JPS63222241A - デ−タ処理方法 - Google Patents
デ−タ処理方法Info
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- JPS63222241A JPS63222241A JP5772487A JP5772487A JPS63222241A JP S63222241 A JPS63222241 A JP S63222241A JP 5772487 A JP5772487 A JP 5772487A JP 5772487 A JP5772487 A JP 5772487A JP S63222241 A JPS63222241 A JP S63222241A
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- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims abstract description 19
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 13
- 239000012496 blank sample Substances 0.000 claims abstract description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 30
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims description 6
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 abstract description 4
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 abstract description 3
- 230000015654 memory Effects 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は原子吸光光度計を初め、紫外・可視分光光度計
やガスクロマトグラフなどにおいて、繰返し測定を行な
い、異常測定値を自動的に削除したりするために、異常
測定値が存在することを検出するデータ処理方法に関す
るものである。
やガスクロマトグラフなどにおいて、繰返し測定を行な
い、異常測定値を自動的に削除したりするために、異常
測定値が存在することを検出するデータ処理方法に関す
るものである。
（従来の技術）
原子吸光光度計では測定値の信頼性を高めるために、同
一の試料について複数回繰り返し測定を行ない、その測
定値の平均値を求めるとともに、変動係数（相対標準偏
差）ＣＶを算出し、その変動係数Ｃｖが予め設定された
基準値を越えた場合に異常測定値があると装置が判断し
、再度測定を繰り返すようにしている。
一の試料について複数回繰り返し測定を行ない、その測
定値の平均値を求めるとともに、変動係数（相対標準偏
差）ＣＶを算出し、その変動係数Ｃｖが予め設定された
基準値を越えた場合に異常測定値があると装置が判断し
、再度測定を繰り返すようにしている。
個々の測定値Ｘの繰返し測定の平均値を７とし。
標準偏差をＳＤとすると、変動係数ＣＶはＣＶ＝ＳＤ／
又 ・・・・・・（１）と表わされる。
又 ・・・・・・（１）と表わされる。
（発明が解決しようとする問題点）
微量な試料を測定する場合、吸光度が非常に小さくて０
に近い場合には、繰返し測定の測定値Ｘの平均値Ｘが０
又はＯに近い値になる。そのため、従来のように（１）
式によって変動係数Ｃｖを算出すると、各測定値Ｘのば
らつきが十分小さくても変動係数ＣＶが非常に大きくな
り、装置は異常測定値が発生したと判断してしまう。
に近い場合には、繰返し測定の測定値Ｘの平均値Ｘが０
又はＯに近い値になる。そのため、従来のように（１）
式によって変動係数Ｃｖを算出すると、各測定値Ｘのば
らつきが十分小さくても変動係数ＣＶが非常に大きくな
り、装置は異常測定値が発生したと判断してしまう。
例えば、次の２つのデータを比較してみる。第１のデー
タでは３回の測定値Ｘが０．００１，０゜０００、−０
．００１であったとすると、平均値又はｏ、ｏ ｏ ｏ
であり、変動係数Ｃｖは無限大となってしまう。これに
対して、第２のデータでは３回の測定値Ｘがｏ、ｏｏ
ｌ、０．０００，０．００５であったとすると、平均値
が０．００３であり、変動係数Ｃｖは０．８１となる。
