JPS62226158A - 電子写真感光体 - Google Patents
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- JPS62226158A JPS62226158A JP6960886A JP6960886A JPS62226158A JP S62226158 A JPS62226158 A JP S62226158A JP 6960886 A JP6960886 A JP 6960886A JP 6960886 A JP6960886 A JP 6960886A JP S62226158 A JPS62226158 A JP S62226158A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/14—Inert intermediate or cover layers for charge-receiving layers
- G03G5/147—Cover layers
- G03G5/14704—Cover layers comprising inorganic material
-
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- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08285—Carbon-based
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、アモルファスシリコン系光導電層を有する電
子写真感光体に関する。
子写真感光体に関する。
(従来の技術)
アモルファスシリコン(a−5i)は、表面硬度が硬く
、また可視光に対して良好な光感度を有することから、
電子写真感光体としての利用が期待されている。a−3
i悪感光は、最も一般的には、真空槽内にモノシランガ
スあるいはジシランガス等の原料ガスを導入し、高周波
電力印加によるグロー放電を行うことで、前記原料ガス
を分解し基体上にアモルファスシリコンを主体とする感
光層を堆積させる、いわゆるプラズマCVD法により製
造されている。
、また可視光に対して良好な光感度を有することから、
電子写真感光体としての利用が期待されている。a−3
i悪感光は、最も一般的には、真空槽内にモノシランガ
スあるいはジシランガス等の原料ガスを導入し、高周波
電力印加によるグロー放電を行うことで、前記原料ガス
を分解し基体上にアモルファスシリコンを主体とする感
光層を堆積させる、いわゆるプラズマCVD法により製
造されている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、このようなa−3i悪感光を複写機に装
着して繰り返し使用した場合、感光体表面が劣化してい
くという問題があった。この劣化は、繰り返し使用する
ことにより、感光体表面が湿度に対して敏感になり水分
を吸着しやすくなる結果、表面抵抗が下がって表面電荷
が横方向に流れるいわゆる画像流れという現象として現
れる。
着して繰り返し使用した場合、感光体表面が劣化してい
くという問題があった。この劣化は、繰り返し使用する
ことにより、感光体表面が湿度に対して敏感になり水分
を吸着しやすくなる結果、表面抵抗が下がって表面電荷
が横方向に流れるいわゆる画像流れという現象として現
れる。
この現象は、表面層に用いられる材料の種1(a−3i
l−xCx:H+a−31+−xNx:H+a−3i+
−xOx:H等)によらず同様に現れる。このような画
像流れの現象はSe系感光体や有機感光体においても同
様に見られるが、これら感光体は軟く、劣化した表面層
を機械的に取り除くことが可能である。ところが、a−
3i悪感光においては、a−3i固有の性質により機械
的に処理するのが困難であった。
l−xCx:H+a−31+−xNx:H+a−3i+
−xOx:H等)によらず同様に現れる。このような画
像流れの現象はSe系感光体や有機感光体においても同
様に見られるが、これら感光体は軟く、劣化した表面層
を機械的に取り除くことが可能である。ところが、a−
3i悪感光においては、a−3i固有の性質により機械
的に処理するのが困難であった。
(問題点を解決するための手段)
本発明の電子写真感光体は、表面層が、水素のみ、ハロ
ゲンのみ、あるいは水素とハロゲンの両方を1%〜30
%含むダイヤモンド状カーボン膜で形成されたもので、
その目的とするところは、表面層として従来用いられて
いるa−3i系絶縁体材料(a−3it−XCx:H,
a−3L−、N、:H。
ゲンのみ、あるいは水素とハロゲンの両方を1%〜30
%含むダイヤモンド状カーボン膜で形成されたもので、
その目的とするところは、表面層として従来用いられて
いるa−3i系絶縁体材料(a−3it−XCx:H,
