JPS62282482A - 半導体レ−ザ装置 - Google Patents

半導体レ−ザ装置

Info

Publication number
JPS62282482A
JPS62282482A JP61126175A JP12617586A JPS62282482A JP S62282482 A JPS62282482 A JP S62282482A JP 61126175 A JP61126175 A JP 61126175A JP 12617586 A JP12617586 A JP 12617586A JP S62282482 A JPS62282482 A JP S62282482A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
gaas
quantum well
multiple quantum
xas
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61126175A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuhiko Goto
勝彦 後藤
Hirobumi Namisaki
浪崎 博文
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP61126175A priority Critical patent/JPS62282482A/ja
Priority to US07/055,506 priority patent/US4809289A/en
Publication of JPS62282482A publication Critical patent/JPS62282482A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/32Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y20/00Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/04Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
    • H01S5/042Electrical excitation ; Circuits therefor
    • H01S5/0421Electrical excitation ; Circuits therefor characterised by the semiconducting contacting layers
    • H01S5/0422Electrical excitation ; Circuits therefor characterised by the semiconducting contacting layers with n- and p-contacts on the same side of the active layer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/34Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
    • H01S5/343Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
    • H01S5/34313Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser with a well layer having only As as V-compound, e.g. AlGaAs, InGaAs
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/34Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
    • H01S5/343Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
    • H01S5/34313Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser with a well layer having only As as V-compound, e.g. AlGaAs, InGaAs
    • H01S5/3432Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser with a well layer having only As as V-compound, e.g. AlGaAs, InGaAs the whole junction comprising only (AI)GaAs

