JPS62267875A - 描画像の部分消去方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は１手書き文字や図形等の描画像ン入力および表
示する画像処理システムにおいて１表示されている画面
中の描画像の一部分を消去する部分消去方式に関するも
のである。

（侘乗り−ｊ支酵連 従来、ソフトコピー表示画面の消去は、一度に画面全体
を消去する全面消去法やキャラクタ表示などのようにキ
ャラクタ単位の消去が行われていた。また手書きの文字
や図形などの描画像や一般の画像の入力表示を行ってい
る場合には、消去したい部分を画素単位、あるいはあら
かじめ定めであるブロック単位に指定して逐次消去する
方式がとられていた。これらの方式では１表示画面の一
部分を消去しようとする場合、消去しようとする部分の
座標ケタブレット等の入力装置によりすべて指示する必
要があるため、非常に不便で操作性に欠けていた。

本発明の対象とする部分消去法は、消去したい部分をか
こむように閉曲線をタブレット等の入力装置より筆記し
、この閉曲線でかこまれた閉領域内の描画像を消去する
ものである。

この部分消去法は、閉領域のぬりつぶしと等価である。

従来より、閉領域のぬりつぶしとして行われている画像
処理の手法が対象とするものは、閉領域内の一屯が指示
されているものである。し”ｂ−Ｌ　、閉曲＊”ｒ筆記
し、さらにその閉曲線でかこまれる閉領域内の一点を指
示することは、操作者にとって大きな負担となるばかり
でなく、誤って閉領域外の一点を指示した場合は、閉領
域以外を消去することになる。

一般に、閉領域内の一点を指示せずに、閉領域を検出し
、その内部をぬりつぶす方法は１次のように行われる。

まず、閉曲線の外接矩形を検出する。このとき外接矩形
のＹ軸、Ｙ軸の最大、最小値を各々Ｘ７７！αス。

’Ａｎｉｎ　、　Ｙｍａｘ　＊　Ｙｍｉｎとすれば、　
ＹｙｌｉＢ　＜　Ｙ　＜　Ｙｍａｘなる成るＹ値に対し
て、Ｙ値をＸ　＜　Ｘｙｎｉｎより始めＸ　＞　Ｘｍａ
ｘまで増加していったときの閉曲線とクロスした点の座
標値Ｘと点の数Ｎを検出する。

このクロスした点を（Ｘ、、Ｘ２．・・・ＸＮ　）とす
れば。

一般的に、ＸｌからＸ２　、　ＸＳからＸ４　、・・・
Ｘ２シー１からＸ２直（１≦ｉ≦Ｎ／２）が閉領域であ
り、これをぬりつぶせばよい。この操作をＹｍｉｎから
Ｙｒｎａｘまでの各Ｙ値について（り返せばよい。

しかし、閉曲線とのクロス数Ｎは必ずしも２の一倍数と
はならない。それは、閉曲椋が凹状となったときのよう
’ＩＩＣ、Ｙｍｉｎ　（Ｙ　（ＹｍａｘなるＹ値におい
て極大点、あるいは極小点（以下、併せて極点と称する
こともある）をもつ場合があるからである。例えば、単
純な凹状の閉曲線の場合、極小点Ｙ座標において、クロ
ス点数は３となる。このような場合は正しく閉領域が検
出できない。これを正しく検出するためには、極小点に
おけるクロスは、２回クロスしたことにして上述のよう
なペアを構成するよ５にすれば良い。このためには、閉
曲線とクロスするたびに、それが極点か否かを判断する
必要がｔ、す、この判断処理が複雑で、多大な処理時間
を要すことＫなる。

この極点の問題をさける方法として、特開昭５７−１９
５８５５号公報に示されるものがある。

この方法は、閉曲線の隣接する標本点よりＹ軸に平行な
部分ｍとＹ＠罠平行な線分ｔとによって閉曲線ヲ折線近
似表現する。そしてこれらの近似鯨分のうち細分ｔｉｗ
、そのＸ座標値ＸｉとＹ座標の最大値Ｙ晶よ、最小値Ｙ
ｒｎｉルで表現しメモリに記憶する。ここで、Ｘ座標値
が同じである部分が複数本存在しても独立した一分とし
て記憶する。