a−3L−、N、:H。
a −S i+−XoX: H等)と同程度h・それ以
上の硬度を有するダイヤモンド状カーボン膜を用いるこ
とにより、高温高温下(気温〜30℃、相対湿度〜85
%)での連続複写においても画像流れを生じない電子写
真感光体を提供するにある。
上の硬度を有するダイヤモンド状カーボン膜を用いるこ
とにより、高温高温下(気温〜30℃、相対湿度〜85
%)での連続複写においても画像流れを生じない電子写
真感光体を提供するにある。
(実施例)
まず、画像流れが発生する原因について検討を加える。
a−3i悪感光は、A1等の導電性基体からの注入を防
ぐブロッキング層、光導電層、表面層などからなる積層
構造が一般に用いられている。そして、表面層には、a
−3i系絶縁体材料(a −311−>IcX: H+
a −S It−XNX: Hla −S It−x
Ox: H等)が使用されており、必要に応じて、Hの
代わりにFlあるいはHとFの両方を含有することが可
能である。このような積層構造を有するa−3i悪感光
を繰り返し使用した場合、常温常温(気温〜25℃、相
対湿度〜65%)下では鮮明な画像が得られるが、高温
高温(気温30℃、相対湿度85%)中にさらすと画像
流れが生じ、画像は不鮮明なものとなる。これは、a−
3i悪感光固有の現象ではないが、現在までのところ抜
本的な対策は見出されておらず、高温多湿下の環境で使
用する場合に大きな問題であった。このような画像流れ
の原因として、(1)コロナ放電による生成物の影響、
(2)連続複写による怒光体表面の改質ということが考
えられ、各々についてE S CA (electro
n 5pectroscopy for chemic
al analysis)、 F TI R(four
ier transform 1nfrared 5p
ectroscopy)により分析を行った。この結果
、コロナ放電による生成物として、アンモニウムイオン
(NH4” )。
ぐブロッキング層、光導電層、表面層などからなる積層
構造が一般に用いられている。そして、表面層には、a
−3i系絶縁体材料(a −311−>IcX: H+
a −S It−XNX: Hla −S It−x
Ox: H等)が使用されており、必要に応じて、Hの
代わりにFlあるいはHとFの両方を含有することが可
能である。このような積層構造を有するa−3i悪感光
を繰り返し使用した場合、常温常温(気温〜25℃、相
対湿度〜65%)下では鮮明な画像が得られるが、高温
高温(気温30℃、相対湿度85%)中にさらすと画像
流れが生じ、画像は不鮮明なものとなる。これは、a−
3i悪感光固有の現象ではないが、現在までのところ抜
本的な対策は見出されておらず、高温多湿下の環境で使
用する場合に大きな問題であった。このような画像流れ
の原因として、(1)コロナ放電による生成物の影響、
(2)連続複写による怒光体表面の改質ということが考
えられ、各々についてE S CA (electro
n 5pectroscopy for chemic
al analysis)、 F TI R(four
ier transform 1nfrared 5p
ectroscopy)により分析を行った。この結果
、コロナ放電による生成物として、アンモニウムイオン
(NH4” )。
硝酸イオン(NC1+−) 、硫酸イオン(S04”−
)。
)。
および炭素、窒素の水素化物等がある。また、連続複写
後では、表面層のSiの酸化が進行しているということ
が判明した。このうち、Siの酸化は、コロナ放電によ
って発生するオゾン(03)。
後では、表面層のSiの酸化が進行しているということ
が判明した。このうち、Siの酸化は、コロナ放電によ
って発生するオゾン(03)。
活性な酸素原子等によるものと考えられ、Siの酸化膜
(SiOx、0<x≦2)は親水性を示すことから、画
像流れの主な原因になっていると考えられる。事実、フ
ッ硝酸溶液(HF−HNO3−H2C)でコロナ放電に
より成長したSiOxを取り除いた場合、あるいは連続
複写を行う前のわずかな自然酸化膜のみが存在する場合
では、高温高湿下においても画像流れは見られていない
。コロナ放電による生成物の画像流れに及ぼす影響の程
は定かではないが、SiOxと比較すると二次的なもの
と考えられる。
(SiOx、0<x≦2)は親水性を示すことから、画
像流れの主な原因になっていると考えられる。事実、フ
ッ硝酸溶液(HF−HNO3−H2C)でコロナ放電に
より成長したSiOxを取り除いた場合、あるいは連続
複写を行う前のわずかな自然酸化膜のみが存在する場合
では、高温高湿下においても画像流れは見られていない
。コロナ放電による生成物の画像流れに及ぼす影響の程
は定かではないが、SiOxと比較すると二次的なもの
と考えられる。
以上の分析結果より、コロナ放電により成長した酸化膜
