JPS62240801A - 光路長差測定装置 - Google Patents

光路長差測定装置

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JPS62240801A
JPS62240801A JP8419786A JP8419786A JPS62240801A JP S62240801 A JPS62240801 A JP S62240801A JP 8419786 A JP8419786 A JP 8419786A JP 8419786 A JP8419786 A JP 8419786A JP S62240801 A JPS62240801 A JP S62240801A
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JP
Japan
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frequency
signal
difference
optical
optical path
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Application number
JP8419786A
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English (en)
Inventor
Nobuhiko Miura
三浦 信彦
Osamu Koike
修 小池
Toru Yamagami
徹 山上
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Hoya Corp
Original Assignee
Hoya Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光ヘテロダイン検波法を利用した光応用計測
装置に関し、光路長差測定装置に関する。
〔従来の技術〕
近年、光の性質を利用して高精度、非接触の計測を行な
う光応用計測が注目されているが、その場合、光干渉縞
の位相情報の測定分解能を高め、かつこれを自動測定す
るために光ヘテロダイン検波法が多く利用されている。
この光へテロダイン検波法は、ラジオのへテロダイン受
信と同様、検出したい信号に局部発振出力信号を混合し
、中間波信号(ビート信号)を発生して信号処理を行な
う方法である。電気通信では、局部発振出力信号を得る
ために、完全に独立した発振器を使用するのであるが、
光波干渉測定の場合には、中間波信号の周波数にゆらぎ
が生じない程度に安定した独立の発振器を製作すること
が困難である。そのため、検出したい光信号に対し一定
の周波数差を有するレーザ光を作成し、これを参照用の
光路を通して受信端に送って局部発振出力信号として用
いる。
このような光ヘテロダイン検波法を用いて、光路長差と
して示される被測定物の変位量を測定しようとする場合
、例えば第5図に示すような構成が考えられる。
同図において、例えばHe−Neガスレーザ1(波長λ
=632.8nms光周波数fo=474.1X106
MHz)から出射された、紙面上光軸に対して45・0
の方位を有する直線偏光からなる光ビーム2は、光周波
数シフタ3において、p偏光とS偏光とに分離され、そ
れぞれ水晶発振器4(発根周波数f+  )から増1は
器5を介して送出される電気信号により駆動される第1
の音響光学素子および水晶発振器6(発wt間波数fz
)から増幅器1を介して送出される電気信号により駆動
される第2の音響光学素子によって周波数シフトされた
後、再び同一光路上に合成されて出射される。
この光周波数がfo”f+のp偏光と光周波数がfo”
fzの8偏光とからなる出射光ビーム8は、無偏光ビー
ムスプリッタ9で2分割される。
このうち、反射光ビーム10は、方位角45°の偏光ビ
ームスプリッタ11においてp偏光成分とS偏光成分と
が合成された光ビーム12となり、光検出器13におい
て電気信号ioに変換される。
他方、透過光ビーム14は、方位角0°の偏光ビームス
プリッタ15においてS偏光の反射光ビーム16とp偏
光の透過光ビーム1Tとに分離される。このうち反射光
ビーム16は、1/4波長板18によシ円偏光ビーム1
9となり、反射鏡20で反射された後再び1/4波長板
1Bを透過し、p偏光ビーム21となってその″11偏
光ビームスプリッタ15を透過する。これに対し、透過
光ビーム17は、1/4波長板22により円偏光23と
なり、反射鏡24で反射された後再び1/4波長板22
を透過し、S偏光ビーム25となシ、偏光ビームスプリ
ッタ15において反射される。
偏光ビームスプリッタ15を透過したp偏光ビーム26
と偏光ビームスグリツタ15で上記p偏光ビーム26と
同一光路上に反射された(図ではわかりやすくするため
ずらして示した)S偏光ビーム2Tとは、方位角45°
の偏光ビームスプリッタ28においてp偏光成分とS偏
光成分とが合成された光ビーム29となり、光検出器3
