JPS62290875A - 表面処理装置 - Google Patents

表面処理装置

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Publication number
JPS62290875A
JPS62290875A JP13347186A JP13347186A JPS62290875A JP S62290875 A JPS62290875 A JP S62290875A JP 13347186 A JP13347186 A JP 13347186A JP 13347186 A JP13347186 A JP 13347186A JP S62290875 A JPS62290875 A JP S62290875A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
surface treatment
liquid
bottom plate
flow
discharged
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP13347186A
Other languages
English (en)
Inventor
Masao Okamura
正夫 岡村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP13347186A priority Critical patent/JPS62290875A/ja
Publication of JPS62290875A publication Critical patent/JPS62290875A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野〕 本発明は磁気メディア、回路基板等に用いられる磁性無
電解メッキ、導体無電解メッキなどのメッキ、洗浄等表
面処理に用いる表面処理装置に関する。
〔従来の技術〕
従来の表面処理装置は第21断面図に示すように槽本体
4の底板3の中央に表面処理液2の導入口1を設け、導
入口1の前面に小孔を設けた目皿板11を置き、槽本体
4の開口部6の周囲にオーバーフロ一部5を設け、まず
導入口Iから導入され加熱された表面処理2は目皿板1
1の小孔を通過して更に上昇し開口部6に達する。更に
導入口1から導入される表面処理液2の増加により開口
部6から溢れた表面処理液2は開口部6の周囲に設けら
れたオーバーフロ一部5に流れ落ちる。前記の状態にお
いて被表面処理物7は治具8に引掛けられて目皿板3と
開口部6の間に投入、浸漬、引き上げられることにより
表面処理が行なわれることが知られている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし従来の表面処理装置では、被表面処理物7に対す
る表面処理液2は表面処理液流9に示す通り導入口1か
ら導入された表面処理液2は目皿板11のために導入口
1の真正面ばかりでなく目皿+7ill全体に広がり、
更に目皿板11の小孔を1ffi過し上昇するが、槽本
体4に近い外周部分は壁面流と言われている壁面に添っ
て表面処理液流9は順調に上昇するものの、中央部分の
表面処理液流9は開口部6付近で外側から内側へ入り込
むこととなり下降流となって目皿板11の近くへ戻り、
再度槽本体4の壁面に添って上昇する回遊流となる。ま
た投入口1からの通人1を増加残少させた場合は目皿板
11の小孔から噴出する表面処理液2のスピードが速く
又は遅くなるため、前記の様な壁面流、中央部分での下
降流は著しく混乱した状態となり、表面処理液流9は安
定したパターンにならず槽本体4の中の表面処理液2の
流速、液温は一定にならない、このため表面処理液2と
して無電解メッキ液、エツチング液、洗浄のための酸、
アルカリ液等の場合は被表面処理物7の表面と通過速度
が即品質に影響を与えるため、メッキ厚み、エツチング
深さ洗浄のバラツキが太き(なってしまう。
更に前記の様な表面処理液流9の上昇流、下降流、回i
ll流のために被表面処理物7、治具8、または開口部
6から表面処理液2中へ持ち込まれた微細なゴミ、チリ
類は速やかにオーバーフロ一部5へ排出されず槽本体4
の中を回遊するため、無電解メッキ液の場合は被表面処
理物7の表面に品物となり、エツチング液の場合はエン
チング残り、洗浄の場合は異物の付着となって顕在化し
、安定した表面処理品質が得られない。更に無電解メブ
キ液中の微細なチリ、ゴミ、微粒子金属等は各々を核と
して金属の析出が始まり徐々に重量を増し目皿板11表
面または底板3の表面にたい積し、無電解メッキ液の寿
命を著しく短くする等の問題点があった。
そこで本発明は従来のこのような問題点を解決するため
、少なくとも被表面処理物を浸漬する範囲内の表面処理
液流速を一定にし、回遊流を無くすとともに、析出金属
、微細なチリ、ゴミ等を速やかに槽本体外に排出するこ
とを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点を解決するために本発明の表面処理装置は開
口部直近に表面処理液の導入口を設け、前記開口部から
のオーバーフローと底板に多数設けた小孔から表面処理
液を排出することを特徴とする。
〔作 用〕
上記のように構成された表面処理装置の導入口から表面
処理液を導入すると、最初は底板の小孔から少しずつ表
面処理液が排出されるが、導入口から流入する表面処理
液の方が排出量を上まわっているため徐々に液面が上昇
し開口部に達し、更に表面処理液の4人を続けると開口
部からオーバーフローが始まり、底板小孔からの排出と
オーバーフローが同時に行なわれる状態となる。したが
って開口部から持込まれる微細なゴミ、チリ類はオーバ
ーフローにより槽外へ排出され清浄な表面処理液の維持
が、また底板小孔から常に一定の表面処理液が均一に排
出されるために一定下降流、一定温度のる1保が、また
析出金属等は下降流により速やかに槽外に排出すること
ができるのである。
〔実施例〕
以下に本発明の実施例を図面にもとづいて説明する。第
11断面図のように槽本体4の下部に多数の小孔を設け
た底板3、上部に開口部6を設け、開口部6の周囲にオ
ーバーフロ一部5を、さらにオーバーフロ一部5の下に
