JP2019027963A - ガス分析装置およびガス分析方法 - Google Patents

Abstract

【課題】広範な濃度範囲で水分濃度を測定することを可能とする。【解決手段】測定対象空間中に存在する水分子のガス濃度を分析するガス分析装置であって、ガス分析装置は、水分子の光吸収波長を含む波長帯域において波長が掃引かつ変調されたレーザ光を測定対象空間に向けて出射する発光部と、測定対象空間中を通過したレーザ光を受光して、受光強度に応じた検出信号を出力する受光部と、受光部によって出力された検出信号に基づいて、水分子による光吸収データの波形を取得する取得部と、光吸収データの波形に基づいて、光吸収データから水分子のガス濃度への変換式を変更する処理部と、変換式によって水分子のガス濃度を算出する算出部と、を備える。【選択図】図１

Description

本発明は、ガス分析装置およびガス分析方法に関する。

レーザ吸収分光法を利用してガス中の水分濃度を測定するガス分析装置が知られている（例えば、特許文献１および特許文献２参照）。
［特許文献］
［特許文献１］ 特許第６０４４１３６号公報
［特許文献２］ 特開２０１５−１９４３８３号公報

ガス分析装置においては、広範な濃度範囲で水分濃度を測定することができることが好ましい。

本発明の第１の態様においては、ガス分析装置を提供する。ガス分析装置は、測定対象空間中に存在する水分子のガス濃度を分析してよい。ガス分析装置は、発光部を備えてよい。発光部は、レーザ光を測定対象空間に向けて出射してよい。レーザ光は、水分子の光吸収波長を含む波長帯域において波長が掃引かつ変調されてよい。ガス分析装置は、受光部を備えてよい。受光部は、測定対象空間中を通過したレーザ光を受光してよい。受光部は、受光強度に応じた検出信号を出力してよい。ガス分析装置は、取得部を備えてよい。取得部は、受光部によって出力された検出信号に基づいて、水分子による光吸収データの波形を取得してよい。ガス分析装置は、処理部を備えてよい。処理部は、光吸収データの波形に基づいて、光吸収データから水分子のガス濃度への変換式を変更してよい。ガス分析装置は、算出部を備えてよい。算出部は、変換式によって水分子のガス濃度を算出してよい。

取得部は、受光部から出力された検出信号に対し、レーザ光における変調周波数の２倍の周波数でロックイン検出することによって、光吸収データの波形を得てよい。

処理部は、光吸収データの波形において極大値を示す波長に応じて、変換式を変更してよい。

処理部は、第１波長および第２波長を取得してよい。第１波長は、光吸収データの波形において第１の極大値を示す波長であってよい。第２波長は、光吸収データの波形において第２の極大値を示す波長であってよい。処理部は、第１波長と第２波長との間の波長幅に応じて、変換式を変更してよい。

処理部は、極大値波長および極小値波長を取得してよい。極大値波長は、光吸収データの波形において極大値を示す波長であってよい。極小値波長は、光吸収データの波形において極小値を示す波長であってよい。処理部は、極大値波長と極小値波長との間の波長幅に応じて、変換式を変換してよい。

算出部は、光吸収データの波形の極大値と極小値との差分に基づいて水分子のガス濃度を算出してよい。処理部は、光吸収データの波形に基づいて、差分とガス濃度との関係を示す検量線を変更してよい。

算出部は、光吸収データの波形の面積に基づいて水分子のガス濃度を算出してよい。処理部は、光吸収データの波形に基づいて、面積とガス濃度との関係を示す検量線を変更してよい。

算出部は、変換式として、第１変換式および第２変換式を実行可能であってよい。第１変換式は、光吸収データの波形の極大値と極小値との差分に基づいて水分子のガス濃度を算出してよい。第２変換式は、光吸収データの波形の面積に基づいて水分子のガス濃度を算出してよい。処理部は、光吸収データの波形に基づいて、算出部が実行する変換式として第１変換式と第２変換式とを切り替えてよい。

算出部は、変換式として、第１変換式および第２変換式を実行可能であってよい。第１変換式は、光吸収データの波形の極大値と極小値との差分に基づいて水分子のガス濃度を算出してよい。第２変換式は、光吸収データの波形の面積に基づいて水分子のガス濃度を算出してよい。処理部は、波長幅が第１閾値未満である場合には、算出部が実行する変換式を第１変換式に切り替えてよい。処理部は、波長幅が第１閾値以上であって第２閾値未満である場合には、算出部が実行する変換式を第２変換式に切り替えてよい。処理部は、波長幅が第２閾値以上である場合には、算出部が実行する変換式を第１変換式に切り替えてよい。

処理部は、探索部を有してよい。探索部は、光吸収データの波形の極小値を探索してよい。処理部は、分割部を有してよい。分割部は、第１領域と第２領域とに光吸収データの波形を分割してよい。第１領域は、極小値を示す極小値波長を基準として波長が極小値波長以下の領域であってよい。第２領域は、波長が極小値波長より長い領域であってよい。処理部は、波長取得部を有してよい。波長取得部は、第１波長および第２波長を取得してよい。第１波長は、第１領域において第１の極大値を示す波長であってよい。第２波長は、第２領域において第２の極大値を示す波長であってよい。処理部は、波長幅算出部を有してよい。波長幅算出部は、第１波長と第２波長との間の波長幅を算出してよい。算出部は、基準線算出部を有してよい。基準線算出部は、基準線を算出してよい。基準線は、光吸収データの波形の最大値と光吸収データの波形の極小値との間の値を示してよい。算出部は、面積算出部を有してよい。面積算出部は、基準線と光吸収データとによって囲まれる面積を光吸収データの波形の面積として算出してよい。

本発明の第２の態様においては、ガス分析方法を提供する。ガス分析方法は、測定対象空間中に存在する水分子のガス濃度を分析してよい。ガス分析方法は、レーザ光を測定対象空間に向けて出射する段階を備えてよい。レーザ光は、水分子の光吸収波長を含む波長帯域において波長が掃引かつ変調されてよい。ガス分析方法は、測定対象空間中を通過したレーザ光を受光する段階を備えてよい。ガス分析方法は、レーザ光の受光強度に応じた検出信号に基づいて、水分子による光吸収データの波形を取得する段階を備えてよい。ガス分析方法は、光吸収データの波形に基づいて、光吸収データから水分子のガス濃度への変換式を変更する段階を備えてよい。ガス分析方法は、変換式によって水分子のガス濃度を算出する段階を備えてよい。

なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。

本発明の第１実施形態におけるガス分析装置１００の概略構成を示す断面図である。 第１実施形態におけるガス分析装置１００の取得部５０の構成例を示す図である。 差分法によるガス濃度の測定原理を示す図である。 第１実施形態におけるガス分析装置１００の処理部６０および算出部７０の一例を示す図である。 水分濃度３５ｖｏｌ％以下の場合における水分濃度に応じた光吸収データの波形の変化を示す図である。 水分濃度４０ｖｏｌ％以上の場合における水分濃度に応じた光吸収データの波形の変化を示す図である。 差分値と水分濃度との関係を示す検量線の一例を示す図である。 第１実施形態におけるガス分析装置１００による処理内容の一例を示すフローチャートである。 第１実施形態におけるガス分析装置１００による処理内容の他の例を示すフローチャートである。 第１実施形態におけるガス分析装置１００による処理内容の他の例を示すフローチャートである。 第２実施形態におけるガス分析装置１００の処理部６０および算出部１７０の一例を示す図である。 面積法によるガス濃度の測定原理を示す図である。 面積と水分濃度との関係を示す検量線の一例を示す図である。 第２実施形態におけるガス分析装置１００による処理内容の一例を示すフローチャートである。 第３実施形態におけるガス分析装置１００の処理部６０および算出部２７０の一例を示す図である。 第３実施形態におけるガス分析装置１００による処理内容の一例を示すフローチャートである。

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。

図１は、本発明の第１実施形態におけるガス分析装置１００の概略構成を示す断面図である。ガス分析装置１００は、煙道１０内を流れるガス中に含まれる対象ガス濃度を測定する。本例では、ガス分析装置１００は、水分子のガス濃度を分析する。水分子のガス濃度を水分濃度と称する。本例の水分子は、気体、すなわち水蒸気の形態である。したがって、水分濃度は、水蒸気濃度を意味する。ガス分析装置１００は、水分濃度に加えて、他の測定対象ガス成分の濃度を測定してよい。

ガス分析装置１００は、レーザ光照射を用いたガス濃度測定装置であってよく、その測定方式は限定されない。例えば、照射したレーザ光２の光吸収を利用した、波長可変半導体レーザ光吸収分光法（ＴＤＬＡＳ法）が測定方式として採用される。

図１において、煙道１０は、ガスを流す流路を形成する。本例では、煙道１０の内部空間が測定対象空間１１である。煙道１０は、ボイラまたは燃焼炉から排出されるガスの流路であってよい。ボイラまたは燃焼炉は、石炭、重油、またはごみを燃焼してよい。但し、煙道１０は、ガス流路に限られない。本明細書における煙道１０は、測定対象ガスが流れる内部空間を含む機器であればよく、容器、煙突、排気ダクト、脱硝装置、化学プラント設備、鉄鋼プラント設備、および加熱炉等の各種機器であってよい。煙道１０の内壁は、高温に耐えるようにアルミナ等で形成されてよい。

本例において、ガス分析装置１００は、発光側フランジ部２０、受光側フランジ部２２、発光部３０、受光部４０、取得部５０、処理部６０、算出部７０、発光側角度調整部８０、および受光側角度調整部８２を備える。発光側角度調整部８０および受光側角度調整部８２は、省略されてもよい。

発光側フランジ部２０が、煙道１０の壁部１２に設けられた開口１４に通ずるように壁部１２に固定される。一方、受光側フランジ部２２は、煙道１０を挟んで発光側フランジ部２０に対向する位置において壁部１２に設けられた開口に通ずるように壁部１２に固定される。発光側フランジ部２０および受光側フランジ部２２は、例えば、煙道の壁部１２に溶接等によって固定されている。発光側フランジ部２０および受光側フランジ部２２は、ステンレス等の金属材料によって形成されてよい。

発光側フランジ部２０には、発光側角度調整部８０の一端が接続されてよい。発光側角度調整部８０は、管の形状をしており、煙道１０に対する当該管の角度を調整可能に構成されている。本例においては、発光側角度調整部８０の他端には、発光部３０が取り付けられる。一方、受光側フランジ部２２には、受光側角度調整部８２の一端が接続されてよい。受光側角度調整部８２は、発光側角度調整部８０と同様の構成を有してよい。受光側角度調整部８２の他端には、受光部４０が設けられる。

発光部３０は、煙道１０の壁部１２の開口１４を通じて、測定対象空間１１に向けてレーザ光２を出射する。発光部３０は、少なくとも一つのレーザ発光素子３２を備える。発光部３０は、レーザ発光素子３２を駆動する駆動部３４を備える。レーザ光２は、水分子の光吸収波長である１．３μｍを含む波長帯域において、波長が掃引（スキャン）かつ変調されてよい。具体的には、レーザ発光素子３２に供給される駆動電流が大きくなると、レーザ光２の発光波長が長くなる。したがって、駆動部３４が、レーザ発光素子３２へ供給する駆動電流を制御して、レーザ光２の波長を掃引（スキャン）かつ変調する。

具体的には、駆動部３４は、一定の信号レベルの範囲において徐々に増加または減少する掃引信号と、変調周波数ｆの正弦波変調信号とを重畳した駆動信号を生成してよい。一例において、変調周波数ｆは、１０ｋＨｚ程度であってよい。そして、駆動部３４は、駆動信号をＶ−Ｉ変換した駆動電流をレーザ発光素子３２に供給する。これにより、波長が掃引かつ変調されたレーザ光２が出射される。

発光部３０は、出射管３７を備えてよい。出射管３７の端部には、発光側窓部３８が設けられている。発光側窓部３８は、出射管３７の開口を塞ぐように設けられてよい。出射管３７の端部が発光側角度調整部８０に接続されてよい。受光部４０は、受光素子４２を備えてよい。受光素子４２は、測定対象空間１１中を通過したレーザ光２を受光する。受光素子４２は、水分子の光吸収波長である１．３μｍを含む波長帯域において受光感度を有する。受光素子４２は、受光強度に応じた検出信号を出力する。