の存在が画像流れの主原因になっていることが判明した
。
の存在が画像流れの主原因になっていることが判明した
。
そこで、画像流れ防止の対策として、(1) S iの
酸化膜の成長を防ぐ、(2)表面層にa−5i系絶縁体
材料以外の材料を用いるということが考えられる。しか
しながら、前者(1)については、コロナ放電を使用す
る以上現状の複写プロセスでは非常に困難であるので、
画像流れの対策としては後者(2)の方法が有効である
。a−3i系絶縁体材料以外で、これら材料と同程度の
硬度を有するものとして、ダイヤモンド状カーボン、ア
モルファスカーボン(a−C)、アモルファス窒化ホウ
素(a −BN)、アモルファス窒素リン(a−PN)
等があげられるが、本発明は、これらの材料のうち非常
に硬く安定であり、水素のみ、ハロゲンのみ、あるいは
水素とハロゲンの両方を各々1%〜30%含むダイヤモ
ンド状カーボン膜を表面層に用いることにより、画像流
れの防止を図ったものである。これらの材料を感光体の
表面層として用いる場合、膜中に含まれる水素、ハロゲ
ンの量を各々1%〜30%とすることが必要である。前
記の範囲外においては膜は数置ではなくなり、カーボン
膜の場合、ポリマー状となり軟らかくなる、あるいは電
気特性が充分ではなく帯電能、保持率の低下をひきおこ
す等表面層として用いるのに好ましくない。
酸化膜の成長を防ぐ、(2)表面層にa−5i系絶縁体
材料以外の材料を用いるということが考えられる。しか
しながら、前者(1)については、コロナ放電を使用す
る以上現状の複写プロセスでは非常に困難であるので、
画像流れの対策としては後者(2)の方法が有効である
。a−3i系絶縁体材料以外で、これら材料と同程度の
硬度を有するものとして、ダイヤモンド状カーボン、ア
モルファスカーボン(a−C)、アモルファス窒化ホウ
素(a −BN)、アモルファス窒素リン(a−PN)
等があげられるが、本発明は、これらの材料のうち非常
に硬く安定であり、水素のみ、ハロゲンのみ、あるいは
水素とハロゲンの両方を各々1%〜30%含むダイヤモ
ンド状カーボン膜を表面層に用いることにより、画像流
れの防止を図ったものである。これらの材料を感光体の
表面層として用いる場合、膜中に含まれる水素、ハロゲ
ンの量を各々1%〜30%とすることが必要である。前
記の範囲外においては膜は数置ではなくなり、カーボン
膜の場合、ポリマー状となり軟らかくなる、あるいは電
気特性が充分ではなく帯電能、保持率の低下をひきおこ
す等表面層として用いるのに好ましくない。
〔実施例1〕
以下、本例の電子写真感光体を図面を参照して説明する
。
。
同図において、1は導電性基体、2は導電性基体1から
の注入を防止するブロッキング層、3は第1の中間1.
4はアモルファスシリコン(a −3i)を主体として
形成された光導電層、5は第2の中間層、6はダイヤモ
ンド状カーボンからなる表面層である。
の注入を防止するブロッキング層、3は第1の中間1.
4はアモルファスシリコン(a −3i)を主体として
形成された光導電層、5は第2の中間層、6はダイヤモ
ンド状カーボンからなる表面層である。
次に、上記構成の電子写真感光体の作製方法を説明する
。なお、作製にあたっては、励起周波数13、56 M
Hzの容量結合型プラズマCVD装置を用いた。
。なお、作製にあたっては、励起周波数13、56 M
Hzの容量結合型プラズマCVD装置を用いた。
■ まず、表1の成膜条件により、A1等で形成された
導電性基体1上に、厚みが約2000人のアモルファス
窒化シリコンからなるプロ・7キング層2を形成する。
導電性基体1上に、厚みが約2000人のアモルファス
窒化シリコンからなるプロ・7キング層2を形成する。
表 1
■ 次に、表2の成膜条件により、前記ブロッキング層
2の上に、厚みが約2μmの第1の中間層3を形成する
。
2の上に、厚みが約2μmの第1の中間層3を形成する
。
(以下余白)
表2
このとき、NH3流量を10 (SCCM)からO(S
CCM)に、B t Hh流量をO(SCCM)から5
0(SCCM)にそれぞれ変化させて、N、Bの膜厚方
向の分布を不均一にすることも可能である。
CCM)に、B t Hh流量をO(SCCM)から5
0(SCCM)にそれぞれ変化させて、N、Bの膜厚方
向の分布を不均一にすることも可能である。
■ 次に、表3の成膜条件により、前記第1の中間N3
の上に、厚みが20〜25μmの光導電N4を形成する
。
の上に、厚みが20〜25μmの光導電N4を形成する
。
(以下余白)
表3
この場合、前記第1の中間層3と光導電層4とを連続し
て形成することも可能である。また、光導電層4中c’
=c、N、o、あるいはGe、 Snを微量添加するこ
ともできる。この場合、第1の中間層3中のNと後述す
る第2の中間層5中のNを必要に応じて他の元素に変え
てもよい。