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野〕 1日9発明は、半導体レーで装置に関し、特に。
低しきい値電流により発振し、かつ基本横モ、−ド発振
が可能で、比較的容易に製造し得る半導体し1ピ111
1 −ザ装置の改良構造に係るものである。
〔従来の技術〕
従来例でのこの種の半導体レーザ装置とし゛て、不純物
拡散によるプレーナストライプ形レーザ装置の構成を第
2図に示す。
すなわち、この第2図に示す従来例構成でのプレーナス
トライプ形の半導体レーザ装置の場合には、n−GaA
s基板11上にあって、 n−ALiGaks層12゜
GaAs層1413.p−AM GaAs層14.およ
びnJaAg層15を層上5ぞれ順次に成長させた上で
、上部のn−GaAs層15側から、幅10JL11程
度のストライプ状に、Znをp−A文GaAs層14に
達するまで選択的に拡散し、図中斜線ハツチングで表わ
したZnn拡散領領域1B形成させて、同部分のn−G
aAs層15をp形に反転させると共に、n−GaAs
層15側にはp−側電極1? 、 n−GaAs基板1
1側にはn−側電極18をそれぞれに形成させたもので
ある。
突うて、この従来例構成では、順方向Vバイアス電圧を
加えた場合、  p−A I GaAs層14とn−G
aAs層15とのZnn拡散領領域18以外部分が逆バ
イアスされるために、電流はこのZnn拡散領領域18
集中して流れ、その結果、 GaAs暦13でのZnn
拡散領領域18直下の部分で、注入キャリア密度が大き
くなってレーザ発振を生じ、かつこのZn拡散p領域I
Bの直下の部分で利得が高くなり、誘導放出により光波
の増幅を生じて、同部分が導波領域となるのである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
このように前記従来例構成によるプレーナストライプ形
の半導体レーザ装置では、p−n逆バイアス接合によっ
て、いわゆる、電流狭搾をなすようにしているのである
が、この場合、電流は、 Znn拡散領領域1Bらp−
a文GaAS[14を通って広がるために、しきい値電
流をあまり低くすることができず、また一方では、利得
導波型であって屈折率導波路が形成されていないために
、水平横モードが不安定になり易いなどの問題点を有す
るものであった。
この発明は従来のこのような問題点を解消するためにな
されたものであり、その目的とするところは、低しきい
値電流により発振し、かつ基本横モード発振が可能で、
しかもメサストライプ、埋め込みストライプなどのよう
に複雑な製造工程を必要とせずに、比較的容易に製造し
得る半導体レーザ装置を提供することである。
〔問題点を解決するための手段〕
前記目的を達成するために、この発明に係る半導体レー
ザ装置は、半絶縁性基板を用い、多重量子井戸構造での
活性層を含むダブルへテロ構造の半導体ウェハに、幅の
狭いストライプ状領域を残し、p−不純物とn形不純物
とを選択的に拡散させて、p−領域とn−領域、および
これらの両者に挟まれた幅の狭いストライプ状領域を形
成し、この不純物拡散によって、多重量子井戸構造の活
性層のストライプ状領域以外の部分を無秩序化したもの
である。
〔作   用〕
すなわち、この発明の半導体レーザ装置では。
半絶縁性基板上に多層に成長させた薄膜層に、横方向に
電流を流す構造であるために、漏れ電流が極めて少なく
、低しきい値電流による発振が可能となり、またストラ
イプ状領域以外の多重量子井戸構造の、不純物拡散によ
って無秩序化された部分は、活性領域となるストライプ
状領域内の多重量子井戸構造よりも屈折率が小さくなっ
て、屈折率導波路:が形成され、水平横モードが安定に
なるのである・。
〔実 施 例〕
以下この発明に係る半導体レーザ装置の一実施例につき
、第1図を参照して詳細に説明する。
第1図はこの実施例を適用した半導体レーザ装置の概要
構成を示す斜視図である。
この第1図実施例構造において、 Cr dope し
た半絶縁性のGaAs基板l上には、A l x Ga
 1−、 A s 92 。
kl !Ga1−、As/GaAs多重量子井戸暦3 
、A l x Ga i □ !A、s暦喀、8よびG
aAg層5を、それぞれ順次に成長させた上で、中間部
に輻2ル履程度のストライプ20を残して、それぞれに
斜線ハツチングで示すように、=方の側にはZnを選択
的に拡散してp領域7を形成し、他方の側にはSiを選
択的に拡散してp領域8.を形成し、かつこれらの各拡
散をその拡散フロントがGaAs基板1に達するまで行
なうのであり、この結果、A立GaAs/GaAs多重
量子弁戸暦3のうち、斜線ハツチング部分については、
 ZnあるいはSiの拡散により、多重量子井戸層3の
無秩序化が生じて、平均的組成のAffiGaAx暦B
となるもので、さらにZn拡散の゛pli城7上にp−
電極9を、またSi拡散のn領域8上にn−電極1Gを
それぞれに形成させたものである。
しかして、この実施例構造による半導体レーザ装置の場
合、GaAsはA1GaAsよりも禁制帯幅が狭いため
、GaAs P−11接合の拡散電位がAn Ga1l
s p−n接合の拡散電位よりも低く、また、Cr d
ope GaAs基板1は、その抵抗率が10ΩC間程
度で非常に大きく、同基板lには電流が流れない。
従って、電流は、p領域7からn領域8へ横方向に流れ
、AIGaAx/GaAs多重量子井戸層3中のGaA
s暦に集中して、この部分にレーザ発振を生ずることに
なる。
そして、このとき、無秩序化された平均的組成のAfL
GaAs暦Bは、GaAs暦に注入されたキャリアに対
して障壁として作用し、このキャリアの閉じ込めがなさ
れ、また、こ−で多重量子井戸層3の屈折率は、それを
平均的にした組成のA、1GaAs暦6の屈折率よりも
、かつ上下のA l !G a t −x A ’層2
゜A文、Ga1.As層4の屈折率よりもそれぞれに大
きくて、1O−2程度の屈折率差を容易に得られるので
あり、このために活性領域となるストライプ内の多重量
子井戸層3は、その両側が屈折率の低い平均的組成のA
1GaAs@8で挟まれることになり、その屈折率差に
よって水平横モードを安定に制御し得るのである。
なお、前記実施例においては、A I GaAg / 
GaAs系の材料を用いてレーザを構成した場合につい
て述べたが、他の材料9例えばInGaAsP/ In
P系の材料を用いる場合にも適用できることは勿論であ
る。
〔発明の効果〕
以上詳述したように、この発明によるときは、半絶縁性
基板上に多層に成長させた薄膜層に、横方向に電流を流
す構造であるために、漏れ電流を極めて少なくできて、
低しきい値電流による発振を可能にし得られ、また活性
層を多重量子井戸層とし、かつこの多重量子井戸層に対
して、中間部に幅の狭いストライプ状領域を残し、両側
から導電形の異なる不純物をそれぞれ選択的に拡散させ
て、ストライプ状領域を除く部分を無秩序化させたから
、活性領域となるストライプ状領域内の多重量子井戸層
と無秩序化部分との間に、屈折率差を生じて屈折率導波
路が形成され、このため水平横モードを安定化し得るな
どの優れた特長を有するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明に係る半導体レーザ装置の一実施例に
よる概要構成を示す斜視図であり、また第2図は同上従
来例による半導体レーザ装置の概要構成を示す斜視図で
ある。 !・自・半絶縁性のCr dope したGaAs基板
、2・・・・A 1GaAs層、 3 ・・・・A9.
GaAs/ Ga1g多重量子井戸層、4 ” ” A
!;LGaAs層、5 =GaAs層、 13−−−−
無秩序化された平均的組成のA文GaAs層、7・・・
・Zn拡散のp領域、8・・・・Si拡散のn領域、9
・・・・p−電極、lO・・・・n−電極、20・・・
・ストライプ。 代理人  大  岩  増  雄 第1図 1 :牛地縁違GaAS兼オ( 2: ALGaAs、If 3:”GaAS/GaASJ’ !−’LP’rl’y
94 :AQGaAs4 8:S1棒東^n領域 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半絶縁性基板上にあって、少なくとも禁制帯幅の
    異なる2種類の化合物半導体薄膜を、交互に積層してな
    る多重量子井戸層を設けると共に、前記多重量子井戸層
    に対しては、中間部に幅の狭いストライプ状領域を残し
    た両側から前記半絶縁性基板に達するまで、導電形の異
    なる不純物をそれぞれ選択的に拡散させ、この不純物拡
    散により、前記ストライプ状領域内の部分を除いて、同
    多重量子井戸層の部分を無秩序化したことを特徴とする
    半導体レーザ装置。
JP61126175A 1986-05-30 1986-05-30 半導体レ−ザ装置 Pending JPS62282482A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61126175A JPS62282482A (ja) 1986-05-30 1986-05-30 半導体レ−ザ装置
US07/055,506 US4809289A (en) 1986-05-30 1987-05-29 Semiconductor laser device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61126175A JPS62282482A (ja) 1986-05-30 1986-05-30 半導体レ−ザ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62282482A true JPS62282482A (ja) 1987-12-08