取得部５０は、受光部４０によって出力された検出信号に基づいて、水分子による光吸収データの波形を取得する。取得部５０は、受光素子４２に接続された受光回路であってよい。取得部５０は、信号線１１０によって発光部３０と電気的に接続されてよい。本例では、受光素子４２および取得部５０は、同じ筐体内に設けられている。受光部４０が設けられている筐体は、入射管４４を備えてよい。入射管４４の端部には、受光側窓部４６が設けられている。受光側窓部４６は、入射管４４の開口を塞ぐように設けられてよい。

本例では、入射管４４の端部は、受光側角度調整部８２に連結される。本例と異なり、発光側角度調整部８０および受光側角度調整部８２が省略される場合には、出射管３７の端部は、発光側フランジ部２０に連結されてよく、入射管４４の端部は受光側フランジ部２２に連結されてよい。なお、ガス分析装置１００が、水分濃度のみならず、他のガス成分の濃度についても分析する場合には、他のガス成分の吸収波長を含むようにレーザ光２の波長が掃引かつ変調されてよい。また、ガス分析装置１００は、互いに発光波長が異なる複数の発光素子からの複数のレーザ光２を用いて、複数種類の測定対象ガスの濃度を測定してもよい。

処理部６０は、光吸収データの波形に基づいて、光吸収データから水分濃度への変換式を変更する。「変換式」とは、光吸収データから水分濃度に変換できる関係を示すものであればよい。変換式は、式として与えられてもよく、変換テーブルとして与えられてもよい。変換式は、予めガス分析装置１００内に格納されていてよい。

算出部７０は、処理部６０が変更した変換式によって、水分濃度を算出する。本例では、処理部６０は、水分濃度に応じて光吸収データの波形が変化するのに応じて、変換式を変更する。そして、算出部７０は、水分濃度に応じて変更された変換式を用いて、水分濃度を算出する。したがって、ガス分析装置１００は、広範な水分濃度の領域において、正確に水分濃度を測定することができる。

図２は、第１実施形態におけるガス分析装置１００の取得部５０の構成例を示す図である。取得部５０は、受光部４０から出力された検出信号に対し、レーザ光２における変調周波数ｆの２倍の周波数でロックイン検出することによって、光吸収データの波形を得てよい。取得部５０は、Ｉ／Ｖ変換部５１、ロックインアンプ部５２、参照信号発生部５４、フィルタ部５６、およびＡＤ変換部５８を有してよい。

Ｉ／Ｖ変換部５１は、受光素子４２からの電流信号として与えられる検出信号を電圧信号に変換する、電圧信号は、ロックインアンプ部５２に入力されてよい。参照信号発生部５４は、レーザ光２における変調周波数ｆの２倍の周波数の信号を参照信号としてロックインアンプ部５２へ出力する。ロックインアンプ部５２では、変調周波数ｆの２倍の周波数の周波数成分の振幅のみを取り出す。これにより、ロックインアンプ部５２によって得られた信号は、必要に応じてフィルタ部５６においてノイズが除去されてよい。得られた信号は、必要に応じてＡＤ変換部５８によってアナログ・デジタル変換されてよい。このようにして得られた信号は、測定対象空間１１中における水分子による光吸収を反映している。但し、取得部５０の回路構成は、図２に示される場合に限られない。

図３は、差分法によるガス濃度の測定原理を示す図である。差分法は、光吸収データの極大値と極小値との間の差分に基づいてガス濃度を測定する方法である。図３は、波長変調方式を用いて取得部５０によって得られた光吸収データの波形を示している。本例では、光吸収データの波形は、２倍の周波数（２ｆ）の信号の波形（２倍波信号）を示している。図３の縦軸は、２倍波信号の信号レベルを示す。図３の横軸は、レーザ光２の波長を意味する。本例においては、レーザ光２の波長が時間に応じて掃引されるので、図３の横軸は、時間（掃引時間）に対応する。

光吸収データの波形は、極小値波長λｂにおいて、信号レベルの極小値を示す。極小値は、ボトムＢと称される。光吸収データの波形は、極小値波長λｂを基準として、第１領域と第２領域とに分割される。第１領域は、波長が極小値波長λｂ以下の領域である。第２領域は、波長が極小値波長λｂより長い領域である。光吸収データの波形は、第１領域において、信号レベルの第１極大値を示し、第２領域において、信号レベルの第２極大値を示す。第１極大値は、第１ピークＰ１と称され、第２極大値は、第２ピークＰ２と称される。第１極大値は、第１領域における極大値を意味し、第２極大値は第２領域における極大値を意味する。

第１ピークＰ１を示す波長は、第１波長λｐ１と称される。第２ピークＰ２を示す波長は、第２波長λｐ２と称される。第１波長λｐ１および第２波長λｐ２は、それぞれ極大値波長である。図３に示されるとおり、第１波長λｐ１と第２波長λｐ２との間の波長幅がＷ１である。極大値波長（例えば、第１波長λｐ１）と極小値波長λｂとの間の波長幅がＷ２である。

第１ピークＰ１と第２ピークＰ２のうちで大きな値を示すピークが、最大値を意味する。図３に示される例では、第１ピークＰ１が、第２ピークＰ２より大きい。したがって、第１ピークＰ１が最大値である。本例において、算出部７０は、光吸収データの波形の極大値と極小値との差分Ｄに基づいて水分濃度を算出する。具体的には、算出部７０は、光吸収データの波形の第１ピークＰ１とボトムＢとの高低差である差分Ｄに基づいて水分濃度を算出してよい。

波長変調方式で得られた測定対象ガスの２倍波信号において、信号波形の極大値と極小値との差分Ｄは、ランベルト・ベール則によれば、測定対象ガスの濃度に比例する。すなわち、測定対象ガスの濃度が高くなるにしたがって、差分Ｄが増加する。塩化水素（ＨＣｌ）、アンモニア（ＮＨ_３）、一酸化炭素（ＣＯ）、二酸化炭素（ＣＯ_２）、および酸素（Ｏ_２）等の測定対象ガスは、ランベルト・ベール則を満たす。

