JPS62187261A - Ｉｃパツケ−ジピン検査装置 - Google Patents
Ｉｃパツケ−ジピン検査装置Info
- Publication number
- JPS62187261A JPS62187261A JP61030026A JP3002686A JPS62187261A JP S62187261 A JPS62187261 A JP S62187261A JP 61030026 A JP61030026 A JP 61030026A JP 3002686 A JP3002686 A JP 3002686A JP S62187261 A JPS62187261 A JP S62187261A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- package
- pin
- circuit
- power supply
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 14
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 7
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 abstract description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 6
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明扛ＩＣパッケージピン検査装置に胸する。
（従来の技術）
ＩＣパッケージをインサージｌンマシンによってプリン
ト板に自動挿入する場合、ＩＣパッケージピン（以下単
にピンと記す）の曲シは大きな問題となる。また、マニ
エアル挿入の場合でもＬＳＩそのため、従来は目視によ
ってピン一本一本について曲ｂｔ検査し、すべてのピン
に曲りが認められないＩＣパッケージを合格としている
。
ト板に自動挿入する場合、ＩＣパッケージピン（以下単
にピンと記す）の曲シは大きな問題となる。また、マニ
エアル挿入の場合でもＬＳＩそのため、従来は目視によ
ってピン一本一本について曲ｂｔ検査し、すべてのピン
に曲りが認められないＩＣパッケージを合格としている
。
（発明が解決しようとする問題点）
このような従来のやり方においては、ピン曲シの認定を
肉眼に頼っているため、検査に長時間を要するし、精密
な検査も期待できないという問題点がある。
肉眼に頼っているため、検査に長時間を要するし、精密
な検査も期待できないという問題点がある。
（問題点を解決するための手段）
本発明のＩＣパッケージピン検査装置は、同構成の電極
群ｔＩＣパッケージのピン間隔に合致するように弾力性
のある基板上に配置し、各１１極群における電極はＩＣ
パッケージがピンを電極群に接触するように置かれたと
きに少なくとも２つが正常なＩＣパッケージピンを介し
て短絡するように設けられ、 また、各電極群における電極ごとに、 各電極群内の同位置の１つの電極には所定極性の電源そ
して他のすべての電極には逆極性の電源をそれぞれ順次
に切替えて供給する電源供給回路と、 この電源供給によりて上述の短絡する電極間を流れる電
流を検出するための電流検出回路とを設け、この電流検
出を監視することによシＩＣパッケージのピンの曲りを
検査できるようにしたことを特徴とする。
群ｔＩＣパッケージのピン間隔に合致するように弾力性
のある基板上に配置し、各１１極群における電極はＩＣ
パッケージがピンを電極群に接触するように置かれたと
きに少なくとも２つが正常なＩＣパッケージピンを介し
て短絡するように設けられ、 また、各電極群における電極ごとに、 各電極群内の同位置の１つの電極には所定極性の電源そ
して他のすべての電極には逆極性の電源をそれぞれ順次
に切替えて供給する電源供給回路と、 この電源供給によりて上述の短絡する電極間を流れる電
流を検出するための電流検出回路とを設け、この電流検
出を監視することによシＩＣパッケージのピンの曲りを
検査できるようにしたことを特徴とする。
（実施例）
次に、本発明の実施例について、図面【参照して説明す
る。
る。
第１図は本発明の一実施例を示す一部破断斜視図、第２
図は第１図に示す電極群の全体を示す平面図である。
図は第１図に示す電極群の全体を示す平面図である。
第１図に示すＩＣパッケージピン検査装置は弾力性のあ
る基板４００上［１６個の電極３０１〜３１９から成る
電極群３００が配置され、各電極ごとに、電源供給回路
２０１〜２０４と電流検出回路１０１〜１０４とが設け
られている。
