JP2005175312A - 面実装型電子モジュール、及びその検査方法 - Google Patents
面実装型電子モジュール、及びその検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005175312A JP2005175312A JP2003415497A JP2003415497A JP2005175312A JP 2005175312 A JP2005175312 A JP 2005175312A JP 2003415497 A JP2003415497 A JP 2003415497A JP 2003415497 A JP2003415497 A JP 2003415497A JP 2005175312 A JP2005175312 A JP 2005175312A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electronic module
- probes
- insulating substrate
- type electronic
- mount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/303—Surface mounted components, e.g. affixing before soldering, aligning means, spacing means
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/16—Inspection; Monitoring; Aligning
- H05K2203/162—Testing a finished product, e.g. heat cycle testing of solder joints
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/16—Inspection; Monitoring; Aligning
- H05K2203/168—Wrong mounting prevention
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3421—Leaded components
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
- H05K3/3442—Leadless components having edge contacts, e.g. leadless chip capacitors, chip carriers
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Abstract
【課題】位置決め状態の検知が簡単で、且つ、検査時において電気回路の破壊の無い面実装型電子モジュール、及びその検査方法を提供する。
【解決手段】本面実装型電子モジュールは、所望の電気回路が形成された正方形、又は長方形の絶縁基板1と、複数の端子群とを備え、端子群は、複数の外部回路接続用端子部7と、互いに接地用導体で接続された3つの接地用端子部8と、1つの非導通部9とで構成され、絶縁基板1の中心Cを中点とした点対称の3つの位置に接地用端子部8が配設されると共に、もう一つの位置に非導通部9が配設されるため、その構成が簡単で、且つ、電圧検知手段15によって、ガイド部材に対する面実装型電子モジュールの位置が正常状態か誤状態かを確実に判断できて、検査時において電気回路の破壊の無いものが得られる。
【選択図】図3
【解決手段】本面実装型電子モジュールは、所望の電気回路が形成された正方形、又は長方形の絶縁基板1と、複数の端子群とを備え、端子群は、複数の外部回路接続用端子部7と、互いに接地用導体で接続された3つの接地用端子部8と、1つの非導通部9とで構成され、絶縁基板1の中心Cを中点とした点対称の3つの位置に接地用端子部8が配設されると共に、もう一つの位置に非導通部9が配設されるため、その構成が簡単で、且つ、電圧検知手段15によって、ガイド部材に対する面実装型電子モジュールの位置が正常状態か誤状態かを確実に判断できて、検査時において電気回路の破壊の無いものが得られる。
【選択図】図3
Description
本発明は近距離無線機器や半導体装置等に適用して好適な面実装型電子モジュール、及びその検査方法に関する。
従来の面実装型電子モジュール、及びその検査方法の図面を説明すると、図23は従来の面実装型電子モジュールに係る平面図、図24は従来の面実装型電子モジュールの検査方法の概要を示す説明図である。
次に、従来の面実装型電子モジュールの構成を図23に基づいて説明すると、半導体装置等に使用される絶縁基板51は、長方形をなし、この絶縁基板51の一面側には所望の電気回路(図示せず)が形成されると共に、この電気回路が被覆部やカバー等の覆い部材52によって覆われている。
また、絶縁基板51は、互いに対向する一対の辺51a、51bを有し、この絶縁基板51には、辺51a、51bのそれぞれに沿って整列して配設された端子群53,54が設けられている。
この端子群53,54は、絶縁基板51の2つの角部に配設された2つの電源電圧端子部55a、55bと、絶縁基板51のもう2つの角部に配設された2つの接地電圧端子部56a、56bと、複数の外部接続用端子部57a、57bとで構成されている。
また、電源電圧端子部55a、55bと接地電圧端子部56a、56b、及び外部接続用端子部57a、57bは、金属板からなる端子で形成されると共に、それぞれが絶縁基板51に形成された電気回路に接続された状態で、絶縁基板51の辺51a、51bから外方に突出されている。
そして、このような構成を有する従来の面実装型電子モジュールは、電子機器のマザー基板(図示せず)上等に搭載され、端子群53,54がマザー基板上の配線パターンに半田付けされて、面実装されるようになっている。(例えば、特許文献1参照)
このような構成を有する従来の面実装型電子モジュールは、出荷の前に電気的な検査が行われるようになっており、その検査装置を図24に基づいて説明すると、電気的な値を測定するための測定器61と、面実装型電子モジュールの位置決めを行うための凹部62aを有するガイド部材62と、このガイド部材62に取り付けられ、測定器61に接続された複数のプローブ63で構成されている。
