JPS62238426A - 吸光・螢光多波長光度計 - Google Patents

吸光・螢光多波長光度計

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Publication number
JPS62238426A
JPS62238426A JP8164586A JP8164586A JPS62238426A JP S62238426 A JPS62238426 A JP S62238426A JP 8164586 A JP8164586 A JP 8164586A JP 8164586 A JP8164586 A JP 8164586A JP S62238426 A JPS62238426 A JP S62238426A
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JP
Japan
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light
white light
specimen
light source
irradiate
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Pending
Application number
JP8164586A
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English (en)
Inventor
Fujiya Takahata
高畑 藤也
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は吸光螢光多波長光度計に係シ1%に吸光・螢光
の同時測定の可能な吸光螢光多波長光度計に関する。
〔従来の技術〕
螢光光度計は、励起側分光器で分光された励起光を、測
定対象試料が収容された試料容器に照射し、試料から発
する螢光全螢光側分光器で検知するものである。
ま九、一般の螢光光度計はその光学系は単一であるのに
対し、近年にあっては光学系を2つ有するものが公知と
なっている。これは単一の光学系にあっては、拭材自体
が濁ったもの、たとえば生体関連物質等はヘモクロビン
、ビリルビン等の影響が共存し、これが原因となる測定
誤差を、他の光学系で検知する測定誤差要因によって除
くようになっているものである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、このような複数の光学系をもつものは。
一方の光学系が構成する測定側と、他方の光学系が構成
する対象側の双方に試料を必要としたものでちり、それ
にともなって光学系も複雑となっていた。
そして、上記螢光光度計は、測定誤差を除くことはでき
るが、誤差の要因となる妨害成分が向に由来するかの判
別は全くできないものであった。
それ故1本発明はこのような事情に基づいてなされたも
のであり、構成を極めて簡単化し、しかも被測定対象試
料中の共存成分の影響を低減させるようにした吸光・螢
光多波長光度を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
このような目的を達成するために1本発明は、単一の白
色光源と、この光源の白色光をとり出しそのまま試料容
器に照射する第1の光学系と、前記白色光をとり出す方
向と異なる方向から前記光源からの光を分光手段を介し
て単色光化して前記試料容器に照射する第2の光学系と
を備えるようにしたものである。
〔作用〕 このようにすれば、螢光測定と吸光測定とができるよう
になり、したがって、同一試料の螢光強度と吸光度の測
定が容易になシ、このことから吸光度値による螢光強度
の補正ができるようになる。
〔実捲例〕
第1図は本発明による吸光・螢光多波長光度計の一実施
例を示す構成図である。光源1から発した光は、相異な
る2方向から取シ出される。一方の白色光は励起側光学
系に導びかれ集光鏡2で集光された後、回折格子3で単
色光に分光され、励起光として試料容器7に照射される
。励起光によって励起され、発した螢光は螢光側分光器
3に導びかれ、回折格子で単色光に分光された後、複数
個の検知素子から構成された検知器8で螢光強度として
検知される。この場合は、たとえばフルオレツセーの場
合、励起側波長が493順で、螢光側波長が510mと
なる。他方の白色光はレンズLで集光された後、平面鏡
4によって、試料容器7に照射する様に導ひかれる。白
色光のうち、ある特定の波長の成分は、試料によシ吸収
される。
該白色光は、試料容器7透過後、前記螢光側分光器3に
導びかれて、単色光に分光され検知器8によって、その
光信号が検知される。なお励起光側シャッタ5及び白色
光照射側シャッタ6は、交互に開閉する。例えば、螢光
測定の場合には、励起光側シャッタが閉の状態にあシ、
白色光照射側シャッタは閉の状態にある。−力板光測定
の場合には前記の逆となる。実施例の図中、Lで示され
たものは集光レンズである。
第2図に懸濁試料による螢光測定の一例を示す。
螢光強度として観測される工は、見かけの螢光強度であ
シ、実際には@濁成分によるバックグランドI+iと、
試料由来の螢光強度Itの和である。
従って螢光測定で得られる信号Iから、吸光測定で得ら
れる信号Imf4:差引くことにより、真の試料由来の
螢光強度Itが求められる。
本実施例における光源は連続光(白色光)t−発する光
源のみでなく、輝線を発する光源もその応用例となる。
輝線スペクトルの波長が、螢光色素の励起波長と合致す
る場合には、励起側分光器は干渉フィルタに置き換えら
れ、更に簡略化できる。
また本発明における実施例では、複数個の検知素子から
構成される検知器となシ、各波長の検知素子の吸収特性
から回折格子を回転することなく共存成分を定性的に見
出すことができる。
以上説明した実施例によれば、以下の効果を奏すること
ができるようになる。
(1)シンプルな光学系で、吸光測定と螢光測定の両者
が達成できる。
(2)  単一の光源でかつ、同一の螢光側分光器を螢
光測定と吸光測定の両方に使用する為、コスト低減がは
かれる。
(3)  測定試料中の共存物の影響を検出し、これを
見かけ上の螢光強度に対して補正することが可能となる
ので、共存物の影響を無視した螢光強度が求められる。
(4)  多波長吸光測定が可能な為、共存成分(妨害
成分)の種類が定性的に判別できる。
(5)妨害成分の影響の除去が可能となり、螢光測定の
精度向上がはかれる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明による吸光・螢光多波長光
度計によれば、構成を極めて簡単化し、しかも被測定対
象試料中の共存成分の影響を低減させるようにすること
ができるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による吸光・螢光多波長光度計の一実施
例を示す構成図、第2図は本発明の効果を示すグラフで
ある。 1・・・光源、2・・・集光鏡、3・・・回折格子、4
・・・平面鏡、5・・・励起光側シャッタ、6・・・白
色光照射側シャッタ、7・・・試料容器、8・・・検知
器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、単一の白色光源と、この光源の白色光をとり出しそ
    のまま試料容器に照射する第1の光学系と、前記白色光
    をとり出す方向と異なる方向から前記光源からの光の分
    光手段を介して単色光化して前記試料容器に照射する第
    2の光学系とを備えることを特徴とする吸光・螢光多波
    長光度計。 2、前記試料容器から発した光または螢光が前記分光手
    段と異なる分光手段を介して入射される回折分散素子と
    、この素子によつて生じた分光スペクトルを測光する複
    数の検知素子からなる検知器を備えた特許請求の範囲第
    1項記載の吸光・螢光多波長光度計。 3、各光度計における試料容器に照射する光を交互に遮
    断するシヤツタ機構を有する特許請求の範囲第1項記載
    の吸光・螢光多波長光度計。
JP8164586A 1986-04-09 1986-04-09 吸光・螢光多波長光度計 Pending JPS62238426A (ja)

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JPS62238426A true JPS62238426A (ja) 1987-10-19

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JP8164586A Pending JPS62238426A (ja) 1986-04-09 1986-04-09 吸光・螢光多波長光度計

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