JPS62195535A - 降伏点伸び測定方法 - Google Patents

降伏点伸び測定方法

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JPS62195535A
JPS62195535A JP3772186A JP3772186A JPS62195535A JP S62195535 A JPS62195535 A JP S62195535A JP 3772186 A JP3772186 A JP 3772186A JP 3772186 A JP3772186 A JP 3772186A JP S62195535 A JPS62195535 A JP S62195535A
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増瀬 英雄
Takeshi Dai
大 武志
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  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、材料試験機における降伏点伸び測定方法に関
する。
[従来の技術] 従来材料試験機における降伏点伸びの測定は、荷重検出
器と伸び検出器からの出力信号を処理してチャート上に
描かせた応力−ひずみ曲線から測定者が読み取ることに
よって行なっていた。
[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、測定者がチャート上の曲線を読み取る方
法では、人的誤差も大きく能率も悪いという問題点がお
る。
そこで、コンピュータを使用して、ソフトウェアにより
パターン認識させる方法も試みられている。この場合、
降伏伸びの始点は降伏点の伸びであるから比較的簡単に
求められるが、終点は材料により種々の曲線になりパタ
ーン認識がきわめて難かしいという問題点がある。
例えば、第6図に示すような形状の試験片の引張試験を
行なった場合、平行部幅(寸法P)にて発生する降伏点
くR点)と、つかみ部幅(寸法Q)にて発生する降伏点
く8点)とが生じる。この場合の応力−ひずみ曲線を第
5図に示すが、この8点が降伏伸びの終点を検出する際
のノイズとなる。
そのため、本来図中V間が正しい降伏伸びを示すにもか
かわらず、W間を降伏伸びとして検出してしまうことが
ある。近似的にQ/P=Y/zの関係が成立するからで
ある。
本発明は、上記したような人的な計測上の誤差が生じな
いように降伏伸び値を自動的に検出する方法であって、
かつ確実に降伏伸び終点を検出できる降伏点伸び測定方
法を提供することを目的とする。
し問題点を解決するための手段] 上記問題点を解決するため、本発明は次のような構成を
採用した。
すなわら、本発明にかかる降伏点伸び測定方法は、試料
に加えられる荷重を検出する荷重検出器と、試料の伸び
を検出する伸び検出器と、これら荷重検出器から出力さ
れる荷重信号および伸び検出器から出力される伸び信号
を順次記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶された荷
重信号を読出し微分演算するとともに微分値を記憶する
微分演算手段と、該微分演算手段に記憶された微分値を
読出して演算処理する演算手段とを用い、以下の処理工
程によって降伏伸びを求めることを特徴とする。
a)引張り試験開始時から、降伏伸びが生じて後、再度
降伏点での荷重と同じになり、この荷重値をおる程度越
える荷重になる終点Eまで、検出信号と伸び検出信号を
順次記憶手段に記憶させる処理工程。
b)記憶手段に記憶した荷重信号を読出して微分試料に
加えられる荷重を検出する荷重検出器と、試料に伸びを
検出する伸び検出器と1.これら荷重検出器で出力され
る荷重信号および伸び検出器で出力される伸び信号を順
次記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶された荷重信
号を読出し微分演算するとともに微分値を記憶する微分
演算手段と、該微分演算手段に記憶された微分値を読出
して演算処理する演算手段とを設け、以下の処理工程に
よって降伏伸びを求めることを特徴とする。
a)引張り試験開始時から、降伏伸びが生じて後、再度
降伏点での荷重と同じになり、この荷重値をおる程度越
える荷重になる終点Eまで、検出信号と伸び検出信号を
順次記憶手段に記憶させる処理工程。