あるＹ値に対する閉領域の検出は次のように行う。まず
、Ｙ農請≦Ｙ≦ｙｍａｒなるすべての一分１゜をリスト
アツブし、これらのＸ座標値Ｘ′ヲ小さい１１直に並び
かえる。運びかえ後のＸ座標値ｙｒ（Ｘ＋。

Ｘ２　、・・・、ＸＮ）とすれば、　Ｘ２．−１からＸ
２．（１≦）≦つまり標本点数が多（なるほど記憶すべ
き一分の数が増加し、？ＩＢ分のリストアツブおよび並
びかえのための処理時間が急速に増大することになり処
理時間が長くなるといった問題があった。

また、記憶すべきメモリの容量には限度があるので、閉
曲線を構成するすべての部分を記憶できなくなる可能性
があり、正しく閉領域を検出できなくなるという問題が
あった。

本発明の目的は、上記した従来技術の問題点を解決し、
簡単な処理で閉領域な「出し、高速処理１ヒを図るとと
もに、閉曲線の長さが長くなっても処理用のメモリの容
量に係りなく正しく閉領域の検出が行える部分消去方式
を提供することにある。

←ト胱Ｉ峠→〔黒■点こ酢次′ｌるたり例側本発明は、
閉領域の連続性に着目し１表示画面の画素数に対応した
２次元配列メモリに、閉曲線をドツト単位でこのメモリ
に書き点み、あるＹ値ＹｉＫ対し、ＸＷを変化したとき
の閉曲線とのクロス点数が、奇数の場合或いは２以外の
偶数で直前のＹ値Ｙｉ−＋におけるクロス点数との差が
２μ上の場合には、いずれかのクロス点が極点であると
判断し、各クロス点間が閉領域か否か’ｔＹｉ−＋にお
ける閉領域に続（ものか否かによって判断し、閉領域を
検出する。また、前記２次元配列メモリを表示画面の縦
および横画素数の１／ｎとする２次元配列メモリとし、
閉曲線の該メモリへの書き込みは、閉曲線の標本点座標
値’ｋＸ　、Ｙ軸ともｊ／ｎとし、隣接標本点間を補間
してド・ント単位に書き込み、前述の方法で閉領域！検
出し、ル倍して７１＆ｘｎ）″ット単位で表示画面の画
素乞消去することによって、上記目的を達成した。

〔碩一本の実施例〕

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図であり、１
はタブレット、２は入力ペン、３はタブレットインタフ
ェイス回路、４はマイクロプロセッサ、５はワーク用Ｒ
ＡＭ、６はＲＯＭ、７はビデオｆ（、ＡＭ、８は表示信
号発生回路、９はディスプレイ、１０は始点座標メモリ
、１１は前標本点座標メモリ、１２は外接枠メモリ、１
３は部分消去用ＲＡＭ。

１４は前文点数メモリ、１５は現交点数メモリ、１６Ｊ
＠交点座標メモリである。

ビデオ）（、ＡＭ７は、ディスプレイ９の表示画素数に
対応する記憶容量を持ち１表示画素に対応するビデオｌ
（ＡＭ７の所定のメモリエリヤのデータを書き替えるこ
とＫよって、ディスプレイ９に表示あるいは表示画像の
消去を行うことができる。

表示信号発生回路８は１両者のインタフェイス回路であ
り、ビデオＲＡＭｙのデータを読み出し対応するディス
プレイ９の表示画素の輝度２よびカラーを制御すべく信
号を発生するものである。

ビデオＲＡＭ　７　Ｋ対するデータの誓込み、読出しは
、マイクロプロセッサ４によって行なわれ。

このマイクロブロセｌす４の動作は、ル０Ｍ６１Ｃ記憶
されている制御命令の集合、いわゆるプログラムにより
て制御される。

以下説明する本実施例の動作は、この）ＬＯＭ　６に記
憶されているプログラムによって動作するものである。

これを動作させるためには、まずタブレーＩ）１に、消
去したい領域を囲む閉曲巌ヲ入カペン２を用いて入力す
る。ｆプレット１の出力は、標本化周期毎に入力ペン２
のＸ軸座標値ｘ、Ｙ軸座標値ｙおよび、入力ペン２がタ
ブレット１の入力面に圧着しているか否かを示すＺ軸情
報（Ｌ）ＯＷＮかＬＪＰ）を出力する。マイクロプロセ
ッサ４はこのタブレ・・ト１の座標情報をタブレットイ
ンタフェイス回路３を介して取り込む。