次に、その検査方法を説明すると、先ず、長方形の絶縁基板51がガイド部材62の凹部62aにガイドされた状態で、面実装型電子モジュールが凹部62a内に挿入される。
この時、複数のプローブ63のそれぞれには、電源電圧端子部55a、55bと接地電圧端子部56a、56b、及び外部接続用端子部57a、57bが接触し、次に、この状態で、測定器61から端子群53,54に電源電圧と検査用信号を供給して、種々の電気的な値を検査するようになっている。
しかし、長方形の絶縁基板51を有する従来の面実装型電子モジュールは、凹部62aに対して2つの挿入形態が存在し、その第1の挿入形態は、図24に示すように、電源電圧端子部55a、55bが凹部62aの左側に位置すると共に、接地電圧端子部56a、56bが凹部62aの右側に位置するものである。
また、第2の挿入形態は、図24において、接地電圧端子部56a、56bが凹部62aの左側に位置すると共に、電源電圧端子部55a、55bが凹部62aの右側に位置するものである。
そして、第1の挿入形態が面実装型電子モジュールの正常状態であるとすれば、第2の挿入形態が面実装型電子モジュールの誤状態となり、従って、この第2の挿入形態の誤状態において、検査装置によって種々の電気的な検査を行うと、電源電圧端子部55a、55bと接地電圧端子部56a、56b、及び外部接続用端子部57a、57bに所望の電流を流すことが出来ず、電気回路が破壊するものであった。
更に、従来の面実装型電子モジュールは、長方形の絶縁基板51の対向する辺51a、51bに沿って配設された端子群53,54を有した構成であるが、従来の面実装型電子モジュールの検査方法は、この端子群53,54を識別する手段が存在せず、従って、ガイド部材62に対して面実装型電子モジュールが誤った状態で位置決めされた場合、検査時において電気回路が破壊するものであった。
従来の面実装型電子モジュールは、長方形の絶縁基板51の対向する辺51a、51bに沿って配設された端子群53,54を有した構成であるが、従来の面実装型電子モジュールの検査方法は、この端子群53,54を識別する手段が存在せず、従って、ガイド部材62に対して面実装型電子モジュールが誤った状態で位置決めされた場合、検査時において電気回路が破壊するという問題がある。
そこで、本発明は位置決め状態の検知が簡単で、且つ、検査時において電気回路の破壊の無い面実装型電子モジュール、及びその検査方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するための第1の解決手段として、所望の電気回路が形成された正方形、又は長方形の絶縁基板と、この絶縁基板の少なくとも互いに対向するそれぞれの辺に沿って配設された複数の端子群とを備え、前記端子群は、複数の外部回路接続用端子部と、互いに接地用導体で接続された3つの接地用端子部と、1つの非導通部とで構成され、前記絶縁基板は、この絶縁基板の中心を中点とした点対称の第1,第2,第3,第4の位置を有し、3つの前記接地用端子部が前記第1,第2,第3の位置に配置されると共に、1つの前記非導通部が前記第4の位置に配設された構成とした。
また、第2の解決手段として、前記外部回路接続用端子部と3つの前記接地用接続部が前記絶縁基板の下面に設けられたランド部、又は絶縁基板に取り付けられた金属板からなる端子で形成された構成とした。
また、第3の解決手段として、前記非導通部は、前記電気回路と非導通の状態に形成されると共に、前記非導通部は、前記絶縁基板の下面に設けられたランド部、又は絶縁基板に取り付けられた金属板からなる端子で形成された構成とした。
また、第3の解決手段として、前記非導通部は、前記電気回路と非導通の状態に形成されると共に、前記非導通部は、前記絶縁基板の下面に設けられたランド部、又は絶縁基板に取り付けられた金属板からなる端子で形成された構成とした。
また、第4の解決手段として、前記非導通部は、端子部が存在しない絶縁部によって形成された構成とした。
また、第5の解決手段として、3つの前記接地用端子部と1つの前記非導通部のそれぞれが前記絶縁基板の4つの角部に配設された構成とした。
また、第5の解決手段として、3つの前記接地用端子部と1つの前記非導通部のそれぞれが前記絶縁基板の4つの角部に配設された構成とした。
また、第6の解決手段として、請求項1から5の何れかに記載の面実装型電子モジュールと、この面実装型モジュールの位置決めを行うガイド部材と、前記外部回路接続用端子部に接続される第1のプローブと、3つの前記接地用端子部と1つの前記非導通部の内の何れかの3個に対応して設けられた少なくとも3つの第2のプローブと、3つの前記第2のプローブ間に配設された電圧検知手段とを備え、前記電圧検知手段によって、前記ガイド部材に対する前記面実装型電子モジュールの位置が正常状態か誤状態かを判断するようにした検査方法とした。
また、第7の解決手段として、前記第2のプローブの1つには、電源が接続されると共に、前記第2のプローブの残りの2つは接地され、前記電源に接続された前記第2のプローブの1つが前記非導通部に接触した状態にあると共に、接地された前記第2のプローブの残りの2つが2つの前記接地用端子部に接触した状態にある時、前記電圧検知手段には、電源電圧が検知されて、前記ガイド部材に対する前記面実装型電子モジュールの位置を正常状態と判断し、また、前記電源に接続された前記第2のプローブの1つが前記接地用端子部に接触した状態にあると共に、接地された前記第2のプローブの残りの2つが2つの前記接地用端子部、又は1つの前記接地用端子部と前記非導通部に接触した状態にある時、前記電圧検知手段には、ゼロ電圧が検知されて、前記ガイド部材に対する前記面実装型電子モジュールの位置を誤状態と判断するようにした検査方法とした。
また、第8の解決手段として、請求項1から5の何れかに記載され、長方形の絶縁基板を有した面実装型電子モジュールと、この面実装型モジュールの位置決めを行うガイド部材と、前記外部回路接続用端子部に接続される第1のプローブと、1つの前記接地用端子部と1つの前記非導通部、又は2つの前記接地用端子部に対応して設けられた少なくとも2つの第2のプローブと、2つの前記第2のプローブ間に配設された電圧検知手段とを備え、前記電圧検知手段によって、前記ガイド部材に対する前記面実装型電子モジュールの位置が正常状態か誤状態かを判断するようにした検査方法とした。
