JPS62288550A - 赤外線水分計に於ける水分測定方法 - Google Patents
赤外線水分計に於ける水分測定方法Info
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- JPS62288550A JPS62288550A JP61132260A JP13226086A JPS62288550A JP S62288550 A JPS62288550 A JP S62288550A JP 61132260 A JP61132260 A JP 61132260A JP 13226086 A JP13226086 A JP 13226086A JP S62288550 A JPS62288550 A JP S62288550A
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- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 claims abstract description 38
- 239000002893 slag Substances 0.000 claims abstract description 9
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- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3554—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
３、明の詳細な説明
合物質の水分測定する際、低水分域から高水分域迄を連
続して測定可能にする赤外線水分計に於けろ水分測定方
法に関する。
続して測定可能にする赤外線水分計に於けろ水分測定方
法に関する。
一般に使用されている赤外線水分計は被測定物に赤外線
を当て、水分に吸収される波長と吸収されない波長とを
比較し、絶乾法で得られた数値との比較に於て直線であ
る検量線を求め以後の比較により水分値を求めるもので
あるが、この検量線の傾きは被測定物によって異なり，
被測定物の銘柄毎にｖＪ替える必要がある．また特にス
ラグ等の複合物質の被測定物は、ある一定値から直線で
ある検量線に対して徐々に折曲し、その実測水分線は曲
線となる．従って、従来の直線１木である検量線では、
スラグ等の被測定物の水分測定域が狭？、広範囲の水分
測定をするには１台の赤外線水分計だけでは不可能であ
る。
を当て、水分に吸収される波長と吸収されない波長とを
比較し、絶乾法で得られた数値との比較に於て直線であ
る検量線を求め以後の比較により水分値を求めるもので
あるが、この検量線の傾きは被測定物によって異なり，
被測定物の銘柄毎にｖＪ替える必要がある．また特にス
ラグ等の複合物質の被測定物は、ある一定値から直線で
ある検量線に対して徐々に折曲し、その実測水分線は曲
線となる．従って、従来の直線１木である検量線では、
スラグ等の被測定物の水分測定域が狭？、広範囲の水分
測定をするには１台の赤外線水分計だけでは不可能であ
る。
このためスラグ等の被測定物の広範囲な水分を測定する
場合には、実測水分線の曲線部に沿って新たな直線で近
似させる勾配の検量線を有した別の赤外線水分計を並用
して使用しなければならず、この赤外線水分計の並用使
用には、ある一定水分値を境に赤外線水分計の切替えが
必要である、つまり低水分域を越えるとランプやブザー
等の警報を出し、高水分域用の検量線に切替えて連続管
理する必要があり、その都度、ラインの作ズ員が赤外線
水分計の切替え操作を短時間で正確にしなければならず
、非常に面倒で手間が掛り、作業者の疲労度が大きい、
更に２台の赤外線水分計を設置するので設＠費が嵩む等
の欠点があった。
場合には、実測水分線の曲線部に沿って新たな直線で近
似させる勾配の検量線を有した別の赤外線水分計を並用
して使用しなければならず、この赤外線水分計の並用使
用には、ある一定水分値を境に赤外線水分計の切替えが
必要である、つまり低水分域を越えるとランプやブザー
等の警報を出し、高水分域用の検量線に切替えて連続管
理する必要があり、その都度、ラインの作ズ員が赤外線
水分計の切替え操作を短時間で正確にしなければならず
、非常に面倒で手間が掛り、作業者の疲労度が大きい、
更に２台の赤外線水分計を設置するので設＠費が嵩む等
の欠点があった。
本発明は上記従来欠点に鑑みこれを消去するために成さ
れたものであり、つまり勾配の異なる２本の検量線を予
め設定し、この検量線の切替えを自動的に行って低水分
域から高水分域迄のスラグ等の水分を連続して測定可能
にする赤外線水分計に於ける水分測定方法を提供するこ
とを目的とする。
れたものであり、つまり勾配の異なる２本の検量線を予
め設定し、この検量線の切替えを自動的に行って低水分
域から高水分域迄のスラグ等の水分を連続して測定可能
にする赤外線水分計に於ける水分測定方法を提供するこ
とを目的とする。
以下本発明の水分測定方法を図面に基づいて詳細に説明
する。予めスラグ等の被測定物の実測水分線（１）の曲
線に沿って直線で近似させた勾配の異なる２本の検量線
（２）、（３）を設定しく第１図参照）、この２本の検
量線（２）、（３）は実測水分線（１）とほぼ一致する
範囲以内で上限値と下限値とを求め、低水分域用の検量
