JPS62225935A

JPS62225935A - 放射線検査装置

Info

Publication number: JPS62225935A
Application number: JP61069212A
Authority: JP
Inventors: Masaji Fujii; 正司藤井
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1986-03-27
Filing date: 1986-03-27
Publication date: 1987-10-03

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の目的］（産業上の利用分野）本発明は、製品または材料（例えば粉体または粒状物）
等の被検体に含まれる異物を検出する放射線検査装置に
係わり、特に検出系統の性能をチェックする検出性能チ
ェック手段を改良した放射線検査装置に関する。

（従来の技術）従来、この種の装置においては２通りの検出性能チェッ
ク手段が開発されている。その１つは、第７図（Ａ）、
（Ｂ）に示すように、粒状物等の被検体１を乗せたコン
ベア等の搬送手段２を挟むようにＸ線発生’８１Ｓ３と
Ｘ線検出部４が対向して設けられ、かつ搬送手段２の搬
送方向両側に設置された駆動チェーン５．５間に所定間
隔ごとに支持バー６が掛は渡され、この支持バー６には
所定長さの支持糸７を介して模擬欠陥体８が吊下されて
なる構成となっている。そして、駆動チェーン５゜５の
回転により支持バー６が搬送手段２上の所定位置に達し
たとき、支持糸７先端の模擬欠陥体８がＸ線照射路より
も上流側の搬送手段２上に降下され、この状態で模擬欠
陥体８を搬送しながらＸ線発生部３からＸ線を照射し、
この模擬欠陥体８により減衰するＸ線吸収データをＸ線
検出部４により検出し、図示されていないが画像処理部
で画像処理し、模擬欠陥体８が画像として現わればＸ線
検出部４を含む検出系の性能が良好であると判断してい
た。

他のもう１つの検出性能チェック手段は、第８図に示す
ようにＸ線的に透明なコンベア９に所定間隔ごとに模擬
欠陥体８が固定され、Ｘ［ｌ照射路を通った時のＸ線の
照射により、その模擬欠陥体８を通って出力されるＸ線
吸収データをＸ線検出５一部４により検出し、前述同様に画像処理部で画像処理の
結果、模擬欠陥体８が画像として現わればＸＩ！検出部
４を含む検出系の性能が良好であると判断していた。

しかし、以上のような検出性能チェック手段は、何れも
駆動チェーン５．５やコンベア９等の搬送機構を用いて
いるため全体的に機構部が大骨りなものとなり、また、
かかる搬送機構が被検体搬送手段２の上部側に平行かつ
、比較的近い距離で設置されているために外部からの放
射線遮蔽が難しく、このため放射線の干渉を避けること
が困難である。また、搬送手段２が模擬欠陥体８を長時
間乗せた状態で搬送するので、その間被検体１の検査に
影響を与え検査作業の能率化に欠けるとともに、模擬欠
陥体８による検出性能チェック範囲が限定される問題が
ある。

（発明が解決しようとする問題点）本発明は以上のような問題点を除去するためになされた
もので、性能検出チェック機構の小形化を図り、かつ、
本来の検査作業に与える影響を極力少なくして検出性能
チェックを行ない得る放射線検査装置を提供することを
目的とする。

［発明の構成コ（問題点を解決するための手段）本発明による放射線検査装置によれば、被検体を載置し
て搬送する搬送手段を放射線発生部と放射線検出部とで
挟むようにして前記被検体による放射線吸収データを検
出するとともに、外部から駆動制御信号を受けたとき、
欠陥体非搬送設定手段を用いて前記放ＩＦｌ＃！！発生
部および放射線検出部を結ぶ線上よりも上流側の前記搬
送手段上に前記模擬欠陥体を強制的に降下しその搬送過
程で該模擬欠陥体の放射線吸収データを前記放射線検出
部により検出させ、かつ、検出性能チェック後に所定の
速度で前記模擬欠陥体を上昇させるようにしたものであ
る。

（作用）従って、以上のような手段とすることにより、外部から
駆動制御信号を受けると欠陥体非搬送設定手段が模擬欠
陥体を強制的に被検体搬送手段の上部へ降下し放射線照
射路を通過するまで搬送手段により搬送するので搬送機
構を不要にして模擬欠陥体をチェック領域に設定可能で
あり、かつ、チェック終了後所定の速度例えばデータ収
集周期よりも速い速度で上昇させて本来の被検体検査作
業に影響を与えないようにしたものである。

