JPH0336779A - 光論理素子 - Google Patents
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- JPH0336779A JPH0336779A JP17158889A JP17158889A JPH0336779A JP H0336779 A JPH0336779 A JP H0336779A JP 17158889 A JP17158889 A JP 17158889A JP 17158889 A JP17158889 A JP 17158889A JP H0336779 A JPH0336779 A JP H0336779A
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Landscapes
- Optical Integrated Circuits (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、光通信、光情報処理等の分野で使用される、
外部からの光の注入によりレーザ発振の制御が可能な半
導体レーザに関するものである。
外部からの光の注入によりレーザ発振の制御が可能な半
導体レーザに関するものである。
(従来の技術)
光情報処理における論理素子として、半導体レーザを用
い、その側面注入光による発振消衰効果を利用する方法
がある。
い、その側面注入光による発振消衰効果を利用する方法
がある。
従来、発振用レーザおよび消衰(クエンチ)用レーザの
二つを用いて、論理動作を起こしていた。
二つを用いて、論理動作を起こしていた。
第5図はその説明図であって、9は発振している主レー
ザ、10はクエンチ用レーザであり、両者は直交してい
る。矢印はレーザ光を示す。主レーザ9が発振している
ときに、クエンチ用レーザ10に電流を注入してクエン
チ用レーザ10を発振させると、主レーザ9における利
得が減少して、主レーザ9の出力が減少する。また、ク
エンチ用レーザlOへの電流注入を停止すると、主レー
ザ9は再び元の出力状態に戻る。以上により論理動作が
可能となる。
ザ、10はクエンチ用レーザであり、両者は直交してい
る。矢印はレーザ光を示す。主レーザ9が発振している
ときに、クエンチ用レーザ10に電流を注入してクエン
チ用レーザ10を発振させると、主レーザ9における利
得が減少して、主レーザ9の出力が減少する。また、ク
エンチ用レーザlOへの電流注入を停止すると、主レー
ザ9は再び元の出力状態に戻る。以上により論理動作が
可能となる。
また、TE偏光で発振している半導体レーザに7M偏光
の光を入射すると、TE偏光の出力が減少することを利
用して、レーザ発振を制御する例もある。
の光を入射すると、TE偏光の出力が減少することを利
用して、レーザ発振を制御する例もある。
しかしながら、上記の主レーザとクエンチ用し−ザを用
いる場合では、主レーザとクエンチ用レーザの相互作用
領域が小さいので、クエンチ用レーザに電流注入したと
きの主レーザの出力減少の割合(消光比)が小さい。消
光比を上げるためには、クエンチ用レーザのストライプ
幅を大きくし、相互作用領域を大きくする必要があった
が、この場合、クエンチ用レーザへの電流注入を大きく
しなければならないという問題があった。
いる場合では、主レーザとクエンチ用レーザの相互作用
領域が小さいので、クエンチ用レーザに電流注入したと
きの主レーザの出力減少の割合(消光比)が小さい。消
光比を上げるためには、クエンチ用レーザのストライプ
幅を大きくし、相互作用領域を大きくする必要があった
が、この場合、クエンチ用レーザへの電流注入を大きく
しなければならないという問題があった。
また、偏光を用いる場合では、制御するための光が出力
側に通り抜けてしまうので、出射側に偏光子をおかなけ
ればならず、システムが大きくなるという欠点があった
。
側に通り抜けてしまうので、出射側に偏光子をおかなけ
ればならず、システムが大きくなるという欠点があった
。
(発明が解決しようとする課題y
本発明は、前記の問題点に鑑みなされたもので、光通信
、光情報処理の分野において、消光比が大きく、消費パ
ワーの小さい、レーザ発振制御可能な半導体レーザを提
供することにある。
、光情報処理の分野において、消光比が大きく、消費パ
ワーの小さい、レーザ発振制御可能な半導体レーザを提
供することにある。
(課題を解決するための手段)
本発明の半導体レーザは、活性層として異種の半導体を
交互に積層させた超格子構造を有する半導体レーザにお
いて、ストライプ状の活性層が、超格子構造の半導体結
晶からなる導波路であり、該ストライプ状活性層を含む
平面内で該ストライプ状活性層に相隣り合うクラッド領
域が前記超格子を混晶化した半導体結晶からなり、かつ
該半導体レーザのストライプ状導波路は、入力端および
出力端が一直線状にないようなストライプの形状とする
。
交互に積層させた超格子構造を有する半導体レーザにお
いて、ストライプ状の活性層が、超格子構造の半導体結
晶からなる導波路であり、該ストライプ状活性層を含む
平面内で該ストライプ状活性層に相隣り合うクラッド領
域が前記超格子を混晶化した半導体結晶からなり、かつ
該半導体レーザのストライプ状導波路は、入力端および
出力端が一直線状にないようなストライプの形状とする