b)記憶手段に記憶した荷重信号を読出し微分演算手段
により微分し、微分値を記憶させる!lIa理工演算手
段により微分し、微分値を記憶させる処理工程。
C)試験終了点E付近の微分値の平均を求める演算を行
なう処理工程。
d)終点Eから降伏点へむかって微分値を読出し、微分
値が初めてマイナスになる点Cを求める処理工程。
e)終点Eから降伏点へむかって順次微分値を読出し、
該読み出された微分値と終点E付近の微分値の平均値と
の差りを求め、一方、必らかしめ予想される変曲点に相
当する微分値Fよりも大きい予想微分値Xを設定してお
き、この予想微分値Xと前記差値りとを比較する処理工
程。
f)、e)の処理の結果、差値りの方が大きい場合は、
当該差値を求めるために使用した微分値で示される位置
を降伏伸び終点として検出するとともに、点Cまで同様
の比較判断を繰返しても予想微分値Xの方が大きい場合
は、予想微分値Xを所定値づつ順に低くしつつ終点Eか
ら点Cまで上記と同様な比較判断を繰返し、予想微分値
Xが差値りよりも小さくなる降伏伸び終点を検出する処
理工程。
g)、f)の繰返し処理において、順次低く再設定され
る予想微分値が最終的に微分値Fよりも小さくなる場合
は、点Cを降伏伸び終点として検出する処理工程。
[実施例] 以下、実施例にもとづいて本発明を具体的に説明する。
第1図は、本発明の方法を実施して降伏点伸びを測定す
る材料試験機の構成を示すブロック図である。図におい
て、荷重検出器1から出力される荷重信号と伸び検出器
2から出力される伸び信号とは、バッファ装置3に入力
され、順次格納される。これらの読込みは、引張試験開
始と同時に発生するスタート信号によって動作するクロ
ック発生装置6からの50m SeC毎のクロック信号
に同期して行なわれる。
この読込みは、クロック発生袋@6にストップ指令が入
力されるまで行なわれる。ストップ指令は、第3図に示
すE点を検出した時点で発せられる。E点は、荷重が加
えられ降伏点Aをすぎてのち、再度降伏点Aの荷重と同
じになって、この荷重値を少し越えた地点にあり、測定
する荷重値がこの値になった時点で検出される。このE
点までデータを読込む処理を行なうことで、試料のつか
み幅部の降伏点をノイズとして検出しないように配慮す
る。
なお、第5図に示すように降伏伸びの終点が始点Rと同
一荷重までの伸びを示す8点までに発生する場合(殆ん
どすべての試験片がこの条件を満足する)は、降伏伸び
の終点を8点とすることにより8点で発生するノイズを
除去することも可能である。ざらに、8点のかわりにQ
/P=Y/Zの関係が成立する少し手前の点を降伏伸び
の終点とする方法も考えられる。
E点を検出した時に発せられるストップ指令は、メモリ
を備えた微分装置4へも入力される。微分装置4は、こ
の指令によって順次バッファ装置3に格納された荷重値
を読み出し微分演算を行ない該微分値を記憶する。第4
図に微分して得られた一次微分値biを示す。微分値は
演算装置5に出力される。演算装置5は、該微分値を読
み込んで演算処理し、第3図に示す降伏伸び終点Bを検
出する。
演算装置5での演算処理を第2図に示すフローチャート
に従って説明する。
(イ)試験終点のE点付近の平均の微分値を求め、これ
をalとする。
(ロ)第4図に示すようにE点からA点に向けて逆に微
分値をサーチして微分値が初めてマイナスになる点Cを
求める。すなわち、E点からみて荷重変化が初めて減少
した地点を求める。
(ハ)あらかじめ変曲点を示す微分値を予想しておき、
これをFと設定する。次にXにこの予想されるFよりも
大きな値を設定する。Xはこれに設定される値を順次小
ざくしでいく変数(X−1゜X−2・・・とあられす)
とする。
(ニ)第3図の時間軸方向におけるE点の座標を1とす
る。
(ホ)E点付近の微分平均値a1からiにおける微分値
biを差引き、この差値りとXに設定した値とを比較す
る。
(へ)(ホ)で比較した結果、差値りがXよりも大きい
時は、この座標iにおける曲線上の点を降伏伸びの終点
とする。
(ト)(ホ)で比較した結果、差値りがXよりも小ざい
時は、EよりもわずかにA点寄りのE−1点を示すi−
1を新たなiとする。
(チ) (ト)で設定した+ff1C点を示すicより
も大きいか否かを判断し、大きい場合にはこのiについ
て(ホ)以下の処理を行なう。以下、iがiCよりも小
さくなるまで同様な処理を繰返し、降伏伸びの終点を検
出する。
(1月(チ)でiがicよりも小さい場合は、X=X−
