JPS6255549A - β線吸収型浮遊塵連続測定装置 - Google Patents

β線吸収型浮遊塵連続測定装置

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JPS6255549A
JPS6255549A JP60194790A JP19479085A JPS6255549A JP S6255549 A JPS6255549 A JP S6255549A JP 60194790 A JP60194790 A JP 60194790A JP 19479085 A JP19479085 A JP 19479085A JP S6255549 A JPS6255549 A JP S6255549A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dust
collection
filter paper
measurement
dust collection
Prior art date
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Pending
Application number
JP60194790A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayasu Mito
水戸 正康
Wataru Sato
渉 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Aloka Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Aloka Co Ltd filed Critical Aloka Co Ltd
Priority to JP60194790A priority Critical patent/JPS6255549A/ja
Publication of JPS6255549A publication Critical patent/JPS6255549A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
    • G01N15/06Investigating concentration of particle suspensions
    • G01N15/0606Investigating concentration of particle suspensions by collecting particles on a support
    • G01N15/0618Investigating concentration of particle suspensions by collecting particles on a support of the filter type

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は空気中の浮遊塵の聞を連続的に測定する装置に
関する。
[従来の技術] 従来、大気中や工場排煙に含まれる浮遊塵濃度の測定は
、秤量もしくは光散乱法によって行っているが、濾紙上
に捕集して秤量により質量濃度を直接求める方法は無人
連続測定が著しく困難であり、また光散乱法では無人連
続測定を可能とづるが、原理的に相対濃度測定であるた
め、浮遊塵の物理的・化学的・光学的性質及び露、温度
によって測定結末が左右される欠点がある。
このような欠点を避は浮遊塵の質量81度を無人連続測
定にて行うため、ロール濾紙に一定時間、一定流■の測
定対称気体を通過させて浮遊塵を集め、これにβ線を照
射して透過するβ線間を検出し、該β線量の減弱から浮
″f1塵の厚さを求め、例えば空気中の浮yi塵濃度を
決定する計測方法すなわら、透過式厚さ露1の原理を応
用した計測方法が公知である。
しかし、この方法ではロール濾紙の厚さのばらつきによ
って測定結果に影響を与えるという欠点があり、このた
めに、集塵前後の透過β線量(計数率値)を測定し、集
11 〈濾紙上に集められた塵の厚さ「mmφiJ)は
次式により補正される。
X−二(Qonb−Ω。n11) μ ただし、 一μQ nb ″ noe n=ne−μ(Q+X) = nb e−μ× ll0 no:d1紙がない時の計数率値[cpm ]nb:瀘
紙だけの時の計数率値[cpm]n1.l:集塵した濾
紙の計数率値[cpm]Q:濾紙の厚さ[η/ ci 
] μ:質伍吸収計数[ci/ RlJ ]上記補正を行う
ために、同一濾紙において集塵前と集塵後の透過放射線
間の測定を行い、かつ高い精度の測定値を得るために単
一の検出器にて測定を行うとすれば、集塵前の測定と集
塵後の測定を別々に行わなければならず、連続的に測定
を行う装置では測定時間の効率が悪いという欠点があ7
た・ また・環境基準における測定濃度は、最近では1
時間値及び1時間値の1日平均値で表わすように定めら
れており、集塵前の測定が比較的良い時間(約20分)
を必要とすることがら浮i塵の連続測定ができないとい
う問題があった。
[発明の目的] 本発明は前記従来の課題に鑑みなされたものであり、そ
の目的は、集匪中次の濾紙の集塵前の測定を行い、効率
の良い浮遊塵の連続測定を可能とするβ線吸収型浮遊塵
連続測定装置を提供することにある。
[発明の構成] 前記目的を達成するために、本発明は、大気中の浮T1
塵を捕集した濾紙上に検出部を移動させβ線源を用いて
その透過量から浮遊塵の濃度を連続的に測定するβ線吸
収型浮遊塵連続測定装置において、捕集部に対して対称
め位置に定めた集塵前及び集塵後の透過β線Mの測定位
置に濾紙を配置し、前記集塵前後の測定位置に移GjJ
する単一の検出部を集卵前濾紙の待様位置に置いた状態
で集塵中に次の濾紙の集塵前の透過β線量測定を行うこ
とを特徴とする。
[実施例] 以下図面に基づいて本発明の好適な実施例を説明する。
大気中の浮遊塵を測定するには、まず浮遊塵を捕集する
ことから行われ、第1図に示されるように、捕集部10