また、第9の解決手段として、前記第2のプローブの1つには、電源が接続されると共に、前記第2のプローブの残りの1つは接地され、前記電源に接続された前記第2のプローブの1つが前記非導通部に接触した状態にあると共に、接地された前記第2のプローブの残りの1つが1つの前記接地用端子部に接触した状態にある時、前記電圧検知手段には、電源電圧が検知され、また、前記電源に接続された前記第2のプローブの1つが1つの前記接地用端子部に接触した状態にあると共に、接地された前記第2のプローブの残りの1つがもう1つの前記接地用端子部に接触した状態にある時、前記電圧検知手段には、ゼロ電圧が検知され、前記電圧検知手段による電源電圧、又はゼロ電圧の何れか一方で、前記ガイド部材に対する前記面実装型電子モジュールの位置を正常状態と判断すると共に、前記電圧検知手段による電源電圧、又はゼロ電圧の何れか他方で、前記ガイド部材に対する前記面実装型電子モジュールの位置を誤状態と判断するようにした検査方法とした。
また、第10の解決手段として、前記電圧検知手段によって、前記ガイド部材に対する前記面実装型電子モジュールが正常状態と判断された後、前記第1のプローブによって電気的な検査を行うようにした検査方法とした。
また、第11の解決手段として、電気的な検査を行うための検査装置を有し、この検査装置には、前記面実装型電子モジュールの正常状態、又は誤状態を目視によって判別できる表示部が設けられた検査方法とした。
また、第12の解決手段として、電気的な検査を行うための検査装置を有し、この検査装置には、前記面実装型電子モジュールの正常状態、又は誤状態を音声によって判別できる音声発生部が設けられた検査方法とした。
また、第12の解決手段として、電気的な検査を行うための検査装置を有し、この検査装置には、前記面実装型電子モジュールの正常状態、又は誤状態を音声によって判別できる音声発生部が設けられた検査方法とした。
本発明の面実装型電子モジュールは、所望の電気回路が形成された正方形、又は長方形の絶縁基板と、この絶縁基板の少なくとも互いに対向するそれぞれの辺に沿って配設された複数の端子群とを備え、端子群は、複数の外部回路接続用端子部と、互いに接地用導体で接続された3つの接地用端子部と、1つの非導通部とで構成され、絶縁基板は、この絶縁基板の中心を中点とした点対称の第1,第2,第3,第4の位置を有し、3つの接地用端子部が第1,第2,第3の位置に配置されると共に、1つの非導通部が第4の位置に配設された構成とした。
このように、絶縁基板の中心を中点とした点対称の第1,第2,第3の位置に接地用端子部が配設されると共に、第4の位置に非導通部が配設されるため、その構成が簡単で、且つ、電圧検知手段によって、ガイド部材に対する面実装型電子モジュールの位置が正常状態か誤状態かを確実に判断できて、検査時において電気回路の破壊の無い面実装型電子モジュールを提供できる。
このように、絶縁基板の中心を中点とした点対称の第1,第2,第3の位置に接地用端子部が配設されると共に、第4の位置に非導通部が配設されるため、その構成が簡単で、且つ、電圧検知手段によって、ガイド部材に対する面実装型電子モジュールの位置が正常状態か誤状態かを確実に判断できて、検査時において電気回路の破壊の無い面実装型電子モジュールを提供できる。
また、外部回路接続用端子部と3つの接地用接続部が絶縁基板の下面に設けられたランド部、又は絶縁基板に取り付けられた金属板からなる端子で形成されたため、その構成が簡単で、安価なものが得られる。
また、非導通部は、電気回路と非導通の状態に形成されると共に、非導通部は、絶縁基板の下面に設けられたランド部、又は絶縁基板に取り付けられた金属板からなる端子で形成されたため、非導通部は、外部回路接続用端子部や接地用接続部と同等の材料で形成できて、その構成が簡単で、安価なものが得られる。
また、非導通部は、端子部が存在しない絶縁部によって形成されたため、端子部を減らすことが出来て、安価なものが得られる。
また、3つの接地用端子部と1つの非導通部のそれぞれが絶縁基板の4つの角部に配設されたため、その位置が明確になると共に、特に非導通部は、配線パターンの引き回しの少ない角部に形成できて、好適である。
また、本発明の面実装型電子モジュールの検査方法は、請求項1から5の何れかに記載の面実装型電子モジュールと、この面実装型モジュールの位置決めを行うガイド部材と、外部回路接続用端子部に接続される第1のプローブと、3つの接地用端子部と1つの非導通部の内の何れかの3個に対応して設けられた少なくとも3つの第2のプローブと、3つの第2のプローブ間に配設された電圧検知手段とを備え、電圧検知手段によって、ガイド部材に対する面実装型電子モジュールの位置が正常状態か誤状態かを判断するようにした検査方法とした。
このように、3つの第2のプローブ間に配設された電圧検知手段によって、ガイド部材に対する面実装型電子モジュールの位置が正常状態か誤状態かを判断するようにしたため、正方形の絶縁基板にあっては、4つの挿入形態を、また、長方形の絶縁基板にあっては、2つの挿入形態を正確に検知できて、検査時において電気回路の破壊の無い検査方法を提供できる。
このように、3つの第2のプローブ間に配設された電圧検知手段によって、ガイド部材に対する面実装型電子モジュールの位置が正常状態か誤状態かを判断するようにしたため、正方形の絶縁基板にあっては、4つの挿入形態を、また、長方形の絶縁基板にあっては、2つの挿入形態を正確に検知できて、検査時において電気回路の破壊の無い検査方法を提供できる。
また、第2のプローブの1つには、電源が接続されると共に、第2のプローブの残りの2つは接地され、電源に接続された第2のプローブの1つが非導通部に接触した状態にあると共に、接地された第2のプローブの残りの2つが2つの接地用端子部に接触した状態にある時、電圧検知手段には、電源電圧が検知されて、ガイド部材に対する面実装型電子モジュールの位置を正常状態と判断し、また、電源に接続された第2のプローブの1つが接地用端子部に接触した状態にあると共に、接地された第2のプローブの残りの2つが2つの接地用端子部、又は1つの接地用端子部と非導通部に接触した状態にある時、電圧検知手段には、ゼロ電圧が検知されて、ガイド部材に対する面実装型電子モジュールの位置を誤状態と判断するようにしたため、面実装型電子モジュールの正常状態と誤状態を正確に判別できて、検査時において電気回路の破壊の無い検査方法を提供できる。