しかしながら、測定対象ガスが水分子（Ｈ_２Ｏ）の場合には、特定の水分濃度以上では、水分濃度が高くなるにしたがって、差分Ｄが減少する。したがって、差分Ｄの測定結果から、一意的に水分濃度を検出することが困難である。一方、水分濃度に応じて、光吸収データの波形が変化する。具体的には、水分濃度に応じて、波長幅Ｗ１、波長幅Ｗ２、第１波長λｐ１、および第２波長λｐ２が変化し得る。したがって、処理部６０は、光吸収データの波形に基づいて、光吸収データから水分濃度への変換式を変更する。算出部７０は、水分濃度に応じて適切に変更された変換式を用いて、水分濃度を算出する。

図４は、第１実施形態におけるガス分析装置１００の処理部６０および算出部７０の一例を示す図である。処理部６０は、探索部６１、分割部６２、波長取得部６４、波長幅算出部６６、変換式変更部６８を備えてよい。算出部７０は、差分算出部７１および検量線参照部７２を備えてよい。処理部６０および算出部７０は、マイクロコンピュータ等の演算素子の各機能として実現されてよい。処理部６０は、光吸収データを取得する。光吸収データは、波長変調方式で得られた測定対象ガスの２倍波信号であってよい。

探索部６１は、光吸収データの波形の極小値、すなわちボトムＢを探索する。分割部６２は、光吸収データの波形を第１領域と第２領域とに分割する。図３に説明したとおり、第１領域は、波長が極小値波長λｂ以下の領域である。第２領域は、波長が極小値波長λｂより長い領域である。波長取得部６４は、第１波長λｐ１と第２波長λｐ２とを取得する。第１波長λｐ１は、第１領域において第１の極大値を示す波長であり、第２波長λｐ２は、第２領域において第２の極大値を示す波長である。波長幅算出部６６は、第１波長λｐ１と第２波長λｐ２との間の波長幅Ｗ１を算出する。変換式変更部６８は、波長幅Ｗ１に応じて、変換式を変更する。

差分算出部７１は、光吸収データの波形の極大値と極小値の差分、すなわちピーク（Ｐ１またはＰ２）とボトムＢとの差分Ｄを算出する。検量線参照部７２は、差分Ｄと水分濃度との関係を示す検量線を参照して、差分Ｄに対応する水分濃度を算出する。本例においては、変換式変更部６８は、波長幅Ｗ１に応じて、検量線を変更する。したがって、検量線参照部７２は、波長幅Ｗ１に応じて変更された検量線を参照して、差分Ｄに対応する水分濃度を算出する。

図５は、水分濃度３５ｖｏｌ％以下の場合における水分濃度に応じた光吸収データの波形の変化を示す図である。図５は、水分濃度を０ｖｏｌ％から、５ｖｏｌ％間隔で３５ｖｏｌ％まで増加させた場合における光吸収データの波形を示す。水分濃度が１５ｖｏｌ％までは、水分濃度が高くなるにつれて線形に差分Ｄが増加する。水分濃度が１５ｖｏｌ％を超えると、水分濃度が高くなった場合の差分Ｄの増加率が減少する。

水分濃度が３０ｖｏｌ％のときの波形と、水分濃度が３５ｖｏｌ％のときの波形とを比較してわかるように、水分濃度が３０ｖｏｌ％を超えると、水分濃度が高くなるにつれて、差分Ｄが減少する。また、水分濃度が３０ｖｏｌ％を超えると、水分濃度が高くなるにつれて、波長幅Ｗ１が広がる。図６は、水分濃度４０ｖｏｌ％以上の場合における水分濃度に応じた光吸収データの波形の変化を示す図である。水分濃度が４０ｖｏｌ％から増加するにつれて、差分Ｄが減少する。そして、水分濃度が高くなるにつれて、波長幅Ｗ１が広がる。

図７は、差分値と水分濃度との関係を示す検量線の一例を示す図である。図７は、図５および図６における水分濃度と差分Ｄとの関係を示す。図７において、縦軸は、極大値と極小値との差分Ｄ（任意単位）を示す。横軸は、水分濃度（ｖｏｌ％）を示す。図７において黒三角は、水蒸気を含むガス温度が２３０℃である場合を示している。黒四角は、水蒸気を含むガス温度が１４０℃である場合を示している。

一例として、水蒸気を含むガス温度が２３０℃である場合（黒三角）を参照すると、水分濃度が３０ｖｏｌ％までは、水分濃度が高くなるにつれて、差分Ｄが増加する。一方、水分濃度が３０ｖｏｌ％を超えると、水分濃度が高くなるにつれて、差分Ｄが減少する。したがって、例えば、図７において、差分Ｄが６０（任意単位）を示す水分濃度としては、１５ｖｏｌ％である場合と、５２ｖｏｌ％である場合とが考えられる。それゆえ、差分Ｄからだけでは、水分濃度、すなわち、水分子の濃度を一意的に決定できない。

しかしながら、本例の処理部６０によれば、光吸収データの波形に基づいて、差分Ｄと水分濃度との関係を示す検量線を変更する。具体的には、波長幅Ｗ１が閾値以下である場合には、変換式変更部６８は、検量線を低水分量に対応する第１検量線４に変更する。波長幅Ｗ１が閾値より大きい場合には、変換式変更部６８は、検量線を高水分量に対応する第２検量線５に変更する。したがって、算出部７０は、波長幅Ｗ１が閾値以下の場合には、差分Ｄを第１検量線４と照合して水分濃度を算出する。一方、算出部７０は、波長幅Ｗ１が閾値より大きい場合には、差分Ｄを第２検量線５と照合して水分濃度を算出する。すなわち、算出部７０は、変更された検量線を用いて、差分Ｄに基づいて水分濃度を算出することができる。

図８は、第１実施形態におけるガス分析装置１００による処理内容の一例を示すフローチャートである。図８は、測定対象空間１１中に存在する水分濃度を分析するガス分析方法の一例を説明する。発光部３０は、レーザ光２を測定対象空間１１に向けて出射する（ステップＳ１０１）。レーザ光２は、水分子の光吸収波長を含む波長帯域において波長が掃引かつ変調される。

受光部４０は、測定対象空間１１中を通過したレーザ光２を受光する（ステップＳ１０２）。取得部５０は、レーザ光２の受光強度に応じた検出信号に基づいて、水分子による光吸収データの波形を取得する（ステップＳ１０３）。処理部６０は、第１ピークＰ１と第２ピークＰ２との間の波長幅Ｗ１を算出する（ステップＳ１０４）。そして、処理部６０は、波長幅Ｗ１が閾値以下か否かを判断する（ステップＳ１０５）。