マイクロプロセッサ４は、このタブレット１より得られ
た閉曲線（ペン２のＬｌ　ＯＷ　ＮからＵＰまでの曲線
）を示す座標値列を元に１部分消去の処理を行う。

ここで、標本点Ｐｉの座標値’２　（ｘｉ　、　ｆｆｔ
　）とすれば、これはディスプレイ９の表示画面上の座
標系で１）（ｘ、　、、ｙ、　）の画素に対応し、ビデ
オ）ＬＡＭ　７のＶ（ｘ、、ｙ、）の記憶エリア（アド
レス゛）に対応コするものとする。

第２図に示すフローチャートを用いて１本実施例におけ
る部分消去の動作を説明する。

閉曲線を構成する標本点Ｐｉがマイクロプロセッサ４Ｉ
Ｃ取り込まれるごとに、ステップ１０１の座標変換、ス
テップ１０２の始点か否かの判定、ステップ１０６の終
点か否かを判定を行い、各判定結果に対応して引き続く
処理を行ってゆく□ まず標本点）’＆　（、！、　、　ｙ＜　）がとり込ま
れると、ステップ１０１にて、下記の座標変換を行う。

Ｘｔ＝ｘ＝／Ｎ（Ｎは１以上の数） Ｙ、　＝　！／、／Ｎ 以後この座標変換された標本点Ｐ　６　＝　ＣＸＬ　−
ＹＬ　）を用いる。

次に、今取り込まれた標本点Ｐｉが始点か否かをステッ
プ１０２で判定する。始点は、閉曲線の筆記開始点で、
人力ペン２がＵＰからＬ）ＯＷＮＫ至った厳初の点であ
る。よって１判定は、ＵＰ、ＤＯＷＮを示すＺ軸情報Ｚ
ｉを用いて、標本点ＰｉのＺｉがＬ）ＯＷＮ　Ｙ示し、
直前の標本点Ｐｉ−１のＺ２−１が（ＪＰのとき、標本
点Ｐｉを始点と判定することができる。

判定結果が肯定（始点）であれば１部分消去用ルＡｆ１
ｉ４１３の初期化をステーｙ７１０４で、外接枠メモリ
１２の初期化！ステタブ１０５でそれぞれ行い、ス。

テップ１０６にて、始点Ｐ、の座像値（ＸＯ、ＹＯ）を
始点座標メモリ１０に記憶し、ステップ１０７にてこの
座標値（Ｘｏ　、　Ｙｏ　）に対応する部分消去用Ｒ，
ＡＭ１５の所定のメモリエリアｆ　（Ｘｏ　、Ｙｏ　）
にマーク信号を書き込む。またステップ１０８にて前標
本点座標メモリ１１に始点ｐ、の座標値（Ｘｏ　、　Ｙ
ｏ　）　？：記憶する。

なお、外接枠メモリ１２は外接矩形を示すＸ座標の最大
値ムａｘ　、最小値ムｉル、ｙ座標の最大値Ｙｍ。Ｘ最
小値Ｙｒｎｉルを記憶するものであり、ステップ１０５
の外接枠メモリ１２の初期化は、ム、ル＝ムａｘ＝Ｘａ
。

Ｙｍｉ　ｎ　＝Ｙｍａｘ　＝　Ｙｏ　　とすることであ
る。

ステップ１０２０判定結果が否定（始点以外）の場合は
、標本点Ｐｉ＝ＣＸｉ　、　Ｙｉ　）に対して、ステッ
プ１０９にて外接枠メモリ１２の記憶値を比較され。

Ｘ、　＜　ＸＪｎｉｒＬならＸｒｎｉｎ　＝　Ｘ６Ｘｉ
　＞　Ｘｒｎ、、ならｘｒｎａｘ　＝　ＸＬＹｉ　＜　
ＹｒｎｉユならＹＬｉユ＝ＹｉＹＬ＞ＹｒｌＬｃＬｘな
らＹｍ（ＬＸ　＝　Ｙｔのよ５に、外接枠メモリ１２の
記憶値を更新する。