。
(作 用)
本発明によれば、超格子構造および超格子の混晶化を用
いることにより、半導体レーザの活性層を形成するスト
ライプ状導波路層には、TE偏光のみが導波し、州偏光
は導波しないようにすることができる。この性質と非直
線状のストライプ形状により、TE偏光で発振している
レーザに制御光として7M偏光を入射させ、レーザ発振
を停止させ、出射端面では、制御光である7M偏光が出
射されないようにすることが可能である。
いることにより、半導体レーザの活性層を形成するスト
ライプ状導波路層には、TE偏光のみが導波し、州偏光
は導波しないようにすることができる。この性質と非直
線状のストライプ形状により、TE偏光で発振している
レーザに制御光として7M偏光を入射させ、レーザ発振
を停止させ、出射端面では、制御光である7M偏光が出
射されないようにすることが可能である。
さらに、レーザ光と制御光の相互作用領域は、導波路に
沿った形になるので、大きくなる。従って、レーザ発振
を停止させるための制御光のパワーは、小さくてすむ。
沿った形になるので、大きくなる。従って、レーザ発振
を停止させるための制御光のパワーは、小さくてすむ。
また、レーザの活性領域として超格子を用いるので、レ
ーザの発振闇値電流は、低くなっている。
ーザの発振闇値電流は、低くなっている。
(実施例)
以下、本発明の実施例を図面により詳細に説明する。
実転U州よ
第1図は、本発明の第1の実施例の構成を示す斜視図で
ある。
ある。
第1図において、1は基板であって、例えばn型のGa
As基板からなる。2はn、型の下部クラッド層であっ
て、GaAs基板より低屈折率を有するAt。
As基板からなる。2はn、型の下部クラッド層であっ
て、GaAs基板より低屈折率を有するAt。
Ga、、As (たとえばx =0.3 )からなり、
n型の半導体にするためにStを10”/cm″程度の
濃度で混入させている。3は半導体レーザの活性層であ
って、GaAs、 AI、Ga1−、As (たとえば
y=0.3 )の80人程度の薄層の繰り返し構造の超
格子層からなる。4は後述する方法で、活性層と同構造
の超格子を部分的に混晶化した、部分的混晶化超格子で
ある。5はp型の上部クラッド層であって、旧2Ga、
−、As (たとえばz =0.3 )からなり、P型
の半導体にするためBeを10 ’ ” / cm ’
程度の濃度で混入させている。6はGaAsからなるキ
ャップ層である。7はp型のオーミンク電極である。ま
た、基板の裏側には、n型のオーミック電極8が形成さ
れている。
n型の半導体にするためにStを10”/cm″程度の
濃度で混入させている。3は半導体レーザの活性層であ
って、GaAs、 AI、Ga1−、As (たとえば
y=0.3 )の80人程度の薄層の繰り返し構造の超
格子層からなる。4は後述する方法で、活性層と同構造
の超格子を部分的に混晶化した、部分的混晶化超格子で
ある。5はp型の上部クラッド層であって、旧2Ga、
−、As (たとえばz =0.3 )からなり、P型
の半導体にするためBeを10 ’ ” / cm ’
程度の濃度で混入させている。6はGaAsからなるキ
ャップ層である。7はp型のオーミンク電極である。ま
た、基板の裏側には、n型のオーミック電極8が形成さ
れている。
次に、上記構成による半導体レーザの作製方法について
説明する。
説明する。
まず、分子線エピタキシー(MBE)または有機金属気
相成長法(MOCVD)等の原子レヘルでの膜厚制御可
能な結晶法を用いて、基板lの上にn型のクラッド層2
を2μm1続いて活性層および横方向のクラッド層とな
る前記超格子層3を0.6μm、上部クラッド層5を1
.5μm、キャップ層6を0.2μmエピタキシャル成
長させる。
相成長法(MOCVD)等の原子レヘルでの膜厚制御可
能な結晶法を用いて、基板lの上にn型のクラッド層2
を2μm1続いて活性層および横方向のクラッド層とな
る前記超格子層3を0.6μm、上部クラッド層5を1
.5μm、キャップ層6を0.2μmエピタキシャル成
長させる。
該成長ウェハについて以下のようなプロセスを行う。
まず、ウェハの全面にSiO□をプラズマCVD法など
により、200OA程度堆積させる。その後、S字状の
レーザ領域の上部のみを、フォトリソグラフィの技術、
および反応性イオンエツチング(RIE)により除去す
る。レーザ領域の幅は、5μmである。次にこのSfO
□でパターン化された超格子と別のGaAsウェハとを
重ねた状態で、水素雰囲気中で昇温速度30゛C/5e
C1熱処理温度950℃、熱処理時間30secの条件
で熱処理する。この熱処理によってSiO2膜の下部の
超格子は部分的に混晶化され、部分的混晶化超格子とな
り、活性層の横方向のクラッド層が形成される。
により、200OA程度堆積させる。その後、S字状の
レーザ領域の上部のみを、フォトリソグラフィの技術、
および反応性イオンエツチング(RIE)により除去す
る。レーザ領域の幅は、5μmである。次にこのSfO
□でパターン化された超格子と別のGaAsウェハとを
重ねた状態で、水素雰囲気中で昇温速度30゛C/5e
C1熱処理温度950℃、熱処理時間30secの条件
で熱処理する。この熱処理によってSiO2膜の下部の
超格子は部分的に混晶化され、部分的混晶化超格子とな
り、活性層の横方向のクラッド層が形成される。