1としてXの設定値を変更する。以下、同様にX−2、
X−3、・・・と設定値を変更してゆく。
(ヌ)(す)で設定したXが最初に予想したFよりも小
さくなったか否かを判断し、小さくない場合は(ニ)の
処理に戻す。
(ル)XがFよりも小さい場合は、0点を降伏伸びの終
点とする。
上記処理を要約すればE点から0点へ向けて1回目の変
曲点の検出を行ない、検出出来ない場合はXi、:設定
するF値を初期値より小さくし、2回目の変曲点検出を
行なう。以下同様にFの値を小さくしていきながら変曲
点が検出できるまで何回も繰返す。この操作により検出
される変曲点を降伏伸びの終点とする。F値が予想され
る変曲点を示す値より小さくなっても変曲点が検出でき
ない場合は、降伏伸びの終点を0点と判断する。
[発明の効果] 上記説明から明らかなように、本発明にかかる降伏伸び
測定方法によれば、降伏伸び終点を荷重変化の大きい変
曲点として自動的に検出し、これに基づいて降伏伸びを
測定するので、人的操作が不要となり、かつ正確に降伏
伸びを測定できるようになった。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の方法を実施して降伏伸びを測定する材
料試験機の構成を示すブロック図、第2図は演算装置で
の処理手順を示すフローチャート、第3図および第5図
は荷重−歪曲線図、第4図は荷重変化を微分値で表わし
た図、第6図は試験片の外形図でおる。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試料に加えられる荷重を検出する荷重検出器と、
    試料の伸びを検出する伸び検出器と、これら荷重検出器
    から出力される荷重信号および伸び検出器から出力され
    る伸び信号を順次記憶する記憶手段と、該記憶手段に記
    憶された荷重信号を読出し微分演算するとともに微分値
    を記憶する微分演算手段と、該微分演算手段に記憶され
    た微分値を読出して演算処理する演算手段とを用い、以
    下の処理工程によつて降伏伸びを求めることを特徴とす
    る降伏伸び測定方法。 a)引張り試験開始時から、降伏伸びが生じて後、再度
    降伏点での荷重と同じになり、この荷重値をある程度越
    える荷重になる終点Eまで、検出信号と伸び検出信号を
    順次記憶手段に記憶させる処理工程。 b)記憶手段に記憶した荷重信号を読出して微分演算手
    段により微分し、微分値を記憶させる処理工程。 c)試験終了点E付近の微分値の平均を求める演算を行
    なう処理工程。 d)終点Eから降伏点へむかつて微分値を読出し、微分
    値が初めてマイナスになる点Cを求める処理工程。 e)終点Eから降伏点へむかつて順次微分値を読出し、
    該読み出された微分値と終点E付近の微分値の平均値と
    の差Dを求め、一方、あらかじめ予想される変曲点に相
    当する微分値Fよりも大きい予想微分値Xを設定してお
    き、この予想微分値Xと前記差値Dとを比較する処理工
    程。 f)、e)の処理の結果、差値Dの方が大きい場合は、
    当該差値を求めるために使用した微分値で示される位置
    を降伏伸び終点として検出するとともに、点Cまで同様
    の比較判断を繰返しても予想微分値Xの方が大きい場合
    は、予想微分値Xを所定値づつ順に低くしつつ終点Eか
    ら点Cまで上記と同様な比較判断を繰返し、予想微分値
    Xが差値Dよりも小さくなる降伏伸び終点を検出する処
    理工程。 g)、f)の繰返し処理において、順次低く再設定され
    る予想微分値が最終的に微分値Fよりも小さくなる場合
    は、点Cを降伏伸び終点として検出する処理工程。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110361295A (zh) * 2019-07-24 2019-10-22 东北石油大学 一种w/o型含蜡原油乳状液屈服点确定方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60207033A (ja) * 1984-03-31 1985-10-18 Shimadzu Corp 降伏伸び検出装置

Patent Citations (1)

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