（実施例）以下、本発明の一実施例について第１図を参照して説明
する。同図において１１は例えばコークス等の被検体１
２を乗せて図示イ矢印方向に搬送するベルトコンベア等
の搬送手段であって、この搬送手段１１を所定距離をも
って挟むようにその上部側に例えばファン状放射線を照
射するＸ線管等の放射線発生部１３が設置され、下側に
は被検体１２を透過して入射される放射線吸収データを
検出する例えばＸ線ラインセンサ等の放射線検出部１４
が前記搬送手段１１の搬送方向と直行する方向にほぼ平
行な位置関係をもって設置されている。１５は人為的操
作または予め定められたプログラムに基づいて装置の各
構成部分を制御するコンソールであって、このコンソー
ル１５には放射線制御部１６および高電圧発生部１７を
介して前記放射線発生部１３が接続されている。また、
前記放射線検出部１４とコンソール１５の間には放射線
検出部１４を構成する各検出素子によって検出されたデ
ータを各検出素子ごとに収集するデータ収集部１８およ
びこのデータ収集部１８により収集されたデータを用い
て画像処理し、被検体１２に性質の異なる異物が含まれ
ていると判断した時にコンソール１５にその旨の信号を
送出する画像処理部１つが接続されている。２０はコン
ソール１５から異物有りの信号を受けると、その異物を
取り除くためのダンパである。２１は欠陥体非搬送設定
手段であって、これは人為的操作によるスイッチ２２閉
またはプログラムに基づいて、コンソール１５から入力
される外部駆動制御信号を受けて駆動制御する昇降制御
駆動系本体２３およびこの昇降制御駆動系本体２３の駆
動制御により回転する巻装体２４よりなり、かつ、この
巻装体２４に巻装された放射線的に透明な材料（放射線
吸収係数の小さい材料）の糸状の支持バー２６の下端に
模擬欠陥体２７が取り付けられ、模擬欠陥体２７の下降
時には被検体搬送速度よりも速い速度で降下させ、また
上昇時にはデータ収集周期よりも速く上昇させるように
構成されている。なお、下降時に模擬欠陥体を搬送速度
よりも速く降下させるのは、昇降制御系本体２３の駆動
を解除することにより実現できるので構成の簡素化が図
れ、また搬送手段１１上を引きすることがなくなって放
射線検出系に影響を与えないためである。

次に、以上のように構成された装置の動作を説明する。

被検体１２に含まれる異物の検出にあっては、予め定め
られたプログラムに基づいてコンソール１５がタイミン
グをとりながら放射線制御部１６および高電圧発生部１
７を通して放射線発生部１３からファン状放射線２８を
照射し、このとき被検体１２を通って減衰された放ｒＪ
Ａ線吸収データはラインセンサ等の放射線検出部１４で
検出され、ここで電気的な信号に変換される。この放射
線検出部１４で検出されたデータはデータ収集部１８に
よって各検出素子ごとに収集され、しがる後、画像処理
部１９において必要な処理例えば適宜な補正処理の後に
異物の有無が判断される。

異物有りと判断した時その旨の信号をコンソール１５に
送出すると、この信号がコンソール１５がらダンパ２０
に送られ、異物の取り除き作業が行われる。異物無しの
場合にはコンソール１５がら所定周期で放射線駆動制御
信号が出力され、放射線発生部１３から放射線が照射さ
れて異物検出のためのデータ収集が継続して行われる。

しかして、所定期間後、人為的操作によりスイッチ２２
をオンし、またはタイマ等を用いてプログラムにより自
動的にコンソール１５がら検出性能チェックのための駆
動制御信号を欠陥体非搬送設定手段２１の駆動制御系本
体２３に与えると、該本体２３内の回転駆動８！（図示
せず）が回転して巻装体２４が巻戻し方向に回転され、
これにより模擬欠陥体２７は例えば搬送手段１１の搬送
速度よりも速い速度で巻装体２４の真下つまり放射線発
生部１３と放射線検出部１４を結ぶ線上よりも上流側に
位置する搬送手段１１の上部へ降下される。この搬送手
段１１に降下後も引き続き支持バー２６を搬送速度より
も速く降下すると、模擬欠陥体２７は搬送手段１１の搬
送速度に応じて下流側に移動し、放射線発生部１３から
照射される放射線照射路を横切るようにして移動される
。コンソール１５は模擬欠陥体２７が放射線照射路を横
切る前の適宜なタイミングでまたは連続的に放射線発生
部１３から放射線２８を照射すると、模擬欠陥体２７を
含んで被検体１２の放射線吸収データが放射線検出部１
４により検出される。そして、放射線検出部１４で検出
されたデータは前述したようにデータ収集部１８で収集
され、画像処理部１９で画像処理され、放射線検出部１
４およびデータ収集部１８等を含む検出系の検出性能が
チェックされる。

