JPS6236510A - リード曲り検出装置 - Google Patents

リード曲り検出装置

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JPS6236510A
JPS6236510A JP17734985A JP17734985A JPS6236510A JP S6236510 A JPS6236510 A JP S6236510A JP 17734985 A JP17734985 A JP 17734985A JP 17734985 A JP17734985 A JP 17734985A JP S6236510 A JPS6236510 A JP S6236510A
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JP
Japan
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lead
bend
detecting
dimension
sensor
Prior art date
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JP17734985A
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English (en)
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JPH061175B2 (ja
Inventor
Hiromi Takano
高野　裕美
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NEC Kyushu Ltd
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NEC Kyushu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は集積回路素子のリード曲りの検査に用いるリー
ド曲りセンサーに関する。
〔従来の技術〕
この種リード面りセンサーはリードの肩と先端全光電セ
ンサで検出することによりリード曲りを自動的に検査し
ている。この光電センサーはＸ方向へ移動する集積回路
素子と直交するＹ−Ｚ平面上のリードの肩および先端を
検出する位置に各々個別に配置されている。
Ｘ方向へ移動する集積回路素子のリードの先端がリード
肩幅外にＸ方向へ曲っている場合、リードの肩をリード
の層検出用光電センサーで検出していない間にもリード
の先端がリードの先端検出用光電センサーで検出される
。
リードの先端がリードの先端検出用光電センサーのＹ方
向検出領域外にＹ方向へ曲っている場合、リードの肩を
リードの層検出用光電センサーで検出している間にもリ
ードの先端がリードの先端検出用光電センサーで検出さ
れない。
よって光電センサーの信号を処理することによりリード
の曲りを判定している。
この方式ではリードの先端検出用光電センサーのＹ方向
の幅によりリードのＹ方向への曲りの許容範囲が決まる
。
従来、このリードの先端検出用光電センサーとして検出
面が円形の反射型ファイバーセンサーを使用していた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
これによると、リードの曲りの許容範囲に対してセンサ
ーの検出幅の方が狭く、Ｙ方向へのＩＪ−ド曲りに対し
て判定が厳しかった。また検出幅を広くする為に、セン
サーの検出面を広くすると、感度が高くなり、リード以
外も検出するという問題があった。
本発明の目的は従来の問題を解決し、リードの曲りの許
容範囲と一致したリードの曲りを判定するリード曲り検
出センサーを提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は集積回路素子のリードを検査する装置のリード
曲り検出センサーにおいて、ファイバーの端末を結束さ
せてなるセンサー本体の検出面を矩形状に形成し、該検
出面の一辺の長さをリード曲りの許容範囲の幅寸法に設
定するとともに短辺の長さをリードの先端厚味の検出に
要する寸法に設定したことを特徴とするリード曲り検出
センサーである。
〔実施例〕
次に本発明の実施例を図により説明する。
第１図は本発明のセンサーを示す断面図、第２図は本発
明の一実施例のリード検出部を示す斜視図である。
第２図に示すように、ガイド１上をＸ方向に滑走する集
積回路素子２の一方のリードの肩をファイバーセンサー
３で検出し、リードの先端をファイバーセンサー４で検
出している。集積回路素子２の他方のリードのリードの
肩はファイバーセンサー５で検出し、リードの先端はフ
ァイバーセンサー６で検出している。
ファイバーセンサー３，４および５，６の信号は判定回
路７へ転送され、判定回路７では信号を処理してリード
の曲りの有無を判定している。
第１図において、本発明はリードの先端を検出するファ
イバーセンサー４，６は径が数十ミクロンの多数のファ
イバーの端末を型枠９で矩形状に結束させである。この
投光用及び受光用のファイバーはランダムに配列されて
おり、このファイバーの端末を結束させてなる検出面８
のＹ方向の一辺寸法ｔ１はリードの曲りの許容範囲の幅
寸法に設定し、Ｘ方向の他辺寸法ｔ２はリードの先端を
検出するのに必要な幅寸法に設定する。
したがって、本発明によれば、−辺の長さｔｌがリード
の曲りの許容範囲の幅寸法に設定しであるから、リード
曲りの許容範囲にあった検出が可能となり、他辺の長さ
ｔ２はリードの先端厚味の検出に要する寸法に設定して
あり、感度が異常に高くなるのを抑えてリード以外のも
のを検出することがない。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、リード以外のもの
を検出することなく、リードの曲りの許容範囲にあった
検出を行うことができる効果を有するものである。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明のセンサーを示す断面図、第２図は本発
明の一実施例のリード検出部を示す斜視図である。 １・・・ガイド、２・・・集積回路素子、３〜６・・・
ファイバーセンサー、７・・・判定回路、８・・・検出
面、９・・・型枠。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）集積回路素子のリードを検査する装置のリード曲
    り検出センサーにおいて、ファイバーの端末を結束させ
    てなるセンサー本体の検出面を矩形状に形成し、該検出
    面の一辺の長さをリード曲りの許容範囲の幅寸法に設定
    するとともに、他辺の長さをリードの先端厚味の検出に
    要する寸法に設定したことを特徴とするリード曲り検出
    センサー。
JP60177349A 1985-08-12 1985-08-12 リード曲り検出装置 Expired - Lifetime JPH061175B2 (ja)

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JPS6236510A true JPS6236510A (ja) 1987-02-17
JPH061175B2 JPH061175B2 (ja) 1994-01-05

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6426104A (en) * 1987-07-22 1989-01-27 Mitsubishi Electric Corp Appearance inspecting device for semiconductor device
US4875778A (en) * 1987-02-08 1989-10-24 Luebbe Richard J Lead inspection system for surface-mounted circuit packages
US4875779A (en) * 1988-02-08 1989-10-24 Luebbe Richard J Lead inspection system for surface-mounted circuit packages
JPH01295144A (ja) * 1988-05-23 1989-11-28 Mitsui High Tec Inc Ｉｃ装置のリード曲がり検査方法及び装置
JPH0471251A (ja) * 1990-07-11 1992-03-05 Nec Kyushu Ltd リード曲り検査装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54150088A (en) * 1978-05-18 1979-11-24 Nec Corp Test device for ic lead bend

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JPH061175B2 (ja) 1994-01-05

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