JPS62267609A - 物品のギヤツプ測定方法 - Google Patents

物品のギヤツプ測定方法

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Publication number
JPS62267609A
JPS62267609A JP11313386A JP11313386A JPS62267609A JP S62267609 A JPS62267609 A JP S62267609A JP 11313386 A JP11313386 A JP 11313386A JP 11313386 A JP11313386 A JP 11313386A JP S62267609 A JPS62267609 A JP S62267609A
Authority
JP
Japan
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edge
gap
black
recognized
scanning
Prior art date
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Pending
Application number
JP11313386A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideo Tanpo
丹保 英男
Kazue Uchiyama
一栄 内山
Morio Sato
佐藤 森夫
Kozo Kasukawa
粕川 光三
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shin Etsu Engineering Co Ltd
Original Assignee
Shin Etsu Engineering Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Shin Etsu Engineering Co Ltd filed Critical Shin Etsu Engineering Co Ltd
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Publication of JPS62267609A publication Critical patent/JPS62267609A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は被検査物品を載承するX−Yテーブルの駆動に
よって被検査物品を移動させてその表面をカメラに映出
し、この映@信号を2値化するど共に、エツジ部分に仮
設され且つ大きさを1画素分とする白黒反転体の集合群
に、X方向又はY方向に走査線を走査して得られる白黒
反転体の座標値の認識によってギャップ部の片方上端エ
ツジと、他方下端エツジとを決定してギャップの41効
幅を設定するギャップ測定方法に関するものである。
〔従来背景及びその問題点〕
従来、被検査物品1:′あるビデオヘッド等のギャップ
の有効幅はミクロンオーダーの極小な為、旧来正確には
測定できなかった。
その理由はカーソル線や測定枠をギャップの片方上端位
置と、他方下端位置に直接セットすれば簡単に有効幅を
測定できると、想定されるが視野内で行なうセット作業
には緻密さを要し、必ずそれ等カーソル線や測定枠のセ
ットミスにつながるからである。
仮に、X、Y走査方向を2軸とする座標系で2値化され
た映像信号に、基準点から1画素ピッチで走査線を走査
し、得られる白黒反転座標値で、1画素ごとのエツジを
認識せしめ、その結果によってギ1rツブの有効幅を測
定することも考察されるが、走査線の走査途中にノイズ
やビデオヘッド自体の表面に微細な凹部が存在する為、
誤認をWlき正rI9な有効幅測定が不可能である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
本発明が解決しようとする問題点はギャップの有効幅を
正確に測定することにある。
〔問題点を解決する為の手段] 上記問題点を解決する為に講じた技術的手段はX、Y走
査方向を211−とする座標系内のギャップ部分の映像
信号を2値化メモリに記憶し、該記憶された映像信号内
において、1画素ビッヂ宛で走査づ゛る走査線の白黒反
転座標値でギt7ツプリーーチ範囲を測定し、該ギャッ
プサーチ範囲内で、・大きさを1画素分とする白黒反転
体の集合群を仮設し、その集合群をギャップサーチ範囲
内のギャップ部上端位置にセットしてX又はY方向に順
次走査して得られるその集合群内の白黒反転体の座標値
−Cギャップ部片方のエツジ上端を認識せしめると共に
集合群1画素ピッチでギャップのエツジに沿って下降さ
せ同様に走査線の走査により白黒反転体の座標値でエツ
ジを下端まで認識せしめた後、集合群をギャップ空間を
平行移動させて白黒反転体の座標値で他方のエツジ下端
を認識せしめて、片方のエツジ上端の認識位置と、他方
のエツジ下端の認識位置とでギャップの有効幅を設定す
