させる場
合は、ヒータで加熱しなくても室温で不活性ガス
でパージするだけで再生使用ができる。もちろん
室温以上に加熱する方が望ましい。活性化終了後
は真空排気し、バルブ12,13,14,15閉
じて吸着剤を真空中に保持しておくのがよい。
真空排気コンダクタンスを小さくしないように
するためには、公知のフオアライントラツプの構
造もしくは、円筒形の断面積を長さに対して大き
くした構造が必要で、150l/min程度の排気速度
では断面積の直径3〜5cm、長さ10cmぐらいが適
当である。もつと大容量のものを排気する場合
は、必要に応じてさらに断面積の大きなものを使
えばよい。ガス精製装置の場合に比して少量の吸
着剤でも十分その効果を果たすことができる。
するためには、公知のフオアライントラツプの構
造もしくは、円筒形の断面積を長さに対して大き
くした構造が必要で、150l/min程度の排気速度
では断面積の直径3〜5cm、長さ10cmぐらいが適
当である。もつと大容量のものを排気する場合
は、必要に応じてさらに断面積の大きなものを使
えばよい。ガス精製装置の場合に比して少量の吸
着剤でも十分その効果を果たすことができる。
第5図の装置は気体が粘性流として流れる圧力
範囲でしか使用できない、気体の流れが粘性流か
ら外れてくる圧力範囲でも良好に動作する低温吸
着装置を第6図に示す。第6図において、吸着剤
受け皿を多層に構成した支持棚28は、アルミニ
ウムかステンレスのような比較的熱伝導の良い金
属で、かつ、反応性ガスにより腐蝕されにくいよ
うに表面処理された材料により形成され、液体窒
素収納容器29と円筒面で密着できるようになつ
ており、熱接触抵抗を小さくし、しかもネジ等
(図示せず)で着脱可能になつている。金網27
は気体のコンダクタンスを悪化させず、吸着剤の
落下を防止できるメツシユのものを選ぶ。上部フ
ランジ30、下部フランジ31はOリング等のガ
スケツト32により、本発明の第2のバルブ1
2″および第3のバルブ13″にそれぞれ接続され
る。ヒータ24は真空槽内でも液体窒素収納容器
29内のいずれに装架してもよい。気体分子の衝
突回数を多くし吸着効率を高めるためには、第7
図のように支持棚を形成すれば良い。かかる吸着
装置を分子流領域の10-6〜10-7Torrにおいて
BF5、PF3、AsH3等の猛毒性腐蝕性ガスを用いる
イオン注入機の拡散ポンプとイオンビームダク
ト、もしくはチエンバーとの中間に設置すれば、
非常に高価な拡散オイルの劣化を防ぐことができ
る。
範囲でしか使用できない、気体の流れが粘性流か
ら外れてくる圧力範囲でも良好に動作する低温吸
着装置を第6図に示す。第6図において、吸着剤
受け皿を多層に構成した支持棚28は、アルミニ
ウムかステンレスのような比較的熱伝導の良い金
属で、かつ、反応性ガスにより腐蝕されにくいよ
うに表面処理された材料により形成され、液体窒
素収納容器29と円筒面で密着できるようになつ
ており、熱接触抵抗を小さくし、しかもネジ等
(図示せず)で着脱可能になつている。金網27
は気体のコンダクタンスを悪化させず、吸着剤の
落下を防止できるメツシユのものを選ぶ。上部フ
ランジ30、下部フランジ31はOリング等のガ
スケツト32により、本発明の第2のバルブ1
2″および第3のバルブ13″にそれぞれ接続され
る。ヒータ24は真空槽内でも液体窒素収納容器
29内のいずれに装架してもよい。気体分子の衝
突回数を多くし吸着効率を高めるためには、第7
図のように支持棚を形成すれば良い。かかる吸着
装置を分子流領域の10-6〜10-7Torrにおいて
BF5、PF3、AsH3等の猛毒性腐蝕性ガスを用いる
イオン注入機の拡散ポンプとイオンビームダク
ト、もしくはチエンバーとの中間に設置すれば、
非常に高価な拡散オイルの劣化を防ぐことができ
る。
大量のガスを連続して使用する場合は、第8図
に示すように複数の経路を設け、交互に再生しな
がら使えばよい。29はバイパス排気系のバルブ
である。容器を石英ガラス等の透明な材質にする
か、もしくは金属容器の場合にはガラス等ののぞ
き窓26をつけておけば、吸着剤の寿命を知るこ
とができる。使用目的、使用ガスによつても異な
るが、PCl3の場合、Pにより吸着剤がかなり黄
色に変色しても吸着能力があり、若干赤味を帯び
た黄色程度まで使用可能である。加熱再生しても
色が消えない時は吸着剤を交換すれば良い。吸着
ガスの種類によつては酸洗いして再使用すること
もでる。また本発明による装置はガスの吸着のみ
でなく、減圧CVDにおけるSiH4の酸化物等の固
形物のフイルタとしても有効である。これらの固
形物は、加熱再生によつて除去できない場合もあ
るが、その場合も天然ガスゼオライトは安価であ
るので、随時交換すれば良い。以上に述べたよう
に、本発明によるガス吸着装置は吸着剤として天
然ゼオライトを主成分とするものを用い、室温も
しくは効率良くするためには低温に冷却して吸着
させるものである。吸着剤を活性化するために、
不活性ガスでパージできる構造であり、また吸着
剤を真空中に保存することにより、必要な時に最