導入口1を設ける。槽本体4の下には排液受け1oを置
く。このような構成においてまず導入口1から導入され
た表面処理液2は底板3に達すると同時に小孔から少し
ずつ排出されるが、導入口1から導入する表面処理液2
の方が底板3の小孔から排出される量を上まわり徐々に
液面が上昇し開口部6に達する。更に導入口1から表面
処理液2の導入を続けると開口部6からオーバーフロー
が始まり、オーバーフローした表面処理液2はオーバー
フロ一部5によって回収されることとなる。前記の様に
開口部6からのオーバーフローと底板3からの排出が行
なわれる状態が表面処理加工が可能となった通常稼動時
で、その時の表面処理液2の流れ方は表面処理液流9に
示す通りとなる。まず3人口1から導入された表面処理
液2はそのまま導入口lの延長線上を進むこととなるが
、底)反3から1井出される表面処理:夜2と見合う量
が下方向に下降を始める。
この場合底板3の小孔が底板3の平面に均等に分赦しで
あるため表面処理、42はどの部分でも均一に排出が行
なわれる。この結果導入口lから導入された表面処理液
2は導入口1をやや下がった位置から底板3までの間を
殆んど流速の差の無い整然とした下降流とすることがで
きる。−力感入口1から導入された表面処理液2の中で
下降流とならなかった分は開口部6に閏けて上昇し、や
がてオーバーフローすることによりオーバーフロ一部5
に流れ落ちる。底板3から排出された表面処理液2は槽
本体4の真下に設けられ、やや槽本体4より大きな排出
受け10により薄葉されることとなる。前記のような稼
動状態の中へ治具8に引掛けられた被表面処理物7を開
口部6から投入し、4人口1よりやや下がった所から底
板3の直近までの間に浸漬し、表面処理加工を行なう。
治具8及び被表面処理物5が表面処理液2中に浸漬され
た時の表面処理液流は、治具8及び被表面処理物5が無
い場合と全く変化はなく前記表面処理液流9そのものの
状態を維持することとなる。
本発明による実施例である第11断面図には導入口1は
左右の2ケ所しか見えないが、導入口は表面処理ti、
2を偏った状態で導入することを防ぐために槽本体4の
形状により2ケ所以上で且つバランスの良い配置をする
ことにより3ケ所でも5ケ所でも多い方がより有利とな
る。更に底1反3の小孔は穴径と大数によって表面処理
液2の排出が決まるため、所要下降流速に合わせた穴径
と大数とすることが必要である0以上の実施例において
導入口1と被表面処理物5までの上下方向の距離を大き
くとることは被表面処理物5の表面を通過する下降流の
速度をより安定した均一なものとすることに有効な方法
で、その場合にはオーバーフロ一部5の位置を下方向へ
下げ、導入口1を上方向へ上げることにより容易に実現
できるとともに装置の小型化を企ることができる。
〔発明の効果〕
本発明は、以上説明したように開口部直近に導入口を設
け、開口部から表面処理液をオーバーフローするととも
に底板部分からも排出するという構造により被表面処理
物を浸漬する範囲の表面処理′ti、流速を均一に、更
にオーバーフローにより微細なゴミ、ケバ類を排出し、
底板部分から排出する下降流により析出金属等を槽体外
に排出し、被表面処理物の品質の向上、表面処理液の寿
命の向上等著しい効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明にかかる表面処理装置の断面図、第2
図は従来の表面処理装置の断面図である。 1・・・・・・導入口 2・・・・・・表面処理液 3・・・・・・底板 4・・・・・・槽本体 6・・・・・・開口部 7・・・・・・被表面処理物 8・・・・・・治具 11・・・・・・目皿)反 以   上 児10

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 開口部直近に表面処理液の導入口を設け、前記開口部か
    らのオーバーフローと底板に多数設けた小孔から表面処
    理液を排出することを特徴とした表面処理装置。
JP13347186A 1986-06-09 1986-06-09 表面処理装置 Pending JPS62290875A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13347186A JPS62290875A (ja) 1986-06-09 1986-06-09 表面処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13347186A JPS62290875A (ja) 1986-06-09 1986-06-09 表面処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62290875A true JPS62290875A (ja) 1987-12-17

Family

ID=15105549

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13347186A Pending JPS62290875A (ja) 1986-06-09 1986-06-09 表面処理装置

Country Status (1)

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JP (1) JPS62290875A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62294182A (ja) * 1986-06-12 1987-12-21 Seiko Epson Corp 表面処理装置システム
JP2011256444A (ja) * 2010-06-10 2011-12-22 Sumitomo Bakelite Co Ltd 基板の処理方法および処理装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62294182A (ja) * 1986-06-12 1987-12-21 Seiko Epson Corp 表面処理装置システム
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