JPS61218948A - 分析装置 - Google Patents
分析装置Info
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- JPS61218948A JPS61218948A JP6038685A JP6038685A JPS61218948A JP S61218948 A JPS61218948 A JP S61218948A JP 6038685 A JP6038685 A JP 6038685A JP 6038685 A JP6038685 A JP 6038685A JP S61218948 A JPS61218948 A JP S61218948A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- drift
- measurement
- samples
- correction
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野Ｊ
本発明は試料の成分を測定する分析装置に係り、特にデ
ータ処理部を改良したものに関する。
ータ処理部を改良したものに関する。
［発明の技術的背景とその問題点］
分析装置においては、温度変化などによって測定上のベ
ースラインが変動（ドリフト）する。ベースラインの変
動は測定誤差となることから従来装置においては、ベー
スラインの変動を近似的に把握し、測定データの補正を
行っている。ベースラインの変動は、予め値の解ってい
る試料（既知試料）を実際に測定し、この測定結果を、
例えば第２図のＬ（ｔ）のように近似することで把握す
ることができる。
ースラインが変動（ドリフト）する。ベースラインの変
動は測定誤差となることから従来装置においては、ベー
スラインの変動を近似的に把握し、測定データの補正を
行っている。ベースラインの変動は、予め値の解ってい
る試料（既知試料）を実際に測定し、この測定結果を、
例えば第２図のＬ（ｔ）のように近似することで把握す
ることができる。
ところで、近似に供されるデータの数は′＠置の能力の
問題から一定の制限を受ける。この制限以上のデータが
存在する場合には、どのデータを近似に用いるかを予め
設定（位置づけ）するのが一般的である。
問題から一定の制限を受ける。この制限以上のデータが
存在する場合には、どのデータを近似に用いるかを予め
設定（位置づけ）するのが一般的である。
しかしながら、近似に供されるデータの追加。
削除、変更などによってその配置を変えるには新たな位
置づけを行う必要があることから、測定状況に応じて適
切なるドリフト近似を行うことができず、このため、測
定データの適切なるドリフト補正を行うことができない
という問題点がある。
置づけを行う必要があることから、測定状況に応じて適
切なるドリフト近似を行うことができず、このため、測
定データの適切なるドリフト補正を行うことができない
という問題点がある。
［発明の目的］
本発明は上記事情に鑑みて成されたものであり、その目
的とするところは、試料の測定を行いながら、近似に供
されるデータの変更ができ、測定状況に応じて適切なる
ドリフト補正を行うことができる分析装置を提供するこ
とにある。
的とするところは、試料の測定を行いながら、近似に供
されるデータの変更ができ、測定状況に応じて適切なる
ドリフト補正を行うことができる分析装置を提供するこ
とにある。
［発明の概！！］
上記目的を達成するための本発明の概要は、精度管理用
の既知試料及び複数の未知試料の成分測定を行う測定部
と、既知試料の測定データを基に、未知試料の測定デー
タのドリフト補正を行うデータ処理部とを備えて成る分
析装置において、前記データ処理部は、既知試料の測定
データ中よりドリフト補正に供されるデータを縮退処理
によって抽出するデータ抽出手段と、このデータ抽出手
段によって抽出されたデータを用いてドリフトを近似す
る近似手段と、この近似手段よりの近似データを基に、
前記未知試料の測定データのドリフト補正を行う補正手
段とを有することを特徴とするものである。
の既知試料及び複数の未知試料の成分測定を行う測定部
と、既知試料の測定データを基に、未知試料の測定デー
タのドリフト補正を行うデータ処理部とを備えて成る分
析装置において、前記データ処理部は、既知試料の測定
データ中よりドリフト補正に供されるデータを縮退処理
によって抽出するデータ抽出手段と、このデータ抽出手
段によって抽出されたデータを用いてドリフトを近似す
る近似手段と、この近似手段よりの近似データを基に、