この検出性能チェックは、例えば検出部１４の検出能力
に応じて予め模擬欠陥体２７の放射線吸収率等を考慮し
、画像処理により模擬欠陥体２７の像が現われたとき検
出性能が良好と判断し、像が現われない時には検出系の
不良と判断し、あるいは予め基準値が設定され、この基
準値と画像処理後の模擬欠陥体２７の画＊　Ｉｍとを比
較しその差に応じて検出系の劣化状態を判断するような
構成とするものである。そして、検出性能チェック後、
コンソール１５から駆動制御信号を昇降制御駆動系本体
２３に送出し、これに基づいて巻装体２４がデータ収集
周期よりも速い速度で支持バー２６を巻取って模擬欠陥
体２７を上昇せしめる。このような上昇速度としたのは
、検出性能チェック後、被検体１２のデータ収集動作を
直ちに実行可能とするためである。なお、このチェック
動作開始から終了までの間、コンソール１５はダンパ２
０を不動作に設定するものである。

次に、第２図ないし第４図は本発明装置の第２の実施例
を示す図である。この実施例は、欠陥体非搬送設定手段
２１を改良したものであって、具体的にはフレーム３１
に回転駆動源およびこの回転駆動源の回転軸に取着され
た歯車を内臓してなる昇降制御駆動体２３ａを設け、か
つ、前記歯車と噛合するねじアーム３２の下端部に搬送
方向と直交する方向に放射線的に透明な支持バー２６８
を横架せしめるとともに、この支持バー２６ａに所定間
隔をもって長さの異なる支持糸２６Ｌ、２６Ｃ，２６Ｒ
を下げ、これにそれぞれ模擬欠陥体２７・・・を吊下し
てなる欠陥像設定手段を備えたものである。このように
複数の模擬欠陥体２７・・・を用いたのは第３図に示す
ように搬送手段１１の各ゾーンＬ、Ｃ，Ｒに対応する検
出系の検出性能をチェックできるようにしたものであり
、また支持糸２６Ｌ、２６Ｃ，２６Ｒの長さを異ならせ
たのは、模擬欠陥体２８の着地位置を異ならせることに
より、画像処理結果の画像から容易に検出性能ゾーンが
確認できるためである。

次に、第２の実施例の動作について第４図を参照して説
明する。人為的な操作により第４図（ａ）のようにスイ
ッチ２２をオンすると、コンソール１５から昇降制御駆
動体２３ａに駆動制御信号が与えられ、これにより昇降
制御駆動体２３ａの回転駆動源が回転し、被検体搬送速
度よりも速い速度でねじアーム３２および支持バー２６
ａを介して模擬欠陥体２７・・・が降下する（第４図（
ｂ））。

この結果、最初に最も長い支持糸２６Ｃに吊下された模
擬欠陥体２７が第３図に示す搬送手段１１の中央ゾーン
Ｃに降下しく第４図（Ｃ））、その後、支持糸２６Ｒに
対応する模擬欠陥体２７が右側ゾーンＲに、支持糸２６
Ｌに対応する模擬欠陥体２７が左側ゾーンＬにそれぞれ
降下しく第４図１）、（ｅ））、各模擬欠陥体２７・・
・の着地時間および着地位置をそれぞれ異にして搬送手
段１１上に設定される。このようにして模擬欠陥体２７
・・・が設定された後、放射線発生部１３から放射線を
照射し、このとき得られた放射線検出部１４の放射線吸
収データから１ＩＩＩｉ像処理して検出性能がチェック
される。そして、ねじアーム３２が所定位置まで降下し
て第４図（ｆ＞に示すように下限リミットスイッチが動
作すると、そのスイッチ信号で昇降制御駆動体２３ａの
回転駆動源が逆回転し、データ収集周期よりも速い速度
でねじアーム３２および支持バー２６ａを介して模擬欠
陥体２７・・・を上昇させる（第４図（ｑ））。第４図
（ｈ）はダンパオフ期間を示す。