また、請求項1から5の何れかに記載され、長方形の絶縁基板を有した面実装型電子モジュールと、この面実装型モジュールの位置決めを行うガイド部材と、外部回路接続用端子部に接続される第1のプローブと、1つの接地用端子部と1つの非導通部、又は2つの接地用端子部に対応して設けられた少なくとも2つの第2のプローブと、2つの第2のプローブ間に配設された電圧検知手段とを備え、電圧検知手段によって、ガイド部材に対する面実装型電子モジュールの位置が正常状態か誤状態かを判断するようにしたため、ガイド部材に対する面実装型電子モジュールの2つの挿入形態を正確に検知できて、検査時において電気回路の破壊の無い検査方法を提供できる。
また、第2のプローブの1つには、電源が接続されると共に、第2のプローブの残りの1つは接地され、電源に接続された第2のプローブの1つが非導通部に接触した状態にあると共に、接地された第2のプローブの残りの1つが1つの接地用端子部に接触した状態にある時、電圧検知手段には、電源電圧が検知され、また、電源に接続された第2のプローブの1つが1つの接地用端子部に接触した状態にあると共に、接地された第2のプローブの残りの1つがもう1つの接地用端子部に接触した状態にある時、電圧検知手段には、ゼロ電圧が検知され、電圧検知手段による電源電圧、又はゼロ電圧の何れか一方で、ガイド部材に対する面実装型電子モジュールの位置を正常状態と判断すると共に、電圧検知手段による電源電圧、又はゼロ電圧の何れか他方で、ガイド部材に対する面実装型電子モジュールの位置を誤状態と判断するようにしたため、面実装型電子モジュールの正常状態と誤状態を正確に判別できて、検査時において電気回路の破壊の無い検査方法を提供できる。
また、電圧検知手段によって、ガイド部材に対する面実装型電子モジュールが正常状態と判断された後、第1のプローブによって電気的な検査を行うようにしたため、検査作業の容易な検査方法を提供できる。
また、電気的な検査を行うための検査装置を有し、この検査装置には、面実装型電子モジュールの正常状態、又は誤状態を目視によって判別できる表示部が設けられたため、正常状態か誤状態かを確実に判別できて、検査が正確で、且つ、検査作業の容易な検査方法を提供できる。
また、電気的な検査を行うための検査装置を有し、この検査装置には、面実装型電子モジュールの正常状態、又は誤状態を音声によって判別できる音声発生部が設けられたため、正常状態か誤状態かを確実に判別できて、検査が正確で、且つ、検査作業の容易な検査方法を提供できる。
本発明の面実装型電子モジュール、及びその検査方法の図面を説明すると、図1は本発明の面実装型電子モジュールの第1実施例に係り、下面から見た斜視図、図2は本発明の面実装型電子モジュールの第1実施例における検査方法の概要を示す説明図、図3は本発明の面実装型電子モジュールの第1実施例における検査方法に係り、電圧検知手段の第1実施例を示す説明図である。
また、図4は本発明の面実装型電子モジュールの第1実施例における検査方法に係り、面実装型電子モジュールの第1の挿入形態を示す説明図、図5は本発明の面実装型電子モジュールの第1実施例における検査方法に係り、面実装型電子モジュールの第2の挿入形態を示す説明図、図6は本発明の面実装型電子モジュールの第1実施例における検査方法に係り、面実装型電子モジュールの第3の挿入形態を示す説明図、図7は本発明の面実装型電子モジュールの第1実施例における検査方法に係り、面実装型電子モジュールの第4の挿入形態を示す説明図である。
また、図8は本発明の面実装型電子モジュールの第2実施例に係り、下面から見た斜視図、図9は本発明の面実装型電子モジュールの第3実施例に係り、下面から見た斜視図、図10は本発明の面実装型電子モジュールの第4実施例に係り、下面から見た斜視図である。
また、図11は本発明の面実装型電子モジュールの第5実施例に係り、下面から見た斜視図、図12は本発明の面実装型電子モジュールの第5実施例における検査方法に係り、電圧検知手段の第2実施例を示す説明図、図13は本発明の面実装型電子モジュールの第5実施例における検査方法に係り、面実装型電子モジュールの第1の挿入形態を示す説明図、図14は本発明の面実装型電子モジュールの第5実施例における検査方法に係り、面実装型電子モジュールの第2の挿入形態を示す説明図である。
また、図15は本発明の面実装型電子モジュールの第6実施例に係り、下面から見た斜視図、図16は本発明の面実装型電子モジュールの第7実施例に係り、下面から見た斜視図、図17は本発明の面実装型電子モジュールの第8実施例に係り、下面から見た斜視図である。
また、図18は本発明の面実装型電子モジュールの第9実施例に係る正面図、図19は本発明の面実装型電子モジュールの第9実施例に係る下面図、図20は本発明の面実装型電子モジュールの第10実施例に係る正面図、図21は本発明の面実装型電子モジュールの第10実施例に係る下面図、図22は本発明の面実装型電子モジュールの第11実施例に係る下面図である。
次に、本発明の面実装型電子モジュールの第1実施例の構成を図1に基づいて説明すると、近距離無線機器や半導体装置等に使用される絶縁基板1は、正方形をなし、この絶縁基板1の一面側には所望の電気回路(図示せず)が形成されると共に、この電気回路が被覆部やカバー等の覆い部材2によって覆われている。
また、絶縁基板1は、互いに対向する二対の辺1a、1b、及び1c、1dを有し、この絶縁基板1には、辺1a〜1dのそれぞれに沿って整列して配設された端子群3,4、5,6が設けられている。
この端子群3〜6は、複数の外部回路接続用端子部7と、互いに接地用導体(接地用導体パターン)で接続された3つの接地用端子部8と、1つの非導通部9とで構成され、外部回路接続用端子部7と接地用端子部8、及び非導通部9は、絶縁基板1の下面に設けられた半田付け用のランド部で形成されると共に、非導通部9は、電気回路と非導通に形成されて、島状のランド部となっている。