前記未知試料の測定データのドリフト補正を行う補正手
段とを有することを特徴とするものである。
［発明の実施例］
以下、本発明を実施例により具体的に説明する。
第１図は本発明の一実施例たる分析装置のブロック図で
ある。同図１は測定部であり、精度管理用の既知試料及
び複数の未知試料例えば血液、尿などの成分を比色方法
等よって測定するものである。この測定部１の測定結果
はディジタル信号に変換された後に、後段に配置された
メモリ２内に記憶されるようになっている。３はこのメ
モリ２内の既知試料の測定データを基に、未知試料の測
定データのドリフト補正を行うデータ処理部であり、機
能的にデータ抽出手段４．近似手段５及び補正手段６を
有して構成される。
ある。同図１は測定部であり、精度管理用の既知試料及
び複数の未知試料例えば血液、尿などの成分を比色方法
等よって測定するものである。この測定部１の測定結果
はディジタル信号に変換された後に、後段に配置された
メモリ２内に記憶されるようになっている。３はこのメ
モリ２内の既知試料の測定データを基に、未知試料の測
定データのドリフト補正を行うデータ処理部であり、機
能的にデータ抽出手段４．近似手段５及び補正手段６を
有して構成される。
前記データ抽出手段４は既知試料の測定データ中よりド
リフト補正に供されるデータを縮退処理によって抽出す
るものであり、その抽出結果は後段に配置された近似手
段５に出力されるようになっている。このデータ抽出手
段４における縮退処理は、精度管理用の既知試料の数が
指定本数以上ある場合に次式の演算実行によって行われ
る。
リフト補正に供されるデータを縮退処理によって抽出す
るものであり、その抽出結果は後段に配置された近似手
段５に出力されるようになっている。このデータ抽出手
段４における縮退処理は、精度管理用の既知試料の数が
指定本数以上ある場合に次式の演算実行によって行われ
る。
ｔ（（ｗ−１）＋ｉ）／ｋ ・・・（１）Ｗ
：指定本数 に：全測定数 ｔ：精度管理用試料の 測定データＮｏ（ナンバ） １：１〜０ また、前記近似手段５は、前記データ抽出手段４によっ
て抽出されたデータを用いてベースラインのドリフトを
例えばスプライン関数によって近似するものである。ス
プライン関数による近似は、例えば次式に示すラグラン
ジェ補間公式を用いた曲線近似によって行われる。
：指定本数 に：全測定数 ｔ：精度管理用試料の 測定データＮｏ（ナンバ） １：１〜０ また、前記近似手段５は、前記データ抽出手段４によっ
て抽出されたデータを用いてベースラインのドリフトを
例えばスプライン関数によって近似するものである。ス
プライン関数による近似は、例えば次式に示すラグラン
ジェ補間公式を用いた曲線近似によって行われる。
ｃｍＪｔｔｐｔｍ／ｐｔｍ））−ｘｔｔ） ・（２セ１
１ （以下余白） ここに、 Ｐｉ（ｔ）−（（ｔ−ｔ ） （ｔ−ｔｌ ）・・−
（１−１，−１）（ｔ−ｔｌ、 ）−（ｔｉｔ、 ））
／（ｔ−ｔｌ ）−（３）さらに、前記補正手段６は、
前記近似手段５によって近似されたデータ（近似データ
）を基に、前記未知試料の測定データのドリフト補正を
行うものである。この補正手段６におけるドリフト補正
は次式によって行われる。
１ （以下余白） ここに、 Ｐｉ（ｔ）−（（ｔ−ｔ ） （ｔ−ｔｌ ）・・−
（１−１，−１）（ｔ−ｔｌ、 ）−（ｔｉｔ、 ））
／（ｔ−ｔｌ ）−（３）さらに、前記補正手段６は、
前記近似手段５によって近似されたデータ（近似データ
）を基に、前記未知試料の測定データのドリフト補正を
行うものである。この補正手段６におけるドリフト補正
は次式によって行われる。
Ｘｔ ’ −（−ｒ／Ｌ（ｔ） ） −Ｘｔ
・（４１ｘｔ’：補正後のデータ ｒ：精度管理用既知試料の ｌ！甲値 Ｘｔ：未知試料の測定データ 前記補正手段６よってドリフト補正されたデータは、後
段に配置された表示手段７に出力され、表示に供される
ようになっている。
・（４１ｘｔ’：補正後のデータ ｒ：精度管理用既知試料の ｌ！甲値 Ｘｔ：未知試料の測定データ 前記補正手段６よってドリフト補正されたデータは、後
段に配置された表示手段７に出力され、表示に供される
ようになっている。
次に、以上のように構成された実施例装置の作用につい
て説明する。
て説明する。
測定部１において測定され、かつメモリ２に記憶された
測定データが読み出され、データ抽出手段４に入力され
ると、このデータ抽出手段４は、前（１）式の演算実行
による縮退処理によって、精度管理用の既知試料の測定
データ中より均等な間隔に存在するデータを所定数抽出