ることである。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図はギャップ測定装置を示し、〈1)〈2)はX−
Yテーブル、(3)はそのテーブル(1)(2)に載承
支持された被検査物品、(4)はその被検査物品(3)
をI11幽するカメラ、(5)は映像信号をデジタル信
号に変換するA/D変換器、(6)はA/D変換器(5
)を経た映像信号を2値化等の演算処理する画像処11
装置、く7)は2値化メモリ、(8)は中央処理’JA
i!!(cpu) (9)はタイミングコントロール、
(10)はカーソルコントロール、(11)はRAM、
(12)はシステムプログラムを格納したItOt4、
(13)は前記RA)l  (11)に所要の設定デー
タを書込むキーボード、(14)は合成回路(15)は
A/D変換器、(16)はモニタである。
尚X−Yテーブル(1)(2)は必要に応じて水平方向
に回動可能な乙のであっても良い。
画像処理装置(6)はスレッシュレベルで映像信号を2
値化づると共に、その映像画面中にその処理範囲(測定
対@!域)を設定する設定カーソル枠(6′)を有し、
口の設定カーソル枠(6゛)内にある被検査物品(3)
の画像の2値化されるデータを2値化メモリ(7)内に
書込みする。
上記設定カーソル枠(6′)はその各辺を移動させるこ
とにより測定範囲を可変自在である。
2値化されるメモリ(7)はエツジ検出シーケンスの開
始によってX、Y走査方向を2軸とする座標系で走査さ
れる。その走査は画像処理装置(6) t’ 2値化さ
れた処理範囲(測定対象VJ、>を設定する前記カーソ
ル枠(6′)の基準点(0)(0)から走らせるもので
あるが、本発明は設定カーソル枠(6′)内においてま
ずギt・ツブリーチ範囲(17)を設定し、ぞのギャッ
プサーチ範囲内17)において大きざを1画素分とする
白黒反転体(al)からなる集合群(△)を仮Iffる
。その集合群(A>内の白黒反転体(rll)の座標値
でギャップ(C)片方のエツジ上端を認識せしめると共
に集合群<A)1画素ピッチでギャップ(C)のエツジ
に冶つて下降させ同様に走査線(B)の走査により白黒
反転体(al)の座標値でエツジを下端まで認識せしめ
た後、集合群(A>を1画素ピッチ宛ギャップ空間(b
l)を移動させて他方のエツジF D8 m分にその集
合群(A>をセットし、走査線(B)の走査ににり白黒
反転体(al)の座標値で他方のエツジF端を認識せし
めて、片方のエツジ上端の認識位置と、他方のエツジ下
端の認識位置とぐギャップ<C>の有効幅(X)を設定
するものである。
而して、本発明の測定方法を順を追って説明すれば、ま
ず第5図に示すように下記のフローを遂行するようにシ
ーケンス処理する(ステップ1)。
0続いてモニタ(16)に表わす方法としてネガかポジ
かを設定しくステップ2)、しきい値を越えた点を白、
しきい値以下の点を黒として2値化画像処理できるよう
にスレッシュレベルを設定覆る(ステップ3)。
0そしてX−Yテーブル(1)(2)が所定の原点位置
から図示するようにX方向及びY方向に移動して停止し
た後、カメラ(4)によって[G!されたステージ(T
)を設定カーソル枠(6′)に収める(ステップ4)。
0ステージ(T)が決定された後、前記画像処理された
2値化データを2値化メモリ(7)内に書込みする(ス
テップ5)。この時ギャップ(C)が不鮮明な場合には
しきい値を設定値よりも−1のしきい値とするように自
動設定可能とし、2値化してそのギャップ(C)を鮮明
にする(ステップ6)。
0ステージ(T>内において設定カーソル枠(6′)内
において1=ヤツプサーチ範囲(17)を処理対象範囲
に設定し、基準点(0)(0)に相当する点を決定し、
走査可能とする(ステップ7)。この場合にはステージ
(T)内の被検査物品(3)に設定カーソル枠(6′)
から1画素ピッチごとに上下方向から走査線(B)を走
らせ、白い点が10以下で且つそれが10以上連続しな
いラインを求め、そのラインがYカーソル(6″)より
上の位置ならば上ライン、下の位置ならば下ラインとし
て設定してギャップサーチ範囲(17)を決定する。
0ギヤツプサーチ範囲(17)内において第6図に示す
ように1画素分の大きさとする白黒反転体(al)の集
合体(A)をギャップ(C)片方(図面では左側)のエ
ツジ(C+ )上端部分に仮設する(ステップ8)。
(1)この集合体(A)を構成する白黒反転体(al)
には図示するように優先順位が決められており、上方か
ら優先順位ごとに走査1’W(B)を走らせ、その白黒
反転体(al)が例えば白から黒に反転する位置を、片
方のエツジ(cl)上端として認識させる。この場合の
チェック方法は上から下につながる白黒反転体(al)
を縦列ごとに走査することにより黒に反転し、しかも同
縦列上の反転体(at)2〜3個が黒として連続する縦
列側々の最上位の黒点を検出し、この黒点が隣接する縦
列群においてパターンがくずれる最上位の黒点位置を片
方のエツジ(C+)上端として認識する。
(2)次にこの黒点位置を第7図に示すよう白黒反転体
(al)の(0)と表示された反転体(al)に合致さ
せ、同様に上方からその(0)と同縦列上を走査し、反