従って、以上のようにして長さの異なる支持糸２６Ｃ，
２６Ｒ，２６Ｒを用いて模擬欠陥体２７を吊下したもの
は、複数の模擬欠陥体２７・・・の着地時間および着地
位置が異なる結果、検出性能範囲が拡大され、かつ、１
回の走査によって得られた画像から１つのゾーンの検出
性能結果を確実に把握でき、しかも、どのゾーンの性能
チェックしているかを容易に知ることができる。

なお、第２の実施例では、長さの異なる支持糸２６Ｇ、
２６Ｒ，２６Ｒを用いて模擬欠陥体２７を吊下したが、
同一長さの支持糸を用いて模擬欠陥体２７を吊下しても
よい。この手段においては同様に検出性能のチェック範
囲を拡大できるばかりでなく、その画像処理データをプ
リンタまたはＣＲＴディスプレイ等に出力すればそれぞ
れの検出性能ゾーンの性能状態を知ることができる。

また、昇降制御駆動体２３ａはフレーム３１に固定設置
としたが、例えば昇降制御駆動体２３ａを回動するか、
またはフレーム３１にレールを敷設するとともに、この
レールに昇降制御駆動体２３ａを係合させ、同一長さの
支持糸に吊下された各模擬欠陥体２７が着地した後、所
定時間後に被検体搬送方向と直行する方向に所定距離ず
つ移動させてデータを収集するようにすれば、非常に高
精度に検出性能のチェックを行うことができる。

次に、第５図および第６図は本発明装置の第３および第
４の実施例を示す図である。この３の実施例は、欠陥体
非搬送設定手段として、前記放射線発生部１３および放
射線検出部１４を結ぶ線上よりも下流側の前記搬送手段
１１の上側に設けられ、コンソール１５から駆動制御信
号を受けて前記線上よりも上流側に前記支持体となる支
持糸２６を介して前記模擬欠陥体２７を打出し、かつ、
検出性能チェック終了後にデータ収集周期よりも速い速
度で図示口矢印に示すように前記支持糸２６を巻き取る
欠陥体打ち出し設定装置４０を用いたものである。

次に、第４の実施例は、同じく欠陥体非搬送設１７一定年段として、放射線発生部１３および放射線検出部１
４を結ぶ線上よりも下流側の前記搬送手段１１の上側に
エアーシリンダ等の欠陥体突き出し設定装置４１を設置
し、コンソール１５から駆動制御信号を受けて設定バー
４１ａを突き出すことにより、支持糸２６に取着されて
いる前記模擬欠陥体２７を、前記放ｌ！ｊＩｉ１発生部
１３および放射線検出部１４とを結ぶ線上よりも上流側
に位置させて降下した後、前記設定バー４１８を後退さ
せ、しかる後、検出性能チェック終了後に図示点線の如
くバー支持体４１ｂを旋回させて前記模擬欠陥体２７を
上昇させ、その後、図示実線に示すように待機位置に設
定される。

また、上記実施例は、模擬欠陥体２７の上昇速度として
データ収集周期よりも速い速度に設定したが、本来のデ
ータ収集にそれほど影響を与えるものでない場合には任
意の上昇速度で上昇させてもよい。その他、本発明はそ
の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施できる。