0において電気信号i+に変換される。
同様に反射鏡25を光路上で・ΔLだけ移動させ、S偏
光ビーム2γ側の光路長を2・ΔLだけ長くした場合に
ついて電気信号il′を求める。位相検出器31におい
てioを基準としてil と 11Lとを比較すること
により、上記変位に相当する位相変化δが得られる。こ
れから、さらに演算器322・ΔL においてδ=2π・−ニーよシ変位ΔLを求め、その値
を表示器33に表示する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、上述した構成では、光周波数シフタ3の出射光
ビーム8を測定用光と基準用光とに二分するため、無偏
光ビームスプリッタ9が必要になるとともに、偏光ビー
ムスプリッタ15をはじめとする測定側の光学系の他に
、基準信号を得るたケ偏光ビームスプリッタ11や光検
出器13 (増幅器を含む)を必要とする。このため、
最適な信号を得るだめの光軸の調節作業が面倒であった
〔問題点を解決するだめの手段〕
本発明は、同一の基準用発振器から得られる第1および
第2の電気信号でそれぞれ駆動される2つの音響光学素
子を備え、同一のレーザ光から第1および第2の電気信
号の周波数差だけ光周波数の異なる2つの直線偏光を得
てこれを同一光路上に出射する光周波数シフタと、この
光周波数シフタの出力光を構成する2つの直線偏光に光
路長差を与える手段と、この光信号を電気信号に変換す
る光電変換手段と、上記基準用発振器から第1および第
2の電気信号の周波数差に相当する周波数の第3の電気
信号を出力する手段と、この第3の電気信号を基準とし
て光電変換手段の出力信号の位相変化を検出する手段と
を設けたものである。
〔作 用〕
基準側は光信号を用いず、はじめから電気信号のま1で
、測定用光を光電変換して得られる電気信号の位相変化
が検出される。
〔実施例〕
第1図は本発明の一実施例を示す構成図である。
第5図に示しだ従来例と異なる点は、水晶振動子(共振
周波数IMHz)  を内蔵した基準発振器41(発振
周波数LOkHz)に対し、N分周器を内蔵する第1の
PLL回路42A(分局比N=8000)および増幅器
42Cならびに第2のPLL回路42B(分局比N=7
000〜7990) および増幅器42Dからなる駆動
回路42を備え、その出力によって直交偏波形光周波数
シフタ3の各音響光学素子301.302 を駆動する
ことと、第5図の無偏光ビームスプリッタ9、偏光ビー
ムスプリッタ11および光検出器13を無くし、代りに
第30PLL回路43(分局比N=10〜1000 )
を用いている点である。
なお、第1ないし第3のPLL回路は、いずれも第2図
に示すような構成を有する。同図において、101 は
発振器41の出力を第1人力とする位相比較器、102
はa−パスフィルタ、103はローパスフィルタの出力
を制御信号とし、定常状態では上記第1入力の周波数と
後述する分周器104の分局比との積の周波数を出力す
る電圧制御発振器、104はこの電圧制御発掘器103
 の出力をl/N の分局比に従って分周して位相比較
器101 の第2人力とする分周器である。入力周波数
をf IN、出力周波数をf。Uアとすると、fOUT
 ”N’ flN という関係がある。
上部構成において、第1のPLL回路42Aの分周器の
分周比を8000 とすれば、その出力は、f+=80
MHzの信号になる。この信号は、増幅器42Cにより
増幅されて、光周波数シフタ3の一方の音響光学素子3
01  を駆動する。同様に第2のPらL回路42Bの
分周器の分局比を7900とすれば、その出力はfz=
79MHzの信号となる。この信号は、増幅器42Dに
より増幅されて、音響光学素子302を駆動する。なお
、第2のPLL回路42Bにおいては、分局比が前述し
たように7000〜7990 の範囲で可変であり、出
力周波数を70.0〜79.9 MHz  の範囲で0
.1 MHz間隔で任意に設定できるものとなっている
。また、音響光学素子301.302 は、テルライト
ガラス(HOYA■製AOT−5)  からなる音響光
学媒体の側面に、LiNbO3の3600Y板(圧電板
)の両生表面に励損電極を付着形成したトランスジュー
サを配置したものである。
ここで、前述したと同様のHe−Neガスレーザ1(λ
= 632.8nm 、 fo = 474.1 X 
106MHz)から出射された元ビーム2(紙面上光軸
に対して45°の方位を有する直線偏光)を光周波数シ
フタ3に入射させる。
光周波数シフタ3において、光ビーム2は、偏光ビーム
スプリッタ303 によりp偏光の透過光ビーム307
  とS偏光の反射光ビーム308とに分離され、前者
は音響光学素子301 に、後者は反射鏡304を介し
て音響光学素子302にそれぞれ入射する。音響光学素
子301,302は、それぞれ80MHz、79MHz
で駆動されていることから、出力としてfo + 80
MHz の1次回折光309 およびfo+79MHz
 の1次回折光310が得られ、前者は直接に、また後
