JPS6227529B2 - - Google Patents

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JPS6227529B2
JPS6227529B2 JP15022280A JP15022280A JPS6227529B2 JP S6227529 B2 JPS6227529 B2 JP S6227529B2 JP 15022280 A JP15022280 A JP 15022280A JP 15022280 A JP15022280 A JP 15022280A JP S6227529 B2 JPS6227529 B2 JP S6227529B2
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JP
Japan
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boron
diffusion
diffusion source
temperature above
alcohol
Prior art date
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JP15022280A
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English (en)
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JPS5773931A (en
Inventor
Akira Hashimoto
Muneo Nakayama
Toshihiro Nishimura
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Tokyo Denshi Kagaku KK
Original Assignee
Tokyo Denshi Kagaku KK
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Publication date
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Priority to JP15022280A priority Critical patent/JPS5773931A/ja
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Publication of JPS6227529B2 publication Critical patent/JPS6227529B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/22Diffusion of impurity materials, e.g. doping materials, electrode materials, into or out of a semiconductor body, or between semiconductor regions; Interactions between two or more impurities; Redistribution of impurities
    • H01L21/225Diffusion of impurity materials, e.g. doping materials, electrode materials, into or out of a semiconductor body, or between semiconductor regions; Interactions between two or more impurities; Redistribution of impurities using diffusion into or out of a solid from or into a solid phase, e.g. a doped oxide layer

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  • Formation Of Insulating Films (AREA)
  • Paints Or Removers (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
本発明は半導体素子へのホウ素拡散ソースおよ
びその拡散方法に関する。 プレーナー型トランジスタ、ダイオード、
IC、太陽電池等の製造においてシリコン半導体
基板表面にP型領域を形成させるため通常ホウ素
を拡散させている。その前段階としてシリコン基
板表面にホウ素を含むガラス層を形成しなければ
ならない。 これらホウ素を含むガラス層の形成を含めて拡
散させる方法として従来(1)熱分解法、(2)対向BN
(窒化ホウ素)法、(3)ドーパントホスト法、(4)刷
毛塗り法および(5)スピン・オン法等が知られてい
る。その各々について特徴を示せば、 (1) 熱分解法は液状のBCl3、BBr3やB