大限その能力を発揮できる。これまで、天然モル
デナイト及びそれを化学処理したものだけを吸着
剤として用いた例について説明したが、必ずしも
これらのものだけを用いる必要はない。モレキユ
ーラーシービングカーボンなど、その他の吸着剤
を一緒に使用したり、あるいは連続的に配置して
使つても有効なことは言うまでもない。
に示すように複数の経路を設け、交互に再生しな
がら使えばよい。29はバイパス排気系のバルブ
である。容器を石英ガラス等の透明な材質にする
か、もしくは金属容器の場合にはガラス等ののぞ
き窓26をつけておけば、吸着剤の寿命を知るこ
とができる。使用目的、使用ガスによつても異な
るが、PCl3の場合、Pにより吸着剤がかなり黄
色に変色しても吸着能力があり、若干赤味を帯び
た黄色程度まで使用可能である。加熱再生しても
色が消えない時は吸着剤を交換すれば良い。吸着
ガスの種類によつては酸洗いして再使用すること
もでる。また本発明による装置はガスの吸着のみ
でなく、減圧CVDにおけるSiH4の酸化物等の固
形物のフイルタとしても有効である。これらの固
形物は、加熱再生によつて除去できない場合もあ
るが、その場合も天然ガスゼオライトは安価であ
るので、随時交換すれば良い。以上に述べたよう
に、本発明によるガス吸着装置は吸着剤として天
然ゼオライトを主成分とするものを用い、室温も
しくは効率良くするためには低温に冷却して吸着
させるものである。吸着剤を活性化するために、
不活性ガスでパージできる構造であり、また吸着
剤を真空中に保存することにより、必要な時に最
大限その能力を発揮できる。これまで、天然モル
デナイト及びそれを化学処理したものだけを吸着
剤として用いた例について説明したが、必ずしも
これらのものだけを用いる必要はない。モレキユ
ーラーシービングカーボンなど、その他の吸着剤
を一緒に使用したり、あるいは連続的に配置して
使つても有効なことは言うまでもない。
以上の操作をまとめると次のようになる。プラ
ズマ・エツチング、もしくは減圧CVDあるいは
プラズマCVDの時は第2のバルブ12、第3の
バルブ13を解放し、ここを通して腐蝕性ガス、
毒性ガスを流し、天然モルデナイトもしくはこれ
を化学処理したものを含む吸着剤によつて、これ
らの腐蝕性、毒性ガスを吸着させる。この時液体
窒素16等の寒剤を用いて冷却すると、たとえば
室温では吸着しないH2ガスなどまで吸着するほ
どその吸着能力を増大し、有効である。プラズ
マ・エツチングや減圧CVD終了後は、第2のバ
ルブ12、第3のバルブ13を閉じ、バルブ1
4,15を解放し、不活性ガスを導入し、さらに
効果を高めるためには、ヒータ24を開いて加熱
して吸着したガスを再放出させ、これを排気ガス
処理装置に導き、天然モルデナイトを再生処理す
る。再生処理後はバルブ14,15を閉じてお
く。この場合は、不活性ガス中に天然モルデナイ
トが保性されることになるが、望ましくは第3の
バルブ13をもう一度開け、真空排気後バルブ1
3を閉じておけば、次回の真空排気特性が向上し
て良い。これらの結果、プラズマ・エツチング装
置や低圧CVD装置、あるいは各種イオン源の真
空排気用ポンプの油の交換周期が著しく長くな
り、機器の保守維持が容易になる。また吸着剤が
安価であるという利点も得られる等、その工業的
価値は極めて高い。
ズマ・エツチング、もしくは減圧CVDあるいは
プラズマCVDの時は第2のバルブ12、第3の
バルブ13を解放し、ここを通して腐蝕性ガス、
毒性ガスを流し、天然モルデナイトもしくはこれ
を化学処理したものを含む吸着剤によつて、これ
らの腐蝕性、毒性ガスを吸着させる。この時液体
窒素16等の寒剤を用いて冷却すると、たとえば
室温では吸着しないH2ガスなどまで吸着するほ
どその吸着能力を増大し、有効である。プラズ
マ・エツチングや減圧CVD終了後は、第2のバ
ルブ12、第3のバルブ13を閉じ、バルブ1
4,15を解放し、不活性ガスを導入し、さらに
効果を高めるためには、ヒータ24を開いて加熱
して吸着したガスを再放出させ、これを排気ガス
処理装置に導き、天然モルデナイトを再生処理す
る。再生処理後はバルブ14,15を閉じてお
く。この場合は、不活性ガス中に天然モルデナイ
トが保性されることになるが、望ましくは第3の
バルブ13をもう一度開け、真空排気後バルブ1
3を閉じておけば、次回の真空排気特性が向上し
て良い。これらの結果、プラズマ・エツチング装
置や低圧CVD装置、あるいは各種イオン源の真
空排気用ポンプの油の交換周期が著しく長くな
り、機器の保守維持が容易になる。また吸着剤が
安価であるという利点も得られる等、その工業的
価値は極めて高い。
第1図は減圧CVD炉の代表的な例の概略図、
第2図は従来より使われている液体窒素冷却によ
るガス回収装置の概略図、第3図は天然モルデナ
イト、もしくはこれを化学処理したものをソープ
シヨンポンプとして用いた場合の排気特性、第4
図は平行平板型プラズマ・エツチング装置に本発
明のガス吸着装置を用いた場合の概略図、第5図
は本発明の具体的な構造の一例、第8図は吸着部