る基板４００上［１６個の電極３０１〜３１９から成る
電極群３００が配置され、各電極ごとに、電源供給回路
２０１〜２０４と電流検出回路１０１〜１０４とが設け
られている。
電極群３００は、第２図にその一部分（７群）を示すよ
うに、第３図に示すようなＩＣパッケージのピン間隔に
合致してピン数（１６ピン）と同数だけ同構成で設けら
れるが、第１図においては図面の繁雑化を避けるために
１群のみかつ１６個の電極のみが示されている。また、
電源供給回路と電流検出回路も、同じ理由から電極３０
３，３０６゜３１０および３１６に対応しまた電源供給
回路２０１−２０４と電流検出回路１０１〜１０４のみ
が示されている。
うに、第３図に示すようなＩＣパッケージのピン間隔に
合致してピン数（１６ピン）と同数だけ同構成で設けら
れるが、第１図においては図面の繁雑化を避けるために
１群のみかつ１６個の電極のみが示されている。また、
電源供給回路と電流検出回路も、同じ理由から電極３０
３，３０６゜３１０および３１６に対応しまた電源供給
回路２０１−２０４と電流検出回路１０１〜１０４のみ
が示されている。
各電極群３００における電極３０１〜３１９はＩＣパッ
ケージがピンを電極群３００に接触するように基板４０
０上に置かれたときに少なくとも２つが短絡するように
設けられ、また基板４００にも弾力性を有するものが選
ばれる。第５図（ａ）〜（Ｃ）における内側の点線円は
ピンの断面を示しておシ、それぞれの図においては斜Ｍ
’に施した７個。
ケージがピンを電極群３００に接触するように基板４０
０上に置かれたときに少なくとも２つが短絡するように
設けられ、また基板４００にも弾力性を有するものが選
ばれる。第５図（ａ）〜（Ｃ）における内側の点線円は
ピンの断面を示しておシ、それぞれの図においては斜Ｍ
’に施した７個。
６個および６個の電極が短絡している。
各電極群３００内において、同一位置の電極、たとえば
電源供給回路２０１のみが電極３０３に正電源を一時的
に供給し、他のすべての電源供給回路２０２〜２０４は
対応する電極３０１〜３０２゜３０４〜３１９に負電源
を一時的に供給している。
電源供給回路２０１のみが電極３０３に正電源を一時的
に供給し、他のすべての電源供給回路２０２〜２０４は
対応する電極３０１〜３０２゜３０４〜３１９に負電源
を一時的に供給している。
したがって、たとえばｔ極３０３と電極３０６とが短絡
するようにピンが置かれると電源供給回路２０１→電流
検出回路１０１→電極３０３→電極３０６→１！流検出
回路１０２→電源供給回路２０２という電流路が形成さ
れて電流が流れることが電流検出回路１０１，１０２に
よって検出される。
するようにピンが置かれると電源供給回路２０１→電流
検出回路１０１→電極３０３→電極３０６→１！流検出
回路１０２→電源供給回路２０２という電流路が形成さ
れて電流が流れることが電流検出回路１０１，１０２に
よって検出される。
正電源を供給すべき電極は順次に、たとえば、３０３→
３０４→３０５→・・・というように、を淵供給回路内
のスイッチによって切替えられるようになっている。こ
のため、ピンが電極群３００内のどうような位置に置か
れても、電源を切替えていくと必ず上述のような電流路
が形成されることになる。第５図（ａ）〜（Ｃ）は、そ
れぞれ電極群３００の中心、右側および左側にピンが置
かれた場合を示している。
３０４→３０５→・・・というように、を淵供給回路内
のスイッチによって切替えられるようになっている。こ
のため、ピンが電極群３００内のどうような位置に置か
れても、電源を切替えていくと必ず上述のような電流路
が形成されることになる。第５図（ａ）〜（Ｃ）は、そ
れぞれ電極群３００の中心、右側および左側にピンが置
かれた場合を示している。
このような電流路の形成は、ピンに曲シが無く正常であ
れば各電極群３００の同一位置関係にある部分で行なわ
れ、対応する電流検出回路で電流が検出できる。ところ
が、第４図に示すようにピンが曲っていると、そのピン
に対応する電極群３００内では他の電極群３００内の部
分とは異なる位置関係にある部分で電流路が形成され、
この相異はそれぞれの電流検出回路を監視することによ
って認識することができる。
れば各電極群３００の同一位置関係にある部分で行なわ
れ、対応する電流検出回路で電流が検出できる。ところ
が、第４図に示すようにピンが曲っていると、そのピン
に対応する電極群３００内では他の電極群３００内の部
分とは異なる位置関係にある部分で電流路が形成され、
この相異はそれぞれの電流検出回路を監視することによ
って認識することができる。
したがって、ピンの曲Ｄｒ検査するときには。
ＩＣパッケージをピンが対応する電極群３００に接触す