には空気供給バイブ12が連通して設けられ、空気は空
気供給バイブ12内を通って捕集部10に供給される。
浮遊塵が濾紙14に捕集されるど、圧力損失が増大して
捕集効率が低下するので、図に示されていない流R自動
制御システムにより空気の流量は制御されている。また
、該捕集部10には巻き取り可能なiIa紙14が送り
リール16から導入されており、捕集部10を通過した
空気に含まれる浮1塵は濾紙14上に捕集され、該濾紙
14は測定するための所定位置へ巻き取りリール18に
よって送られる。
本発明において特徴的なことは、単一の検出部にて集塵
中に次の濾紙の集塵前の測定を行うことであり、このた
めに、検出部20は図に示されるように集fI前測定位
置と集a後測定位置に移動することができる。すなわち
、実施例では、第2図に示されるように、駆動モータ2
2に連結された歯車24を太陽歯車として用い、これに
対して遊星歯車である歯車26が検出部20に連結され
ているので、検出部20は歯車24の外周を移動するこ
ととなり、捕集部10を中心に円弧を描くように移動す
る。
従って、ロール濾紙14を用いて浮遊塵を連続的に捕集
しながら検出部20を自由に移動することができ、集塵
中に次の濾m14上の集塵筒測定が可能となる。
前記検出部20はβ線を放出するβ線源28とβ線を測
定する例えばシンチレータを用いた検出器30から構成
され、集塵前の測定のデータはスケーラ32に入力され
記録される。また、集塵後の透過β種母測定のデータは
スケーラ34に入力されており、これら集塵前後の測定
はスケーラ制御回路36によって制御される。
実施例においては、検出部20の任意の位置に温度セン
サ(図示されていない)を設けており、検出部近傍の空
気温度を測定して温度変化に対するを補正を行う。すな
わち、測定される室温の変化により空気密度が変化し透
過β線量が変動するため測定結果に誤差を生じる。従っ
て、集塵前の測定時の平均温度を基準にして次式により
補正される。
n’  =(1+  f(tbEta > )  nm
n′。:空気温度変化補正後の集塵した濾紙の計数率値
[apl t:nb測定時の検出器近傍の平均温度[℃] t:nl測定時の検出器近傍の平均温度[’C] f :空気温度変化に対する計数率の変化割合[’C] 前記温度検出センサによって測定された温度は温度補正
回路38に入力されており、スケーラ34の出力に空気
温度変化に対応した補正を行い正確な集塵後の透過β線
固の測定値(計数率値)を算出する。該温度補正回路3
8の出力は濃度演算回路40に入力されており、温度補
正が行われたwU後の測定値はスケーラ32から出力さ
れた集塵前の測定値との比が計算され、浮′M塵のm度
が演棹される。そして、ここで求められた浮遊塵の濃度
はプリンタ42に出力され記録される。
本発明の実施例は以上のような構成からなり、浮遊塵の
連続測定は1時間を1サイクルとして各測定動作が行わ
れており、第3図に示されるように、集塵は約53分間
行われており、その後に集塵後の透過β線量の測定を約
5分間行う。そして、次の濾紙の集塵前の測定は集塵中
の約53分の時間内であればいつでも行うことができ、
実施例においては、図に示されるように、約20分間行
うので、連続測定において集卵時間に影響を与えること
なく効率の良い集a前測定が可能となる。また、集I!
11yiの測定が終わった濾紙はその同一部分に浮遊塵
を捕集するように捕集部1oに送り、更に、その同一濾
紙部分を移動させた位置に検出部20を配置するととも
に、実施例装置では、集塵前後の測定の際に、前述した
検出部駆動機構により、濾紙14との検出部20の位[
111]係が全く同一となることから、β線源の不均一
性と濾紙14の各部分の厚さの不均一による影響を防止
することができ、正確な透過β線量の測定か可能となる
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、単一の検出部を
集塵前と集塵後の測定において、同一の濾紙部分に移動
さじ、集塵中に次のaa紙の集塵前測定を行うようにし
たので、濾紙厚さのばらつきによる影響をなくすことが
でき、かっ集肋持ち時間のない浮遊塵濃度の連続測定が
可能となる。
4、図面の簡単説明 第1図は本発明に係るβ線吸収型理io連続測定装置の
好適な実施例を示す説明図、 第2図は検出部の駆動機構を示ず説明図、第3図は実施
例における各測定動作を示す説明図である。
10 ・・・ 捕集部 12 ・・・ 空気、供給バイブ 14 ・・・ 濾紙 20 ・・・ 検出部 22 ・・・ 駆動モータ 28 ・・・ β線源 30 ・・・ 検出器 36 ・・・ スケーラ制御回路 38 ・・・ 温度補正回路 40 ・・・ 15度演算回路 42 ・・・ プリンタ。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)大気中の浮遊塵を捕集した濾紙上に検出部を移動
    させβ線を照射してその透過量から浮遊塵の濃度を連続
    的に測定するβ線吸収型浮遊塵連続測定装置において、
    捕集部に対して対称の位置に定めた集塵前及び集塵後の
    透過β線量の測定位置に濾紙を配置し、前記集塵前後の
    測定位置に移動する単一の検出部を集塵前濾紙の待機位
    置に置いた状態で集塵中に次の濾紙の集塵前の透過β線
    間測定を行うことを特徴とするβ線吸収型浮遊塵連続測
    定装置。
  2. (2)特許請求の範囲(1)記載の装置において、集塵
    前及び集塵後のそれぞれの測定位置における検出器近傍
    の空気温度を測定し、前記集塵前及び集塵後の透過放射
    線量に対して温度変化の補正を行うことを特徴とする浮
    遊塵連続測定装置。
JP60194790A 1985-09-05 1985-09-05 β線吸収型浮遊塵連続測定装置 Pending JPS6255549A (ja)

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