タでは３回の測定値Ｘが０．００１，０゜０００、−０
．００１であったとすると、平均値又はｏ、ｏ ｏ ｏ
であり、変動係数Ｃｖは無限大となってしまう。これに
対して、第２のデータでは３回の測定値Ｘがｏ、ｏｏ
ｌ、０．０００，０．００５であったとすると、平均値
が０．００３であり、変動係数Ｃｖは０．８１となる。
このように、第２のデータの方がばらつきが大きいにも
拘らず変動係数Ｃｖが小さくなるという不合理な結果に
なる。
拘らず変動係数Ｃｖが小さくなるという不合理な結果に
なる。
本発明は、原子吸光光度計の吸光度のように、測定値が
非常に小さい試料の場合でも、その繰返し測定において
正しく異常測定値の判定を行なうことのできるデータ処
理方法を提供することを目的とするものである。
非常に小さい試料の場合でも、その繰返し測定において
正しく異常測定値の判定を行なうことのできるデータ処
理方法を提供することを目的とするものである。
（問題点を解決するための手段）
本発明のデータ処理方法では、繰返し測定された測定値
Ｘから変動係数ＣＶ ｏを ＣＶｏ＝ＳＤ／ （Ｘ＋ｋ） −−（２）として算
出し、この変動係数ＣＶｏと予め設定値として入力され
た判断の基準値Ｔとの大小関係を比較し、ＣＶｏ＞Ｔで
あれば異常測定値ありと判断し、ＣＶｏ≦Ｔであれば異
常測定値なしと判断する。ただし、ＳＤは繰返し測定値
Ｘの標準偏差、又は繰返し測定値Ｘの平均値、ｋは装置
及び試料によって定まる係数である。
Ｘから変動係数ＣＶ ｏを ＣＶｏ＝ＳＤ／ （Ｘ＋ｋ） −−（２）として算
出し、この変動係数ＣＶｏと予め設定値として入力され
た判断の基準値Ｔとの大小関係を比較し、ＣＶｏ＞Ｔで
あれば異常測定値ありと判断し、ＣＶｏ≦Ｔであれば異
常測定値なしと判断する。ただし、ＳＤは繰返し測定値
Ｘの標準偏差、又は繰返し測定値Ｘの平均値、ｋは装置
及び試料によって定まる係数である。
係数ｋを試料ごとに定めて判断の精度を上げるために、
係数ｋをに一５Ｄｏとして。
係数ｋをに一５Ｄｏとして。
ＣＶｏ＝ＳＤ／ （Ｘ＋に一５Ｄｏ）−−（３）により
変動係数ＣＶｏを算出し、この変動係数ＣＶｏを用いて
判断の基準値Ｔとの大小関係を比較し、ＣＶｏ＞Ｔであ
れば異常測定値ありと判断し、ＣＶｏ≦Ｔであれば異常
測定値なしと判断してもよい。ただし、ＳＤｏはブラン
ク試料又はベースラインの繰返し測定値Ｘの標準偏差、
Ｋは１以上の定数である。
変動係数ＣＶｏを算出し、この変動係数ＣＶｏを用いて
判断の基準値Ｔとの大小関係を比較し、ＣＶｏ＞Ｔであ
れば異常測定値ありと判断し、ＣＶｏ≦Ｔであれば異常
測定値なしと判断してもよい。ただし、ＳＤｏはブラン
ク試料又はベースラインの繰返し測定値Ｘの標準偏差、
Ｋは１以上の定数である。
（作用）
（２）式又は（３）式を用いて変動係数ＣＶ。
を算出すると、繰返し測定値Ｘの平均値Ｘが０になって
も（２）式又は（３）式の分母は０にはならないため、
装置が誤って異常測定値ありと判断することがなくなる
。
も（２）式又は（３）式の分母は０にはならないため、
装置が誤って異常測定値ありと判断することがなくなる
。
（実施例）
（３）式における定数には実験によって最適な値を決定
する必要があるが、概ね２〜５程度が適当である。
する必要があるが、概ね２〜５程度が適当である。
図に（３）式を用いて異常測定値の有無を判断する場合
の手順を示す。
の手順を示す。
まず、判断の基準値Ｔを入力する（ステップＳ１）。
ブランク試料を繰り返し測定し、その測定値Ｘから標準
偏差ＳＤｏを算出し、メモリに記憶する（ステップＳ２
．Ｓ３．Ｓ４）。
偏差ＳＤｏを算出し、メモリに記憶する（ステップＳ２
．Ｓ３．Ｓ４）。
次に、測定試料を繰り返し測定しくステップＳ５）、そ
の測定値Ｘの平均値Ｙと標準偏差ＳＤを計算する（ステ
ップＳ６）。
の測定値Ｘの平均値Ｙと標準偏差ＳＤを計算する（ステ
ップＳ６）。
以上で求めたブランク試料の標準偏差ＳＤｏ、測定試料
の平均値ｌ及び測定試料の標準偏差ＳＤと、予め設定し
ておいた基準値にとから（３）式により変動係数ＣＶｏ
を計算し、そのＣＶｏと基準値Ｔとの大小関係を比較す
る（ステップＳ７）。
の平均値ｌ及び測定試料の標準偏差ＳＤと、予め設定し
ておいた基準値にとから（３）式により変動係数ＣＶｏ
を計算し、そのＣＶｏと基準値Ｔとの大小関係を比較す
る（ステップＳ７）。
計算された変動係数ＣＶ ｏが基準値Ｔより大きい場合
は測定値に異常値ありと判断しくステップＳ８）、変動
係数ＣＶｏが基準値Ｔ以下であれば異常値なしと判断す
る（ステップＳ９）。
は測定値に異常値ありと判断しくステップＳ８）、変動