波長幅Ｗ１が閾値以下である場合には（ステップＳ１０５：ＹＥＳ）、処理部６０は、検量線を低水分量に対応する第１検量線４に変更する（ステップＳ１０６）。一方、波長幅Ｗ１が閾値より大きい場合には（ステップＳ１０５：ＮＯ）、処理部６０は、検量線を高水分量に対応する第２検量線５に変更する（ステップＳ１０７）。以上のように、処理部６０は、波長幅Ｗ１に応じて、検量線を切り替えることによって、変換式を変更する。

波長幅Ｗ１が閾値以下の場合には（ステップＳ１０５：ＹＥＳ）、算出部７０は、ピーク（Ｐ１またはＰ２）とボトムＢとの差分Ｄを第１検量線４と照合して水分濃度を算出する（ステップＳ１０６、ステップＳ１０８）。一方、波長幅Ｗ１が閾値より大きい場合には（ステップＳ１０５：ＮＯ）、算出部７０は、差分Ｄを第２検量線５と照合して水分濃度を算出することができる（ステップＳ１０７、ステップＳ１０８）。すなわち、算出部７０は、変更された検量線を用いて、差分Ｄに基づいて水分濃度を算出することができる。

以上の図８において、ステップＳ１０１は、水分子の光吸収波長を含む波長帯域において波長が掃引かつ変調されたレーザ光２を測定対象空間１１に向けて出射する段階に対応する。ステップＳ１０２は、測定対象空間１１中を通過したレーザ光２を受光する段階に対応する。ステップＳ１０３は、レーザ光２の受光強度に応じた検出信号に基づいて、水分子による光吸収データの波形を取得する段階に対応する。ステップＳ１０４からステップＳ１０７は、光吸収データの波形に基づいて、光吸収データから水分子のガス濃度への変換式を変更する段階に対応する。ステップＳ１０８は、変換式によって水分子のガス濃度を算出する段階に対応する。

以上のように、本実施形態のガス分析装置１００によれば、広範な濃度範囲で水分濃度を測定することができる。更に、図５および図６に示されるとおり、波長幅Ｗ１は、水分濃度が高くなるにつれて、差分Ｄが増加傾向から減少傾向に転じる水分濃度（本例では、３０ｖｏｌ％）において広がる。したがって、処理部６０が波長幅Ｗ１に応じて検量線を適切に切り替えることが可能である。このように検量線を切り替えることによって、広範な濃度範囲において水分濃度を一意的に決定することができる。

図９は、第１実施形態におけるガス分析装置１００による処理内容の他の例を示すフローチャートである。図９に示される処理内容は、ステップＳ２０４およびステップＳ２０５の処理を除いて、図８に示される処理内容と同様である。したがって、繰り返しの説明は省略される。

図８に示される処理においては、光吸収データの波形において第１の極大値を示す第１波長λｐ１と、第２の極大値を示す第２波長λｐ２とを取得し、第１波長λｐ１と第２波長λｐ２との間の波長幅Ｗ１に応じて、変換式を変更する場合を説明した。しかしながら、第１実施形態のガス分析装置１００は、この場合に限られない。図９に示される処理においては、処理部６０は、極大値波長（例えば、第１波長λｐ１）と極小値波長λｂとを取得し、極大値波長（例えば、第１波長λｐ１）と極小値波長λｂとの間の波長幅Ｗ２に応じて、変換式を変換する。図９に示されるとおり、処理部６０の波長幅算出部６６は、波長幅Ｗ１を算出する代わりに、波長幅Ｗ２を算出してよい（ステップＳ２０４）。

図５および図６において示されるとおり、水分濃度が特定の濃度より高くなると、波長幅Ｗ１のみならず、波長幅Ｗ２も広がる。したがって、処理部６０は、波長幅Ｗ２に応じて、変換式、例えば検量線を変更する。

具体的には、処理部６０は、極大値波長（例えば、第１波長λｐ１）と極小値波長λｂとの間の波長幅Ｗ２を算出する（ステップＳ２０４）。波長幅Ｗ２が閾値以下である場合には（ステップＳ２０５：ＹＥＳ）、処理部６０は、検量線を低水分量に対応する第１検量線４に変更する（ステップＳ２０６）。一方、波長幅Ｗ２が閾値より大きい場合には（ステップＳ２０５：ＮＯ）、処理部６０は、検量線を高水分量に対応する第２検量線５に変更する（ステップＳ２０７）。図９に示される処理によっても、広範な濃度範囲で水分濃度を測定することができる。

図１０は、第１実施形態におけるガス分析装置１００による処理内容の他の例を示すフローチャートである。図１０に示される処理内容は、ステップＳ３０４およびステップＳ３０５の処理を除いて、図８および図９に示される処理内容と同様である。したがって、繰り返しの説明は省略される。

図１０に示される処理においては、処理部６０は、光吸収データの波形において極大値を示す波長に応じて、変換式を変更する。極大値を示す波長は、第１ピークＰ１を示す第１波長λｐ１であってもよく、第２ピークＰ２を示す第２波長λｐ２であってもよい。図５および図６に示されるとおり、水分濃度が特定の濃度より高くなると、第１波長λｐ１は、短波長側にシフトし、第２波長λｐ２は、長波長側にシフトする。したがって、処理部６０は、第１波長λｐ１または第２波長λｐ２に応じて、処理部６０は、波長幅Ｗ２に応じて、変換式、例えば検量線を変更する。

図１０は、ガス分析装置１００が第１波長λｐ１に応じて検量線を変更する場合について例示する。処理部６０は、第１ピークＰ１を示す第１波長λｐ１を取得する（ステップＳ３０４）。第１波長λｐ１が閾値以上の場合には（ステップＳ３０５：ＹＥＳ）、処理部６０は、検量線を低水分量に対応する第１検量線４に変更する（ステップＳ３０６）。一方、第１波長λｐ１が閾値未満の場合には（ステップＳ３０５：ＮＯ）、処理部６０は、検量線を高水分量に対応する第２検量線５に変更する（ステップＳ３０７）。図１０に示される処理によっても、広範な濃度範囲で水分濃度を測定することができる。