する。既知試料の測定データｔ１〜ｔｋと、縮退処理に
よって実際に抽出されたデータとの関係を下表に示す。
測定データが読み出され、データ抽出手段４に入力され
ると、このデータ抽出手段４は、前（１）式の演算実行
による縮退処理によって、精度管理用の既知試料の測定
データ中より均等な間隔に存在するデータを所定数抽出
する。既知試料の測定データｔ１〜ｔｋと、縮退処理に
よって実際に抽出されたデータとの関係を下表に示す。
表
このようにして抽出されたデータに対して近似手段５は
、測定ナンバ１〜ｋまで内挿し、前（２式の演算実行に
より曲線近似を行う。曲線近似の結果たるＬ （ｔ）と
精度管理用の既知試料の基準値ｒとの差は、装置のドリ
フト量すなわち測定データにおけるベースラインの変動
量を意味する。それ故、補正手段６は基準値ｒと曲線近
似の結果たるＬ （ｔ）との比を基に前（４）式の演算
実行により未知試料の測定データのドリフト補正を行う
。
、測定ナンバ１〜ｋまで内挿し、前（２式の演算実行に
より曲線近似を行う。曲線近似の結果たるＬ （ｔ）と
精度管理用の既知試料の基準値ｒとの差は、装置のドリ
フト量すなわち測定データにおけるベースラインの変動
量を意味する。それ故、補正手段６は基準値ｒと曲線近
似の結果たるＬ （ｔ）との比を基に前（４）式の演算
実行により未知試料の測定データのドリフト補正を行う
。
ドリフト補正されたデータは表示部７により表示される
。
。
このように本実施例装置にあっては、不連続に制限なく
存在する精度管理用のデータから縮退処理によって指定
の数だけ均等に抽出し、ベースラインのドリフト近似す
ることができるものであるから、測定を行いながら、近
似に供されるデータの変更ができ、測定状況に応じた適
切なるドリフト補正を行うことができると共に、装置の
動作状態を随時把握することができる。
存在する精度管理用のデータから縮退処理によって指定
の数だけ均等に抽出し、ベースラインのドリフト近似す
ることができるものであるから、測定を行いながら、近
似に供されるデータの変更ができ、測定状況に応じた適
切なるドリフト補正を行うことができると共に、装置の
動作状態を随時把握することができる。
以上本発明の一実施例について説明したか、本発明は上
記実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨の範
囲内で適宜に変形実施が可能であるのはいうまでもない
。
記実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨の範
囲内で適宜に変形実施が可能であるのはいうまでもない
。
例えば上記実施例ではスプライン関数によってベースラ
インのドリフトを近似するものについて説明したが、最
小二乗法により近似することも可能である。
インのドリフトを近似するものについて説明したが、最
小二乗法により近似することも可能である。
また、表示部７の表示は補正後のデータのみならず、測
定データをも表示するようにしても良いし、表示件数に
制限がある場合には、縮退処理することにより均等な間
隔に存在するデータを抽出して表示するようにしても良
い。
定データをも表示するようにしても良いし、表示件数に
制限がある場合には、縮退処理することにより均等な間
隔に存在するデータを抽出して表示するようにしても良
い。
［発明の効果］
以上詳述したように本発明によれば、試料の測定を行い
ながら近似に供されるデータの変更ができ、測定状況に
応じて適切なるドリフト補正を行うことができる分析装
置を提供することができる。
ながら近似に供されるデータの変更ができ、測定状況に
応じて適切なるドリフト補正を行うことができる分析装
置を提供することができる。
第１図は本発明の一実施例たる分析装置のブロック図、
第２図は既知試料と未知試料との測定結果の一例を示す
特性図である。 １・・・測定部、３・・・データ処理部、４・・・デー
タ抽出手段、５・・・近似手段、６・・・補正手段。 ×（娠−一
第２図は既知試料と未知試料との測定結果の一例を示す
特性図である。 １・・・測定部、３・・・データ処理部、４・・・デー
タ抽出手段、５・・・近似手段、６・・・補正手段。 ×（娠−一
Claims (2)
- （１）精度管理用の既知試料及び複数の未知試料の成分
測定を行う測定部と、既知試料の測定データを基に、未
知試料の測定データのドリフト補正を行うデータ処理部
とを備えて成る分析装置において、前記データ処理部は
、既知試料の測定データ中よりドリフト補正に供される
データを縮退処理によって抽出するデータ抽出手段と、