係数ＣＶｏが基準値Ｔ以下であれば異常値なしと判断す
る（ステップＳ９）。
（発明の効果）
本発明では繰り返し測定された測定値から、従来の変動
係数Ｃ■に代えて、（２）式又は（３）式で与えられる
変動係数ＣＶｏを算出し、その変動係数ＣＶｏを用いて
異常測定値の有無を判断するようにしたので、極めて濃
度の小さい試料の繰返し測定においても、正しく異常測
定値の有無を判断することができる。
係数Ｃ■に代えて、（２）式又は（３）式で与えられる
変動係数ＣＶｏを算出し、その変動係数ＣＶｏを用いて
異常測定値の有無を判断するようにしたので、極めて濃
度の小さい試料の繰返し測定においても、正しく異常測
定値の有無を判断することができる。
図は一実施例の手順を示すフローチャートである。
Claims (2)
- （１）繰返し測定された測定値Ｘから変動係数ＣＶ＿０
を ＣＶ＿０＝ＳＤ／（＠Ｘ＠＋ｋ） （ＳＤは繰返し測定値Ｘの標準偏差、＠Ｘ＠は繰返し測
定値Ｘの平均値、ｋは装置及び試料によって定まる係数
）として算出し、この変動係数ＣＶ＿０が設定値を越え
たときに異常測定値があったと判断するデータ処理方法
。 - （２）ｋ＝Ｋ・ＳＤ＿０（ＳＤ＿０はブランク試料又は
ベースラインの繰返し測定値Ｘの標準偏差、Ｋは１以上
の定数）とする特許請求の範囲第１項に記載のデータ処
理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5772487A JPH0833345B2 (ja) | 1987-03-11 | 1987-03-11 | デ−タ処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5772487A JPH0833345B2 (ja) | 1987-03-11 | 1987-03-11 | デ−タ処理方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63222241A true JPS63222241A (ja) | 1988-09-16 |
| JPH0833345B2 JPH0833345B2 (ja) | 1996-03-29 |
Family
ID=13063884
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5772487A Expired - Lifetime JPH0833345B2 (ja) | 1987-03-11 | 1987-03-11 | デ−タ処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0833345B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006214813A (ja) * | 2005-02-02 | 2006-08-17 | Dkk Toa Corp | 環境測定装置 |
| WO2020053703A1 (en) * | 2018-09-10 | 2020-03-19 | Alma Mater Studiorum - Universita' Di Bologna | Impedentiometric system for the assessment of muscle mass |
-
1987
- 1987-03-11 JP JP5772487A patent/JPH0833345B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006214813A (ja) * | 2005-02-02 | 2006-08-17 | Dkk Toa Corp | 環境測定装置 |
| JP4594120B2 (ja) * | 2005-02-02 | 2010-12-08 | 東亜ディーケーケー株式会社 | 環境測定装置 |
| WO2020053703A1 (en) * | 2018-09-10 | 2020-03-19 | Alma Mater Studiorum - Universita' Di Bologna | Impedentiometric system for the assessment of muscle mass |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0833345B2 (ja) | 1996-03-29 |
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