次に、RIE等によりSiO□を除去し、基板を80μ
踵程度まで薄くする。その後、第1図に示すように、S
字状レーザ領域の上部にp型のオーミック電極7を蒸着
し、最後にn型のオー呉ツク電極8を基板1の裏面に蒸
着し、へき関して作製が完了する。
踵程度まで薄くする。その後、第1図に示すように、S
字状レーザ領域の上部にp型のオーミック電極7を蒸着
し、最後にn型のオー呉ツク電極8を基板1の裏面に蒸
着し、へき関して作製が完了する。
上記のプロセスにより、超格子部分に比べて、SiO□
によって部分的に混晶化した領域は、バンドギャップが
大きくなり、屈折率は、第2図(a)に示すように、混
晶化の程度を大きくしていくにつれて、複屈折率性が小
さくなっていく。TE偏光に関しては部分的に混晶化し
た領域は、第2図(b)に示すように、レーザ活性領域
に比べて屈折率が小さくなるので、活性領域のクラッド
層として機能し、レーザの活性領域では、Tε偏光のみ
が導波可能となる。
によって部分的に混晶化した領域は、バンドギャップが
大きくなり、屈折率は、第2図(a)に示すように、混
晶化の程度を大きくしていくにつれて、複屈折率性が小
さくなっていく。TE偏光に関しては部分的に混晶化し
た領域は、第2図(b)に示すように、レーザ活性領域
に比べて屈折率が小さくなるので、活性領域のクラッド
層として機能し、レーザの活性領域では、Tε偏光のみ
が導波可能となる。
次に、レーザの動作について述べる。
超格子構造を有する活性層では、TE偏光の利得が7M
偏光の利得より大きいこと、共振器の旦う−を構成する
結晶へき開面での反射率がTE偏光の方が7M偏光の場
合に比べて大きいこと、上記に述べた導波路構造により
TE偏光のみが導波すること、などの理由により、レー
ザ発振はTE偏光で起きる。
偏光の利得より大きいこと、共振器の旦う−を構成する
結晶へき開面での反射率がTE偏光の方が7M偏光の場
合に比べて大きいこと、上記に述べた導波路構造により
TE偏光のみが導波すること、などの理由により、レー
ザ発振はTE偏光で起きる。
該レーザ活性領域の導波路に洲偏光を入射させると、7
M光は、活性領域内の反転分布を刺激し、誘導放出を起
こす。
M光は、活性領域内の反転分布を刺激し、誘導放出を起
こす。
その結果、7M光は増幅され、TE光の発振は、利得の
低下により、停止する。増幅された7M光は、導波路を
導波しないので、半導体基板内に拡散する。第3図(a
)に示すように、レーザのストライプが直線状ではなく
S字状であるので、拡散した7M光は、導波路内からほ
ぼ完全に抜けてしまう。従って、レーザの活性層領域を
形成する導波路の出射端での出力光を観測すると、7M
光の入射のオン、オフにともない、TE発振光がオフ、
オンし、また、TE光のオフ状態では、出射端に光がほ
とんど透過してこない。以上述べた出力光の様子を第3
図(b)に示す。出力光のパワーのオン、オフ比(消光
比)は、20dB程度であった。
低下により、停止する。増幅された7M光は、導波路を
導波しないので、半導体基板内に拡散する。第3図(a
)に示すように、レーザのストライプが直線状ではなく
S字状であるので、拡散した7M光は、導波路内からほ
ぼ完全に抜けてしまう。従って、レーザの活性層領域を
形成する導波路の出射端での出力光を観測すると、7M
光の入射のオン、オフにともない、TE発振光がオフ、
オンし、また、TE光のオフ状態では、出射端に光がほ
とんど透過してこない。以上述べた出力光の様子を第3
図(b)に示す。出力光のパワーのオン、オフ比(消光
比)は、20dB程度であった。
夫脂拠呈
第4図に、本発明の第2の実施例の動作を示す。
第2の実施例では、T9光の入射端に反射率を低下させ
るコート(^Rコート)を施した点が第1の実施例と異
なる。このARコートの反射率は、レーザが発振する程
度の大きさにしである。該コートにより、7M光を入射
させるときに、導波路端面での反射が小さくなり、有効
に導波路内に光を入射させることができるので、低パワ
ーでTE発振光のオン、オフ比(消光比)を大きくする
ことができ、25dB以上であった。
るコート(^Rコート)を施した点が第1の実施例と異
なる。このARコートの反射率は、レーザが発振する程
度の大きさにしである。該コートにより、7M光を入射
させるときに、導波路端面での反射が小さくなり、有効
に導波路内に光を入射させることができるので、低パワ
ーでTE発振光のオン、オフ比(消光比)を大きくする
ことができ、25dB以上であった。
この実施例では、GaAs / A lGaAs系の例
を示したが、I nGaAsP / I nP系、In
AlAs系 InAlAs系など他の半導体材料にも適
用可能であることは、言うまでもない。
を示したが、I nGaAsP / I nP系、In
AlAs系 InAlAs系など他の半導体材料にも適
用可能であることは、言うまでもない。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば、異種の半導体を
交互に積層させた超格子構造および不純物を含まない超
格子の混晶化、およびS字状導波路構造を利用して、低
消費パワーの制御光で、レーザ発振のオン、オフをする
ことが可能である。
交互に積層させた超格子構造および不純物を含まない超