て形成することも可能である。また、光導電層4中c’
=c、N、o、あるいはGe、 Snを微量添加するこ
ともできる。この場合、第1の中間層3中のNと後述す
る第2の中間層5中のNを必要に応じて他の元素に変え
てもよい。
■ 次に、前記第1の中間層3と同じ成膜条件により、
前記光導電層4の上に、厚みが約1μmの第2の中間層
5を形成する。
前記光導電層4の上に、厚みが約1μmの第2の中間層
5を形成する。
■ 次に、表4の成膜条件、より具体的には表5および
表6の成膜条件により、前記第2の中間層5の上に、厚
みが2000〜3000人の表面層6を形成する。
表6の成膜条件により、前記第2の中間層5の上に、厚
みが2000〜3000人の表面層6を形成する。
表4
表 5(表面層の成膜条件の具体例)
表 6(表面層の成膜条件の具体例)
良質の膜を得るには、RF電力を高<、CF4゜CH,
の流量を低く、圧かを低く、H2の希釈度を高くする条
件で成膜することが好ましい(しかし、RF電力をあま
り高くすると膜質は低下するので注意を要する)。
の流量を低く、圧かを低く、H2の希釈度を高くする条
件で成膜することが好ましい(しかし、RF電力をあま
り高くすると膜質は低下するので注意を要する)。
この場合、結晶性を向上させるために、CF、、。
CH,に微量のSiF4を混入させてもよい。また、C
F、の代わりにCz F 6.C3F a 、 CHF
3等を、CH,の代わりにC2H4、CzHs 。
F、の代わりにCz F 6.C3F a 、 CHF
3等を、CH,の代わりにC2H4、CzHs 。
C2H4、CzHz 、C6H6等を用いてもよい。
さらに、必要に応じて、H2の代わりにHe。
Ar等で希釈することも可能である。表面層6に他のハ
ロゲンを含有するには、CC14,CH2Cl。
ロゲンを含有するには、CC14,CH2Cl。
C2H,C1,CFzCj2.CBrF*等を用いれば
よい。表4〜表6に示す条件で成膜した表面層中に含ま
れる水素およびフッ素の量は両者とも1%〜30%であ
った。
よい。表4〜表6に示す条件で成膜した表面層中に含ま
れる水素およびフッ素の量は両者とも1%〜30%であ
った。
上記の方法で作製した電子写真感光体を複写機に装着し
て連続複写を10万回繰り返し、気温30℃、相対湿度
85%中に15時間放置した。そして、15時間放置後
、複写を行った結果、画像流れのない良質な画像が得ら
れた。この後、さらに高温高温中で再び連続複写を行っ
た結果、50万回終了時においても、画像流れは見られ
なかった。
て連続複写を10万回繰り返し、気温30℃、相対湿度
85%中に15時間放置した。そして、15時間放置後
、複写を行った結果、画像流れのない良質な画像が得ら
れた。この後、さらに高温高温中で再び連続複写を行っ
た結果、50万回終了時においても、画像流れは見られ
なかった。
また、耐剛性においても従来のa−3i系絶絶縁材料を
用いた電子写真感光体と比較してそれ以上であることを
確認した。
用いた電子写真感光体と比較してそれ以上であることを
確認した。
〔実施例2〕
本例の電子写真感光体は、表7の成膜条件、より具体的
には表8の成膜条件により、表面層6を直流プラズマC
VD法で前記実施例1と同様の厚みに形成したものであ
る。その他の層の作製方法は前記実施例1と同様であり
、ここでは説明を省略する。
には表8の成膜条件により、表面層6を直流プラズマC
VD法で前記実施例1と同様の厚みに形成したものであ
る。その他の層の作製方法は前記実施例1と同様であり
、ここでは説明を省略する。
表7
表 8 (表面層の成膜条件の具体例)良質の膜を得る
には、放電電流を多く、CF、。
には、放電電流を多く、CF、。
CHaの流量を少なく、圧力を低く、H2の希釈度を高
くする条件で成膜することが好ましい(しかし放電電流
をあまり高くすると膜質は低下するので注意を要する)
。
くする条件で成膜することが好ましい(しかし放電電流
をあまり高くすると膜質は低下するので注意を要する)
。
なお、前記実施例1と同様に、この場合も結晶性を向上
させるために、CF、、CH4に微量のS i F 4
を混入させてもよい。また、CF aの代わりにCzF
h 、C:+Fs 、CHF3等を、CH4の代わりに
C2H4、C3HI 、C2H4、CtHz 。
させるために、CF、、CH4に微量のS i F 4
を混入させてもよい。また、CF aの代わりにCzF
h 、C:+Fs 、CHF3等を、CH4の代わりに
C2H4、C3HI 、C2H4、CtHz 。
Cb Hb等を用いてもよい。さらに、必要に応じて、
H2の代わりにHe、Ar等で希釈することも可能であ
る。表面層6に他のハロゲンを含有するには、CCIl
a 、 CH3CIl、 Ct Hs C12、
CF 3 Cl 。
H2の代わりにHe、Ar等で希釈することも可能であ