図１１は、第２実施形態におけるガス分析装置１００の処理部６０および算出部１７０の一例を示す図である。第２実施形態におけるガス分析装置１００の概略構成は、算出部１７０の構成を除いて、図１に示された第１実施形態のガス分析装置１００と同様である。したがって、繰り返しの説明は省略される。算出部１７０は、光吸収データの波形の面積に基づいて水分濃度を算出する。処理部６０は、光吸収データの波形に基づいて、面積と水分濃度との関係を示す検量線を変更する。算出部１７０は、基準線算出部１７１、面積算出部１７２、および検量線参照部１７３を備えてよい。図１２は、面積法によるガス濃度の測定原理を示す図である。面積法は、光吸収データの波形の面積に基づいてガス濃度を測定する方法である。

基準線算出部１７１は、光吸収データの波形の最大値（第１ピークＰ１）と極小値（ボトムＢ）との高低差である差分Ｄを算出する。基準線算出部１７１は、光吸収データの波形の最大値と光吸収データの波形の極小値との間の値を示す基準線６を算出する。具体的には、基準線算出部１７１は、差分Ｄの半値（Ｄ／２）を算出する。基準線算出部１７１は、光吸収データの波形の最大値（第１ピークＰ１）よりＤ／２低く、極小値（ボトムＢ）よりＤ／２だけ高い線分を基準線６として算出する。基準線６は、グラフの縦軸方向に光吸収データの波形を二分する。但し、基準線６は、Ｄ／２の場合に限れない。

面積算出部１７２は、基準線６と光吸収データとによって囲まれる面積を光吸収データの波形の面積として算出する。なお、面積は、所定の波長範囲であるλ１以上λ２以下の範囲において算出されてよい。図１２においては、面積算出部１７２によって算出される面積部分がハッチングされている。検量線参照部１７３は、面積と水分濃度との関係を示す検量線を参照して、面積に対応する水分濃度を算出する。本例においては、変換式変更部６８は、波長幅Ｗ１に応じて、検量線を変更する。したがって、検量線参照部１７３は、波長幅Ｗ１に応じて変更された検量線を参照して、面積に対応する水分濃度を算出する。

図１３は、面積と水分濃度との関係を示す検量線の一例を示す図である。図１３は、光吸収データの波形の面積と水分濃度との関係を示す。図１３において、縦軸は、光吸収データの波形の面積の値（任意単位）を示す。横軸は、水分濃度（ｖｏｌ％）を示す。図１３において黒三角は、水蒸気を含むガス温度が２４０℃である場合を示している。×印は、水蒸気を含むガス温度が１７３℃である場合を示している。

一例として、水蒸気を含むガス温度が２４０℃である場合（黒三角）を参照すると、水分濃度が４５ｖｏｌ％までは、水分濃度が高くなるにつれて、面積が増加する。一方、水分濃度が４５ｖｏｌ％を超えると、水分濃度が高くなるにつれて、面積が減少する。このように面積法によれば、差分法による場合に比べて、水分濃度が高い濃度範囲まで一意的に濃度を測定することができる。

本例の処理部６０によれば、光吸収データの波形に基づいて、面積と水分濃度との関係を示す検量線を変更する。具体的には、波長幅Ｗ１が閾値以下である場合には、変換式変更部６８は、検量線を低水分量に対応する第１検量線７に変更する。波長幅Ｗ１が閾値より大きい場合には、変換式変更部６８は、検量線を高水分量に対応する第２検量線８に変更する。したがって、波長幅Ｗ１が閾値以下の場合には、算出部１７０は、面積を第１検量線７と照合して水分濃度を算出する。一方、波長幅Ｗ１が閾値より大きい場合には、算出部１７０は、面積を第２検量線８と照合して水分濃度を算出する。すなわち、算出部１７０は、変更された検量線を用いて、面積に基づいて水分濃度を算出することができる。

図１４は、第２実施形態におけるガス分析装置１００による処理内容の一例を示すフローチャートである。ステップＳ４０１からステップＳ４０５の処理は、図８において説明した第１実施形態におけるステップＳ１０１からステップＳ１０５の処理と同様である。波長幅Ｗ１が閾値以下である場合には（ステップＳ４０５：ＹＥＳ）、処理部６０は、面積と水分濃度との関係を示す検量線を低水分量に対応する第１検量線７に変更する（ステップＳ４０６）。一方、波長幅Ｗ１が閾値より大きい場合には（ステップＳ４０５：ＮＯ）、処理部６０は、検量線を高水分量に対応する第２検量線８に変更する（ステップＳ４０７）。

波長幅Ｗ１が閾値以下の場合には（ステップＳ４０５：ＹＥＳ）、算出部１７０は、基準線６と光吸収データとによって囲まれる面積を第１検量線７と照合して水分濃度を算出する（ステップＳ４０６、ステップＳ４０８）。一方、波長幅Ｗ１が閾値より大きい場合には（ステップＳ４０５：ＮＯ）、算出部１７０は、面積を第２検量線８と照合して水分濃度を算出する（ステップＳ４０７、ステップＳ４０８）。すなわち、算出部１７０は、変更された検量線を用いて、面積に基づいて水分濃度を算出することができる。

図１４に示される処理においては、ステップＳ４０４およびステップＳ４０５に示されるとおり、第１波長λｐ１と第２波長λｐ２との間の波長幅Ｗ１に基づいて、検量線を変更する場合を説明した。しかしながら、第２実施形態は、この場合に限られない。処理部６０は、図９に示される処理と同様に、極大値波長（第１波長λｐ１）と極小値波長λｂとの間の波長幅Ｗ２に基づいて、検量線を変更してもよい。また、処理部６０は、図１０に示される処理と同様に、光吸収データの波形において極大値を示す波長（λｐ１、λｐ２）に応じて、検量線を変更してもよい。以上のように、第２実施形態におけるガス分析装置１００によっても、広範な濃度範囲で水分濃度を測定することができる。

図１５は、第３実施形態におけるガス分析装置１００の処理部６０および算出部２７０の一例を示す図である。第３実施形態におけるガス分析装置１００の概略構成は、算出部２７０の構成を除いて、図１に示された第１実施形態のガス分析装置１００と同様である。したがって、繰り返しの説明は省略される。