者は反射鏡305を介して偏光ビームスプリッタ306
に入射し、そこで同一光路上に合成されて出射される。
この出射光ビーム8は、第4図に示したものと全く同様
に偏光ビームスプリッタ15.1/4波長板18,22
、反射鏡20.24および偏光ビームスプリッタ28か
らなる光学系を経て光検出器30に入射する。このとき
、S偏光ビーム27の電界成分Exlおよびp偏光ビー
ム26の電界成分gyt は次のように表わされ、 F、xl = Axt ax(2π(fo”f+)t+
φ11・・・(1)Ey+ = Ayx cos(2π
(fo”fz)t+φ2)・・・(2)AXI HA7
1 :振幅 φ1 、φ2 :位相 光検出器30の出力として次のような電気信号が得られ
る。
lt −Axt  + Ayl  + 2Axs Ay
t cos (2πΔft+Δφ)・1(3) Δf”fzf+ Δφ=φ2−φ1 ここで前述したと同様に反射鏡24を移動させてS偏光
ビーム27側の光路長を2・ΔL だけ長2・Δし くすると、その位相がδ=2π・−アーだけ変化し、(
1)式の電界成分EX1は(4)式の電界成分gX%の
ようになる。
gz、’= Axl cos (2π(fo+f+)t
+(φ1+δ月・・・(4) これにより、光検出器30からは(5)式で示されるよ
うな電気信号iI′が得られる。
i+’ = AX+2+Ay、2 + 2AxlA)’
+co!+(2πΔft+(Δφ−δ〕) ・・・(5) 一方、第3のPLL回路43の分周比を100とすれば
、その出力としてIMHz の電気信号io′が得られ
る。なお、第3のPLL回路43においては、分局比が
前述したように10〜1000の範囲で可変であり、出
力周波数は0.1〜IOMHzの範囲で0.1 MHz
間隔で任意に設定できるものとなっているが、ここでは
分局比を第1および第2のPLL回路の分局比の差とし
、fz  f+に相当する周波数の出力信号を得る。
この電気信号io′は次のように表わされる。
i(1’ = Acos (2πΔft)      
 ・・・(6)A:振幅 Δf : IMHz そこで、位相検出器31においてこのio′ を基準と
してi+と t 、l とを比較することによシ、位相
変化δが測定でき、その結果から演算器32において変
位ΔLが求められる。
PLL回路42A、42B、43はいずれも学−の水晶
振動子を用いた基準発振器41から入力信号を得ている
ため、光ビーム29のビート周波数および基準信号の周
波数安定度を、上記水晶振動子の安定度と同等にするこ
とができる。
なお、上述した実施例においてp偏光ビーム26と8偏
光ビーム2γとを合成して得られる光ビーム29のビー
ト周波数をIMHz  としだが、これはこの値に限定
されるものではない。例えば、第1のPLL回路42A
における分周比8000はそのままで、第2のPLL回
路42Aの分局比を7000とすることにより、ビート
周波数をlOMHzとすることができる。この場合、第
3のPLL回路43における分間比はtooo  とす
ることはいうまでもない。
第3図は本発明の他の実施例を示す構成図である。本実
施例では、第1図に示した偏光ビームスプリッタ15.
1/4波長板18.22 および反射鏡20.24から
なる光学系は用いず、代りに2つの直交直線偏光間で光
路差が生ずるような複屈折物質51を配置している。複
屈折物質51は、例えば水晶、方解石などからなシ、そ
の複屈折の主軸方向が直交偏波形光周波数シフタ3の谷
側波方向にそれぞれ一致するように、つ葦り、8偏波方
向を異常光線(または常光線〕の主軸方向に、p偏波方
向を常光線(または異常光線)の主軸方向にそれぞれ一
致させて配置する。
例えばS偏波方向を異常光線、p偏波方向を常光線の主
軸方向にそれぞれ一致させた場合に、異常光線屈折率を
ne、常光線屈折率をn。とじて、複屈折物質51の光
、の進行方向の寸法(厚さ)をdとすれば、出射光ビー
ム8を構成するS偏光ビームおよびp偏光ビームの複屈
折物質51内での光路長はそれぞれn、d と n。d
 となシ、その光路長差tはd (ne−no)  と
なる。これはま2π た、位相差に換算するとδ= 了xt となる。
複屈折物質51の出射光ビーム52を構成するS偏光ビ
ームとp偏光ビームとは偏光ビームスグリツタ28にお
いて合成された光ビーム29となシ、光検出器30にお
いて電気信号12に変換される。位相検出器31におい
て電気信号t o+との位相差δを検出することにより
、光路長差tが求められ、さらにneとn。とが既知で
あれば厚さdが、また厚さが既知であればn e  n
 oの値が求められる。
なお、同一のレーザ光から光周波数の異なる2つの直線
偏光を合成した光ビームを得るための構成は、上述した
実施例に限定されるものではない。
第4図に、他の構成例を示す。
同図において、Krイオンイオンガスレーザ1人(波長
λo=647、tnm、光周波数fo=463.6X]
06MHz)  から紙面に対して垂直な電界成分を有
する直線偏光(S偏光〕として出射されたレーザ光2A
は、分離機能を有する半透過鏡311を通して透過光ビ