Family

ID=14928536

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61126175A Pending JPS62282482A (ja) 1986-05-30 1986-05-30 半導体レ−ザ装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US4809289A (ja)
JP (1) JPS62282482A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4933301A (en) * 1989-01-27 1990-06-12 Spectra Diode Laboratories, Inc. Method of forming a semiconductor laser
JPH0336779A (ja) * 1989-07-03 1991-02-18 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光論理素子
US5027363A (en) * 1988-12-09 1991-06-25 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor laser
JP2007221023A (ja) * 2006-02-20 2007-08-30 Ricoh Co Ltd 面発光レーザ素子、それを備えた光伝送モジュール、およびそれを備えた光伝送システム。

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002185077A (ja) 2000-12-14 2002-06-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体レーザ装置及びその製造方法
JP2009212336A (ja) * 2008-03-05 2009-09-17 Mitsubishi Electric Corp 窒化物系半導体レーザの製造方法および窒化物系半導体レーザ

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5929484A (ja) * 1982-08-12 1984-02-16 Fujitsu Ltd 半導体発光装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5929484A (ja) * 1982-08-12 1984-02-16 Fujitsu Ltd 半導体発光装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5027363A (en) * 1988-12-09 1991-06-25 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor laser
US5108949A (en) * 1988-12-09 1992-04-28 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor laser and laser fabrication method
US4933301A (en) * 1989-01-27 1990-06-12 Spectra Diode Laboratories, Inc. Method of forming a semiconductor laser
JPH0336779A (ja) * 1989-07-03 1991-02-18 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光論理素子
JP2007221023A (ja) * 2006-02-20 2007-08-30 Ricoh Co Ltd 面発光レーザ素子、それを備えた光伝送モジュール、およびそれを備えた光伝送システム。

Also Published As

Publication number Publication date
US4809289A (en) 1989-02-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1152623A (en) Semiconductor laser device
US4932033A (en) Semiconductor laser having a lateral p-n junction utilizing inclined surface and method of manufacturing same
JPH0243351B2 (ja)
JPH01239980A (ja) 半導体レーザ装置
JPS62282482A (ja) 半導体レ−ザ装置
US4905060A (en) Light emitting device with disordered region
JPH03133189A (ja) 高抵抗半導体層埋め込み型半導体レーザ
JPH04150087A (ja) 可視光半導体レーザ装置
JPS6237557B2 (ja)
JPS6356977A (ja) 半導体レ−ザ
JPH03104292A (ja) 半導体レーザ
JPS6124839B2 (ja)
JPH04259263A (ja) 半導体発光素子
JPS63104494A (ja) 半導体レ−ザ装置
JPS60140777A (ja) 埋め込み型半導体レ−ザ
JPS6216592A (ja) 半導体発光素子
JPH0590706A (ja) 半導体レーザ素子
JPH05160508A (ja) 半導体レーザー
JPS61137386A (ja) 二重ヘテロ構造半導体レ−ザ
JPS6346789A (ja) 高抵抗埋め込み型半導体レ−ザ
JP2001077475A (ja) 半導体レーザ
JPH04120788A (ja) 半導体レーザ装置
JPS63129684A (ja) 半導体発光装置の製造方法
JPH02234487A (ja) 埋み込みヘテロ構造半導体レーザ
JPH01278085A (ja) 半導体レーザ