算出部２７０は、水分濃度を算出するための変換式として、第１変換式と第２変換式とを実行可能である。第１変換式は、光吸収データの波形の極大値と極小値との差分Ｄに基づいて水分濃度を算出する。第２変換式は、光吸収データの波形の面積に基づいて水分濃度を算出する。算出部２７０は、第１変換式を実行する第１算出部２８０と、第２変換式を実行する第２算出部２９０を備える。第１算出部２８０は、差分算出部７１および検量線参照部７２を備えてよい。第１算出部２８０は、図４において示された算出部７０と同様の構成を備えてよい。第２算出部２９０は、基準線算出部１７１、面積算出部１７２、および検量線参照部１７３を備えてよい。第２算出部２９０は、図１１において示された算出部１７０と同様の構成を備えてよい。

処理部６０の変換式変更部６８は、光吸収データの波形に基づいて、算出部２７０が実行する変換式を第１変換式または第２変換式に切り替える。例えば、波長幅算出部６６は、第１波長λｐ１と第２波長λｐ２との間の波長幅Ｗ１を算出する。変換式変更部６８は、波長幅Ｗ１に応じて、第１変換式と第２変換式とを切り替える。すなわち、処理部６０は、光吸収データの波形に基づいて、差分法および面積法という水分濃度の算出方式を変更してよい。さらに、変換式変更部６８は、光吸収データの波形に基づいて、第１変換式における検量線および第２変換式における検量線についても変更してよい。

但し、処理部６０は、第１変換式における検量線および第２変換式における検量線について変更することなく、光吸収データの波形に基づいて、差分法および面積法という水分濃度の算出方式を変更してよい。一例において、処理部６０は、水分濃度が３０ｖｏｌ％までは、図７に示される差分法を用いた第１変換式を採用し、水分濃度が３０ｖｏｌ％超える範囲では、図１３に示される面積法を用いた第２変換式を採用してもよい。

さらに、図７に示される第１変換式における第１検量線４および第２検量線５と、図１３に示される第２変換式における第１検量線７および第２検量線８とを、光吸収データの波形に基づいて、切り替えてよい。例えば、図７に示されるとおり、水分濃度２０％未満の場合には、差分法による第１変換式において第１検量線４を適用することにより、水分濃度ｖｏｌ％の変化に対する差分Ｄの変化が大きくなり、水分濃度の測定感度が高くなる。同様に、水分濃度４０ｖｏｌ％以上の場合に、差分法による第１変換式において第２検量線５を適用することにより、水分濃度ｖｏｌ％の変化に対する差分Ｄの変化が大きくなり、水分濃度の測定感度が高くなる。

一方、水分濃度が２０ｖｏｌ％以上４０ｖｏｌ％以下の範囲においては、差分法による第１変換式においては、水分濃度ｖｏｌ％の変化に対して差分Ｄの変化が小さい。一方、図１３に示されるとおり、水分濃度が２０ｖｏｌ％以上４０ｖｏｌ％以下の範囲においては、面積法による第２変換式の第１検量線７を適用することによって、水分濃度ｖｏｌ％の変化に対する面積の変化が大きくなる。したがって、測定感度が高くなる。水分濃度の程度は、光吸収データの波形、例えば 波長幅Ｗ１によって評価することができる。

本例において、水分濃度が２０ｖｏｌの場合の波長幅Ｗ１が第１閾値であってよく、水分濃度が４０ｖｏｌの場合の波長幅Ｗ１が第２閾値であってよい。この場合、処理部６０は、波長幅Ｗ１を第１閾値および第２閾値と比較することで、変換式を切り替えてよい。図１６は、第３実施形態におけるガス分析装置１００による処理内容の一例を示すフローチャートである。取得部５０は、光吸収データの波形を取得する（ステップＳ５０１）。処理部６０は、第１ピークＰ１と第２ピークＰ２との間の波長幅Ｗ１を算出する（ステップＳ５０２）。処理部６０は、波長幅Ｗ１が第１閾値未満か否かを判断する（ステップＳ５０３）。

波長幅Ｗ１が、第１閾値未満である場合には（ステップＳ５０３：ＹＥＳ）、処理部６０は、ピーク（Ｐ１またはＰ２）とボトムＢとの差分Ｄを用いる第１変換式において、検量線を低水分量に対応する第１検量線４に変更する（ステップＳ５０４）。算出部２７０において、第１算出部２８０は、ピーク（Ｐ１またはＰ２）とボトムＢとの差分Ｄを第１検量線４と照合して水分濃度を算出する（ステップＳ５０５）。したがって、処理部６０は、波長幅Ｗ１が第１閾値未満である場合には、算出部２７０が実行する変換式を第１変換式に切り替えるとともに、検量線を第１検量線４に変更する。

波長幅Ｗ１が、第１閾値以上であって（ステップＳ５０３：ＮＯ）かつ第２閾値未満である場合には（ステップＳ５０６：ＮＯ）、処理部６０は、算出部２７０が実行する変換式を第２変換式に切り替える（ステップＳ５０７）。第２変換式は、光吸収データの波形の面積を用いる変換式である。なお、検量線は、低水分量に対応する第１検量線７（図１３参照）であってよい。算出部２７０において、第２算出部２９０は、基準線６と光吸収データとによって囲まれる面積を、第１検量線７と照合して水分濃度を検出する（ステップＳ５０８）。

波長幅Ｗ１が、第２閾値以上である場には（ステップＳ５０６：ＹＥＳ）、処理部６０は、ピーク（Ｐ１またはＰ２）とボトムＢとの差分Ｄを用いる第１変換式において、検量線を高水分量に対応する第２検量線５に変更する（ステップＳ５０９）。算出部２７０において、第１算出部２８０は、ピーク（Ｐ１またはＰ２）とボトムＢとの差分Ｄを第２検量線５と照合して水分濃度を算出する（ステップＳ５０５）。したがって、処理部６０は、波長幅Ｗ１が第２閾値以上である場合には、算出部２７０が実行する変換式を第１変換式に切り替えるとともに、検量線を第２検量線５に変更する。

第３実施形態のガス分析装置１００によれば、水分濃度に応じて変更された変換式を用いて、水分濃度を算出する。したがって、ガス分析装置１００は、広範な水分濃度の領域において、正確に水分濃度を測定することができる。また、水分濃度（ｖｏｌ％）に応じて、差分法と面積法とのうちで、ガス濃度の測定感度が高い方法に切り替えることができるので、検出感度を高めることもできる。