分を二系列にした大容量排気用の装置の一例、第
6図および第7図は高真空領域で動作させる排気
ガス吸着室の一例、1は反応室に流すガスの量を
調整、制御するための本発明の第1のバルブ、1
2,13は天然モルデナイトを真空に保持するた
めの本発明の第2、第3のバルブ、14,15は
再生のためにN2ガスを流すためのバルブ、24
は加熱再生用ヒータ、25は天然モルデナイトも
しくはこれを化学処理したもの、4は真空ポン
プ、26はのぞき窓である。
第2図は従来より使われている液体窒素冷却によ
るガス回収装置の概略図、第3図は天然モルデナ
イト、もしくはこれを化学処理したものをソープ
シヨンポンプとして用いた場合の排気特性、第4
図は平行平板型プラズマ・エツチング装置に本発
明のガス吸着装置を用いた場合の概略図、第5図
は本発明の具体的な構造の一例、第8図は吸着部
分を二系列にした大容量排気用の装置の一例、第
6図および第7図は高真空領域で動作させる排気
ガス吸着室の一例、1は反応室に流すガスの量を
調整、制御するための本発明の第1のバルブ、1
2,13は天然モルデナイトを真空に保持するた
めの本発明の第2、第3のバルブ、14,15は
再生のためにN2ガスを流すためのバルブ、24
は加熱再生用ヒータ、25は天然モルデナイトも
しくはこれを化学処理したもの、4は真空ポン
プ、26はのぞき窓である。
Claims (1)
- 1 真空容器と、前記真空容器に連結する第1の
バルブと、前記第1のバルブに直結する反応室
と、前記反応室に連結する第2のバルブと、前記
第2のバルブに連結する排ガス吸着室と、前記排
ガス吸着室と少なく共一部が接触する液体窒素収
納容器と、前記排ガス吸着室に連結する第3のバ
ルブと、前記第3のバルブに連結する真空ポンプ
とを少なく共含み、前記真空容器にPCl3、BCl3
およびSiCl4のうちの少なく共1つを収納し、前
記反応室に半導体ウエハを配置し、前記排ガス吸
着室に天然ゼオライトもしくはこれを化学処理し
た吸着剤を収納したことを特徴とする排ガス吸着
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55166038A JPS5791719A (en) | 1980-11-26 | 1980-11-26 | Adsorbing device for exhaust gas |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55166038A JPS5791719A (en) | 1980-11-26 | 1980-11-26 | Adsorbing device for exhaust gas |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5791719A JPS5791719A (en) | 1982-06-08 |
JPS624168B2 true JPS624168B2 (ja) | 1987-01-29 |
Family
ID=15823791
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP55166038A Granted JPS5791719A (en) | 1980-11-26 | 1980-11-26 | Adsorbing device for exhaust gas |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5791719A (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4744221A (en) * | 1987-06-29 | 1988-05-17 | Olin Corporation | Zeolite based arsine storage and delivery system |
JPH0716583B2 (ja) * | 1990-08-10 | 1995-03-01 | セントラル硝子株式会社 | フッ化塩素を含む排ガスの乾式処理方法 |
JP2571176B2 (ja) * | 1992-06-09 | 1997-01-16 | 株式会社荏原製作所 | Cvd法排ガスの除害方法 |
JP5675508B2 (ja) * | 2011-06-15 | 2015-02-25 | カンケンテクノ株式会社 | Voc除害装置 |
CN108525481B (zh) * | 2018-04-26 | 2020-09-22 | 重庆腾德机车部件有限公司 | 一种用于冷镦机的废气处理装置 |
-
1980
- 1980-11-26 JP JP55166038A patent/JPS5791719A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5791719A (en) | 1982-06-08 |
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