線（２）と高水分域用の検量線（３）とに区分し、且つ
検量線（２）、（３）の交点を切替え点（４）に設定さ
せ、該切替え点（４）で検量線（２）、（３）の切替え
を自動的に行い低水分域から高水分球速を連続して測定
出来るように赤外線水分計の演算部に設定させておく、
尚、従来、水分の管理幅に使用されていた上限、下限の
設定値は、単なる水分の管理幅の設定に使用されるだけ
でなく、検量線（２）、（３）の切替えにも使用される
のである。
する。予めスラグ等の被測定物の実測水分線（１）の曲
線に沿って直線で近似させた勾配の異なる２本の検量線
（２）、（３）を設定しく第１図参照）、この２本の検
量線（２）、（３）は実測水分線（１）とほぼ一致する
範囲以内で上限値と下限値とを求め、低水分域用の検量
線（２）と高水分域用の検量線（３）とに区分し、且つ
検量線（２）、（３）の交点を切替え点（４）に設定さ
せ、該切替え点（４）で検量線（２）、（３）の切替え
を自動的に行い低水分域から高水分球速を連続して測定
出来るように赤外線水分計の演算部に設定させておく、
尚、従来、水分の管理幅に使用されていた上限、下限の
設定値は、単なる水分の管理幅の設定に使用されるだけ
でなく、検量線（２）、（３）の切替えにも使用される
のである。
スラブ等の被測定物の水分を測定する時は、先ず赤外線
水分計の検出器から赤外線を被測定物に投射させる。そ
の反射光を検出器が読み取って電気信号に変換、増幅し
た信号を赤外線水分計に入力し、演算部で処理されて水
分を測定すると共に表示部に表示される。この場合、水
分値が切替え点（４）以上になると表示部に水分値を表
示せず、即座に演算部で別の所定演算処理を行って検量
線（３）に切替え、検量線（３）に基づいた水分値を新
たに演算し、表示部にその値を表示するのである。尚、
検量線（２）と検量＆！ （３）の水分値に対する出力
電流は第２図のようになる。また検量線（２）、（３）
を２木だけでなく多数本用いて実測水分１１ｉ１ （１
）の曲線に沿ってより正確に近似させることにより水分
測定範囲の拡大が可使となる。
水分計の検出器から赤外線を被測定物に投射させる。そ
の反射光を検出器が読み取って電気信号に変換、増幅し
た信号を赤外線水分計に入力し、演算部で処理されて水
分を測定すると共に表示部に表示される。この場合、水
分値が切替え点（４）以上になると表示部に水分値を表
示せず、即座に演算部で別の所定演算処理を行って検量
線（３）に切替え、検量線（３）に基づいた水分値を新
たに演算し、表示部にその値を表示するのである。尚、
検量線（２）と検量＆！ （３）の水分値に対する出力
電流は第２図のようになる。また検量線（２）、（３）
を２木だけでなく多数本用いて実測水分１１ｉ１ （１
）の曲線に沿ってより正確に近似させることにより水分
測定範囲の拡大が可使となる。
このように本発明の水分測定方法は勾配の異なる２本の
検量線（２）、（３）を予め所定の値で入力して設定さ
せたこと、低水分域用の検量線（２）と高水分城用の検
量線（３）とに区分したこと、検ｆ＆ｍ（２）、（３）
の交点を切替え点（４）に設定させたこと、この切替え
点（４）で検量線（２）、（３）の切替えを自動化した
ことにより、特にスラグ等の被測定物の広範囲な水分測
定を行う場合には、従来の赤外線水分計２台は不要とな
り、赤外線水分計を１台設置するだけで良く設備費が安
くなる。また従来の如き赤外線水分計の切替え操作が全
く無くなり細心の注意も不要で作業者の疲労度が極めて
減少される。更に水分測定が高速で精密に測定出来ると
共に広範囲の水分の品質管理、原価管理の面で大きく寄
与する等の効果に大なるものがある。
検量線（２）、（３）を予め所定の値で入力して設定さ
せたこと、低水分域用の検量線（２）と高水分城用の検
量線（３）とに区分したこと、検ｆ＆ｍ（２）、（３）
の交点を切替え点（４）に設定させたこと、この切替え
点（４）で検量線（２）、（３）の切替えを自動化した
ことにより、特にスラグ等の被測定物の広範囲な水分測
定を行う場合には、従来の赤外線水分計２台は不要とな
り、赤外線水分計を１台設置するだけで良く設備費が安
くなる。また従来の如き赤外線水分計の切替え操作が全
く無くなり細心の注意も不要で作業者の疲労度が極めて
減少される。更に水分測定が高速で精密に測定出来ると
共に広範囲の水分の品質管理、原価管理の面で大きく寄
与する等の効果に大なるものがある。
第１図は赤外線水分計の指示水分値と絶乾法による水分
値との関係を示す実測水分線及び検量線を表わす説明図
、第２図は赤外線水分計の指示電流値と絶乾法による水
分値との関係を示す説明図である。 （１）・−Φ・・・実測水分線 （２）、（３）・Φ・検量線 （４）・・―・・・切替え点 以 上
値との関係を示す実測水分線及び検量線を表わす説明図
、第２図は赤外線水分計の指示電流値と絶乾法による水
分値との関係を示す説明図である。 （１）・−Φ・・・実測水分線 （２）、（３）・Φ・検量線 （４）・・―・・・切替え点 以 上
Claims (1)
- 赤外線水分計の水分表示と絶乾法による水分値との関係
が曲線である実測水分線（１）を示すスラグ等の被測定
物の水分測定方法に於て、前記実測水分線（１）の曲線
に沿って直線で近似させた勾配の異なる２本の検量線（
２）、（３）を予め設定し、低水分域用の検量線（２）
と高水分域用の検量線（３）とに区分し、且つ前記検量
