JPS62234361A - 電圧発生回路 - Google Patents

電圧発生回路

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Publication number
JPS62234361A
JPS62234361A JP61078554A JP7855486A JPS62234361A JP S62234361 A JPS62234361 A JP S62234361A JP 61078554 A JP61078554 A JP 61078554A JP 7855486 A JP7855486 A JP 7855486A JP S62234361 A JPS62234361 A JP S62234361A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inverters
ring oscillator
substrate
stages
node
Prior art date
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Pending
Application number
JP61078554A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshio Nishimoto
敏夫 西本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、たとえば、ダイナミックランダムアクセスメ
モリ (以下、D−RAMという)を本体として有する
半導体装置の基板に所定電位を与えるのに好適な電圧発
生回路に関するものである。
従来の技術 半導体装置の基板に所定電位を与えるための電圧発生回
路は奇数段のインバータからなるリングオシレータと、
リングオシレータの出力を増幅する1個の手段と、°基
板への電荷注入をする手段とからなる回路構成のものが
よく知られている。この種の従来例を第3図に示し、第
3図に示された各ノードの電圧波形全第4図a、  b
、 cに示す。
従来は第3図に示すように7段インバータXt+〜Ly
からなるリングオシレータの発振周期に同期して、イン
バータII+の出力(ノードN11)を増幅する手段(
以下バッファと示す。)Bloの出力”001はハイ 
(′H”)レベルとロウ(L”)レベルを交互に繰返す
Op型基板の場合、バッファB10の出力VoH)が″
H″レベルの期間、コンデンサC10の対向電極のノー
ドNB 10は接地電位よりも絶縁ゲート形電界効果ト
ランジスタ(以下、MISFKT)Qloのしきい値電
圧Vrだけ高い電位を保つ。バッファB10の出力vo
lがL”レベルになるとコンデンーサC10のカップリ
ングにより、ノードNB1oは負方向に変化1、基板S
UBの電位よりもさらにMISFETQllのしきい値
電圧以上低くなると、同MrSFET Ql 1は導通
し、/−)’NB10から基板へ電子が注入され、負の
基板電位が発生する。バッファB1oの出力v010が
再び1vレベルになるとコンデンサG1oのカップリン
グによりノードNB1oの電位は上昇し、MISFI!
TQ10のしきい値電圧より高くなると、同M I 8
 F ICT Q1oid導通し、ノードNB10には
電子が貯えられ、次回の基板への注入に備えられる。
発明が解決しようとする問題点 従来の技術では、基板への電荷注入は、1個のバッファ
により行なわれるため、全期間の約半分の期間行なわれ
るにすぎず、残り半分は基板への電荷注入に行なわれな
い。一方、基板に注入された電荷は基板上に設けられた
本体回路が動作することにより消費される。例えば、D
−RAMのような高速で動作する本体回路とともに従来
の基板電位発生回路を用いると、基板への電荷注入が行
なわれていない期間にメモリ動作が行なわれてしまい基
板内に注入された電荷が消費され、基板電位が低下する
。基板電位発生回路による基板への電荷注入と、基板上
に設けられ九本体回路による注入された電荷の消費とは
、互いに独立に行なわれるため、本体回路が消費する電
荷を常時、基板電位発生回路から補給することは不可能
である。
このため、本体回路の毎動作ごとに基板電位のふるまい
が異なり、安定な動作を阻害するという問題点を有して
いた。
問題点を解決するための手段 本発明は奇数段のインバータを環状に直列接続したリン
グオシレータと、前記リングオシレータの発振周期に同
期して互いに逆位相で動作する2個の前記インバータの
各出力をおのおの増幅する一対の増幅手段を備えた電圧
発生回路である。
作用 本発明では一対の増幅手段’f IJソングシレータに
同期して、互いに逆位相で動作することにより、常時ど
ちらか一方のバッファにより基板への電荷注入が行なえ
るため、本体回路の動作による電荷の消費を補給できる
そのため、本体回路の動作も安定する。
実施例 本発明の実施例回路構成を第1図に示し、同図中の各ノ
ードの電圧波形を第2図a、  b、  cに示す。リ
ングオシレータはインバータ11〜I7 の7段で構成
されているが、3段以上の奇数段ならば何段でもよい。
しかし、段数が少ないと動作が不安定になる。第1のバ
ッファB1はインバータエ1により駆動され、第2のバ
ッファB2はインバータI7により駆動される。インバ
ータ11とエフの各出力は第2図に示すように互いに逆
位相であり、それぞれ、バッファB1.B2で増幅、波
形整形され次出力Vo1.Vo2とも、第2図に示すよ
うに、互いに逆位相で、かつ、リングオシレータの発振
周期に同期している。ノードNB1.同NB2にはそれ
ぞれコンデンサ01,02を介して、各出力Vo1. 
VO2の電圧変化が伝えられる。そして、各ノードNB
1.NB2は、それぞれ負方向に電位が下ったとき、基
板へ電荷注入を行なうことから、本発明では常時基板へ
電荷注入を行なうことができる。
発明の効果 本発明によれば基板電位発生のための基板への電荷注入
を常時性なうことができる。そのため本体回路が動作し
、電荷が消費されても常に補給できる。すなわち本体回
路による基板への影響を低減することにより本体回路の
動作が安定する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例電圧発生回路の回路構成図、第
2図は第1図示回路の各ノードのタイミング図、第3図
は従来の電圧発生回路の回路構成図、第4図は第3図示
回路の各ノードのタイミング図である。 工1〜エフ・・・・・・インバータ、&1.B2・・・
・・・バッファ、01.C2・・・・・・コンデンサ、
Q1〜Q4・・・・・・VO5)ランジスタ。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名rI
Xrクー−”インバゝグ 第1図     B+、Bt−/ゞソ″C+、 C2−
−−フンt゛ンヅ Q19α←−Mos’hラソグスタ N+、h、に、m、鶴葡、4t、tfh−−各)−H%
5us−−一基板 5(Jf5 第2図 VrH−・〜Mθ5ドランジ又ター乙き〜゛41肩ン三
第 3  図              7IHsl
n−−−47t(−qThe−−バブ7ア Cl0−−−フッf°ンプ Qlm、翻−MD3 トフソジスタ 1dIH,Nn、〜も、、、5Bptp−−−jfp、
ツードブ(10B 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 奇数段のインバータを環状に直列接続したリングオシレ
    ータと、前記リングオシレータの発振周期に同期して互
    いに逆位相で動作する2個の前記インバータの各出力を
    おのおの増幅する一対の増幅手段とを備えた電圧発生回
    路。
JP61078554A 1986-04-04 1986-04-04 電圧発生回路 Pending JPS62234361A (ja)

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JP61078554A JPS62234361A (ja) 1986-04-04 1986-04-04 電圧発生回路

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04249359A (ja) * 1991-02-05 1992-09-04 Mitsubishi Electric Corp 基板バイアス発生装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04249359A (ja) * 1991-02-05 1992-09-04 Mitsubishi Electric Corp 基板バイアス発生装置
US5247208A (en) * 1991-02-05 1993-09-21 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Substrate bias generating device and operating method thereof

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