［発明の効果］以上詳記したように本発明によれば、搬送機構を用いる
ことなく模擬欠陥体を強制的に所定の位置に設定できる
ために機構部全体をコンパクト化し得、また検出性能チ
ェック後搬送機構の如く搬送速度に左右されずに速やか
に模擬欠陥体を上昇させて本来の被検体検査作業の能率
化を図り得る放射線検査装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係わる放射線検査装置の第１の実施例
を説明する構成図、第２図ないし第４図は本発明装置の
第２の実施例を説明するために示したもので、第２図（
Ａ）は欠陥体非搬送設定手段の側面図、同図（Ｂ）は欠
陥体非搬送設定手段の正面図、第３図は複数の模擬欠陥
体と検出性能チェックゾーンとの関係図、第４図は第２
の実施例装置の動作タイミング図、第５図および第６図
はそれぞれ欠陥体非搬送設定手段の他の例を示す構成図
、第７図（Ａ）は従来装置の模式的な側面図、同図（Ｂ
）は従来装置の一部の上面図、第８図は更に伯の従来装
置を示す構成図である。１１・・・搬送手段、１２・・・被検体、１３・・・放
射線発生部、１４・・・放射線検出部、１８・・・デー
タ収集部、１９・・・画像処理部、２１・・・欠陥体非
搬送設定手段、２３・・・昇降制御駆動系本体、２３ａ
・・・昇降制御駆動体、２４・・・巻装体、２６・・・
支持バー、２７・・・模擬欠陥体、４０・・・欠陥体打
ち出し設定装置、４１・・・欠陥体突き出し設定装置。出願人代理人　弁理士　鈴江武彦第３図第５図第６図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）被検体を載置して搬送する搬送手段と、この搬送
手段を挟んで互いに対向配置され、放射線を照射して前
記被検体を透過して得られる放射線吸収データを検出す
る放射線発生部および放射線検出部と、放射線吸収係数
の小さい支持体に模擬欠陥体が取り付けられ、外部から
駆動制御信号を受けて前記放射線発生部および放射線検
出部を結ぶ線上よりも上流側の前記搬送手段上に前記模
擬欠陥体を強制的に降下させ、その搬送過程で該模擬欠
陥体の放射線吸収データを前記放射線検出部により検出
させ、かつ、検出性能チェック終了後に所定の速度で前
記模擬欠陥体を上昇させる欠陥体非搬送設定手段とを備
え、この模擬欠陥体の放射線吸収データから検出性能を
チェックするようにしたことを特徴とする放射線検査装
置。
（２）欠陥体非搬送設定手段は、前記放射線発生部およ
び放射線検出部を結ぶ線上よりも上流側の前記搬送手段
の上側に設けられ、外部から駆動制御信号を受けて昇降
動作制御を行う昇降制御駆動体と、この昇降制御駆動体
の動作制御により前記支持体を介して模擬欠陥体を昇降
させる欠陥体設定手段とを有するものである特許請求の
範囲第１項記載の放射線検査装置。
（３）欠陥体非搬送設定手段は、前記放射線発生部およ
び放射線検出部を結ぶ線上よりも上流側の前記搬送手段
の上側に設けられ、外部から駆動制御信号を受けて昇降
動作制御を行う昇降制御駆動体と、この昇降制御駆動体
の駆動制御により前記支持体を昇降させる欠陥体設定手
段と、この昇降制御駆動体の駆動制御により前記支持体
を回動させまたは被検体搬送方向と直行する方向に移動
させて前記模擬欠陥体の設定位置を可変する設定位置可
変手段とを有するものである特許請求の範囲第１項記載
の放射線検査装置。
（４）欠陥体非搬送設定手段は、前記放射線発生部およ
び放射線検出部を結ぶ線上よりも下流側の前記搬送手段
の上側に設けられ、外部から駆動制御信号を受けて前記
線上よりも上流側に前記支持体を介して前記模擬欠陥体
を打出し、かつ、検出性能チェック終了後に所定の速度
で前記支持体を巻き取る欠陥体打ち出し設定装置を使用
するものである特許請求の範囲第１項記載の放射線検査
装置。
（５）欠陥体非搬送設定手段は、前記放射線発生部およ
び放射線検出部を結ぶ線上よりも下流側の前記搬送手段
の上側に設けられ、外部から駆動制御信号を受けて設定
バーを突き出すことにより前記模擬欠陥体を前記線上よ
りも上流側に位置する前記搬送手段の上側に降下させ、
その後、前記設定バーを後退させて検出性能チェック終
了後に所定速度でバー支持体を旋回させて前記模擬欠陥
体を上昇させる欠陥体突き出し設定装置を使用するもの
である特許請求の範囲１項記載の放射線検査装置。
（６）模擬欠陥体は、被検体搬送方向と直行する方向に
延在する支持体に同一長さまたは異なる長さで複数個吊
下し、複数の検出性能チェックゾーンに模擬欠陥体を設
定するものである特許請求の範囲第１項記載の放射線検
査装置。
（７）模擬欠陥体の上昇速度は、データ収集周期よりも
速い速度に設定されているものである特許請求の範囲第
１項記載の放射線検査装置。