線（２）、（３）の交点を切替え点（４）に設定させ、
該切替え点（４）で前記検量線（２）、（３）の切替え
を自動的に行って低水分域から高水分域迄を連続して測
定することを特徴とする赤外線水分計に於ける水分測定
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61132260A JPS62288550A (ja) | 1986-06-07 | 1986-06-07 | 赤外線水分計に於ける水分測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61132260A JPS62288550A (ja) | 1986-06-07 | 1986-06-07 | 赤外線水分計に於ける水分測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62288550A true JPS62288550A (ja) | 1987-12-15 |
Family
ID=15077117
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61132260A Pending JPS62288550A (ja) | 1986-06-07 | 1986-06-07 | 赤外線水分計に於ける水分測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62288550A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04160346A (ja) * | 1990-10-24 | 1992-06-03 | Japan Tobacco Inc | 赤外線水分測定装置 |
| JP2006184183A (ja) * | 2004-12-28 | 2006-07-13 | Yokogawa Electric Corp | 物理量測定装置及びこの装置を用いた物理量測定方法 |
| JP2008256546A (ja) * | 2007-04-05 | 2008-10-23 | Hitachi High-Technologies Corp | 多段検量線作成方法、および分析装置 |
| JP2019007901A (ja) * | 2017-06-27 | 2019-01-17 | 花王株式会社 | 粉粒体質量検査装置及び検査方法、並びに粉粒体含有物品の製造装置及び製造方法 |
| JP2019027963A (ja) * | 2017-07-31 | 2019-02-21 | 富士電機株式会社 | ガス分析装置およびガス分析方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60135842A (ja) * | 1983-12-26 | 1985-07-19 | Shimadzu Corp | 検量線作成方法 |
| JPS61169746A (ja) * | 1985-01-23 | 1986-07-31 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 赤外線式水分測定装置 |
-
1986
- 1986-06-07 JP JP61132260A patent/JPS62288550A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60135842A (ja) * | 1983-12-26 | 1985-07-19 | Shimadzu Corp | 検量線作成方法 |
| JPS61169746A (ja) * | 1985-01-23 | 1986-07-31 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 赤外線式水分測定装置 |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPH04160346A (ja) * | 1990-10-24 | 1992-06-03 | Japan Tobacco Inc | 赤外線水分測定装置 |
| JP2006184183A (ja) * | 2004-12-28 | 2006-07-13 | Yokogawa Electric Corp | 物理量測定装置及びこの装置を用いた物理量測定方法 |
| JP4613613B2 (ja) * | 2004-12-28 | 2011-01-19 | 横河電機株式会社 | 物理量測定方法 |
| JP2008256546A (ja) * | 2007-04-05 | 2008-10-23 | Hitachi High-Technologies Corp | 多段検量線作成方法、および分析装置 |
| JP2019007901A (ja) * | 2017-06-27 | 2019-01-17 | 花王株式会社 | 粉粒体質量検査装置及び検査方法、並びに粉粒体含有物品の製造装置及び製造方法 |
| JP2019027963A (ja) * | 2017-07-31 | 2019-02-21 | 富士電機株式会社 | ガス分析装置およびガス分析方法 |
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