る。表面層6に他のハロゲンを含有するには、CCIl
a 、 CH3CIl、 Ct Hs C12、
CF 3 Cl 。
CB r F、等を用いればよい。表72表8に示す条
件で成膜した表面層中に含まれる水素およびフ・7素の
量は両者とも1%〜30%であった。
件で成膜した表面層中に含まれる水素およびフ・7素の
量は両者とも1%〜30%であった。
上記の方法で作製した電子写真感光体を複写機に装着し
て連続複写を10万回繰り返し、気温30℃、相対湿度
85%中に15時間放置した。そして、15時間放置後
、複写を行った結果、画像流れのない良質な画像が得ら
れた。この後さらに高温高温中で連続複写を行った結果
、50万回終了時においても画像流れは見られなかった
。また、耐剛性においても従来のa−3i系絶縁体材料
を用いた電子写真感光体と比較してそれ以上であること
を確認した。
て連続複写を10万回繰り返し、気温30℃、相対湿度
85%中に15時間放置した。そして、15時間放置後
、複写を行った結果、画像流れのない良質な画像が得ら
れた。この後さらに高温高温中で連続複写を行った結果
、50万回終了時においても画像流れは見られなかった
。また、耐剛性においても従来のa−3i系絶縁体材料
を用いた電子写真感光体と比較してそれ以上であること
を確認した。
〔実施例3〕
本例の電子写真感光体は、表9の成膜条件、より具体的
には表10の成膜条件により、表面層6をECRプラズ
7CVD法(励起周波数2.45GHz)で前記実施例
1と同様の厚みに形成したものである。その他の層の作
製方法は前記実施例1と同様であり、ここでは説明を省
略する。
には表10の成膜条件により、表面層6をECRプラズ
7CVD法(励起周波数2.45GHz)で前記実施例
1と同様の厚みに形成したものである。その他の層の作
製方法は前記実施例1と同様であり、ここでは説明を省
略する。
表9
表10
良質の膜を得るには、マイクロ波電力の高い方が好まし
い。
い。
なお、CF4の代わりにCzFb 、CzFa等を、H
2の代わりにHe、Ar等を用いることも可能である。
2の代わりにHe、Ar等を用いることも可能である。
また、表面層6に他のハロゲンを含有するには、CC1
2t、CH3C1、Cz Hs CIl、 CF z
C(1。
2t、CH3C1、Cz Hs CIl、 CF z
C(1。
CBrFi等を用いればよい。表91表10に示す条件
で成膜した表面層中に含まれる水素およびフッ素の量は
両者とも1%〜30%であった。
で成膜した表面層中に含まれる水素およびフッ素の量は
両者とも1%〜30%であった。
上記の方法で作製した電子写真感光体を複写機に装着し
て連続複写を10万回繰り返し、気温30℃、相対湿度
85%中に15時間放置した。そして、15時間放置後
、複写を行った結果、画像流れのない良質な画像が得ら
れた。この後さらに、高温高温中で連続複写を行った結
果、50万回終了時においても画像流れは見られなかっ
た。また、耐剛性においても従来のa−5i系絶縁体材
料を用いた電子写真感光体と比較してそれ以上であるこ
とを確認した。
て連続複写を10万回繰り返し、気温30℃、相対湿度
85%中に15時間放置した。そして、15時間放置後
、複写を行った結果、画像流れのない良質な画像が得ら
れた。この後さらに、高温高温中で連続複写を行った結
果、50万回終了時においても画像流れは見られなかっ
た。また、耐剛性においても従来のa−5i系絶縁体材
料を用いた電子写真感光体と比較してそれ以上であるこ
とを確認した。
なお、表面層6の形成方法は、前記各実施例の他に、反
応性スパッタリング法、イオンビーム蒸着法、電子ビー
ム蒸着法、マイクロ波CVD法等によっても可能である
。
応性スパッタリング法、イオンビーム蒸着法、電子ビー
ム蒸着法、マイクロ波CVD法等によっても可能である
。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば、水素のみ、ハロ
ゲンのみ、あるいは水素とノクロゲンの両方を1%〜3
0%含むダイヤモンド状カーボン膜を表面層として用い
ることにより、従来高温高温中で見られていた画像流れ
を有効に防止し、あらゆる環境においても使用し得る電
子写真感光体を実現することができる。
ゲンのみ、あるいは水素とノクロゲンの両方を1%〜3
0%含むダイヤモンド状カーボン膜を表面層として用い
ることにより、従来高温高温中で見られていた画像流れ
を有効に防止し、あらゆる環境においても使用し得る電
子写真感光体を実現することができる。
図面は、本発明の電子写真感光体の層構造を示す断面図
である。
である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)アモルファスシリコン系光導電層を有する電子写真
感光体において、表面層がダイヤモンド状カーボン膜で