また、3つの接地用端子部8と1つの非導通部9は、正方形の絶縁基板1の中心Cを中点とした点対称の第1,第2,第3,第4の位置P1,P2,P3,P4に配置されており、そして、3つの接地用端子部8は第1〜第3の位置P1〜P3に配設され、また、1つの非導通部9は第4の位置P4に配設されると共にこの第1実施例では、3つの接地用端子部8と1つの非導通部9が絶縁基板1の角部に配設された状態となっている。
また、外部回路接続用端子部7と3つの接地用端子部8は、電気回路に接続されて、本発明の面実装型電子モジュールが形成されると共に、このような面実装型電子モジュールは、電子機器のマザー基板(図示せず)上等に搭載され、外部回路接続用端子部7と3つの接地用端子部8がマザー基板上の配線パターン(図示せず)に半田付けされて、面実装されるようになっている。
このような構成を有する本発明の面実装型電子モジュールは、出荷の前に電気的な検査が行われるようになっており、その検査装置を図2〜図7に基づいて説明すると、電気的な値を測定するための測定器11と、面実装型電子モジュールの位置決めを行うための凹部12aを有するガイド部材12と、このガイド部材12に取り付けられ、測定器11に接続された複数の第1のプローブ13と、このガイド部材12に取り付けられ、測定器11に設けられた電圧検出手段15に接続された少なくとも3つの第2のプローブ14とで構成されている。
また、特に図3に示す第1実施例の電圧検出手段15は、低い電圧の電源(例えば、5v)16と、この電源16に接続された保護抵抗17と、保護抵抗17に接続された1つの第2のプローブ14と、この1つの第2のプローブ14と並列状態で、保護抵抗17に接続された電圧検出部18と、この電圧検出部18の一端が接地された接地部19と、残りの2つの第2のプローブ14が接地された接地部20,21とで構成されている。
そして、第1のプローブ13は、外部回路接続用端子部7に接続可能に配置されると共に、3つの第2プローブ14は、3つの接地用端子部8や1つの非導通部9に対応して配置されている。
次に、その検査方法を説明すると、先ず、正方形の絶縁基板1がガイド部材12の凹部12aにガイドされた状態で、面実装型電子モジュールが凹部12a内に挿入される。
この時、第1のプローブ13は、外部回路接続用端子部7に接続されると共に、第2のプローブ14は、接地用端子部8や非導通部9に接触するようになる。
この時、第1のプローブ13は、外部回路接続用端子部7に接続されると共に、第2のプローブ14は、接地用端子部8や非導通部9に接触するようになる。
また、面実装型電子モジュールが凹部12a内に挿入される挿入形態は、図4〜図7に示すように、4つの挿入形態(第1の挿入形態〜第4の挿入形態)が存在する。
そして、図3,図4に示す第1の挿入形態では、電源16に接続された第2のプローブ14が非導通部9に接触すると共に、残りの2つの第2のプローブ14は、2つの接地用端子部8に接触した状態となる。
従って、この第1の挿入形態では、第2のプローブ14に接触した非導通部9からの電流の流れが無くなって、電源16からの電圧は、そのまま電圧検出部18に加わって、電圧検出部18では電源電圧(5v)が検出される。
従って、この第1の挿入形態では、第2のプローブ14に接触した非導通部9からの電流の流れが無くなって、電源16からの電圧は、そのまま電圧検出部18に加わって、電圧検出部18では電源電圧(5v)が検出される。
また、図5に示す第2の挿入形態にあっては、電源16に接続された第2のプローブ14が接地用端子部8に接触すると共に、残りの2つの第2のプローブ14は、接地用端子部8と非導通部9に接触した状態となる。
従って、この第2の挿入形態では、第2のプローブ14に接触した接地用端子部8からの電流が接地用導体を介して、第2のプローブ14に接触した状態にあるもう1つの接地用端子部8に流れると共に、これに接触した第2のプローブ14を介して電流が接地部21に流れ、その結果、電圧検出部18ではゼロ・ボルトが検出される。
従って、この第2の挿入形態では、第2のプローブ14に接触した接地用端子部8からの電流が接地用導体を介して、第2のプローブ14に接触した状態にあるもう1つの接地用端子部8に流れると共に、これに接触した第2のプローブ14を介して電流が接地部21に流れ、その結果、電圧検出部18ではゼロ・ボルトが検出される。
また、図6に示す第3の挿入形態にあっては、図5の第2の挿入形態と同様に、電源16に接続された第2のプローブ14が接地用端子部8に接触すると共に、残りの2つの第2のプローブ14は、2つの接地用端子部8に接触した状態となり、従って、第2のプローブ14に接触した接地用端子部8からの電流は、接地部20,21に流れ、その結果、電圧検出部18ではゼロ・ボルトが検出される。
また、図7に示す第4の挿入形態にあっては、図5の第2の挿入形態と同様に、電源16に接続された第2のプローブ14が接地用端子部8に接触すると共に、残りの2つの第2のプローブ14は、接地用端子部8と非導通部9に接触した状態となり、従って、第2のプローブ14に接触した接地用端子部8からの電流は、接地部20に流れ、その結果、電圧検出部18ではゼロ・ボルトが検出される。
このようにして、面実装型電子モジュールは、4つの挿入形態の状態が電気的に判別されるようになり、そして、電圧検出部18が電源電圧(5v)を検出した時、正常状態と判別すると共に、電圧検出部18がゼロ・ボルトを検出した時、誤状態と判別するようになっている。
そして、電圧検出部18が電源電圧(5v)を検出した正常状態の時は、第1のプローブ13や第2のプローブ14によって、自動的に電気的な検査が行われるようになっている。
また、ここでは図示しないが、検査装置には、面実装型電子モジュールの正常状態、又は誤状態を目視によって判別できる表示部、又は、面実装型電子モジュールの正常状態、又は誤状態を音声によって判別できる音声発生部が設けられて、正常状態か誤状態かを確実に判別できるようになっている。
なお、この実施例では、第2のプローブ14が3本のもので説明したが、4本設けて、この4本の第2のプローブ14が3つの接地用端子部8と1つの非導通部9に接触するようにしても良い。
また、図8は本発明の面実装型電子モジュールの第2実施例を示し、この第2実施例は、絶縁基板1の下面の中央部側にも外部回路接続用端子部7が設けられたものであり、その他の構成は、上記第1実施例と同様であるので、同一部品に同一番号を付し、ここではその説明を省略する。