格子の混晶化、およびS字状導波路構造を利用して、低
消費パワーの制御光で、レーザ発振のオン、オフをする
ことが可能である。
また制御光が導波路に混入しないので、消光比(オン、
オフ時のパワー比)においても20dB程度が達成でき
る。
オフ時のパワー比)においても20dB程度が達成でき
る。
第1図は本発明の第1の実施例の構成を示す斜視図、
第2図(a)は複屈折率の混晶化依存性を示す図、第2
図(ロ)はTE偏光に対する屈折率を示す図、第3図(
a)は第1の実施例の動作を示す図、第3図中)は第1
の実施例の光出力を示す図、第4図は本発明の第2の実
施例の動作を示す図、第5図は従来の発振用レーザおよ
び消衰用レーザを用いた論理動作の説明図である。 1・・・基板 2・・・n−AlXGal−XAsクラッド層3・・・
超格子活性層 4・・・部分的混晶化超格子5−
p AlzGal−Jsクラッド層6・・・GaAs
キャップN 7・・・p−オーミック電極8・・・n
−オーミック電極
図(ロ)はTE偏光に対する屈折率を示す図、第3図(
a)は第1の実施例の動作を示す図、第3図中)は第1
の実施例の光出力を示す図、第4図は本発明の第2の実
施例の動作を示す図、第5図は従来の発振用レーザおよ
び消衰用レーザを用いた論理動作の説明図である。 1・・・基板 2・・・n−AlXGal−XAsクラッド層3・・・
超格子活性層 4・・・部分的混晶化超格子5−
p AlzGal−Jsクラッド層6・・・GaAs
キャップN 7・・・p−オーミック電極8・・・n
−オーミック電極
Claims (1)
- 1、活性層として異種の半導体を交互に積層させた超格
子構造を有する半導体レーザにおいて、ストライプ状の
活性層が、超格子構造の半導体結晶からなる導波路であ
り、該ストライプ状活性層を含む平面内で該ストライプ
状活性層に相隣り合うクラッド領域が前記超格子を混晶
化した半導体結晶からなり、かつ該半導体レーザのスト
ライプ状導波路は、入力端および出力端が一直線状にな
いようなストライプの形状をなしていることを特徴とす
る半導体レーザ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1171588A JP2781211B2 (ja) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | 光論理素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1171588A JP2781211B2 (ja) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | 光論理素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0336779A true JPH0336779A (ja) | 1991-02-18 |
JP2781211B2 JP2781211B2 (ja) | 1998-07-30 |
Family
ID=15925942
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1171588A Expired - Fee Related JP2781211B2 (ja) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | 光論理素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2781211B2 (ja) |
Cited By (3)
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---|---|---|---|---|
US7124925B2 (en) | 2002-01-11 | 2006-10-24 | Max Co., Ltd. | Stapler |
WO2010091330A1 (en) | 2009-02-09 | 2010-08-12 | Illinois Tool Works Inc. | Spray device having an adjustment member for needle valve opening range |
JP4754020B2 (ja) * | 2007-07-27 | 2011-08-24 | 三菱電機株式会社 | 平面導波路型レーザ装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS61288480A (ja) * | 1985-06-17 | 1986-12-18 | Fujitsu Ltd | 半導体レ−ザ |
JPS62282482A (ja) * | 1986-05-30 | 1987-12-08 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レ−ザ装置 |
-
1989
- 1989-07-03 JP JP1171588A patent/JP2781211B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
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