そして、ステップ１１０にて前標本点Ｐ’ｉ−゛１と現
標本点Ｐｉとを直線で補間する補間点Ｈｊ　＝　（Ｘｊ
　、　Ｙ、）を求める。補間点Ｈ，は隣接する補間点Ｈ
，＋　、とで。

ＩＸノ゛　−Ｘノー１１　≦　１ １　Ｙｉ　　−　　Ｙｉ　−、　　１　　≦　１となる
点をとる。この補間方法は、周知であり本発明に直接関
係しないので説明は省略する。

続いて、ステップ１１１にて得られた補間点ル“および
現標本点Ｐ、の座標値に対応する部分消去用ＲＡＭ１３
の所定のエリアにマーク信号を書ぎ込む。

そして、ステップ１１２にて前標本点座標メモリ１２に
現標本点Ｐｉの座標値を記憶しておく。

次に、ステップ１０３にて現標本点Ｐｉが終点か否かを
判定し、否であれば次の標本点が取り込まれるまで待機
する。終点（始点と同様に、Ｚ軸情報を用いてあらかじ
め終点である旨のフラグが立っているものとする。）で
あれば、閉曲線の始点と終点との間を直線補間するため
に、すでに始点座標メモリ１０に記憶しである始点座標
と現標本点である終点座標とを用いて、ステタブ１１４
にて補間点を抽出し、ステップ１１５にて補間点座標に
対応する部分消去用ＦＬＡＭ１３の所定のメモリエリア
にマーク信号を書き込む。

以上の動作によって、部分消去用ＲＡＭ１３には。

タブレット１上に筆記した閉曲線がＸ、Ｙ＠に対して１
／Ｎに縮小されたものがマーク信号として記憶されたこ
とｋなる。しかも、各マーク信号は。

Ｘ、Ｙ座標系において、隣接したものとなっている。こ
の様子を第３図に示す。第３図の（１）は、タブレット
１の出力を示し、（２）は１部分消去用１（、Ａ　Ａ−
’１３に記憶されたリーク信号を示す。

次に、ステップ１１６で、閉領域マーク処理として、こ
の部分消去用ルＡＭ　１３に書込まれたマーク信号と、
外接枠メモリ１２に記憶されたＸｙｉｎ　、　Ｘｍａｘ
Ｙｍｉｎ、　＊　ＹｍαＸのデータをもとに、閉領域を
検出し。

これに対応するディスプレイ９の閉領域の消去動作を行
つ１．閉領域マーク処理の動作については第４図および
第５図を用いて説明する。

閉領域マーク処理は、第５図に示す様に、まずステップ
２０１にてＹ軸座標値ｙ　ｋ　Ｙｒｎｉｎとして。

このときの交点数と交点のＸ軸座標値＝ｔＹステ・・ブ
２０２にて検出する。交点の検出は、第４図に示すよう
に、ＸをＸｍ　ｉ　ｎより小の値から始めｓ　Ｘｍ（１
２より大なるまで変化させ、このとき（ｘ、ｙ）に対応
する部分消去用メモリ１３のメモリエリアの記憶値ｆＣ
！、ｙ’）がマーク信号か否かＫよって行う。

もっと具体的にはｆ　（Ｚｔ−＋　、　ｙｔ）がマーク
信号でなく（これを以下スペース信号と称す）、　ｆｃ
ｘ、、ｙｉ）がマーク信号のときを交点とし、検出した
交点の数を現交点数メモリ１５に記憶するとともに各交
点のＸ軸座標値Ｘ、を交点座標メモ１月６に記憶する。

また、この交点数はステップ２０３にて前交点数メモリ
１４にも記憶しておく。

以下、Ｙ軸座標値ｙを１ずつＹｍ（Ｌ□−１まで増加さ
せながら、各ｙ値に対して、繰り返し、次に述べる処理
を行い、具体的に閉領域を検出していくｂｙ（ｉＹ１増
加後ステップ２０４にて再び前述のステップ２０２と同
様に交点検出処理を行う。そしてステップ２０５　にお
いて判定を行い、現交点数メモリ１５内の値が、２であ
る場合、あるいは、偶数でかつ前交点数メモ１月４内の
値との差が２より小なる場合は、次の処理を行う。