るように基板４００上に置き電流検出回路を監視すれば
よい。
るように基板４００上に置き電流検出回路を監視すれば
よい。
さらに、電流検出回路の出力をメモリに記憶させこの記
憶内容’１ｃＲＴに表示させるような構成を採れば、各
電極群３００ごとの電流路形成の様子が一目瞭然とする
こともできる。
憶内容’１ｃＲＴに表示させるような構成を採れば、各
電極群３００ごとの電流路形成の様子が一目瞭然とする
こともできる。
（発明の効果）
本発明のＩＣパッケージピン検査装置は、 ＩＣパッ
ケージのピンの曲りヲ自動的かつ短時間のうちに精密に
検査することができるという効果がある。
ケージのピンの曲りヲ自動的かつ短時間のうちに精密に
検査することができるという効果がある。
第１図は本発明の一実施例を示す一部破断斜視図、第２
図は第１図に示す電極群の全体を示す平面図、第３図は
第１図に示す実施例の検査対象となるＩＣパッケージの
外観を示す斜視図、第４図は第３図に示すＩＣパッケー
ジピンの曲シの様子？示す斜視図、第５図（尋〜（Ｃ）
は第１図に示す実施例を用いて検査するときの短絡ピン
の様子上それぞれ示す平面図である。 １０１．１０２，１０３，１０４・・・・・・電流検出
回路、２０１、２０２．２０３．２０４・・・・・・電
源供給回路、３００・・・・・・電極群、３０１．３０
２．３０３．３０４゜３０５．３０６，３０８，３０９
，３１０，３１３，３１４，３１５゜３１６、３１７．
３１８．３１９・・・・・・電極、４００・・・・・・
基板。 １′ 代理人 弁理士 内 原 □ ７日
、−
図は第１図に示す電極群の全体を示す平面図、第３図は
第１図に示す実施例の検査対象となるＩＣパッケージの
外観を示す斜視図、第４図は第３図に示すＩＣパッケー
ジピンの曲シの様子？示す斜視図、第５図（尋〜（Ｃ）
は第１図に示す実施例を用いて検査するときの短絡ピン
の様子上それぞれ示す平面図である。 １０１．１０２，１０３，１０４・・・・・・電流検出
回路、２０１、２０２．２０３．２０４・・・・・・電
源供給回路、３００・・・・・・電極群、３０１．３０
２．３０３．３０４゜３０５．３０６，３０８，３０９
，３１０，３１３，３１４，３１５゜３１６、３１７．
３１８．３１９・・・・・・電極、４００・・・・・・
基板。 １′ 代理人 弁理士 内 原 □ ７日
、−
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 同構成の電極群をＩＣパッケージのピン間隔に合致する
ように弾力性のある基板上に配置し、前記各電極群にお
ける電極は前記ＩＣパッケージがピンを前記電極群に接
触するように置かれたときに少なくとも２つが正常な前
記ＩＣパッケージピンを介して短絡するように設けられ
、 また、前記各電極群における電極ごとに、 各電極群内の同位置の１つの電極には所定極性の電源そ
して他のすべての電極には逆極性の電源をそれぞれ順次
に切替えて供給する電源供給回路と、 該電源供給によって前記短絡する電極間を流れる電流を
検出するための電流検出回路 とを含むことを特徴とするＩＣパッケージピン検査装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61030026A JPS62187261A (ja) | 1986-02-13 | 1986-02-13 | Ｉｃパツケ−ジピン検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61030026A JPS62187261A (ja) | 1986-02-13 | 1986-02-13 | Ｉｃパツケ−ジピン検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62187261A true JPS62187261A (ja) | 1987-08-15 |
Family
ID=12292316
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61030026A Pending JPS62187261A (ja) | 1986-02-13 | 1986-02-13 | Ｉｃパツケ−ジピン検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62187261A (ja) |
-
1986
- 1986-02-13 JP JP61030026A patent/JPS62187261A/ja active Pending
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