転体(at)2〜3個が黒として連続すれば、その最上
位の黒点をエツジ(C1)部とし、更にこの集合群(A
)を1画素ピッチ進行させてその黒点に(0)と表示さ
れた白黒反転体(al)を合致させ、同様に走査して片
側のエツジ(C+ )下端まで認識させる。(0)の反
転体(al)列でエツジが認識できない場合、ゆ先順位
ごとに走査してエツジを認識させるが、ギャップサーチ
範囲(17)内ぐエツジ下端まで認識できなかった際に
は前記エツジ上端は真のエツジではないとして再度走査
をやり直す。
(3)片方のエツジ(C1)下端が認識された後、1両
系ピッチ宛に集合flF、 (Δ)を、ギャップ空間(
C2)を平行移動せしめ、そのギャップ(C)の他方の
エツジ(C3)下端部分にけツトし、片方のエツジ(C
1)上端を認識させる操作方法と同様にして他方のエツ
ジ(C3)下端を認識せしめ片方のエツジ(C+ )上
端の座標値と、他方のエツジ(C3)下端の座標値とで
ギャップの有効幅が測定可能となる。
・次に片方のエツジ(cl)上端位置(100)、他方
のエツジ(C3)下端位1(200)、X方向の中心位
置(300)を2値化されるメモリ(7)内にiq込み
、画面に表現するくステップ9)。尚、白黒反転体(a
l)の集合IJ(A)を用いる理由はギ1!ツブ(C)
を構成する両側のエツジ(C+ )(C3)はアンジュ
レーションが激しく、正確にそのエツジを確認する為で
ある。
(発明の作用効果) 本発明は以上のように構成したので下記の利点がある。
白黒反転体の集合群を用いてギャップのエツジを1画素
宛に追跡する方法を採っているから、エツジのHnミス
がなく、ギャップがミクロンオーダーであってもその有
効幅を正確に測定できる。
依って、所期の目的を達成できる。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明ギャップの測定方法の実施例を示し、第1
図は測定装置のブロック図、第2図はステージと被検査
物品との関係図、第3図はギ!・ツブサーチ範囲を設定
した状態を示す説明図、第4図はギャップリーチ範囲を
設定する状態を六1説明図、第5図は有効幅測定方法を
示すプログラムフロー、第6図はギャップの片方エツジ
上端を認識ざ「る状態を示す説明図、第7図はりtツブ
の片方エツジ下端を認識させる状態を示ず説明図、第8
図はギャップの他方エツジ下端を認識させる状態を示す
説明図である。 尚図中 (3):被検査物品  (B):走査線(1)(2):
X−Yテーブル <6’ ):設定カーソル枠 (4):カメラ  (C):ギャップ (a+ ):白黒反転体 (A)二集合酊(t)2) 
:ギャップ空間 (17) :ギVツブナーチ範囲 (7):2Klr化メモリ 特 許 出 願 人  信越エンジニアリング株式会社 第 2図 第 312I 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. X、Y走査方向を2軸とする座標系内のギャップ部分の
    映像信号を2値化メモリに記憶し、該記憶された映像信
    号内において、1画素ピッチ宛で走査する走査線の白黒
    反転座標値でギャップサーチ範囲を設定し、該ギャップ
    サーチ範囲内で、大きさを1画素分とする白黒反転体の
    集合群を仮設し、その集合群をギャップサーチ範囲内の
    ギャップ部上端位置にセットしてX又はY方向に順次走
    査して得られるその集合群内の白黒反転体の座標値でギ
    ャップ部片方のエッジ上端を認識せしめると共に集合群
    1画素ピッチでギャップ部のエッジに沿って下降させ同
    様に走査線の走査により白黒反転体の座標値でエッジを
    下端まで認識せしめた後、集合群をギャップ空間を移動
    させて白黒反転体の座標値で他方のエッジ下端を認識せ
    しめて、片方のエッジ上端の認識位置と、他方のエッジ
    下端の認識位置とでギャップの有効幅を設定する物品の
    ギャップ測定方法。
JP11313386A 1986-05-16 1986-05-16 物品のギヤツプ測定方法 Pending JPS62267609A (ja)

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JPS62267609A true JPS62267609A (ja) 1987-11-20

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JP (1) JPS62267609A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0277607A (ja) * 1988-09-13 1990-03-16 Sony Corp 形状寸法測定方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0277607A (ja) * 1988-09-13 1990-03-16 Sony Corp 形状寸法測定方法

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