このデータ抽出手段によって抽出されたデータを用いて
ドリフトを近似する近似手段と、この近似手段よりの近
似データを基に、前記未知試料の測定データのドリフト
補正を行う補正手段とを有することを特徴とする分析装
置。 - （２）前記近似手段は、最小二乗法若しくはスプライン
関数によってドリフトを近似するものである特許請求の
範囲１項に記載の分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6038685A JPS61218948A (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | 分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6038685A JPS61218948A (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | 分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61218948A true JPS61218948A (ja) | 1986-09-29 |
Family
ID=13140653
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6038685A Pending JPS61218948A (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | 分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61218948A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011226909A (ja) * | 2010-04-20 | 2011-11-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置及び自動分析方法 |
| WO2014091888A1 (ja) * | 2012-12-10 | 2014-06-19 | 株式会社島津製作所 | ドリフト算出装置及びこれを備えた光検出装置 |
| CN104603602A (zh) * | 2012-09-05 | 2015-05-06 | 霍夫曼-拉罗奇有限公司 | 用于确定样本施加的方法和设备 |
-
1985
- 1985-03-25 JP JP6038685A patent/JPS61218948A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011226909A (ja) * | 2010-04-20 | 2011-11-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置及び自動分析方法 |
| CN104603602A (zh) * | 2012-09-05 | 2015-05-06 | 霍夫曼-拉罗奇有限公司 | 用于确定样本施加的方法和设备 |
| CN104603602B (zh) * | 2012-09-05 | 2017-03-08 | 霍夫曼-拉罗奇有限公司 | 用于确定样本施加的方法和设备 |
| WO2014091888A1 (ja) * | 2012-12-10 | 2014-06-19 | 株式会社島津製作所 | ドリフト算出装置及びこれを備えた光検出装置 |
| CN104838262A (zh) * | 2012-12-10 | 2015-08-12 | 株式会社岛津制作所 | 漂移计算装置以及具有该漂移计算装置的光检测装置 |
| JP5888437B2 (ja) * | 2012-12-10 | 2016-03-22 | 株式会社島津製作所 | ドリフト算出装置及びこれを備えた光検出装置 |
| CN104838262B (zh) * | 2012-12-10 | 2016-04-27 | 株式会社岛津制作所 | 漂移计算装置以及具有该漂移计算装置的光检测装置 |
| US9400245B2 (en) | 2012-12-10 | 2016-07-26 | Shimadzu Corporation | Drift calculation device and light detection device provided with the same |
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