以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。各実施の形態として説明した構成は、互いに組み合わされてもよい。上記実施の形態に、多様な変更又は改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。

特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順序で実施することが必須であることを意味するものではない。

２・・レーザ光、４・・第１検量線、５・・第２検量線、６・・基準線、７・・第１検量線、８・・第２検量線、１０・・煙道、１１・・測定対象空間、１２・・壁部、１４・・開口、２０・・発光側フランジ部、２２・・受光側フランジ部、３０・・発光部、３２・・レーザ発光素子、３４・・駆動部、３７・・出射管、３８・・発光側窓部、４０・・受光部、４２・・受光素子、４４・・入射管、４６・・受光側窓部、５０・・取得部、５１・・Ｉ／Ｖ変換部、５２・・ロックインアンプ部、５４・・参照信号発生部、５６・・フィルタ部、５８・・ＡＤ変換部、６０・・処理部、６１・・探索部、６２・・分割部、６４・・波長取得部、６６・・波長幅算出部、６８・・変換式変更部、７０・・算出部、７１・・差分算出部、７２・・検量線参照部、８０・・発光側角度調整部、８２・・受光側角度調整部、１００・・ガス分析装置、１１０・・信号線、１７０・・算出部、１７１・・基準線算出部、１７２・・面積算出部、１７３・・検量線参照部、２７０・・算出部、２８０・・第１算出部、２９０・・第２算出部

Claims (11)

1. 測定対象空間中に存在する水分子のガス濃度を分析するガス分析装置であって、
   前記水分子の光吸収波長を含む波長帯域において波長が掃引かつ変調されたレーザ光を前記測定対象空間に向けて出射する発光部と、
   前記測定対象空間中を通過した前記レーザ光を受光して、受光強度に応じた検出信号を出力する受光部と、
   前記受光部によって出力された検出信号に基づいて、前記水分子による光吸収データの波形を取得する取得部と、
   前記光吸収データの波形に基づいて、前記光吸収データから前記水分子のガス濃度への変換式を変更する処理部と、
   前記変換式によって前記水分子のガス濃度を算出する算出部と、を備える
   ガス分析装置。
2. 前記取得部は、前記受光部から出力された検出信号に対し、前記レーザ光における変調周波数の２倍の周波数でロックイン検出することによって、前記光吸収データの波形を得る
   請求項１に記載のガス分析装置。
3. 前記処理部は、前記光吸収データの波形において極大値を示す波長に応じて、前記変換式を変更する
   請求項１または２に記載のガス分析装置。
4. 前記処理部は、前記光吸収データの波形において第１の極大値を示す第１波長と、第２の極大値を示す第２波長とを取得し、前記第１波長と前記第２波長との間の波長幅に応じて、前記変換式を変更する
   請求項１または２に記載のガス分析装置。
5. 前記処理部は、前記光吸収データの波形において極大値を示す極大値波長と、極小値を示す極小値波長とを取得し、前記極大値波長と前記極小値波長との間の波長幅に応じて、前記変換式を変換する
   請求項１または２に記載のガス分析装置。
6. 前記算出部は、前記光吸収データの波形の極大値と極小値との差分に基づいて水分子のガス濃度を算出し、
   前記処理部は、前記光吸収データの波形に基づいて、前記差分と前記ガス濃度との関係を示す検量線を変更する
   請求項１から５の何れか１項に記載のガス分析装置。
7. 前記算出部は、前記光吸収データの波形の面積に基づいて水分子のガス濃度を算出し、
   前記処理部は、前記光吸収データの波形に基づいて、前記面積と前記ガス濃度との関係を示す検量線を変更する
   請求項１から５の何れか１項に記載のガス分析装置。
8. 前記算出部は、前記変換式として、前記光吸収データの波形の極大値と極小値との差分に基づいて水分子のガス濃度を算出する第１変換式と、前記光吸収データの波形の面積に基づいて水分子のガス濃度を算出する第２変換式とを実行可能であり、
   前記処理部は、前記光吸収データの波形に基づいて、前記算出部が実行する変換式として前記第１変換式と前記第２変換式とを切り替える
   請求項１から５の何れか１項に記載のガス分析装置。
9. 前記算出部は、前記変換式として、前記光吸収データの波形の極大値と極小値との差分に基づいて水分子のガス濃度を算出する第１変換式と、前記光吸収データの波形の面積に基づいて水分子のガス濃度を算出する第２変換式とを実行可能であり、
   前記処理部は、前記波長幅が第１閾値未満である場合には、前記算出部が実行する変換式を前記第１変換式に切り替え、前記波長幅が第１閾値以上であって第２閾値未満である場合には、前記算出部が実行する変換式を前記第２変換式に切り替え、前記波長幅が第２閾値以上である場合には、前記算出部が実行する変換式を前記第１変換式に切り替える
   請求項４に記載のガス分析装置。
10. 前記処理部は、
    前記光吸収データの波形の極小値を探索する探索部と、
    前記極小値を示す極小値波長を基準として波長が前記極小値波長以下の第１領域と、波長が前記極小値波長より長い第２領域とに前記光吸収データの波形を分割する分割部と、
    前記第１領域において第１の極大値を示す第１波長を取得するとともに前記第２領域において第２の極大値を示す第２波長を取得する波長取得部と、
    前記第１波長と前記第２波長との間の波長幅を算出する波長幅算出部と、を有し、
    前記算出部は、
    前記光吸収データの波形の最大値と前記光吸収データの波形の極小値との間の値を示す基準線を算出する基準線算出部と、
    前記基準線と前記光吸収データとによって囲まれる面積を前記光吸収データの波形の面積として算出する面積算出部と、を有する
    請求項７から９の何れか１項に記載のガス分析装置。
11. 測定対象空間中に存在する水分子のガス濃度を分析するガス分析方法であって、
    前記水分子の光吸収波長を含む波長帯域において波長が掃引かつ変調されたレーザ光を前記測定対象空間に向けて出射する段階と、
    前記測定対象空間中を通過した前記レーザ光を受光する段階と、
    前記レーザ光の受光強度に応じた検出信号に基づいて、前記水分子による光吸収データの波形を取得する段階と、
    前記光吸収データの波形に基づいて、前記光吸収データから前記水分子のガス濃度への変換式を変更する段階と、
    前記変換式によって前記水分子のガス濃度を算出する段階と、を備える
    ガス分析方法。

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