また、図9は本発明の面実装型電子モジュールの第3実施例を示し、この第3実施例は、絶縁基板1の対向する一対の辺1a、1bに沿って、端子群3,4が設けられたものであり、その他の構成は、上記第1実施例と同様であるので、同一部品に同一番号を付し、ここではその説明を省略する。
また、図10は本発明の面実装型電子モジュールの第4実施例を示し、この第4実施例は、3つの接地用端子部8と1つの非導通部9が絶縁基板1の中心Cを中点として点対称の位置である辺1a〜1dの中央部の第1〜第4の位置P1〜P4に配置されたもので、その他の構成は、上記第1実施例と同様であるので、同一部品に同一番号を付し、ここではその説明を省略する。
また、図11は本発明の面実装型電子モジュールの第5実施例を示し、この第5実施例は、絶縁基板1が長方形をなし、3つの接地用端子部8と1つの非導通部9が絶縁基板1の中心Cを中点として点対称の第1〜第4の位置P1〜P4に配置されたもので、その他の構成は、上記第1実施例と同様であるので、同一部品に同一番号を付し、ここではその説明を省略する。
そして、この第5実施例に用いられる検査装置の電圧検出手段15の第2実施例は、図12〜図14に示すように、2つの第2のプローブ14の内の1つには、下電源16が接続されると共に、もう1つの第2のプローブ14には、接地部21が設けられており、その他の構成は、上記第1実施例と同様であるので、同一部品に同一番号を付し、ここではその説明を省略する。
次に、その検査方法を説明すると、先ず、長方形の絶縁基板1は、上記第1実施例と同様に、ガイド部材12の凹部12aにガイドされた状態で、面実装型電子モジュールが凹部12a内に挿入されるが、面実装型電子モジュールが凹部12a内に挿入される挿入形態は、図13,図14に示すように、2つの挿入形態(第1、第2の挿入形態)が存在する。
そして、図12,図13に示す第1の挿入形態では、電源16に接続された第2のプローブ14が非導通部9に接触すると共に、残りの1つの第2のプローブ14は、1つの接地用端子部8に接触した状態となる。
従って、この第1の挿入形態では、第2のプローブ14に接触した非導通部9からの電流の流れが無くなって、電源16からの電圧は、そのまま電圧検出部18に加わって、電圧検出部18では電源電圧(5v)が検出される。
従って、この第1の挿入形態では、第2のプローブ14に接触した非導通部9からの電流の流れが無くなって、電源16からの電圧は、そのまま電圧検出部18に加わって、電圧検出部18では電源電圧(5v)が検出される。
また、図14に示す第2の挿入形態にあっては、電源16に接続された第2のプローブ14が接地用端子部8に接触すると共に、残りの1つの第2のプローブ14は、接地用端子部8に接触した状態となる。
従って、この第2の挿入形態では、第2のプローブ14に接触した接地用端子部8からの電流が接地用導体を介して、第2のプローブ14に接触した状態にあるもう1つの接地用端子部8に流れると共に、これに接触した第2のプローブ14を介して電流が接地部21に流れ、その結果、電圧検出部18ではゼロ・ボルトが検出される。
従って、この第2の挿入形態では、第2のプローブ14に接触した接地用端子部8からの電流が接地用導体を介して、第2のプローブ14に接触した状態にあるもう1つの接地用端子部8に流れると共に、これに接触した第2のプローブ14を介して電流が接地部21に流れ、その結果、電圧検出部18ではゼロ・ボルトが検出される。
このようにして、第5実施例の面実装型電子モジュールは、2つの挿入形態の状態が電気的に判別されるようになり、そして、電圧検出部18が電源電圧(5v)を検出した時、或いは、電圧検出部18がゼロ・ボルトを検出した時の何れか一方を正常状態と判別し、他方を誤状態と判別するようになっている。
そして、電圧検出部18が電源電圧(5v)、又はゼロ・ボルトを検出した正常状態の時は、第1のプローブ13や第2のプローブ14によって、自動的に電気的な検査が行われるようになっている。
なお、この実施例では、第2のプローブ14が2本のもので説明したが、3本、又は4本設けて、この第2のプローブ14が接地用端子部8と1つの非導通部9に接触するようにしても良い。
また、図15は本発明の面実装型電子モジュールの第6実施例を示し、この第6実施例は、絶縁基板1の対向する一対の辺1a、1bに沿って、端子群3,4が設けられたものであり、その他の構成は、上記第5実施例と同様であるので、同一部品に同一番号を付し、ここではその説明を省略する。
また、図16は本発明の面実装型電子モジュールの第7実施例を示し、この第7実施例は、3つの接地用端子部8と1つの非導通部9が絶縁基板1の中心Cを中点として点対称の位置で、絶縁基板1の角部から外れた第1〜第4の位置P1〜P4に配置されたもので、その他の構成は、上記第6実施例と同様であるので、同一部品に同一番号を付し、ここではその説明を省略する。
また、図17は本発明の面実装型電子モジュールの第8実施例を示し、この第8実施例は、1つの非導通部9が端子部を無くして絶縁部によって形成されたもので、その他の構成は、上記第5実施例と同様であるので、同一部品に同一番号を付し、ここではその説明を省略する。
また、図18,図19は本発明の面実装型電子モジュールの第9実施例を示し、この第9実施例は、外部回路接続用端子部7と接地用端子部8,及び非導通部9が金属板からなる端子で形成され、この端子が正方形をなす絶縁基板1から外方に突出したもので、その他の構成は、上記第1実施例と同様であるので、同一部品に同一番号を付し、ここではその説明を省略する。
また、図20,図21は本発明の面実装型電子モジュールの第10実施例を示し、この第10実施例は、長方形をなす絶縁基板1の対向する一対の辺1a、1bに沿って、端子群3,4が設けられたものであり、その他の構成は、上記第9実施例と同様であるので、同一部品に同一番号を付し、ここではその説明を省略する。
また、図22は本発明の面実装型電子モジュールの第11実施例を示し、この第11実施例は、非導通部9が金属板の端子を無くして形成されたもので、その他の構成は、上記第10実施例と同様であるので、同一部品に同一番号を付し、ここではその説明を省略する。
1:絶縁基板
1a:辺