即ち、この場合、交点数ルは偶数であり、各交点のＸ軸
座標値をｘｌ、・・・、ｘ、とすると、ステップ２０７
にて、　２ｇ　二！２４−１　、　ｘ、＝３：２６　（
ｉ　＝１〜ｒＬ／２　）とする。そして、ステップ２０
９にて、現ｙ値に？けるＸ、からｘ６までの間を閉領域
とみなし、マーク処理として、対応する区間の部分消去
用ＲＡＭ１５の所定のエリアにマーク信号を書き込む。

以上の処理を４７２回繰り返す。

一方、ステップ２０５における判定結果が否定的である
場合には、ステップ２１０において内外判定処理を行う
。このケースは１例えば第４図に示すｙ、のケースで、
交点数が３の場合である。このときの交点のＸ軸座標’
ｊｘ１　、　Ｊ２　、２５とすれば、ｘｌとｘｌの間、
ｘｌとｘＳの間が各々の閉領域か否かをステップ２１０
にて判定するものである。

この内外判定処理を第６図を用いて説明する。

交点数をル、交点座標をｘｌ、　２２・・・Ｘ、とすれ
ばステップ３０１にてｇ、　＝　５４　、　Ｚ　、　＝
　ｘ（＋１とし、ステップ５０２にてその中点ｘ０を求
める。そして、Ｘ座標値をｘｏとし、Ｘ座標値を直前の
値であるｙ−ＩＶＣして、　　（ｘ、、ｙ−１）に対応
する部分消去用）ＬＡＭ１３のメモリエリアの値ｆＣ２
４、３＋−１’）　カマーク信号であるか否かをステッ
プ５０５にて判定し、肯定であれば、現ｙ値におけるＸ
、からＸ、までの間は。

閉領域であると判断し、ステップ３０４にて、前述と同
様のマーク処理、即ち対応する区間の部分消去用ＲＡＭ
の所定のエリアにマーク信号を書き込む。こ五を、ｒＬ
−１回くり返す。

次に、ステップ２１１にて前交点数メモリ１４に現交点
数メモリ１５内の値を書き込んでお（。

以上のステリプ２０４　、２０５および２１１の処理を
。

ｙの値を１増加するごとに行い、　Ｙｍ、、　　１まで
くり返す。

尚、第４図の例では、内外判定処理を行つ／値は、ｙ、
とｙｔヤ２の時である。

以上の閉領域マーク処理によって部分消去用ＲＡＭ１３
には、閉領域に対応するメモリエリアのすべてにマーク
信号が書き込まれ、他は、スペース信号となる。

よって、ディスプレイ９の表示画面に対応する閉領域の
消去は１部分消去用）ＬＡＭｌｓの座標（Ｘ。

Ｙ）Ｋ対応するメモリエリアの値を読み出し、これがマ
ーク信号であればｒ＝ＸｘＮ　、ｙ＝ＹｘＮとして元の
座標に変換し。

ｘ＠息真＝ｘ、ｘＩＩ４Ｊ二ｘ十Ｎ−１％ｔＡ：：ｙ、
　ｙ、、、　＝　ｙ　＋　Ｎ　−１とする矩形内に対応
するビデオＩ−ＬＡへ１７の所定のメモリエリアの１直
？消去を示すデータに書きかえればよい。この動作を９
部分消去用１（、Ａｈｌ１３の外接矩形Ｘｍ１ｎ　＊　
Ｘｍａｘ　＊　Ｙｍｉｎ　ｒ　Ｙｍａｘ内のすべてのデ
−タについておこなう。