ーム312(s偏光〕 と反射光ビーム313 (s偏
光〕 とに分離される。このうち透過光ビーム312は
上述した実施例と同様に駆動回路42からの電気信号で
駆動される第1の音響光学素子314に入射する。そし
て回折光ビーム315(S偏光)がこの音響光学素子3
14から出射され、反射鏡316にて反射され、さらに
光ビームの進行方向のまわりに45°回転させて配置さ
れた、偏光変換機能を有する1/2波長板317 を通
して、紙面に平行な電界成分を有する直線偏光(p偏光
)の透過光ビーム318 となって、偏光結合機能を有
する偏光ビームスグリツタ319 を透過する。
他方、反射光ビーム313は、同じく駆動回路42から
の電気信号で駆動される第2の音響光学素子320に入
射する。そして回折光ビーム321(S偏光)がこの第
2音響光学素子320から出射して、反射鏡322にて
反射され、前述した偏光ビームスプリッタ319 で反
射される。
この結果、本実施「りにおいても、偏光ビームスプリッ
タ319の出射光ビーム8Aとして一定の光周波数差(
本例5 MHz )  を有するp偏光と3偏光とが互
いに直交して同一光路上で合成された光ビームが得られ
る。
ここで、本実施例においては、第1の音響光学素子31
4のブラック角調整のための回転中心から反射鏡316
の回転中心までの距離L1と、この反射鏡316の回転
中心から偏光ビームスプリッタ319の回転中心までの
距離L2との合計値(LI”L2)を、第2の音響光学
素子320のブラック角調整のための回転中心から反射
鏡の回転中心までの距離L3と、この反射鏡322の回
転中心から偏光ビームスプリッタ319の回転中心まで
の距離L4との合計値(L3”L4)  に実質的に等
しく定めている。このため、第1および第2の音響光学
素子の各中心周波数を変化させて、出射光ビーム8Aの
方向を一次元的に変化させた場合に3いても、その変化
の前後においてそれぞれの出射光ビームの同一光路上で
の合成および一定の光周波数差を保持することができる
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、基準側の光学系
が不要となり、光軸合せ等の面倒な作業が不要となる。
また、基準用の電気信号および各音響光学素子を駆動す
るそれぞれ異なった周波数の電気信号は、同一の基準発
信器から形成されるため、高い安定度が維持できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図はその
うちのPLL回路の構成を示すブロック図、第3図およ
び第4図はそれぞれ本発明の他の実施例を示す構成図、
第5図は従来例を示す構成図である。 1.1A ・・・・レーザ、3,3A−m−・光周波数
シフタ、15.28・・・・偏光ヒームスグリツタ、1
8.22・・嗜・1/4 波長板、20.24・・・・
反射鏡、30・・・・光検出器、31・・・・位相検出
器、32・・・・演算器、41・・・・基準発振器、4
2・・・・駆動回路、43・・・−PLL回路、51・
・・・複屈折物質、301.302,314.320 
 ・・・・音響光学素子。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基準用発振器と、この基準用発振器の出力信号から所定
    の周波数差を有する第1および第2の電気信号を出力す
    る駆動回路と、レーザ光を分離して得られる2本の直線
    偏光を入射しかつそれぞれ第1および第2の電気信号に
    より駆動される第1および第2の音響光学素子を有し光
    周波数の異なる2つの直線偏光を合成して出射する光周
    波数シフタと、この光周波数シフタの出力光を構成する
    2つの直線偏光間に光路長差を与える手段と、これら2
    つの直線偏光からなる光信号を電気信号に変換する光電
    変換手段と、基準用発振器の出力信号から第1および第
    2の電気信号の差の周波数を有する第3の電気信号を出
    力する手段と、第3の電気信号を基準として光電変換手
    段の出力信号から光路長差に対応する位相変化を検出す
    る手段と検出された位相変化を算出する手段とを備えた
    ことを特徴とする光路長差測定装置。
JP8419786A 1986-04-14 1986-04-14 光路長差測定装置 Pending JPS62240801A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011099756A (ja) * 2009-11-05 2011-05-19 Canon Inc 計測装置

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JP2011099756A (ja) * 2009-11-05 2011-05-19 Canon Inc 計測装置

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