(OC2H53等をバブリングさせて気化し、それ
を予め加熱された半導体ウエハー上に被着・分
解させ、B2O3のデポジシヨン被膜を得た後、
熱拡散させる方法であるから量産化には不向き
であり、又大口径ウエハーになるに従い拡散の
バラツキが生じやすい。 (2) 対向BN法は窒化ホウ素を円板状に成形した
後、活性化処理(BNをB2O3とする)し、半導
体ウエハーと一定の距離を保つて並べ、キヤリ
ヤーガスを流しながら活性化処理により得られ
たB2O3を半導体ウエハー上にデポジシヨン
し、次いで熱拡散させる方法であるから量産化
ができないばかりでなく、BNデイスクの取扱
いに手間がかかると共にコスト高となる。 (3) ドーパンドホスト法は、例えば特開昭52−
55861号公報および特開昭54−35063号公報に開
示されているようにほとんど対向BN法と同じ
であるが、ただ活性化処理を施こさない点だけ
が異る。従つて(2)と同様に量産化に欠けまたコ
スト高となる。 (4) 刷毛塗り法はアルコールにホウ酸または無水
ホウ酸を溶解し、刷毛で塗る方法であつて、主
として整流器、ダイオード等の高濃度の拡散分
野向きに一般的に使用されている。この方法は
IC等の微細加工用としての使用はできない不
均一な拡散である。さらに拡散濃度の制御が難
しい、自動化ができない等の欠点を有してい
る。 (5) スピン・オン法は溶液状の拡散不純物をフオ
トレジストの塗布に使うスピンナを用い塗布す
るが、従来の刷毛塗り法の拡散の均一性と再現
性の難点を改良した方法である。例えば特開昭
47−7714号公報にその方法が開示されている
が、一液の保存安定性の高い高濃度ホウ素拡散
用ソースを作ることが難しい。 一方ホウ素また無水ホウ酸をアルコール溶媒に
溶解し、塗布、乾燥し、ホウ酸の被膜を形成して
拡散する方法もあるが、このホウ酸の形成被膜は
常に白濁していて多結晶質の被膜であるから拡散
後の抵抗値のバラツキや形成ジヤンクシヨンの乱
れが発生する。このため用途も限定される。 また、上記白濁現象を改善する方法として特開
昭49−121476号公報に記載された拡散ソース、す
なわち拡散ソースに多価アルコールまたはその誘
導体を混溶させたものも知られているが、十分に
高濃度の拡散はできない。 このように種々の方法があるがいずれもそれぞ
れ欠点があるため拡散の均一性、高濃度拡散の容
易性、拡散の再現性、量産性を可能にする技術が
強く望まれている。 本発明はかかる技術的課題を解決することを目
的とするものである。即ち本発明は、ホウ素化合
物および多価アルコールとを40℃以上の温度で加
熱反応させて得られる反応生成物と溶剤とから成
る半導体素子用ホウ素拡散ソースおよび該拡散ソ
ースをシリコンウエハー上に塗布乾燥後、400℃
以上で焼成し、700℃以上で拡散することを特徴
とするホウ素の拡散方法である。 本発明に使用するホウ素化合物としては、ホウ
酸、無水ホウ酸、アルキルホウ酸エステル(アル
キル基としてはメチル、エチル、プロピル、ブチ
ル)および塩化ホウ素である。一方ホウ素化合物
と反応させる多価アルコール化合物としては、低
分子化合物、高分子化合物のいずれでもよいが、
HO(C2H4O)oH(nは14以下)、ポリヒドロキシ
アルキルアクリレートまたはメタクリレート(ア
ルキル基はエチルまたはプロピル基)の単独重合
体または共重合体、ポリビニルアルコール、ポリ
ビニルアセタール、ポリビニルブチラール、マン
ニトール等を挙げることができる。 ホウ素化合物と多価アルコール化合物との反応
生成物は両者の反応溶剤中、40℃以上加熱反応さ
せるのが好ましい。反応にて生成するものはホウ
酸エステル類である。 また使用する溶剤としてはメタノール、エタノ
ール、プロパノール、ブタノール、アミルアルコ
ール、ベンジルアルコール、フルフリルアルコー
ル、テトラヒドロフルフリルアルコール、エチレ
ングリコールモノメチルエーテル、エチレングリ
コールモノエチルエーテル、エチレングリコール
モノプロピルエーテル、エチレングリコールモノ
ブチルエーテル、トリエチレングリコールモノメ
チルエーテル、トリエチレングリコールモノエチ
ルエーテル、プロピレングリコール、トリエチレ
ングリコール、ジプロピレングリコール、ブタン
ジオール、ペンタンジオール、グリセリン、グリ
セリンモノブチレート等のアルコール系溶剤がス
ピン・オン塗布用として好適である。また半導体
素子製造の種類によつては拡散ソース中の溶剤の
選択により、スピン・オン法のみならず、スプレ
ー法、デイツピング法、刷毛塗り法等の他の塗布
法にも使用可能である。 その他に電気的特性に特徴を持たせるためにア
ルコール可溶性金属化合物を添加してもさしつか
えない。例えばRoSi(OH)4-o溶液(東京応化工
業社製、O.C.D.Si−Film溶液)、RoTi(OH)4-o
溶液(東京応化工業社製、O.C.D.Ti−Film溶
液)、Al、Fe、Sn、Ni、Au、Pt、Zn等の硝酸塩
または塩化物、Al、Cu、Ni、Zn、Inのアセチル
アセトネート、リン酸、五酸化リン、ヒ酸、ピロ
ヒ酸または亜ヒ酸等が挙げられる。 本発明であるホウ素化合物および多価アルコー
ルとの反応生成物と溶剤とから成る基拡散ソース