1b:辺
1c:辺
1d:辺
2:覆い部材
3:端子群
4:端子群
5:端子群
6:端子群
7:外部回路接続用端子部
8:接地用端子部
9:非導通部
C:中心
P1:第1の位置
P2:第2の位置
P3:第3の位置
P4:第4の位置
11:測定器
12:ガイド部材
12a:凹部
13:第1のプローブ
14:第2のプローブ
15:電圧検出手段
16:電源
17:保護抵抗
18:電圧検出部
19:接地部
20:接地部
21:接地部
1a:辺
1b:辺
1c:辺
1d:辺
2:覆い部材
3:端子群
4:端子群
5:端子群
6:端子群
7:外部回路接続用端子部
8:接地用端子部
9:非導通部
C:中心
P1:第1の位置
P2:第2の位置
P3:第3の位置
P4:第4の位置
11:測定器
12:ガイド部材
12a:凹部
13:第1のプローブ
14:第2のプローブ
15:電圧検出手段
16:電源
17:保護抵抗
18:電圧検出部
19:接地部
20:接地部
21:接地部
Claims (12)
- 所望の電気回路が形成された正方形、又は長方形の絶縁基板と、この絶縁基板の少なくとも互いに対向するそれぞれの辺に沿って配設された複数の端子群とを備え、前記端子群は、複数の外部回路接続用端子部と、互いに接地用導体で接続された3つの接地用端子部と、1つの非導通部とで構成され、前記絶縁基板は、この絶縁基板の中心を中点とした点対称の第1,第2,第3,第4の位置を有し、3つの前記接地用端子部が前記第1,第2,第3の位置に配置されると共に、1つの前記非導通部が前記第4の位置に配設されたことを特徴とする面実装型電子モジュール。
- 前記外部回路接続用端子部と3つの前記接地用接続部が前記絶縁基板の下面に設けられたランド部、又は絶縁基板に取り付けられた金属板からなる端子で形成されたことを特徴とする請求項1記載の面実装型電子モジュール。
- 前記非導通部は、前記電気回路と非導通の状態に形成されると共に、前記非導通部は、前記絶縁基板の下面に設けられたランド部、又は絶縁基板に取り付けられた金属板からなる端子で形成されたことを特徴とする請求項1、又は2記載の面実装型電子モジュール。
- 前記非導通部は、端子部が存在しない絶縁部によって形成されたことを特徴とする請求項1、又は2記載の面実装型電子モジュール。
- 3つの前記接地用端子部と1つの前記非導通部のそれぞれが前記絶縁基板の4つの角部に配設されたことを特徴とする請求項1から4の何れかに記載の面実装型電子モジュール。
- 請求項1から5の何れかに記載の面実装型電子モジュールと、この面実装型モジュールの位置決めを行うガイド部材と、前記外部回路接続用端子部に接続される第1のプローブと、3つの前記接地用端子部と1つの前記非導通部の内の何れかの3個に対応して設けられた少なくとも3つの第2のプローブと、3つの前記第2のプローブ間に配設された電圧検知手段とを備え、前記電圧検知手段によって、前記ガイド部材に対する前記面実装型電子モジュールの位置が正常状態か誤状態かを判断するようにしたことを特徴とする面実装型電子モジュールの検査方法。
- 前記第2のプローブの1つには、電源が接続されると共に、前記第2のプローブの残りの2つは接地され、前記電源に接続された前記第2のプローブの1つが前記非導通部に接触した状態にあると共に、接地された前記第2のプローブの残りの2つが2つの前記接地用端子部に接触した状態にある時、前記電圧検知手段には、電源電圧が検知されて、前記ガイド部材に対する前記面実装型電子モジュールの位置を正常状態と判断し、また、前記電源に接続された前記第2のプローブの1つが前記接地用端子部に接触した状態にあると共に、接地された前記第2のプローブの残りの2つが2つの前記接地用端子部、又は1つの前記接地用端子部と前記非導通部に接触した状態にある時、前記電圧検知手段には、ゼロ電圧が検知されて、前記ガイド部材に対する前記面実装型電子モジュールの位置を誤状態と判断するようにしたことを特徴とする請求項6記載の面実装型電子モジュールの検査方法。
- 請求項1から5の何れかに記載され、長方形の絶縁基板を有した面実装型電子モジュールと、この面実装型モジュールの位置決めを行うガイド部材と、前記外部回路接続用端子部に接続される第1のプローブと、1つの前記接地用端子部と1つの前記非導通部、又は2つの前記接地用端子部に対応して設けられた少なくとも2つの第2のプローブと、2つの前記第2のプローブ間に配設された電圧検知手段とを備え、前記電圧検知手段によって、前記ガイド部材に対する前記面実装型電子モジュールの位置が正常状態か誤状態かを判断するようにしたことを特徴とする面実装型電子モジュールの検査方法。
- 前記第2のプローブの1つには、電源が接続されると共に、前記第2のプローブの残りの1つは接地され、前記電源に接続された前記第2のプローブの1つが前記非導通部に接触した状態にあると共に、接地された前記第2のプローブの残りの1つが1つの前記接地用端子部に接触した状態にある時、前記電圧検知手段には、電源電圧が検知され、また、前記電源に接続された前記第2のプローブの1つが1つの前記接地用端子部に接触した状態にあると共に、接地された前記第2のプローブの残りの1つがもう1つの前記接地用端子部に接触した状態にある時、前記電圧検知手段には、ゼロ電圧が検知され、前記電圧検知手段による電源電圧、又はゼロ電圧の何れか一方で、前記ガイド部材に対する前記面実装型電子モジュールの位置を正常状態と判断すると共に、前記電圧検知手段による電源電圧、又はゼロ電圧の何れか他方で、前記ガイド部材に対する前記面実装型電子モジュールの位置を誤状態と判断するようにしたことを特徴とする請求項6記載の面実装型電子モジュールの検査方法。
- 前記電圧検知手段によって、前記ガイド部材に対する前記面実装型電子モジュールが正常状態と判断された後、前記第1のプローブによって電気的な検査を行うようにしたことを特徴とする請求項6から9の何れかに記載の面実装型電子モジュールの検査方法。
- 電気的な検査を行うための検査装置を有し、この検査装置には、前記面実装型電子モジュールの正常状態、又は誤状態を目視によって判別できる表示部が設けられたことを特徴とする請求項10記載の面実装型電子モジュールの検査方法。