［発明の効果〕 以上説明したよ’１に、本発明によれば、成るＹ値Ｙ、
に対し、Ｘ僅を変化したときの閉曲線との交点数が、奇
数の場合、或いは２以外の偶数で直前に求めたＹ値Ｙｉ
−１における交点数との差が２以上の場合、隣接する交
点間が閉領域か否かを、前に求めている閉領域に続くも
のか否かによって判断することにより、極点の問題を回
避し、処理の高速化を図ることができるととも忙１部分
消去領域を、座標圧縮した２次元配列で記憶することに
より、処理用のメモリの容量を大幅に低減（圧縮比ル＝
２とすればル２＝４で１／４に低減）することが可能と
なり、閉曲線の長さが長くなっても正しく閉曲線を検出
することができる。また、この圧縮によって閉領域検出
処理量も大幅に低減することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図。 第２図、第５図及び第６図はそれぞれ第１図のマイクロ
プロセッサの処理動作を説明するためのフローチャート
、第３Ｕ（１１は第１図のタブレ・トからの出力を、同
図Ｑ）は第１図の部分消去用ＩＬＡＭＫ記憶されたマー
ク信号を、それぞれ２次元座標系で模式的に示した説明
画、第４図は第２図の閉領域マーク処理の動作内容を説
明するための説明画、である。 １・・・タブレリト、２・・・入力ペン、４・・・マイ
クロ。 プロセッサ、７・・・ビデオＲＩＡＭ、９・・・ディス
プレイ、１２・・・外接枠メモリ、１３・・・部分消去
用ＲＡＭ。 １５・・・現交点数メモリ、１６・・・交点座標メモリ
。 菓　２　図 −一−−−−■ 一一 篤斗図 外接矩形

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、描画像が表示される表示手段の画面に対応して筆記
   された閉曲線のその標本点を入力手段によりプロセツサ
   に入力し、該プロセッサの処理により、入力された閉曲
   線の標本点から該閉曲線が囲む閉領域を検出し、前記表
   示手段に表示されている描画像のうちの該閉領域に対応
   しす部分を消去する描画像の部分消去方式において、前
   記プロセッサは、前記閉領域を検出するに当り、入力さ
   れた前記閉曲線の標本点を元に該閉曲線を連続した点列
   に変換し、該点列の各座標値に対応する２次元配列メモ
   リの各エリアに予め定めたマーク信号をそれぞれ記憶さ
   せた後Ｙ軸座標値を前記点列の取り得るその最小値から
   最大値までの間順次増加（或いは減少）させ、その各値
   についてＸ軸座標値を前記点列の取り得るその最小値か
   む最大値までの間変化させたとき、前記点列の構成する
   閉曲線との交点の数（以下、ｎとする）及びその交点の
   Ｘ軸座標値を前記２次元配列メモリに記憶されたマーク
   信号の分布からそれぞれ検出し、該交点のＸ軸座標値を
   小さい順にｘ＿１、・・・、ｘ＿ｎとし、検出を行つた
   当該Ｙ軸座標値に対し、その交点の数が２の場合或いは
   偶数でかつそのひとつ前に検出を行ったＹ軸座標値にお
   ける交点の数との差が２より小なる場合は、当該Ｙ軸座
   標値におけるＸ軸座標値ｘ＿２＿ｉ＿−＿１とｘ＿２＿
   ｉ（ｉは１からｎ／２までの自然数）との間の各座標値
   について、その座標値に対応する前記メモリのエリアに
   前記マーク信号を記憶させ、前記以外の場合には、Ｘ軸
   座標値ｘ＿ｊとｘ＿ｊ＿＋＿１（ｊは１からｎ−１まで
   の自然数）についてｘ＿ｃ＝（ｘ＿ｊ＋ｘ＿ｊ＿＋＿１
   ）／２を求め、ひとつ前のＹ軸座標値におけるＸ軸座標
   値ｘ＿ｃに対応する前記メモリのエリア内に前記マーク
   信号が記憶されている時のみ、当該Ｙ軸座標値における
   Ｘ軸座標値ｘ＿ｊとｘ＿ｊ＿＋＿１との間の各座標値に
   ついて、その座標値に対応する前記メモリのエリア内に
   前記マーク信号を記憶させ、それにより該メモリにおけ
   る前記マーク信号の記憶されているエリアに対応する各
   座標値を閉領域として検出することを特徴とする描画像
   の部分消去方式。 ２、特許請求の範囲第１項に記載の部分消去方式におい
   て、前記プロセッサは、入力された前記閉曲線の標本点
   を元に該閉曲線を連続した点列に変換する際、点列の各
   座標値を１／Ｎ倍（Ｎは１以上の数）して座標変換を併
   せて行うと共に、前記メモリから閉領域を検出する際、
   前記マーク信号の記憶されているエリアに対応する各座
   標値をＮ倍し逆変換を行って、閉領域として検出するよ
   うにしたことを特徴とする描画像の部分消去方式