をシリコンウエハー上にスピン・オン法により塗
布し、溶剤を揮散させ、500〜600℃の高温で被膜
中の有機分を分解燃焼除去する。かくしてB2O3
系の無機分の被膜が形成される。続いて昇温する
ことにより半導体素子中へホウ素が拡散滲透す
る。 本発明によれば拡散が均一で高濃度の拡散が容
易となり、拡散の再現性および量産性が得られ
る。 次に実施例により本発明を詳細に説明するが、
これらの実施例により本発明は何ら制限を受ける
ものではない。 実施例 1 マンニトール182g、ホウ酸124g、エチレング
リコールモノエチルエーテル200gおよび水44g
からなる混合物を撹拌しながら80℃で3時間反応
させホウ酸とマンニトールとの反応生成物溶液を
得た。この溶液1重量部に対しエタノール4重量
部を加えホウ素拡散ソースとした。次に5〜8
Ω・cmの比抵抗値を持つN型シリコンウエハーを
用い5000rpmに回転させたスピンナーで15秒間塗
布した後、500℃空気中15分間焼成し、さらに昇
温して850℃、950℃および1100℃の3点につき
各々15分間空気中で拡散を行つた。そのときのシ
ート抵抗値(Ω/□)はそれぞれ130、70および
10であつた。 実施例 2 ポリヒドロキシプロピルメタクリレート樹脂30
g、無水ホウ酸7g、グリセリン18.4g、エチレ
ングリコールモノメチルエーテル400gからなる
混合物を70℃で6時間加熱撹拌し、無水ホウ酸と
ポリヒドロキシプロピルメタクリレートとの反応
生成物を得る。このようにして得られたホウ素拡
散ソースを4000rpmで回転しているスピンナーを
用いて15秒間塗布する。次に100℃で15分間、プ
リベーグして後、拡散深さとシート抵抗に及ぼす
拡散温度の関係をみるために各温度を変動させて
60分間焼成と拡散を同時に行つて次のような結果
を得た。その基板は実施例1と同じものを用い
た。
【表】 実施例 3 ポリビニルアルコール(平均分子量=500) 22g ホウ酸エチルエステル 32g エタノール 200g 水 38g からなる混合物を還流冷却器を付したフラスコ中
で75〜78℃の温度で5時間加熱還流反応させ、ホ
ウ酸エチルエステルとポリビニルアルコールとの
反応生成物を得、ホウ酸拡散ソースAとし、また
同様にして得たホウ素拡散ソースA150重量部に
対し、東京応化工業社製O.C.D.Si−Film溶液タ
イプ5(シラノール溶液)を25重量部混合しホウ
素拡散ソースBとした。 拡散ソースAおよびBを実施例1で用いたと同
種のシリコンウエハー上に2000rpmで10秒間回転
塗布し空気中500℃で20分間焼成、続いて窒素ガ
ス中1000℃で30分間拡散して次の結果を得た。
【表】 ホウ素拡散ソースBを調製したのはドープドオ
キサイド法によるホウ素拡散濃度コントロールの
ため、シラノール溶液を添加し、その効果を確め
るためである。 実施例 4 ポリビニルブチラール(積水化学社製エスレツク
W201、20%水溶液) 110g BCl3 27g エタノール 300g ジエチレングリコールモノブチルエーテル 50g 50%ヒ酸水溶液 1g からなる混合物を還流冷却器を付したフラスコ中
70℃で6時間加熱還流し、ポリビニルブチラール
とBCl3との反応生成物溶液を得、ホウ素拡散ソ
ースとした。このソースをシリコンウエハー上に
滴下し、3000rpmで20秒間スピンナー塗布し、
600℃に加熱された拡散炉中、10分間プリベーク
し続いて1200℃まで昇温し。、N2:O2=97:3の
混合キヤリアガスを流し、30分間拡散を行うとシ
ート抵抗が5〜6Ω/□の結晶格子欠陥のない高
濃度ホウ素の拡散ができた。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 ホウ素化合物および多価アルコールとを40℃
    以上の温度で加熱反応させて得られる反応生成物
    と溶剤とから成る半導体素子用ホウ素拡散ソー
    ス。 2 ホウ素化合物はホウ酸、無水ホウ酸、アルキ
    ルホウ酸エステルおよび塩化ホウ素であり、多価
    アルコールはHO(C2H4O)oH、ポリヒドロキシ
    アルキル(メタ)アクリレートの単独重合体また
    は共重合体、ポリビニルアルコール、ポリビニル
    アセタール、ポリビニルブチラール、マンニトー
    ルである特許請求の範囲第1項記載の半導体素子
    用ホウ素拡散ソース。 3 ホウ素化合物および多価アルコールとを40℃
    以上の温度で加熱反応させて得られる反応生成物
    と溶剤とから成る半導体素子用ホウ素拡散ソース
    をシリコンウエハー上に塗布乾燥後、400℃以上
    で焼成し、700℃以上で拡散することを特徴とす
    るホウ素の拡散方法。
JP15022280A 1980-10-28 1980-10-28 Boron-diffusing source for semiconductor element and diffusing method thereby Granted JPS5773931A (en)

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