- 電気的な検査を行うための検査装置を有し、この検査装置には、前記面実装型電子モジュールの正常状態、又は誤状態を音声によって判別できる音声発生部が設けられたことを特徴とする請求項10記載の面実装型電子モジュールの検査方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003415497A JP2005175312A (ja) | 2003-12-12 | 2003-12-12 | 面実装型電子モジュール、及びその検査方法 |
EP04029484A EP1542029A3 (en) | 2003-12-12 | 2004-12-13 | Surface mounting electronic module and method of testing the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003415497A JP2005175312A (ja) | 2003-12-12 | 2003-12-12 | 面実装型電子モジュール、及びその検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005175312A true JP2005175312A (ja) | 2005-06-30 |
Family
ID=34510578
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003415497A Withdrawn JP2005175312A (ja) | 2003-12-12 | 2003-12-12 | 面実装型電子モジュール、及びその検査方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1542029A3 (ja) |
JP (1) | JP2005175312A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111089517A (zh) * | 2019-12-24 | 2020-05-01 | 杭州晋旗电子科技有限公司 | 一种电子雷管芯片批量检测定位模具及加工方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000072030A1 (en) * | 1999-05-21 | 2000-11-30 | Conexant Systems, Inc. | Method and apparatus for wireless testing of integrated circuits |
US6798223B2 (en) * | 2000-07-28 | 2004-09-28 | Hei, Inc. | Test methods, systems, and probes for high-frequency wireless-communications devices |
-
2003
- 2003-12-12 JP JP2003415497A patent/JP2005175312A/ja not_active Withdrawn
-
2004
- 2004-12-13 EP EP04029484A patent/EP1542029A3/en not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1542029A3 (en) | 2006-05-10 |
EP1542029A2 (en) | 2005-06-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7280370B2 (en) | Electronic package and circuit board having segmented contact pads | |
TWI566651B (zh) | 電性連接組件及其檢測方法 | |
KR101039049B1 (ko) | 비접촉 검사방식을 적용한 단선 및 단락 검출용 칩 스케일 패키지 기판 및 그 검사장치 | |
JP2005175312A (ja) | 面実装型電子モジュール、及びその検査方法 | |
KR100272715B1 (ko) | 프로브유닛 및 검사용 헤드 | |
US6496013B1 (en) | Device for testing circuit boards | |
JP3214420B2 (ja) | フィルムキャリア型半導体装置及び検査用プローブヘッド並びに位置合わせ方法 | |
US6563313B2 (en) | Electronic device and manufacturing method thereof | |
JP4411064B2 (ja) | バイパスコンデンサの実装・非実装検査方法 | |
KR100807469B1 (ko) | Zif 커넥터용 기판 및 이의 검사 방법 | |
CN211702545U (zh) | 焊盘结构和印制电路板 | |
JP4982543B2 (ja) | 多層基板のスルーホール断線検出方法 | |
CN111182719A (zh) | 焊盘结构和印制电路板 | |
JP2002214274A (ja) | 回路配線の検査方法 | |
JP4256957B2 (ja) | プリント回路基板の検査方法 | |
JP2007141965A (ja) | 外観検査装置 | |
JP2004186483A (ja) | バイパスコンデンサの実装検査方法およびその装置 | |
JPH07181220A (ja) | 集積回路装置 | |
JP2007333492A (ja) | 電気的接触状態の検査方法および装置 | |
JPH0611462Y2 (ja) | 基板検査用コンタクトプローブ | |
JP2001351955A (ja) | 電流・電圧測定用治具 | |
JPH11202016A (ja) | 回路基板の検査方法及び装置 | |
JP2001085810A (ja) | フレキシブルプリント基板 | |
KR20210050292A (ko) | Pcb 검사장치 및 그 검사방법 | |
JP2009025214A (ja) | ジャイロの試験方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20070306 |