形成されたことを特徴とする電子写真感光体。 2)表面層中に水素が含有され、その濃度が1%〜30
%である特許請求の範囲第1項記載の電子写真感光体。 3)表面層中にハロゲンが含有され、その濃度が1%〜
30%である特許請求の範囲第1項記載の電子写真感光
体。 4)表面層中に水素とハロゲンの両方が含有され、各々
の濃度が1%〜30%である特許請求の範囲第1項記載
の電子写真感光体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6960886A JPS62226158A (ja) | 1986-03-27 | 1986-03-27 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6960886A JPS62226158A (ja) | 1986-03-27 | 1986-03-27 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62226158A true JPS62226158A (ja) | 1987-10-05 |
Family
ID=13407736
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6960886A Pending JPS62226158A (ja) | 1986-03-27 | 1986-03-27 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62226158A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62276558A (ja) * | 1986-05-26 | 1987-12-01 | Canon Inc | 光受容部材 |
JPS6346467A (ja) * | 1986-08-14 | 1988-02-27 | Fuji Xerox Co Ltd | 電子写真用感光体 |
JPS6388560A (ja) * | 1986-10-02 | 1988-04-19 | Fuji Xerox Co Ltd | 電子写真感光体の製造方法 |
JPH02223451A (ja) * | 1988-11-30 | 1990-09-05 | Ricoh Co Ltd | 液体噴射記録ヘッド |
EP0408966A2 (de) * | 1989-07-19 | 1991-01-23 | Siemens Aktiengesellschaft | Elektrophotographisches Aufzeichnungsmaterial und Verfahren zu seiner Herstellung |
US5168023A (en) * | 1990-07-04 | 1992-12-01 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Photosensitive element used in electrophotography |
-
1986
- 1986-03-27 JP JP6960886A patent/JPS62226158A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62276558A (ja) * | 1986-05-26 | 1987-12-01 | Canon Inc | 光受容部材 |
JPS6346467A (ja) * | 1986-08-14 | 1988-02-27 | Fuji Xerox Co Ltd | 電子写真用感光体 |
JPS6388560A (ja) * | 1986-10-02 | 1988-04-19 | Fuji Xerox Co Ltd | 電子写真感光体の製造方法 |
JPH02223451A (ja) * | 1988-11-30 | 1990-09-05 | Ricoh Co Ltd | 液体噴射記録ヘッド |
EP0408966A2 (de) * | 1989-07-19 | 1991-01-23 | Siemens Aktiengesellschaft | Elektrophotographisches Aufzeichnungsmaterial und Verfahren zu seiner Herstellung |
US5168023A (en) * | 1990-07-04 | 1992-12-01 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Photosensitive element used in electrophotography |
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